JP6340069B2 - 太陽電池の製造方法 - Google Patents

太陽電池の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6340069B2
JP6340069B2 JP2016511299A JP2016511299A JP6340069B2 JP 6340069 B2 JP6340069 B2 JP 6340069B2 JP 2016511299 A JP2016511299 A JP 2016511299A JP 2016511299 A JP2016511299 A JP 2016511299A JP 6340069 B2 JP6340069 B2 JP 6340069B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oxide film
diffusion
solar cell
diffusion layer
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2016511299A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2015151288A1 (ja
Inventor
隼人 幸畑
隼人 幸畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of JPWO2015151288A1 publication Critical patent/JPWO2015151288A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6340069B2 publication Critical patent/JP6340069B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic System
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Description

本発明は、太陽電池の製造方に関する。
従来、結晶シリコン太陽電池において、受光面側の拡散層の拡散濃度及び深さは表面再結合速度及び拡散層内の再結合速度を決定する要因であるため、変換効率に大きな影響を及ぼす。拡散層の不純物濃度依存性として、高濃度になると再結合速度が増加するが、一方で電極との接触抵抗及び表面導電率は低下するため内部抵抗損失は低減される。従来の太陽電池の拡散層では、再結合と内部抵抗損失のバランスを考えた設計を行ってきた。
太陽電池の高効率化のため、電極下部を高濃度に、それ以外の受光面部を低濃度にする構造が提案されており、この構造は選択拡散層(セレクティブエミッタ)構造と呼ばれている。しかしながら、太陽電池の作製プロセスの複雑化を招くという問題がある。
例えば、特許文献1のように受光面部拡散層を形成し、次に電極形成部に不純物を含むペーストを印刷し再度熱処理する方法がある。また、特許文献2のように、不純物濃度の異なるドーピングペーストを印刷し、一度の熱処理で選択拡散層を形成する技術が提案されている。またその他にも、電極形成部の濃度に合わせて全面に不純物を拡散し、電極形成部以外の拡散層の最表面をエッチングにより除去する技術、或いは電極形成部以外の拡散層をすべて除去し、次に低濃度に熱拡散を行うなどの技術が開示されている。
特開2004−281569号公報 特開2004−273826号公報
しかしながら、特許文献1の方法では、プロセスは簡便ではあるが、2回目の熱処理でオートドーピングが生じることがある。また特許文献2の方法では、複数回のドーピングペースト塗布工程が必要であり、マスク合わせを必要とするなど、製造工程が複雑であった。このように上記従来の技術によれば、受光面側の拡散層の最適化が難しいという問題があった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、拡散層の濃度制御を容易にしつつ、受光面の表面濃度の低濃度化、電極下の不純物濃度の高濃度により高効率化を図ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、受光面を構成する第1の面と、第1の面に対向する第2の面とを有する第1導電型の半導体基板を用意する。そして、第1の面に第2導電型の拡散層を形成する第1の拡散工程と、第2導電型の拡散層の形成された半導体基板の第1の面の一部の領域に選択的に、第2導電型の拡散源を含む膜を形成する第2の工程と、拡散源の形成された半導体基板に対し、酸化雰囲気中で熱処理を行い、拡散源からの拡散により第1の面のうち拡散源に当接する領域に選択的に高濃度拡散層を形成するとともに、高濃度拡散層を除く受光面を熱酸化して熱酸化膜を形成する第3の工程と、高濃度拡散層上に第1の電極を形成する工程と、第2の面に第2の電極を形成する工程とを含むことを特徴としている。
