JP6314604B2 - 照射装置 - Google Patents

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Description

本発明は、遮光マスクを保持するマスク保持部材を備えた照射装置に関する。
従来、照射装置として、2枚の光透過性基板間に紫外線硬化性樹脂からなるシール材を設け、シール材内に液晶を封止した液晶パネルに、紫外線を照射してシール材を硬化させて2枚の基板を貼り合わせる照射装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。シール材に紫外線を照射する際に、液晶に紫外線が照射されると、液晶の特性が変化してしまうため、この紫外線硬化装置では、液晶に対応する位置に、光源の光を遮光する遮光マスクを配置し、この遮光マスクを保持バー(マスク保持部材)に保持している。保持バーは、光透過性の素材(石英)を用いて形成されており、光出射開口に亘って設けられている。
特開2004−77583号公報
照射装置は、遮光マスクを用いずに照射する場合があり、その場合に、光出射開口に保持バーがあると、保持バーで反射又は屈折した光の影響によって被照射面の照度分布が悪化してしまう。しかし、遮光マスクを使用しない度に保持バーを着脱するのでは着脱作業が煩雑である上、着脱する際に比較的高価な保持バーを破損するおそれがあり、また、保持バーの安全な保管スペースを必要とする。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、遮光マスクを用いない場合にマスク保持部材での反射又は屈折の影響を抑制可能な照射装置を提供することを目的とする。
上述した目的を達成するために、本発明は、光源の光を出射する光出射開口内にマスク保持部材を配置し、このマスク保持部材に前記光源の光を遮光する遮光マスクを保持した照射装置において、前記マスク保持部材を昇降自在に支持し、前記遮光マスクを用いずに照射する際に、前記マスク保持部材を、前記遮光マスクを用いて照射する位置から20mm以上上昇させることを特徴とする。
上述の構成において、前記マスク保持部材は、光透過性素材からなる保持部と、当該保持部の縁部を支持する枠体とを備え、前記枠体を昇降自在に支持してもよい。
上述の構成において、前記マスク保持部材を自動で昇降する駆動手段を備えてもよい。
上述の構成において、前記光源を線状光源とし、前記線状光源の周囲に向かう光を被照射体に反射する主反射鏡を備えるとともに、前記マスク保持部材と前記線状光源との間に前記被照射体を囲む補助反射鏡を設け、前記補助反射鏡と前記被照射体との間に、前記マスク保持部材を昇降させるスペースを設けてもよい。
本発明によれば、マスク保持部材を昇降自在に支持したため、遮光マスクを使用しない際には、マスク保持部材を被照射面から離間させることで、マスク保持部材での反射又は屈折の影響を抑制できる。
本発明の実施形態の照射装置を模式的に示す図である。 紫外線ランプ、及び主反射板のみの照射によるワークの照度分布を模式的に示す図である。 ワーク及び遮光マスクを示す図であり、(A)はワークの断面図、(B)はワーク及び遮光マスクを示す斜視図である。 マスク保持部材を示す斜視図である。 保持バーを示し斜視図である。 保持バーを示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のA−A断面図である。 図6のB−B断面図である。 マスク保持部材を上昇した照射装置を模式的に示す図である。 マスク保持部材のリフトアップ位置と照度との関係を示す図であり、(A)は計測箇所を示す図、(B)は計測箇所Bにおける最大照度Max及び最小照度Minを示すグラフ、(C)は計測箇所Cにおける最大照度Max及び最小照度を示すグラフ、(D)は計測箇所Dにおける最大照度Max及び最小照度Minを示すグラフである。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
