JP6343621B2 - 蛍光x線分析を実施するための方法及びデバイス - Google Patents
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- 蛍光X線分析を実施するための方法であって、
一次放射(16)はX線放射源(14)から試験片(12)へと向けられ、前記試験片(12)から放出される二次放射(18)は第1の検出器(20)によって検出され、評価ユニット(21)によって評価される、方法において:
‐フィルタ平面を形成する少なくとも1つのフィルタ層(25)を有する少なくとも1つのフィルタ(23)は、透過フィルタであって、前記二次放射(18)のビーム路へと導入され、前記二次放射(18)に対する前記フィルタ層(25)の角度αに応じて、バンドパスフィルタとして作用し、また前記二次放射(18)の妨害性波長はブラッグ反射によって分離され;
‐前記フィルタ(23)の前記フィルタ層(25)の前記角度αは、ブラッグ反射による前記二次放射(18)の少なくとも1つの前記妨害性波長の反射のために、調整デバイス(31)を用いて調整され、前記二次放射の分離された前記波長は第2の検出器(32)によって検出され、前記第2の検出器(32)によって決定された信号は前記評価ユニット(21)へと送られる
ことを特徴とする、方法。 - 前記フィルタ(23)の前記フィルタ層(25)の前記角度αは、前記第2の検出器(32)によって検出された前記信号に応じて調整されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記調整デバイス(31)は、前記フィルタ(23)の前記フィルタ層(25)の前記角度αの調整のために、前記評価ユニット(21)によって制御されることを特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。
- 蛍光X線分析のための、請求項1に記載の方法を実施するためのデバイスであって、
前記デバイスはX線放射源(14)を有し、前記X線放射源は、試料キャリア(13)に配置される試験片(12)に一次放射(16)を向け、前記試験片(12)から放出される二次放射(18)の決定のために第1の検出器(20)を備える、デバイスにおいて:
少なくとも1つのフィルタ(23)は、透過フィルタであって、少なくとも前記二次放射(18)のビーム路内に位置決めされ、前記フィルタ(23)は少なくとも1つのフィルタ層(25)を有し、前記二次放射(18)の少なくとも1つの波長は前記フィルタ(23)においてブラッグ反射によって反射及び分離されること、並びに
第2の検出器(32)が設けられ、前記第2の検出器(32)は、分離された前記波長を検出し、前記第2の検出器(32)から決定された信号を評価ユニット(21)へと送ること
を特徴とする、デバイス。 - 前記フィルタ(23)は調整デバイス(31)によって受承され、
前記フィルタ(23)の前記フィルタ層(25)は、入射ビーム路に対する角度αの角度調整のために、前記調整デバイス(31)を用いて制御できる
ことを特徴とする、請求項4に記載のデバイス。 - 前記評価ユニット(21)は、前記第1の検出器(20)及び/又は前記第2の検出器(32)からの信号を処理し、
前記調整デバイス(31)は前記評価ユニット(21)によって制御できる
ことを特徴とする、請求項4又は5に記載のデバイス。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法を実施するための、又は請求項4〜6のいずれか1項に記載のデバイスのためのフィルタであって、
前記フィルタ(23)は、結晶層から形成される少なくとも1つのフィルタ層(25)を有することを特徴とする、フィルタ。 - 前記フィルタ(23)の前記少なくとも1つのフィルタ層(25)は、結晶グラファイト層として形成され、100μm未満又は50μm未満の厚さを有することを特徴とする、請求項7に記載のフィルタ。
- 前記フィルタ(23)の前記少なくとも1つのフィルタ層(25)は、結晶層又は結晶グラファイト層から、箔として形成されることを特徴とする、請求項7又は8に記載のフィルタ。
- 前記少なくとも1つのフィルタ層(25)は金属層を含まないよう形成されることを特徴とする、請求項7〜9のいずれか1項に記載のフィルタ。
- 前記フィルタ層(25)は箔として形成され、前記箔はフレームによって伸長状態で保持されることを特徴とする、請求項7〜10のいずれか1項に記載のフィルタ。
- 箔として形成された前記フィルタ層(25)は、板状のキャリア基材上に設けられ、前記板状のキャリア基材上に接着されるか、又は前記板状のキャリア基材上に接着によって適用されることを特徴とする、請求項7〜10のいずれか1項に記載のフィルタ。
- 箔として形成された前記フィルタ層(25)は、中心に開口部を有するガラス板であり、前記ガラス板に接着されるか、又は前記ガラス板に接着によって適用されることを特徴とする、請求項7〜10のいずれか1項に記載のフィルタ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102012111572.9 | 2012-11-29 | ||
DE102012111572 | 2012-11-29 | ||
PCT/EP2013/072001 WO2014082795A1 (de) | 2012-11-29 | 2013-10-22 | Verfahren und vorrichtung zur durchführung einer röntgenfluoreszenzanalyse |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015535610A JP2015535610A (ja) | 2015-12-14 |