本発明にかかる太陽電池によれば、表面を熱酸化することにより、欠陥を多く含む最表面を酸化膜に取り込む一方で、電極形成部は酸化処理時にドーピングペーストから不純物が拡散するため、低抵抗化が可能となる。従って、電極との接触抵抗を充分に低減できるため、高効率化に有効である。酸化時に形成された酸化膜は、透過率が高いため吸収損失はなく、一般的に熱酸化膜は界面準位密度が低いため、パッシベーション効果も期待できる。さらに、水蒸気雰囲気中で酸化処理を行うことで、表面の酸化量を増加させることが可能であり、表面濃度を充分に下げることが可能である。また、受光面の拡散層の最表面の高濃度領域の除去領域は熱酸化により形成した酸化膜の厚さで制御できるため、薬品によりシリコンをエッチングする手法と比較して、面内均一性及び処理ごとの再現性を管理し易い。
図1は、実施の形態1の太陽電池を示す図であり、(a)は上面図、(b)は、(a)のA−A断面図、(c)は、受光面の拡散層の濃度プロファイルを示す説明図である。 図2は、実施の形態1の太陽電池の製造工程を説明するフローチャートを示す図である。 図3(a)〜(c)は、実施の形態1の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図4(a)〜(c)は、実施の形態1の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図5(a)〜(c)は、実施の形態1の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図6は、実施の形態2の太陽電池を示す図である。 図7は、実施の形態2の太陽電池の製造工程を説明するフローチャートを示す図である。 図8(a)〜(c)は、実施の形態2の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図9(a)および(b)は、実施の形態2の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図10は、実施の形態3の太陽電池を示す図である。 図11は、実施の形態3の太陽電池の製造工程を説明するフローチャートを示す図である。 図12(a)〜(c)は、実施の形態3の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図13(a)〜(d)は、実施の形態3の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図14は、実施の形態4の太陽電池を示す図である。 図15は、実施の形態4の太陽電池の製造工程を説明するフローチャートを示す図である。 図16(a)〜(c)は、実施の形態4の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。 図17(a)〜(c)は、実施の形態4の太陽電池の製造工程を説明する工程断面図である。
以下に、本発明にかかる太陽電池の製造方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、以下に示す図面においては、理解の容易のため各層あるいは各部材の縮尺が現実と異なる場合があり、各図面間においても同様である。また、平面図であっても、図面を見易くするためにハッチングを付す場合がある。
本発明の実施の形態の太陽電池の製造方法にかかる、選択拡散層形成工程を説明する。実施の形態として、拡散時に形成される酸化膜を除去する工程を含む場合と、熱酸化時に形成された酸化膜を除去する工程を含む場合が想定されるため、以下に実施の形態1〜4として4種類のプロセスを説明する。
いずれのプロセスにおいても、集電電極形成領域に高濃度層を形成するための追加拡散時に、酸化膜を形成しながら拡散を行うことで、集電電極形成領域以外では、拡散層からの拡散により、酸化膜に不純物を取り込むことで、最表面の不純物濃度が表面部よりも低くなるようにしている。実施の形態1,3および4では、拡散時に形成された不純物を含む酸化膜を除去している。このように拡散時に形成された不純物を含む酸化膜を除去しておくことで、その後の酸化処理により、最表面の高濃度領域を酸化膜中に取り込みやすくできる。しかし、拡散条件、酸化条件を調整することで不純物を含む酸化膜を残しても、表面濃度の低濃度化も考えられる。除去工程を減らすことができれば、プロセスの低減が可能である。