図1は、本実施形態の照射装置を模式的に示す図である。図2は、紫外線ランプ、及び主反射板のみの照射によるワークの照度分布を模式的に示す図である。
照射装置1は、図1に示すように、紫外線ランプ10を内蔵し、照射領域たるワーク2の全域を均一な照度(すなわち良好な均斉度)で照射可能な装置である。また、照射装置1は、液晶パネル等の基板をワーク2とし、当該ワーク2に光を照射することでワーク2に用いる光硬化性樹脂を硬化する光硬化装置としても使用される。照射装置1は、複数(本実施形態では、5本)の線状光源によりワーク2を照射するものであり、この照射装置1では、紫外線光源として直管型の高出力な上記紫外線ランプ10が用いられている。
照射装置1は、下面に光出射開口3Aを有する筐体3内に、複数(本実施形態では、5つの)の照射器1A〜1Eを備えている。各照射器1A〜1Eは、ケース11内に、1本の紫外線ランプ10と、紫外線ランプ10の放射光を制御する主反射板(主反射鏡)12とを有し、紫外線ランプ10の軸線方向に直交するランプ幅方向(光源並列方向)Wに並列に配列されている。また、照射装置1は、照射器1A〜1Eの下方に、四角筒状の補助反射板(補助反射鏡)14を備えている。これら主反射板12及び補助反射板14は、照射装置1の反射鏡を構成している。さらに、照射装置1は、補助反射板14の下方にマスク保持部材40を備え、このマスク保持部材40に、紫外線ランプ10の紫外線を遮光する遮光マスク50が保持されている。
ワーク2は、昇降可能に構成された照射ステージ4に載置され、照射ステージ4が照射位置まで上昇された際に、筐体3の光出射開口3Aの直下に、隙間δ(本実施形態では、2mm)をあけた位置に配置され、光出射開口3Aと略同じ大きさの領域である。この照射装置1では光出射開口3Aから比較的近接した位置にワーク2が設定される。
紫外線ランプ10は、ワーク2の真上に並列に延在しており、両端の紫外線ランプ10はワーク2の縁部の真上に配置されている。なお、紫外線ランプ10の管長と略同じ長さ、或いは管長以下の長さにワーク2の長辺Laが設定されており、管長が長いロングアークのランプを紫外線ランプ10に用いることでワーク2の大面積化が図られている。
照射装置1は、上述の通り、主反射板12と補助反射板14とを備え、紫外線ランプ10の直射光と、主反射板12、及び補助反射板14の反射光とでワーク2を均一な照度で照射可能としている。
ここで紫外線ランプ10の直射光のみによってワーク2を照射した場合、ワーク2の長軸K(図2)を含む近傍の照度分布には、紫外線ランプ10のランプ管軸方向(長手方向)の輝度分布が略直接的に反映される。
そこで、紫外線ランプ10から放射されワーク2を外れる光を主反射板12、及び補助反射板14で反射し、ワーク2における直射光の照度分布を補うように照らすことで、ワーク2の均斉度が高められている。
主反射板12は、紫外線ランプ10の周囲(より正確には上、及び水平方向)に放射する光をワーク2に向けて反射して、被照射面2Aの照度を向上するとともに、照度の均一化を図るものである。主反射板12は、紫外線ランプ10の管軸に沿って延びる樋状に形成され、紫外線ランプ10と対向する面が反射面に形成されている。この主反射板12の反射によって、図2に示すように、ワーク2には、紫外線ランプ10の直下に延在する領域Xaの両側に、この領域Xaと共に延在し、かつ同等の照度を有する領域Xbが出現する。これにより、ワーク2の短辺Lbの方向に、紫外線ランプ10の直下の照度が振り分けられて照らされることとなる。
ケース11には、図1に示すように、紫外線ランプ10の直下に、平面視で矩形状の照射開口11Aが形成されており、長手方向が紫外線ランプ10の長手方向(軸方向)に一致するように設けられている。照射開口11Aの内側には、透過する光の波長を選択する波長選択フィルタ13が設けられ、この波長選択フィルタ13によって照射装置1は所望の波長の光を照射するようになっている。なお、本実施形態では、波長選択フィルタ13を設けたが、紫外線ランプ10自体で所望の波長の光を出射できる場合には、波長選択フィルタ13を省略してもよい。また、一枚の波長選択フィルタを紫外線ランプ10から光出射開口3Aまでの間に配置してもよい。また、ケース11は省略してもよい。
