JP6323774B2 - 電界発光素子 - Google Patents

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Description

本発明は、電界発光素子に関するものである。
電界発光素子は、例えば、数V〜数十V程度の低電圧で発光が可能であり、また、蛍光性有機化合物の種類を選択することにより種々の色の発光が可能なことから、様々な発光素子、表示素子等への応用が期待されている。
電界発光素子は、陽極から正孔を、陰極から電子を注入し、それぞれを発光層まで輸送した後に、両キャリアを再結合させて発光を得るデバイスである。陽極から発光層へ正孔を注入、輸送するためには、通常0.3から1eV程度のエネルギー障壁を越えねばならず、デバイス構成に相応した電圧を必要とする。このため青色発光素子や燐光発光素子のような障壁の大きな素子では、駆動電圧に起因する消費電力の大きさが問題であった。
このようなエネルギー障壁に起因する駆動電圧を低減する目的で、電子アクセプター、あるいは電子ドナーを有機材料中にドーピングする手法が試みられている。これらのデバイスでは、有機材料を強制的に酸化、あるいは還元することで、それぞれ正孔、あるいは電子を有機層中に発生させ、注入障壁を大幅に低下させることが可能となった。
電子アクセプターを使用する場合、通常は典型的な正孔注入材料、あるいは正孔輸送材料であるトリアリールアミンにドーピングする場合が殆どであるが、特許文献1には炭化水素化合物であるアントラセン誘導体にドーピングした事例が示されている。電子アクセプターを、イオン化ポテンシャルの大きなアントラセン誘導体にドーピングして正孔注入層とし、かつ正孔輸送層にもアントラセン誘導体を用いることで、陽極から発光層までの正孔注入障壁を改善することに成功している。
しかしながら、炭化水素化合物であるアントラセン誘導体は結晶性が高い材料である。アントラセン誘導体は、通常はホスト材料として発光層に使用される場合が多いが、この場合には有機物である正孔輸送層上に形成されることから結晶性の問題を回避することが可能である。ところが、正孔注入層に用いる場合には、無機物である陽極上に形成されることになるため、陽極上で結晶化を起こしやすい。結晶化を起こすと、隣接する陽極や正孔輸送層と電気的なコンタクトをとることができなくなり、発光面積の減少が起こり、ひどい場合には絶縁破壊を起こす。特に、85℃動作試験や100℃保存試験のような高温環境下における結果は悪く、自動車用途など高温環境利用下での適用は困難となる。
特許5072271号公報
そこで本発明は、正孔注入材料として従来から用いられていたアントラセン誘導体に比べて、より結晶化を起こし難い材料骨格を有するアントラセン誘導体を選定することで、結晶化に基づく発光面積の減少を防ぎ、高温動作や高温保存に耐えうる電界発光素子を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明の電界発光素子は、陽極および陰極からなる一対の電極間に、少なくとも1層の発光層と、電子アクセプターおよびアントラセン誘導体を含む正孔注入層を有する電界発光素子において、前記アントラセン誘導体が下記一般式(I)、あるいは下記一般式(II)、あるいは下記一般式(III)の何れかで表されることを特徴とする電界発光素子である。
Figure 0006323774
Figure 0006323774
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(一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)において、XからX54は置換基であり、それぞれ独立に、水素原子、置換または無置換のアリール基、置換または無置換の複素環基、置換または無置換のアルキル基、アルコキシ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基の何れかを表す。連結基Lは、置換または無置換のフェニレン基、置換または無置換のビフェニレン基、置換または無置換のナフチレン基、の何れかを示す。)
アントラセン環を直結せずに、連結基を介して結合することで、多様なコンホメーションをとることが可能になるため、結晶化を抑制することができ、結果として発光面積の減少を防ぐことができる。
本発明によれば、正孔注入材料として従来から用いられていたアントラセン誘導体に比べて、より結晶化を起こし難い材料骨格を有するアントラセン誘導体を選定することで、結晶化に基づく発光面積の減少を防ぎ、高温動作や高温保存に耐えうる電界発光素子を提供することができる。
本実施形態の素子の概略である。
本発明の実施の形態について図1を参照しながら説明する。図1に示すように、電界発光素子1は、基板2上に、陽極3、正孔注入層4、正孔輸送層5、発光層6、電子輸送層7、電子注入層8、陰極9を順次有する。
基板2は、透明または半透明の材料から形成されていることが好ましく、例えば、ガラス板、透明プラスチックシート、半透明プラスチックシート、石英、透明セラミックスあるいはこれらを組み合わせた複合シートがある。なお、基板2は、不透明な材料から形成されていてもよい。この場合は、基板2の反対側から光を取り出す素子構造とすればよい。さらに、基板2に、例えば、カラーフィルター膜、色変換膜、誘電体反射膜等を組み合わせることにより、発光色をコントロールしてもよい。
陽極3は、比較的仕事関数の大きい金属、合金または電気電導性化合物を電極物質として使用することが好ましい。陽極3に使用する電極物質としては、例えば、金、白金、銀、銅、コバルト、ニッケル、パラジウム、バナジウム、タングステン、酸化錫、酸化亜鉛、ITO(インジウム・ティン・オキサイド)、ポリチオフェン、ポリピロールなどがある。これらの電極物質は、単独で使用してもよく、複数併用してもよい。陽極3は、これらの電極物質を、例えば、蒸着法、スパッタリング法等の気相成長法により、基板2の上に形成することができる。また、陽極3は、一層構造であっても、多層構造であってもよい。