また、熱酸化により形成された酸化膜はパッシベーションの観点から残すことが好ましいが、条件によっては膜厚が必要以上に厚くなる場合があり、光学的に問題になる場合は除去するべきである。以下、各工程について説明する。
実施の形態1.
まず、実施の形態1の方法では、全面に対して拡散層を形成する全面拡散時に形成された酸化膜を除去し、選択拡散に際して形成された熱酸化時の膜は残す場合について説明する。図1は、実施の形態1の太陽電池を示す図であり、(a)は上面図、(b)は(a)のA−A断面図、(c)は、受光面の拡散層の濃度プロファイルを示す説明図である。図2はその製造工程を説明するフローチャートを示す図、図3(a)〜(c)、図4(a)〜(c)、図5(a)〜(c)は、実施の形態1の太陽電池の製造工程を示す工程断面図である。
本実施の形態では、受光面の拡散層2の形成された基板1の第1の面1Aの一部に、高濃度拡散層5を形成するに際し、拡散源を形成した状態で熱酸化することで、受光面の拡散層2の最表面の不純物を熱酸化膜6中に取り込む。これにより図1(c)に受光面の拡散層の濃度プロファイルを示すように、受光面の拡散層2の最表面2Tの不純物濃度を内側よりも低くなるようにしている。拡散層2の最内面2Bの不純物濃度は最表面2Tよりも高い。8は受光面側に形成される第1の集電電極である。8Gはグリッド電極である。本実施の形態では、ドーピングペースト4から熱拡散を行い高濃度拡散層5を形成するための熱酸化で形成された熱酸化膜6を除去しないため、第1の集電電極8のまわりの高濃度拡散層5上には、ドーピングペースト4の残渣が残留し、高濃度拡散層5以外の領域の低濃度の拡散層2上には、熱酸化膜6が残留しており、パッシベーション効果が高い構造となっている。
基板1としてはn型単結晶シリコン基板を用いる。n型結晶シリコン基板には、n型単結晶シリコン基板が好ましい。n型の単結晶は欠陥が少なく太陽電池の高い出力特性が期待できるためである。ただし、基板に多結晶シリコン基板を用いても良いし、また、p型基板でも良い。n型単結晶シリコン基板は、シリコンインゴットをスライスすることで得られる。これにより生じたスライスダメージを、例えば、フッ化水素水溶液(HF)と硝酸(HNO3)との混酸またはNaOHなどのアルカリ水溶液でエッチングして除去する。このようにして、基板1表面のダメージ層を除去し(ステップS101)、図3(a)に示すように、受光面としての第1の面1Aと、この第1の面に対向する第2の面1Bとを有する基板1を得る。
次に、図3(b)に示すように、基板1の第1および第2の面1A,1Bに反射率低減を目的としたテクスチャー1Tを形成する(ステップS102)。ウェットエッチング(アルカリを用いた異方性エッチング)により、基板1の受光面である第1の面1A側の表面上に底辺長100nm〜30μmサイズのマイクロピラミッドがランダムに形成されたランダムピラミッド形状を得る。エッチング液は、NaOH、KOH、水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)などのアルカリ液を用い、これにIPAなどのアルコール系添加剤、界面活性剤もしくはオルソケイ酸ナトリウムなどのケイ酸塩化合物を添加している。エッチング温度は30℃〜120℃が好ましく、エッチング時間は、2min〜60minが好ましい。
次に、図3(c)に示すように、基板1の第1および第2の面1A,1Bに不純物拡散を行い、受光面の拡散層2を形成する(ステップS103)。この時、表面に酸化膜3(ドーピングガラス)が形成されている。基板1がp型の場合はリンなどのドナーを、n型の場合はボロンなどのアクセプタを不純物として用いる。拡散後のシート抵抗値としては、30Ω/sq〜80Ω/sqである。
次に、図4(a)に示すように、拡散工程で形成された酸化膜3を除去する(ステップS104)。
そして、図4(b)に示すように、スクリーン印刷によりドーピングペースト(DP)4を集電電極形成領域に印刷する(ステップS105)。これは、次工程の熱処理時に電極接合部のみ不純物濃度を高くするための拡散源である。p型の基板を用いた場合はドナーを、n型の基板を用いた場合はアクセプタを含むペーストを用いる。
そして、図4(c)に示すように、酸化雰囲気中で750〜1000℃の熱処理を行う(熱酸化:ステップS106)。酸化処理はドライ、ウェットどちらでもかまわない。このとき、ドーピングペースト4下部は基板1内に不純物が拡散し処理前より高濃度になり、それ以外の領域はシリコン最表面が酸化するため、高濃度拡散層5を除く受光面の拡散層2の最表面の不純物が熱酸化膜6に取り込まれ低濃度になる。
ここで形成された熱酸化膜6はそのまま使用してもかまわない。特に、n型の基板を用いてボロンを拡散した場合は、熱酸化膜6をパッシベーション膜として用いることが好ましい。
