JP6310595B2 - 隆起した外側要素を有する計時器を製造する方法 - Google Patents
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Description
上側面があり前記上側面に凹みが形成されているパターンがある導電性の基材を用意するステップと、
前記上側面まで延在するように前記パターン内に電気的絶縁層を堆積するステップと、
直流電気成長によって前記基材の前記上側面上に金属層を堆積させて、この堆積の終わりにおいて前記金属層を前記絶縁層上に部分的に配置させるステップと、
前記絶縁層を溶かすステップと、
前記基材及び前記金属層を有するアセンブリーを前記部品の基礎材料の塊材で被覆して、前記塊材に前記アセンブリーの印を形成させるステップと、
前記基材から前記塊材及び前記金属層を分離して、前記塊材が前記パターンの印に対応する形の外側要素を見せるようにするステップと
を有する。
上側面があり前記上側面に凹みが形成されているパターンがある導電性の基材を用意するステップと、
前記上側面まで延在するように前記パターン内に電気的絶縁層を堆積するステップと、
直流電気成長によって前記基材の前記上側面上に金属中間層を堆積させて、この堆積の終わりにおいて前記金属中間層を前記絶縁層上に部分的に配置させるステップと、
直流電気成長によって金属層を前記中間層上に堆積するステップと、
前記絶縁層を溶かすステップと、
前記基材、中間層及び金属層を有するアセンブリーを前記部品の基礎材料の塊材で被覆して、前記塊材に前記アセンブリーの印を形成させるステップと、
前記基材から前記塊材、前記中間層及び前記金属層を分離して、前記塊材が前記パターンの印に対応する形の外側要素を見せるようにするステップと、
前記中間層を溶かすステップと
を有する。
したがって、外側要素の下側面の周部は、第1の実施形態において、金属層上に配置される。これは、第2の実施形態における場合とは異なる。これらはいずれも2つの部品の美的外観を異なるようにする。
て、前記基礎材料は、金属であり、前記被覆するステップは、前記基材及び前記金属層を有するアセンブリー上に前記基礎材料を直流電気成長させることによって行われる。
* 図1aに示すパターンMTの幅L
* 図1aに示すパターンMTの高さH
* 図1aに示すパターンMTのフランクFCの傾きα
* 図1c及び2cに示す金属層CM、CM’の側方の端EL、EL’の幅G、G’
* 図2cに示す中間層CTの側方の端EL”の幅G”
* 図1c及び2bに示す金属層CM、CM’(金属層CM、CM’が機械加工されていなければこれらの幅G、G’と等しい)の側方の端EL、EL’の厚みP、P’
* 図1b及び2bに示すステップMd_Cis又はMd’_Cisにおいて堆積される絶縁層CI、CI’の厚みE、E’
である。
CM、CM’ 金属層
CT 中間層
E、E’ 厚み
EH 外側要素
ES、ES’ アセンブリー
MT パターン
PC、PC’ 部品
SB 基材
SP 上側面
ST 基礎
VL、VL’ 塊材
Claims (10)
- 外側要素(EH)を備える部品(PC)を製造する方法であって、
上側面(SP)があり前記上側面(SP)に凹みが形成されているパターン(MT)がある導電性の基材(SB)を用意するステップ(Md_Sub)と、
前記上側面(SP)まで延在するように前記パターン(MT)内に電気的絶縁層(CI)を堆積するステップ(Md_Cis)と、
直流電気成長によって前記基材(SB)の前記上側面(SP)上に金属層(CM)を堆積させて、この堆積の終わりにおいて前記金属層(CM)を前記絶縁層(CI)上に部分的に配置させるステップ(Md_Cga)と、
前記絶縁層(CI)を溶かすステップ(Md_Dis)と、
前記基材(SB)及び前記金属層(CM)を有するアセンブリー(ES)を前記部品(PC)の基礎材料の塊材(VL)で被覆して、前記塊材(VL)に前記アセンブリー(ES)の印を形成させるステップ(Md_Enr)と、
前記基材(SB)から前記塊材(VL)及び前記金属層(CM)を分離して、前記塊材(VL)が前記パターン(MT)の印に対応する形の外側要素(EH)を見せるようにするステップ(Md_Dem)と
を有することを特徴とする製造方法。 - 外側要素(EH)を備える部品(PC’)を製造する方法であって、
上側面(SP)があり前記上側面(SP)に凹みが形成されているパターン(MT)がある導電性の基材(SB)を用意するステップ(Md_Sub)と、
前記上側面(SP)まで延在するように前記パターン(MT)内に電気的絶縁層(CI)を堆積するステップ(Md_Cis)と、
直流電気成長によって前記基材(SB)の前記上側面(SP)上に金属中間層(CT)を堆積させて、この堆積の終わりにおいて前記金属中間層(CT)を前記絶縁層(CI)上に部分的に配置させるステップ(Md’_Gct)と、
直流電気成長によって金属層(CM’)を前記中間層(CT)上に堆積するステップ(Md’_Cga)と、
前記絶縁層(CI)を溶かすステップ(Md’_Dis)と、
前記基材(SB)、中間層(CT)及び金属層(CM’)を有するアセンブリー(ES’)を前記部品(PC’)の基礎材料の塊材(VL’)で被覆して、前記塊材(VL’)に前記アセンブリー(ES’)の印を形成させるステップ(Md’_Enr)と、
前記基材(SB)から前記塊材(VL’)、前記中間層(CT)及び前記金属層(CM’)を分離して、前記塊材(VL’)が前記パターン(MT)の印に対応する形の外側要素(EH)を見せるようにするステップ(Md’_Dem)と、
前記中間層(CT)を溶かすステップ(Md’_Dis)と
を有することを特徴とする製造方法。 - 前記金属層(CM、CM’)を溶かすステップ(Md_Dtt)を有する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の製造方法。 - 前記絶縁層(CI)を堆積するステップ(Md_Cis)の前に、前記基材(SB)の上側面(SP)を機械加工して、彫り付けのようなテクスチャを作るステップを有する
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の製造方法。 - 前記パターン(MT)は、彫り付けのようなテクスチャを有する基礎(ST)を有する
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の製造方法。 - 前記金属層(CM、CM’)を堆積するステップ(Md_Cga、Md’_Cga)の後に、前記金属層(CM、CM’)を機械加工して、厚み(E、E’)を小さくするステップを有する
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の製造方法。 - 前記基礎材料は、アモルファス金属又は高分子であり、前記被覆するステップ(Md_Enr、MD’_Enr)は、前記基材(SB)及び前記金属層(CM、CM’)を有するアセンブリー(ES、ES’)上に基礎材料のブロックを押すことによって行われる
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の製造方法。 - 前記基礎材料は、金属であり、前記被覆するステップ(Md_Enr、MD’_Enr)は、前記基材(SB)及び前記金属層(CM、CM’)を有するアセンブリー(ES、ES’)上に前記基礎材料を直流電気成長させることによって行われる
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の製造方法。 - 前記金属層(CM、CM’)は、金、銀又はニッケルによって形成される
ことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の製造方法。 - 前記絶縁層(CI)は、樹脂によって形成される
ことを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の製造方法。
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