補助反射板14は、主反射板12とワーク2の間に設けられ、ワーク2の外に漏れる光をワーク2に向けて反射することで、紫外線ランプ10、及び主反射板12の照射による照度分布を補うものである。
詳述すると、この照射装置1では、紫外線ランプ10、及び主反射板12のみで照射した場合、図2に示すように、紫外線ランプ10の両端部に対応する領域Xc、及び、紫外線ランプ10のランプ幅方向Wにおける領域Xaの両側の領域Xdで照度が不足する。この照射装置1では、これら領域Xc、領域Xdの照度不足を反射光によって補うように補助反射板14が構成されている。
具体的には、補助反射板14は、図1に示すように、紫外線ランプ10の両端に対面する一対の補助端板20と、紫外線ランプ10の両側に対面する一対の補助側板21とを有している。これら補助端板20及び補助側板21がワーク2の四方を囲む四角筒状に組まれ、その内壁面が反射面として構成されている。補助反射板14の基端部14Aの側には所定距離(約50mm)のスペースS1を空けて照射器1A〜1Eが設けられている。補助反射板14の先端部14Bの側は平面視矩形に開口し、この開口の直下に所定距離(約50〜70mm)のスペースS2を空けてマスク保持部材40が設けられている。
係る構成の下、一対の補助端板20は、上記領域Xcに向けて光を反射し、また一対の補助側板21は上記領域Xdに向けて光を反射し、これらの反射光によって領域Xc、Xdの照度が補われる。
図3は、ワーク2及び遮光マスク50を示す図であり、図3(A)はワーク2の断面図、図3(B)はワーク2及び遮光マスク50を示す斜視図である。
ワーク2は、図3に示すように、2枚の基板2B間に、紫外線硬化性樹脂からなるシール材(液晶封止材)2Cを設け、シール材2C内に液晶2Dを封止した液晶パネルである。ワーク2は、シール材2Cに紫外線が照射されることで、シール材2Cが硬化して2枚の基板2Bを貼り合わせられて形成される。一方の基板2Bは液晶2Dに対応する位置にTFT(薄膜トランジスタ)回路(不図示)を有するアレイ基板であり、他方の基板2Bは液晶2Dに対応する位置にカラーフィルタ(不図示)を有するカラーフィルタ基板である。図3は、TFT回路を有する基板2Bが被照射面2Aとなるように配置されたワーク2を示す。ここで、シール材2Cに紫外線を照射する際に、液晶2Dに紫外線が照射されると、液晶2Dの特性が変化してしまう。そこで、照射装置1には、液晶2Dに向かう光を遮光する遮光マスク50が設けられている。
遮光マスク50は、液晶2Dに対応する位置に形成される遮光部51と、シール材2Cに対応する位置に形成される透光部52とを備えて構成されている。遮光マスク50は、一枚の遮光素材(例えば、金属板)に1つ以上(本実施形態では、4つ)の開口50Aを形成することで、開口50Aを形成する縁部が遮光部51を、開口50Aの内部が透光部52を構成している。この遮光マスク50は、図1に示すように、マスク保持部材40の下面に吸着されて保持される。
図4は、マスク保持部材40を示す斜視図である。図5は、保持バーを示し斜視図である。図6は、保持バーを示す図であり、図6(A)は平面図、図6(B)は図6(A)のA−A断面図である。図7は、図6のB−B断面図である。図8は、マスク保持部材40を上昇した照射装置1を模式的に示す図である。
マスク保持部材40は、図4に示すように、平面視略矩形に形成された枠状のマスクホルダ(枠体)41を備え、このマスクホルダ41に、棒状の複数(本実施形態では、8つ)の保持バー(保持部)42を支持して構成されている。マスクホルダ41は、保持バー42を支持可能な剛性を有する材料(例えば、アルミニウム、ステンレス鋼、鉄等の金属、本実施形態では、アルミニウム)を用いて、内面41Aが光出射開口3Aの大きさ以上の大きさになるように形成されている。