正孔注入層4は陽極3からの正孔の注入を容易にする機能、注入された正孔を輸送し、正孔輸送層5に注入する機能を含有する層である。通常は、銅フタロシアニンやスターバーストアミン等のトリアリールアミン誘導体、ポリチオフェンやポリアニリン等の高分子化合物等が用いられるが、本実施形態で用いる正孔注入層4は、電子アクセプターと下記一般式(I)、あるいは下記一般式(II)、あるいは下記一般式(III)の何れかで表されるアントラセン誘導体を含む正孔注入層である。電子アクセプターの働きによりアントラセン誘導体上に正孔が発生するため、陽極3からの注入障壁を大幅に低下させることができる。
Figure 0006323774
Figure 0006323774
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(一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)において、XからX54は置換基であり、それぞれ独立に、水素原子、置換または無置換のアリール基、置換または無置換の複素環基、置換または無置換のアルキル基、アルコキシ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基の何れかを表す。連結基Lは、置換または無置換のアリーレン基、置換または無置換の複素環基、置換または無置換のアルキレン基を示す。)
正孔注入層4に用いるアントラセン誘導体は、アントラセン環同士が連結基によって連結されたアントラセン二量体である。連結基を介することで、多種多様なコンホメーションをとることが可能になるため、結晶化を強く抑制することができる。直結すると、かさ高いアントラセン環の影響を大きく受ける他、回転軸も一箇所となるために、コンホメーションが限られてしまうことで結晶化を起こし易い。このような結晶化防止策により、高温保存、あるいは高温駆動時における発光面積の減少を防ぐことができる。
一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)における置換または無置換のアリール基としては、単環もしくは多環のものであってよく、縮合環や環集合も含まれる。このようなアリール基としては、総炭素数6〜22のものが好ましく、具体的には、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、フェナントリル基、ピレニル基、ペリレニル基、ベンゾアントリル基、ジベンゾアントリル基、フルオランテニル基、ベンゾフルオランテニル基およびo−ビフェニル基、m−ビフェニル基、またはp−ビフェニル基、ターフェニル基等が挙げられ、特に好ましくはフェニル基、ナフチル基、o−、m−またはp−ビフェニル基が挙げられる。これらの置換基は合成が容易である。好ましい置換位置は、一般式(I)であればX5、X14、一般式(II)であればX23、X29、X34、一般式(III)であればX38、X43、X47、X52であり、常に何らかのアリール基で置換されていることが好ましい。通常はフェニル基で置換されていることが好ましいが、より結晶化の影響を低下させるためには、m−ビフェニル基で置換されていることが好ましい。m−ビフェニル基は、アントラセン平面上に位置することから、アントラセン環が重なり合うのを妨げ、結晶化を防止する効果がある。これら一連のアリール基はさらに置換されていてもよく、このような置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基等が挙げられる。
一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)における置換または無置換の複素環基としては、ヘテロ原子としてO,N,Sを含有する5員または6員環の芳香族複素環基、および炭素数2〜20の縮合多環芳香族複素環基等が挙げられる。芳香族複素環基および縮合多環芳香族複素環基としては、例えば、チエニル基、フリル基、ピロリル基、ピリジル基、キノリル基、キノキサリル基、カルバゾイル基、ジベンゾチエニル基、ジベンゾフラニル基等が挙げられる。複素環基は分子に極性を与えるため、無機物である陽極との密着性が改善される場合がある。特にカルバゾイル基、ジベンゾチエニル基、ジベンゾフラニル基は、主骨格が持っているHOMO、LUMO等のエネルギー準位に関する物性値を大きく変えることが無いため、好ましい材料である。中でもカルバゾイル基は、合成が容易であり、多様な置換位置が選択できることから特に好ましい材料である。これらの複素環基はさらに置換されていてもよく、このような置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、芳香族アミノ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基等が挙げられる。好ましい置換位置は、アリール基と同様に、一般式(I)であればX5、X14、一般式(II)であればX23、X29、X34、一般式(III)であればX38、X43、X47、X52である。これらの置換位置は、複素環基で置換されていない時は、何らかのアリール基で置換されていることが好ましい。
一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)におけるアルキル基としては、直鎖状でも分岐を有するものであってもよく、また環状であってもかまわない。炭素数1〜10のものが好ましく、置換基を有していても良い。このようなアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基,i−プロピル基、n−ブチル基,i−ブチル基,s−ブチル基,t−ブチル基、シクロヘキシル基等が挙げられる。置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、芳香族アミノ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基等が挙げられる。