ここまでで、受光面の拡散層2は電極形成部すなわち高濃度拡散層5とこの高濃度拡散層5のまわりの受光面部がそれぞれ適した不純物濃度となるように形成できる。溶液などを用いてエッチバックする手法と比較して、熱酸化によりエッチングする表面層が決定されるため、面内分布が均一であり、処理ごとの均一性も高くなり、安定して製造可能である。また、本プロセスを用いることで拡散工程及び、熱酸化工程の処理温度、処理時間、ガス流量を調整することで、電極形成部すなわち高濃度拡散層5と受光面の拡散層2の不純物濃度を広範囲に設定可能である。
次に図5(a)に示すように、裏面の拡散層2を除去し、pn分離を実施する(裏面エッチング:ステップS107)。pn分離はその他の方法でも構わない。
次に図5(b)に示すように、反射防止膜7を形成する(ステップS108)。反射防止膜7としては、SiN、TiO2、SiOなどが一般的であり、成膜方法としてはCVD、スパッタ、蒸着法などがある。
次に、図5(c)に示すように電極を印刷する(ステップS109)。一般的にはスクリーン印刷を用いた方法で受光面にはAgからなる第1の集電電極8を、裏面にはタブ付け用のAgからなる第2の集電電極10とそれ以外の部分にAl電極9を形成する。そして、焼成を行う(ステップS110)ことでコンタクトをとり、同時にBSF層11の形成を行い図1に示した太陽電池セルが完成する。
実施の形態1では、拡散時に形成された酸化膜3を除去することにより、熱酸化時に表面濃度を大きく低下できるという効果がある。また、熱酸化時の膜を残すようにすれば、高いパッシベーション効果を得ることができる。
本実施の形態では、ドーピングペースト4から熱拡散を行い高濃度拡散層5を形成するための熱酸化で形成された熱酸化膜6を除去しないため、熱酸化膜6とともにドーピングペースト4の残渣がセル化後も存在する。熱酸化膜6を除去するためのエッチング工程を実施しないために、表面が露呈し汚染することもなく確実に安定な状態で維持される。
実施の形態2.
前記実施の形態1では、拡散工程(ステップS103)で形成された酸化膜3を除去した後、ドーピングペースト4を形成したが、本実施の形態では、酸化膜3を除去することなくそのまま残した工程である。拡散時に形成された酸化膜3を残すことにより、高いパッシベーション効果を得ようとするものである。図6は、実施の形態2の太陽電池を示す図、図7はその製造工程を説明するフローチャートを示す図、図8(a)〜(c)、図9(a)および(b)は、工程断面図である。本実施の形態の太陽電池は、図6に示すように、図1に示した実施の形態1の太陽電池に比べ、酸化膜3が受光面側に残留している点が異なるのみであり、他は前記実施の形態1の太陽電池と同様である。従ってここでは説明を省略する、同一部位には同一符号を付した。本実施の形態でも、実施の形態1と同様、ドーピングペースト4から熱拡散を行い高濃度拡散層5を形成するための熱酸化で形成された熱酸化膜6を除去しないため、第1の集電電極8のまわりの高濃度拡散層5上には、ドーピングペースト4の残渣が残留し、高濃度拡散層5以外の領域の低濃度の拡散層2上には、熱酸化膜6が残留しており、パッシベーション効果が高い構造となっている。
次に、実施の形態2の太陽電池の製造工程について説明する。ダメージ層除去(ステップS201)、テクスチャー形成(ステップS202)、拡散(ステップS203)工程については、実施の形態1の図3(a)から(c)に示した、ダメージ層除去(ステップS101)、テクスチャー形成(ステップS102)、拡散(ステップS103)工程とまったく同様である。ここでは図示を省略する。
実施の形態1では拡散ステップS103後に、酸化膜3を除去する酸化膜除去ステップS104を実施したが、本実施の形態では、酸化膜3を除去する酸化膜除去ステップなしに、酸化膜3を残したまま、ドーピングペースト4を印刷する工程に進む(ステップS205)。
つまり、図(c)に示したのと同様に、基板1の第1および第2の面1A,1Bに不純物拡散を行い、受光面の拡散層2を形成する(ステップS203)。この時、表面に酸化膜3(ドーピングガラス)が形成されているが、本実施の形態ではそのまま残す。
次に、図8(a)に示すように、拡散工程で形成された酸化膜3を除去することなく、この上層に、スクリーン印刷によりドーピングペースト(DP)4を集電電極形成領域に印刷する(ステップS205)。これは、次工程の熱処理時に電極接合部のみ不純物濃度を高くするための拡散源である。あとは前記実施の形態1と同様である。