複数の保持バー42は、光透過性の素材(好ましくは透明部材、本実施形態では石英)を用いて光出射開口3Aに亘る長さに形成され、ランプ幅方向Wに配列されて、縁部42Aがマスクホルダ41に支持されている。
このように、マスク保持部材40を複数の保持バー42を用いて構成することで、1枚の加工精度の高い大きな石英板を用いる必要がないので、マスク保持部材40を構成する部材を小型化でき、その結果、軽量化とコスト低減を実現できる。なお、複数の保持バー42を1枚の石英板で構成してもよい。また、本実施形態では、保持バー42を等間隔に配置しているが、配列間隔は、等間隔に限定されるものではなく、ワーク2のサイズ及びワーク2内部の液晶セルの配置によって適宜設定される。
保持バー42は、図5及び図6に示すように、略角筒状に形成され、下面(被照射面2A側の面)に吸着溝43Aを備えている。本実施形態の吸着溝43Aは、図5に示すように、保持バー42の長手方向に沿って2列設けられるとともに、各列が保持バー42の長手方向略中央で2つに分割されているが、吸着溝43Aの数及び配列に限定されるものではない。保持バー42の長手方向の両端部には、吸着溝43Aに連通する通路43Bが形成されている。
保持バー42の長手方向の両端部は、図6及び図7に示すように、支持体44によってマスクホルダ41に支持されている。支持体44は、保持バー42を挿入する挿入溝44Aを備えた支持ブロック44Bと、挿入溝44Aに挿入した保持バー42の上面(紫外線ランプ10側の面)を押さえる押さえ部材44Cとを備えている。押さえ部材44Cは、保持バー42の上面との間に弾性材料(例えば、シリコンゴム)からなるシート44Dが配置され、支持ブロック44Bの上面に固定具44E(例えば、ボルト)で固定され、これにより、保持バー42が支持体44に固定される。支持体44は、マスクホルダ41に対して垂直方向(上下方向)に支持するリニアベアリング44F(例えば、リニアブッシュ)を介してマスクホルダ41に固定されている。図7中、符号44Gは支持体44を位置決めして固定する固定具(例えば、ボルト)であり、符号44Hはリニアベアリング44Fの抜け止め具(例えば、ボルト)である。保持バー42の長手方向の一端側の支持体44では、リニアベアリング44Fが平面視円形の孔44Jに支持され、保持バー42の長手方向の他端側の支持体44では、リニアベアリング44Fを支持する孔44Jが長穴状に形成されている。また、他端側の支持体44では、リニアベアリング44Fの端面が支持体44に当接しているため、抜け止め具44Hを省略している。
支持体44には、図6に示すように、保持バー42の通路43Bに対応する位置に、エアチューブ45を接続する接続部44Kが取り付けられている。エアチューブ45は、減圧器(不図示)に連結されており、減圧器を駆動すると、保持バー42の通路43Bが減圧され、吸着溝43Aからの吸引によって遮光マスク50が保持バー42に吸着されて保持される。
図1に示す照射装置1においては、例えば、カラーフィルタを有する基板2Bが被照射面2Aとなるようにワーク2が配置される際等には、遮光マスク50を使用しないで紫外線を照射する場合がある。その場合に、光出射開口3Aに保持バー42があると、保持バー42で反射又は屈折した光の影響によって被照射面2Aの照度分布が悪化してしまう。特に、保持バー42で反射又は屈折した紫外線が液晶2Dに集光する場合には、液晶2Dの特性が変化してしまうため、問題となる。
そこで、本実施形態では、マスク保持部材40を昇降自在に支持している。より具体的には、マスクホルダ41が例えばエアシリンダ等の昇降機構(駆動手段)46に支持されており、図8に示すように、マスク保持部材40は、保持バー42を支持しているマスクホルダ41ごと昇降される。