一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)におけるアルコキシ基としては、直鎖状でも分岐を有するものであってもよく、炭素数1〜10のものが好ましく、置換基を有していても良い。このようなアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、t−ブトキシ基等が挙げられる。置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、芳香族アミノ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基等が挙げられる。
一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)における連結基Lは、置換または無置換のアリーレン基、置換または無置換の複素環基、置換または無置換のアルキレン基を示すが、置換または無置換のアリーレン基が特に好ましい。具体的には、フェニレン基、ビフェニレン基、ナフチレン基等が挙げられるが、フェニレン基が好ましい。また、連結はメタ位で行われることが好ましく、m−フェニレン基が特に好ましい。メタ位で連結することで分子の対象性が低下することから、結晶化を起こし難くなる他、分子に極性が生まれることで陽極3との密着性を改善することもできるため、高温保存、あるいは高温駆動時における発光面積の減少を大幅に抑制することができる。置換または無置換の複素環基を選択する場合には、置換または無置換のカルバゾイル基が好ましい。カルバゾイル基は分子に極性を与える他、置換位置の選択が多彩であり、結晶化しにくい連結方法を選択することができる。
以下に、一般式(I)で表される本実施形態の化合物の具体例(A−1〜A−24)を示すが、本実施形態はこれらに限定されるものではない。
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以下に、一般式(II)で表される本実施形態の化合物の具体例(B−1〜B−9)を示すが、本実施形態はこれらに限定されるものではない。
Figure 0006323774
以下に、一般式(III)で表される本実施形態の化合物の具体例(C−1〜C−6)を示すが、本実施形態はこれらに限定されるものではない。
Figure 0006323774
正孔注入層4に用いる電子アクセプターとしては、塩化アンチモン、酸化バナジウム、酸化モリブデン、酸化ルテニウム、酸化タングステン、酸化亜鉛、酸化錫、酸化鉄等の無機化合物の他、ヘキサシアノアザトリフェニレンやその誘導体のような有機物を用いることもできるが、塩化アンチモン、酸化バナジウム、酸化モリブデン等の無機化合物が好ましい。アントラセン誘導体は大きなイオン化ポテンシャル(Ip)を有する材料であり、強力な電子アクセプターと組み合わせることで高いIp準位を持つ正孔を発生させることができる。この為、正孔輸送層5や発光層6への正孔注入障壁を大幅に低下することができる。
正孔輸送層5は正孔を輸送し発光層6へ注入する機能、および電子が発光層6から正孔輸送層7に注入されるのを妨げる機能を有する化合物を含有する層である。通常の電界発光素子ではトリアリールアミン誘導体が好ましく用いられるが、本実施形態ではアントラセン誘導体が好ましい。アントラセン誘導体はトリアリールアミン誘導体に比べて遥かに大きなイオン化ポテンシャル(Ip)を有するため、正孔注入層4で発生した高いIp準位を有する正孔を、Ip準位を低下させることなく発光層6まで輸送することができる。アントラセン誘導体であれば、どのような材料でも好ましく用いることができるが、正孔注入層4で用いた材料と同一の材料を用いるのが好ましい。同一の材料であれば、正孔注入層4と正孔輸送層5との間に僅かな障壁も生じることは無い。また、プロセス上も同一の蒸着源を使用できるなどのメリットも多い他、同一材料使用による材料価格の低コスト化も期待できる。
発光層6は、注入された正孔および電子の輸送機能、正孔と電子の再結合により励起子を生成させる機能を有する化合物を含有する層であり、キャリアの輸送や薄膜構造体としての機能を有するホスト材料と、発光の機能を有する発光ドーパントを含んでいる。一般的なホスト材料としては、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の有機金属錯体、ナフタレン、アントラセン、ナフタセン、ピレン、ペリレン等の炭化水素化合物の他、カルバゾールやチオフェン、フラン等の複素環誘導体やトリアリールアミン誘導体等も用いることができる。
発光ドーパントは、正孔と電子の再結合により生成した励起子エネルギーにより発光する化合物である。高い発光量子収率を有する材料が好ましく、加えて正孔や電子をトラップする機能を有する材料がより好ましい。本実施形態では、通常用いられている発光ドーパントを用いることができ、具体的には、芳香族炭化水素、芳香族アミン化合物、スチリルアミン化合物、シアノ基を置換基に有する芳香族炭化水素化合物、キナクリドン、クマリン、ローダミン等を用いることができる。特に正孔トラップ性ドーパントである芳香族アミン化合物、スチリルアミン化合物、あるいは電子トラップ性ドーパントであるシアノ基を置換基に有する芳香族炭化水素化合物等がより好ましい。
発光ドーパントのホスト化合物に対する含有量は通常0.01〜20wt%であり、さらには0.1〜15wt%であることが好ましい。
発光層6には、さらにその他の化合物を含有させても良い。キャリア輸送材料を混ぜることで発光層のキャリア輸送性を調節できる他、蛍光色素を混ぜることで発光色を変換して使用することができる。このような化合物としては、例えば、キナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の色素化合物、トリアリールアミン誘導体等のキャリア輸送性化合物が挙げられる。