そして、図8(b)に示すように、酸化雰囲気中で750〜1000℃の熱処理を行う(熱酸化:ステップS206)。ここでも、酸化処理は、ドライ、ウェットどちらでもかまわない。このとき、ドーピングペースト4下部は基板1内に不純物が拡散し処理前より高濃度になり、それ以外の領域はシリコン最表面が少し酸化するため、受光面の拡散層2の最表面の不純物が酸化膜3に取り込まれ低濃度になる。この酸化膜3は若干厚くなる。
ここで形成された熱酸化膜6はそのまま使用してもかまわない。特に、n型の基板1を用いてボロンを拡散した場合は、酸化膜をパッシベーション膜として用いることが好ましい。
次に図8(c)に示すように、裏面の拡散層2を除去し、pn分離を実施する(裏面エッチング:ステップS207)。pn分離はその他の方法でも構わない。
次に図9(a)に示すように、反射防止膜7を形成する(ステップS208)。反射防止膜7としては、SiN、TiO2、SiOなどが一般的であり、成膜方法としてはCVD、スパッタ、蒸着法などがある。
次に、図9(b)に示すように電極を印刷する(ステップS209)。一般的にはスクリーン印刷を用いた方法で受光面側の第1の集電電極8にはAgを、裏面側の第2の集電電極10にはタブ付け用のAg電極とそれ以外の部分にAl電極9を形成する。そして、焼成を行う(ステップS210)ことでコンタクトをとり、同時にBSF層11の形成を行い図6に示した太陽電池セルが完成する。
実施の形態2では、拡散時に形成された酸化膜3を除去することなく残しているため、酸化膜3と熱酸化膜6とが、第1の集電電極8のまわりに残留していることになり、高いパッシベーション効果を得ることができる。つまり、これら酸化膜3と熱酸化膜6はパッシベーション膜としての作用を奏功する。
以上のように、本実施の形態においては、拡散時に形成された酸化膜3に加え、ドーピングペースト4から熱拡散を行い高濃度拡散層5を形成するための熱酸化で形成された熱酸化膜6を除去しないため、熱酸化膜6とともにドーピングペースト4の残渣がセル化後も存在する。熱酸化膜6を除去するためのエッチング工程を実施しないために、表面が露呈し汚染することもなく確実に安定な状態で維持される。
実施の形態3.
前記実施の形態1では、熱酸化工程(ステップS106)で形成された熱酸化膜6については、除去することなく、そのまま残して裏面エッチング(S107)および反射防止膜形成ステップ(S108)を実行したが、本実施の形態では、拡散時に形成された酸化膜3は除去し、熱酸化時の膜すなわち熱酸化膜6についても除去するようにして、残さない場合について説明する。図10は、実施の形態3の太陽電池を示す図、図11はその製造工程を説明するフローチャートを示す図、図12(a)〜(c)、図13(a)〜(d)は、工程断面図である。本実施の形態の太陽電池は、図1に示した実施の形態1の太陽電池に比べ、熱酸化膜6が受光面側に残留していない点が異なるのみであり、他は前記実施の形態1の太陽電池と同様である。従ってここでは説明を省略する、同一部位には同一符号を付した。
次に、実施の形態3の太陽電池の製造工程について説明する。ダメージ層除去(ステップS301)、テクスチャー形成(ステップS302)、拡散(ステップS303)工程、酸化膜除去(ステップS304)、ドーピングペースト印刷(ステップS305)、熱酸化(ステップS306)については、実施の形態1のダメージ層除去(ステップS101)、テクスチャー形成(ステップS102)、拡散(ステップS103)工程、酸化膜除去(ステップS104)、ドーピングペースト形成(ステップS105)、熱酸化(ステップS106)とまったく同様である。
図3(a)〜(c)に示したように、ダメージ層除去(ステップS301)、テクスチャー形成(ステップS302)、拡散(ステップS303)を行った後、図12(a)に示すように、酸化膜除去(ステップS304)、図12(b)に示すように、ドーピングペースト印刷(ステップS305)、図12(c)に示すように、熱酸化(ステップS306)を行う。そして熱酸化(ステップS306)後、次に、図13(a)に示すように、熱酸化膜6を除去する(ステップS306S)。熱酸化膜6は、厚すぎる場合は、光学的に問題になる場合があるが、除去することで、光学特性は向上する。パッシベーション性を高める場合は、追加の成膜を実施しても良い。
次に図13(b)に示すように、裏面の拡散層2を除去し、pn分離を実施する(裏面エッチング:ステップS307)。pn分離はその他の方法でも構わない。
次に図13(c)に示すように、反射防止膜7を形成する(ステップS308)。反射防止膜7としては、SiN、TiO2、SiOなどが一般的であり、成膜方法としてはCVD、スパッタ、蒸着法などがある。