紫外線ランプ10、昇降機構46、照射ステージ4を昇降する直動機構(不図示)、及び減圧器は照射装置1の制御装置60に接続されている。この制御装置60の制御の下、紫外線ランプ10の点灯や、昇降機構46、直動機構、及び減圧器の駆動が制御されるようになっている。
遮光マスク50の着脱は、照射ステージ4が降下されて行われる。遮光マスク50を外す際には、減圧器が停止されて減圧が解除され、遮光マスク50がマスク保持部材40から取り外される。そして、昇降機構46が駆動されてマスク保持部材40が所定の高さHまで上昇される。これにより、マスク保持部材40が被照射面2Aから離間されるので、保持バー42での反射や屈折によって不均一な強度となった光が、マスク保持部材40と被照射面2Aとの間で他の光と混合され、保持バー42による被照射面2Aでの照度むらを抑制できる。
なお、遮光マスク50の着脱の際に、紫外線ランプ10は点灯したままでもよいし、また、消灯してもよい。
被照射面2A上の所定の計測箇所における照度を、マスク保持部材40のリフトアップ位置を変えてシミュレーションした結果を図9に示す。
図9は、マスク保持部材40のリフトアップ位置(上昇高さ)と照度との関係を示す図であり、図9(A)は計測箇所を示す図、図9(B)は計測箇所Bにおける最大照度Max及び最小照度Minを示すグラフ、図9(C)は計測箇所Cにおける最大照度Max及び最小照度を示すグラフ、図9(D)は計測箇所Dにおける最大照度Max及び最小照度Minを示すグラフである。図9(B)〜図9(D)では、横軸にリフトアップ位置を、縦軸に照度(mW/cm2)を示す。なお、リフトアップ位置の基準位置(0mm)は、遮光マスク50を用いて照射する際のマスク保持部材40の位置とし、図1に示す補助反射板14との間に所定距離のスペースS2を空けた位置とする。
図9(A)に示すように、有効照射面積が幅1500m×長さ1280mである被照射面2Aにおいて、ランプ幅方向Wのランプ長さ方向Lの中央位置を0mmとした場合に、ランプ幅方向Wについては、計測箇所B〜Dを0〜750mmの位置にある。また、ランプ長さ方向Lについては、計測箇所Bは0mm、計測箇所Cは300mm、計測箇所Dは640mmの位置にある。
図9(B)〜図9(D)に示すように、マスク保持部材40を基準位置(0mm)よりも20mm上昇させるだけでも最小照度Minが上昇し、均斉度が向上する。リフトアップ位置が20〜40mmではあまり変わらないが、マスク保持部材40を60mmリフトアップすると最小照度Minが上昇し、最大照度Maxが減少するため、均斉度が向上する。リフトアップ位置が60〜120mmでは徐々に均斉度が向上するが、140mm以降ではほぼ変わらない。
したがって、マスク保持部材40を基準位置から20mm上昇させただけでも、均斉度を大幅に改善できる。マスク保持部材40を基準位置から60mm上昇させると、均斉度をさらに改善できる。本実施形態では、遮光マスク50を用いずに照射する際には、ワーク2の種類に応じて、20mm以上、補助反射板14の先端部14Bとマスク保持部材40の上面との間のスペースS2の距離以下の範囲でマスク保持部材40を上昇させるようにしている。
以上説明したように、本実施形態によれば、マスク保持部材40を昇降自在に支持したため、遮光マスク50を使用しない際には、マスク保持部材40を被照射面2Aから離間させることで、マスク保持部材40の保持バー42での反射又は屈折の影響を抑制できる。
また、本実施形態によれば、マスク保持部材40は、光透過性素材からなる保持バー42と、当該保持バー42の縁部42Aを支持するマスクホルダ41とを備え、マスクホルダ41を昇降自在に支持する構成とした。この構成により、保持バー42に比べて頑丈に形成可能なマスクホルダ41を支持でき、比較的破損しやすく高価な保持バー42を昇降機構46に支持する必要がなくなるので、マスク保持部材40の昇降による保持バー42の破損を抑制できる。