電子輸送層7は、注入された電子を輸送する機能および発光層6から正孔が注入されるのを妨げる機能を有するものである。電子輸送層7は、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノールなしいその誘導体を配位子とする有機金属錯体、オキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、トリアジン誘導体、ペリレン誘導体、キノリン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレノン誘導体、チオピランジオキサイド誘導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、イミダゾピリジン誘導体、イミダゾピリミジン誘導体、フェナントロリン誘導体等の複素環化合物、アントラセンやナフタセン、フルオランテン、アセナフトフルオランテン等の炭化水素誘導体等を少なくとも1種用いて形成することができる。
電子注入層8は、陰極9からの電子の注入を容易にする機能の他、陰極9との密着性を高める機能を有するものである。電子注入層8は、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノールなしいその誘導体を配位子とする有機金属錯体、オキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、トリアジン誘導体、ペリレン誘導体、キノリン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレノン誘導体、チオピランジオキサイド誘導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、イミダゾピリジン誘導体、イミダゾピリミジン誘導体、フェナントロリン誘導体などを少なくとも1種用いて形成することができる。また、電子注入層8と電子輸送層7の機能を併せ持つ材料を用いることで、電子注入輸送層として単層で二層分の機能を果たすことができる。素子構成によっては電子注入層8や電子輸送層7を更に機能分離した形態で使用することもできる。
また、電子ドナーとして機能する無機化合物を電子注入層8にドーピングする手法も電子注入量の向上に有効である。電子注入層8中の有機化合物が電子ドナーにより還元されることで、電子注入層8中にキャリアが発生し、陰極9からの電子注入障壁を無視できるようになるためである。この場合は、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の通常の電子注入材料に加えて、アントラセン等の炭化水素材料を用いることもできる。電子ドナーとして機能する無機化合物としては、リチウム、ナトリウム、カリウム等のアルカリ金属、およびその酸化物やハロゲン化物、あるいはカルシウム、マグネシウム等のアルカリ土塁金属、およびその酸化物やハロゲン化物等を用いることが好ましい。
陰極9は、比較的仕事関数の小さい金属およびその塩、合金、または電気電導性化合物を電極構成物質として使用することができる。例えば、金属として、リチウム、ナトリウム、カルシウム、マグネシウム、インジウム、ルテニウム、チタニウム、マンガン、イットリウム、アルミニウム、酸化物として酸化リチウム、酸化ナトリウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、弗化物として、弗化リチウム、弗化ナトリウム、弗化カルシウム、弗化マグネシウム、合金として、リチウム−インジウム合金、ナトリウム−カリウム合金、マグネシウム−銀合金、マグネシウム−インジウム合金、アルミニウム−リチウム合金、アルミニウム−カルシウム合金、アルミニウム−マグネシウム合金、電気電導性化合物としてグラファイト薄膜等を挙げることができる。
これらの電極構成物質は、単独で使用してもよく、あるいは複数併用してもよい。陰極9は、これらの電極物質を、例えば、蒸着法、スパッタリング法、イオン化蒸着法、イオンプレーティング法、クラスターイオンビーム法等の方法により、電子注入層8の上に形成することができる。また、陰極9は一層構造であっても、多層構造であってもよい。なお、電界発光素子の発光を効率よく取り出すために、陽極3または陰極9の少なくとも一方の電極が、透明ないし半透明であることが好ましく、一般に、光の透過率が80%以上となるように陽極3または陰極9の材料、厚みを設定することがより好ましい。
以下、本発明の具体的な実施例を比較例とともに示し、本実施形態をさらに詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
ガラス基板上にRFスパッタ法で、ITO透明電極薄膜を100nmの厚さに成膜した。このITO透明電極付きガラス基板を、中性洗剤、アセトン、エタノールを用いて超音波洗浄し、煮沸エタノール中から引き上げて乾燥した。透明電極表面をUV/O洗浄した後、真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、槽内を1×10−4Pa以下まで減圧した。
次に、減圧状態を保ったまま、例示化合物A−1と、電子アクセプターとしての三酸化モリブデンとを、膜厚比95:5で、全体の蒸着速度0.1nm/secで100nmの厚さに蒸着し単層膜を作製した。A−2、B−2、C−2、および下記構造のD−1、D−2の各化合物についても同様に単層膜を作製した。
Figure 0006323774
それぞれのサンプルについて、Ar置換したグローブボックス内で、50度に加熱したホットプレート上で30分加熱し、冷却後に膜の様子を観察した。D−1では結晶化に伴う白濁が全面に見られ、膜の一部に破損が見られた。D−2についても、材料の破損は見られないものの一部に白濁が見られた。A−1、A−2、B−2、C−2では白濁は見られず、結晶化が抑制されていると考えられる。
(実施例2)
ガラス基板上にRFスパッタ法で、ITO透明電極薄膜を100nmの厚さに成膜し、パターニングした。このITO透明電極付きガラス基板を、中性洗剤、アセトン、エタノールを用いて超音波洗浄し、煮沸エタノール中から引き上げて乾燥した。透明電極表面をUV/O洗浄した後、真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、槽内を1×10−4Pa以下まで減圧した。