次に、図13(d)に示すように電極を印刷する(ステップS309)。一般的にはスクリーン印刷を用いた方法で受光面にはAgからなる第1の集電電極8を、裏面にはタブ付け用のAgからなる第2の集電電極10とそれ以外の部分にAl電極9を形成する。そして、焼成を行う(ステップS310)ことでコンタクトをとり、同時にBSF層11の形成を行い図10に示した太陽電池セルが完成する。
本実施の形態では、拡散時に形成された酸化膜3を除去することにより、熱酸化時に表面濃度を大きく低下できるという効果がある。また、熱酸化膜6が厚い場合、光学的損失が大きい場合があるのに対し、熱酸化膜6をも除去することにより、光学的な損失を低減することができる。
実施の形態4.
前記実施の形態2では、拡散時に形成された酸化膜3も、熱酸化時の膜すなわち熱酸化膜6も除去せず、残したが、本実施の形態では、拡散時に形成された酸化膜3は除去することなく残すが、熱酸化膜6は除去するようにした場合について説明する。図14は、実施の形態4の太陽電池を示す図、図15はその製造工程を説明するフローチャートを示す図、図16(a)〜(c)および図17(a)〜(c)は、工程断面図である。本実施の形態の太陽電池は、図6に示した実施の形態2の太陽電池に比べ、熱酸化膜6が受光面側に残留していない点が異なるのみであり、他は前記実施の形態2の太陽電池と同様である。従ってここでは説明を省略する、同一部位には同一符号を付した。
次に、実施の形態4の太陽電池の製造工程について説明する。ダメージ層除去(ステップS401)、テクスチャー形成(ステップS402)、拡散(ステップS403)工程、ドーピングペースト印刷(ステップS405)、熱酸化(ステップS406)については、実施の形態2のダメージ層除去(ステップS201)、テクスチャー形成(ステップS202)、拡散(ステップS203)工程、ドーピングペースト印刷(ステップS205)、熱酸化(ステップS206)とまったく同様である。
図16(a)に示すようにドーピングペースト印刷(ステップS405)を行った後、図16(b)に示すように、酸化雰囲気中で750〜1000℃の熱処理を行う(熱酸化ステップS06)。酸化処理はドライ、ウェットどちらでもかまわない。図16()に示したようにドーピングペースト4下部は基板1内に不純物が拡散し処理前より高濃度になり、それ以外の領域は基板1の最表面が酸化するため、高濃度不純物領域が酸化膜3および熱酸化膜6に取り込まれ低濃度になる。
熱酸化(ステップS406)後、次に、図16(c)に示すように、熱酸化膜6を除去する(ステップS406S)。熱酸化膜6は、厚すぎる場合は、光学的に問題になる場合があるが、除去することで、光学特性は向上する。パッシベーション性を高める場合は、追加の成膜を実施しても良い。
次に図17(a)に示すように、裏面の拡散層2を除去し、pn分離を実施する(裏面エッチング:ステップS407)。pn分離はその他の方法でも構わない。
次に図17(b)に示すように、反射防止膜7を形成する(ステップS408)。反射防止膜7としては、SiN、TiO2、SiOなどが一般的であり、成膜方法としてはCVD、スパッタ、蒸着法などがある。
次に、図17(c)に示すように電極を印刷する(ステップS409)。一般的にはスクリーン印刷を用いた方法で受光面にはAgからなる第1の集電電極8を、裏面にはタブ付け用のAgからなる第2の集電電極10とそれ以外の部分にAl電極9を形成する。そして、焼成を行う(ステップS410)ことでコンタクトをとり、同時にBSF層11の形成を行い図14に示した太陽電池セルが完成する。
実施の形態4では、拡散時に形成された酸化膜3を除去しないことにより、プロセスを省略できる。また、熱酸化膜6はパッシベーション膜としての作用を奏功する。さらにまた、熱酸化膜6が厚い場合、熱酸化膜6を除去することにより、光学的な損失を低減できる。
また、実施の形態1から4に共通して、拡散後、ドーピングペーストを印刷してから熱酸化することで、シリコン表面の受光面領域の不純物濃度を低くすると共に、シリコン表面の電極下領域の不純物濃度を高くすることが可能となるという効果がある。
以上のように、実施の形態1〜4の方法を用いることで、工数を大幅に増やすことなくセレクティブエミッタ構造を形成可能であり、太陽電池の高効率化が可能である。また、従来の製造工程に組み込むことが可能であり、量産時における太陽電池の特性の均一化にも寄与する。
本発明のいくつかの実施の形態を説明したが、これらの実施の形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施の形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1 基板、2 拡散層、3 酸化膜、4 ドーピングペースト、5 高濃度拡散層、6 熱酸化膜、7 反射防止膜、8 第1の集電電極、9 Al電極、10 第2の集電電極、11 BSF層。