JP6343621B2 true JP6343621B2 (ja) | 2018-06-13 |
Family
ID=49485712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015544395A Active JP6343621B2 (ja) | 2012-11-29 | 2013-10-22 | 蛍光x線分析を実施するための方法及びデバイス |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9513238B2 (ja) |
EP (1) | EP2926124B1 (ja) |
JP (1) | JP6343621B2 (ja) |
KR (1) | KR102140602B1 (ja) |
CN (1) | CN104956211B (ja) |
HK (1) | HK1211343A1 (ja) |
RU (1) | RU2623689C2 (ja) |
WO (1) | WO2014082795A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9322062B2 (en) | 2013-10-23 | 2016-04-26 | Genia Technologies, Inc. | Process for biosensor well formation |
TWI649118B (zh) | 2016-05-10 | 2019-02-01 | 譜光儀器股份有限公司 | 偵測帶電粒子裝置及體現該裝置於質譜法的設備 |
DE102017003517A1 (de) * | 2017-04-11 | 2018-10-11 | Universität Hamburg | Verfahren und Messvorrichtung zur Röntgenfluoreszenz-Messung |
CN112638261A (zh) * | 2018-09-04 | 2021-04-09 | 斯格瑞公司 | 利用滤波的x射线荧光的系统和方法 |
EP3918372A1 (en) | 2019-01-30 | 2021-12-08 | NDC Technologies Inc. | Radiation-based thickness gauge |
CN109975342A (zh) * | 2019-04-03 | 2019-07-05 | 成都理工大学 | 一种x射线管的光谱稳定性校正方法及装置 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US8781070B2 (en) * | 2011-08-11 | 2014-07-15 | Jordan Valley Semiconductors Ltd. | Detection of wafer-edge defects |
-
2013
- 2013-10-22 JP JP2015544395A patent/JP6343621B2/ja active Active
- 2013-10-22 WO PCT/EP2013/072001 patent/WO2014082795A1/de active Application Filing
- 2013-10-22 KR KR1020157016446A patent/KR102140602B1/ko active IP Right Grant
- 2013-10-22 EP EP13782684.8A patent/EP2926124B1/de not_active Not-in-force
- 2013-10-22 CN CN201380062406.6A patent/CN104956211B/zh active Active
- 2013-10-22 US US14/648,264 patent/US9513238B2/en active Active
- 2013-10-22 RU RU2015124496A patent/RU2623689C2/ru active
-
2015
- 2015-12-08 HK HK15112057.8A patent/HK1211343A1/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014082795A1 (de) | 2014-06-05 |
US9513238B2 (en) | 2016-12-06 |
EP2926124B1 (de) | 2019-01-09 |
US20150300966A1 (en) | 2015-10-22 |
RU2623689C2 (ru) | 2017-06-28 |
EP2926124A1 (de) | 2015-10-07 |
KR102140602B1 (ko) | 2020-08-05 |
JP2015535610A (ja) | 2015-12-14 |
CN104956211A (zh) | 2015-09-30 |
HK1211343A1 (en) | 2016-05-20 |
RU2015124496A (ru) | 2017-01-11 |
KR20150088833A (ko) | 2015-08-03 |
CN104956211B (zh) | 2019-01-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160803 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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