次に、減圧状態を保ったまま、例示化合物A−1と、電子アクセプターとしての三酸化モリブデンとを、膜厚比95:5で、全体の蒸着速度0.1nm/secとして60nmの厚さに蒸着し、正孔注入層とした。
次いで、例示化合物A−1のみを蒸着速度0.1nm/secで10nmの厚さに蒸着し、正孔輸送層とした。
さらに、減圧状態を保ったまま、ホスト材料としての例示化合物A−4と、発光ドーパントとしての下記構造のE−1とを、体積比97:3で、全体の蒸着速度0.1nm/secとして40nmの厚さに蒸着し、発光層とした。
Figure 0006323774
次に、減圧状態を保ったまま、電子輸送層として例示化合物A−4のみを25nm、続けて電子注入層としてトリス(8−ヒドロキシキノリン)アルミニウム(Alq3)を5nm、蒸着速度0.1nm/secで蒸着した。
次いで、LiFを蒸着速度0.1nm/secで0.5nmの厚さに蒸着し、続けてAlを100nm蒸着して陰極を形成し、最後にガラス封止して電界発光素子を得た。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.0Vで1160cd/m2の青色発光を得た。また、85℃の恒温槽中で、10mA/cm2の直流電流を印加しながら300時間の連続駆動を行い、発光面積残存率の比較を行った。発光面積残存率の測定は、2mm×2mmの開口部を持つITO基板上に作製した素子の発光画像をコンピューター上に取り込んで解析した。具体的には、取り込んだ発光画像の発光部分と非発光部分を2値化することで分離し、発光部分の面積値を試験前と試験後とで比較することで求めた。このデバイスにおける発光面積残存率は78%であった。
(実施例3)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−2に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.2Vで1100cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は81%であった。
(実施例4)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−3に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.8Vで1270cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は76%であった。
(実施例5)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−4に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.1Vで1210cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は82%であった。
(実施例6)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−8に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.3Vで1230cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は77%であった。
(実施例7)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−9に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.2Vで1030cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は80%であった。
(実施例8)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−11に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.4Vで980cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は83%であった。
(実施例9)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−12に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.0Vで1010cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は76%であった。
(実施例10)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−17に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.9Vで1210cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は79%であった。
(実施例11)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−19に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.9Vで1190cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は80%であった。
(実施例12)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−20に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.0Vで1160cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は83%であった。