Claims (5)

  1. 受光面を構成する第1の面と、前記第1の面に対向する第2の面とを有する第1導電型の半導体基板を用意する工程と、
    前記第1の面に第2導電型の拡散層を形成する第1の拡散工程と、
    前記第2導電型の拡散層の形成された前記半導体基板の前記第1の面の一部の領域に選択的に、第2導電型の拡散源を含む膜を形成する第2の工程と、
    前記拡散源の形成された前記半導体基板に対し、酸化雰囲気中で熱処理を行い、前記拡散源からの拡散により前記第1の面のうち前記拡散源に当接する領域に選択的に高濃度拡散層を形成するとともに、前記高濃度拡散層を除く受光面を熱酸化して熱酸化膜を形成する第3の工程と、
    前記高濃度拡散層上に第1の電極を形成する工程と、
    前記第2の面に第2の電極を形成する工程とを含む太陽電池の製造方法。
  2. 前記第3の工程は、水蒸気雰囲気中で熱処理を行う工程を含む請求項1に記載の太陽電池の製造方法。
  3. 前記第1の拡散工程後、前記第2の工程に先立ち、
    前記第1の拡散工程で生成された酸化膜を除去する工程を含む請求項1または2に記載の太陽電池の製造方法。
  4. 前記第1の電極を形成する工程に先立ち、前記第3の工程で生成された前記熱酸化膜を除去する工程を含む請求項1から3のいずれか1項に記載の太陽電池の製造方法。
  5. 前記第2導電型の不純物がボロンであり、前記第3の工程で生成された熱酸化膜を除去することなく残し、パッシベーション膜とする請求項1から3のいずれか1項に記載の太陽電池の製造方法。
JP2016511299A 2014-04-04 2014-04-04 太陽電池の製造方法 Expired - Fee Related JP6340069B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2014/060012 WO2015151288A1 (ja) 2014-04-04 2014-04-04 太陽電池の製造方法および太陽電池