また、本実施形態によれば、マスク保持部材40を自動で昇降する昇降機構46を備えたため、マスク保持部材40を容易に昇降できる。また、紫外線ランプ10を消灯しなくても、マスク保持部材40を昇降できるので、製造工程を短縮できる。
また、本実施形態によれば、紫外線ランプ10を線状光源とし、紫外線ランプ10の周囲に向かう光をワーク2に反射する主反射板12を備えるとともに、マスク保持部材40と紫外線ランプ10との間にワーク2を囲む補助反射板14を設け、補助反射板14とワーク2との間に、マスク保持部材40を昇降させるスペースS2を設ける構成とした。この構成により、補助反射板14の内側でなく、補助反射板14の下方でマスク保持部材40を上昇させることができるので、補助反射板14の内側でマスク保持部材40を上昇させる場合に比べ、ワーク2での照度むらをより低減できる。
また、本実施形態によれば、遮光マスク50を用いずに照射する際に、マスク保持部材40を、遮光マスク50を用いて照射する位置から20mm以上上昇させるため、均斉度を大幅に改善できる。
但し、上述の実施形態は本発明の一態様であり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能であるのは勿論である。
例えば、上述した実施形態では、保持バー42を被照射面2Aから離間させていたが、これに加え、例えば保持バー42の上面又は下面に光干渉膜を形成することにより、光の反射を低減し、照度むらの発生を抑制してもよい。
また、上述した実施形態では、昇降機構46をエアシリンダとして説明したが、昇降機構46はこれに限定されるものではない。
また、上述した実施形態では、マスク保持部材40を自動で昇降する昇降機構46を設けたが、マスク保持部材40は手動で昇降されるように構成されてもよい。
また、上述した実施形態では、補助反射板14を設けたが、補助反射板14は省略してもよい。
また、上述した実施形態では、線状光源に5本の紫外線ランプ10を用いていたが、線状光源の本数はこれに限定されない。また紫外線ランプ10に代えて、紫外線LED等の発光素子を直線状に配列した線状光源を用いることもできる。また、線状光源が照射する光は紫外線に限定されるものではない。
また、上述した実施形態では、照射装置1を光硬化装置として説明したが、本発明は、種々の照射装置に適用可能である。
1 照射装置
3A 光出射開口
10 紫外線ランプ(光源)
12 主反射鏡
14 補助反射板(補助反射鏡)
40 マスク保持部材
41 マスクホルダ(枠体)
42 保持バー(保持部)
42A 縁部
44 昇降機構(駆動手段)
50 遮光マスク
60 制御装置
S2 スペース

Claims (4)

  1. 光源の光を出射する光出射開口内にマスク保持部材を配置し、このマスク保持部材に前記光源の光を遮光する遮光マスクを保持した照射装置において、
    前記マスク保持部材を昇降自在に支持し
    前記遮光マスクを用いずに照射する際に、前記マスク保持部材を、前記遮光マスクを用いて照射する位置から20mm以上上昇させることを特徴とする照射装置。
  2. 前記マスク保持部材は、光透過性素材からなる保持部と、当該保持部の縁部を支持する枠体とを備え、
    前記枠体を昇降自在に支持したことを特徴とする請求項1に記載の照射装置。
  3. 前記マスク保持部材を自動で昇降する駆動手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の照射装置。
  4. 前記光源を線状光源とし、前記線状光源の周囲に向かう光を被照射体に反射する主反射鏡を備えるとともに、前記マスク保持部材と前記線状光源との間に前記被照射体を囲む補助反射鏡を設け、
    前記補助反射鏡と前記被照射体との間に、前記マスク保持部材を昇降させるスペースを設けたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の照射装置。
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