(実施例13)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物A−23に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.1Vで1090cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は81%であった。
(実施例14)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物B−1に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.9Vで1150cd/m2の青色発光を得た。また、85℃の恒温槽中で、10mA/cm2の直流電流を印加しながら300時間の連続駆動を行い、発光面積残存率を比較することにより結晶化防止効果の評価を行った。このデバイスにおける発光面積残存率は73%であった。
(実施例15)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物B−2に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.0Vで1170cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は82%であった。
(実施例16)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物B−4に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.3Vで970cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は81%であった。
(実施例17)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物C−2に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.9Vで1090cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は80%であった。
(実施例18)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物C−3に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.3Vで950cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は80%であった。
(実施例19)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を例示化合物C−5に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.9Vで1050cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は82%であった。
(比較例1)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を実施例1で用いたD−1に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ4.0Vで1020cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は53%であった。輝度および電圧の初期特性は良好であったが、発光面積残存率は著しく低下した。
(比較例2)
正孔注入層および正孔輸送層において、例示化合物A−1を実施例1で用いたD−2に変更した以外は、実施例2と同様にして電界発光素子を作製した。
この電界発光素子に10mA/cm2の直流電流を印加したところ3.9Vで1130cd/m2の青色発光を得た。また、このデバイスにおける発光面積残存率は65%であった。輝度および電圧の初期特性は良好であったが、発光面積残存率は著しく低下した。
表1に実施例2〜19および比較例1、2の結果を一覧で示す。
Figure 0006323774
以上のように、本発明に係る電界発光素子は、陽極と電子アクセプター及び炭化水素化合物からなる混合層である正孔注入層の間に緩衝層を有することで、陽極と正孔注入層の密着性を向上させることができた。その結果、素子を長時間発光させた際の発光面積残存率を、向上させた素子を提供することができた。
1 電界発光素子
2 基板
3 陽極
4 正孔注入層
5 正孔輸送層
6 発光層
7 電子輸送層
8 電子注入層
9 陰極

Claims (1)

  1. 陽極および陰極からなる一対の電極間に、少なくとも1層の発光層と、電子アクセプターおよびアントラセン誘導体を含む正孔注入層を有する電界発光素子において、前記アントラセン誘導体が下記一般式(I)、あるいは下記一般式(II)、あるいは下記一般式(III)の何れかで表されることを特徴とする電界発光素子
    Figure 0006323774
    Figure 0006323774
    Figure 0006323774
    (一般式(I)、一般式(II)、一般式(III)において、XからX54は置換基であり、それぞれ独立に、水素原子、置換または無置換のアリール基、置換または無置換の複素環基、置換または無置換のアルキル基、アルコキシ基、シリル基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシル基、チオール基の何れかを表す。連結基Lは、置換または無置換のフェニレン基、置換または無置換のビフェニレン基、置換または無置換のナフチレン基、の何れかを示す。)
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