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015151288A1 JPWO2015151288A1 (ja) 2017-04-13
JP6340069B2 true JP6340069B2 (ja) 2018-06-06

Family

ID=54239648

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016511299A Expired - Fee Related JP6340069B2 (ja) 2014-04-04 2014-04-04 太陽電池の製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20170025561A1 (ja)
JP (1) JP6340069B2 (ja)
CN (1) CN106133922B (ja)
WO (1) WO2015151288A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9911873B2 (en) * 2015-08-11 2018-03-06 Alliance For Sustainable Energy, Llc Hydrogenation of passivated contacts
WO2018109849A1 (ja) 2016-12-13 2018-06-21 信越化学工業株式会社 高効率裏面電極型太陽電池セル、太陽電池モジュール、及び太陽光発電システム
WO2018229946A1 (ja) * 2017-06-15 2018-12-20 三菱電機株式会社 光電変換装置
CN114792745B (zh) * 2022-06-24 2023-05-23 山东芯源微电子有限公司 一种高效的太阳能发电基片导线区掺杂方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5414298B2 (ja) * 2009-02-13 2014-02-12 信越化学工業株式会社 太陽電池の製造方法
CN101764179A (zh) * 2009-12-31 2010-06-30 中山大学 一种选择性前表面场n型太阳电池的制作方法
US8105869B1 (en) * 2010-07-28 2012-01-31 Boris Gilman Method of manufacturing a silicon-based semiconductor device by essentially electrical means
JP2012049424A (ja) * 2010-08-30 2012-03-08 Shin Etsu Chem Co Ltd 太陽電池及びその製造方法
JP5723143B2 (ja) * 2010-12-06 2015-05-27 シャープ株式会社 裏面電極型太陽電池の製造方法、および裏面電極型太陽電池
JPWO2012096018A1 (ja) * 2011-01-13 2014-06-09 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法及び太陽電池素子の製造方法
CN103503169A (zh) * 2011-08-11 2014-01-08 日本合成化学工业株式会社 太阳能电池的制法及通过其得到的太阳能电池
CN102593244B (zh) * 2012-02-09 2014-12-24 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 一种选择性发射极晶体硅太阳电池的制备方法
CN102881772B (zh) * 2012-10-15 2015-10-07 浙江正泰太阳能科技有限公司 一种选择性发射极太阳能电池的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2015151288A1 (ja) 2017-04-13
WO2015151288A1 (ja) 2015-10-08
CN106133922B (zh) 2018-07-20
US20170025561A1 (en) 2017-01-26
CN106133922A (zh) 2016-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5117770B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JP5885891B2 (ja) 太陽電池の製造方法および太陽電池
JP6091458B2 (ja) 光電変換装置およびその製造方法
JP6340069B2 (ja) 太陽電池の製造方法
TWI538244B (zh) Method for manufacturing solar cells
JP6144778B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JP5830143B1 (ja) 太陽電池セルの製造方法
JP5408022B2 (ja) 太陽電池セル及びその製造方法
JP2010232530A (ja) 光電変換素子の製造方法および光電変換素子
JP5726134B2 (ja) 太陽電池セルの製造方法
JP2014229826A (ja) 太陽電池素子の製造方法および太陽電池素子
WO2012176839A1 (ja) 裏面電極型太陽電池の製造方法
KR101160116B1 (ko) 후면 접합 태양전지의 제조방법
JP2010118473A (ja) 太陽電池セルおよびその製造方法
TW201312769A (zh) 低反射基板之製造方法,及光電動勢裝置之製造方法
JP2013161818A (ja) 太陽電池の製造方法
JP2016032073A (ja) 太陽電池セルの製造方法および太陽電池セルの製造装置
JP6116616B2 (ja) 裏面電極型太陽電池及びその製造方法
JP5430751B2 (ja) 低反射基板の製造方法、および光起電力装置の製造方法
JP2011238846A (ja) 太陽電池セルの製造方法
JP6494414B2 (ja) 太陽電池セルの製造方法
TWI681566B (zh) 太陽能電池以及其製造方法
JP2013030687A (ja) 太陽電池の製造方法
TWI459575B (zh) 太陽能電池製造方法
TWI720955B (zh) 太陽能電池及太陽能電池模組

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170606

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170803

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180206

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180329

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20180409

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180508

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180511

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6340069

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees