JP6246942B2 - 外観検査装置および基板検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 228
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 115
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 111
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 99
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 73
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 9
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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Description
100…外観検査装置
2…搬送コンベア2
3…検査ヘッド
31…正対カメラ
32…傾斜カメラ
35…照明部
351…環状平板351
351A…環状平板の下面
37…入射側偏光板
38…反射側偏光板
110…主制御部
120…照明制御部
130…撮像制御部
150…画像処理部
Claims (14)
- 検査対象を保持する保持部と、
前記保持部が保持する前記検査対象へ向けて光を射出する、所定の中心線を中心とする円環形状の環状射出面を有する照明部と、
前記中心線に対して傾いた方向から前記検査対象に対向して前記検査対象を撮像する傾斜カメラと、
前記照明部から射出された後に前記検査対象で正反射されて前記傾斜カメラへ向かう光の進行経路において光の偏光状態を2種類の偏光成分の間で調整する偏光手段と
を備え、
前記保持部は、前記中心線が延びる方向から前記円環形状の中心に前記検査対象が対向するように前記検査対象を保持し、
複数の前記傾斜カメラが前記中心線の回りに配され、前記複数の傾斜カメラのそれぞれには互いに異なる前記進行経路を進む光が入射し、
前記偏光手段は、前記進行経路における前記検査対象の入射側において前記環状射出面に配されて2種類の偏光成分のうち1種類を選択的に通過させる入射側偏光部材と、前記進行経路における前記検査対象の反射側に配されて2種類の偏光成分のうち1種類を選択的に通過させる反射側偏光部材とを有し、
前記入射側偏光部材が通過させる偏光成分と前記反射側偏光部材が通過させる偏光成分とは異なり、
前記環状射出面のうち、前記検査対象で正反射された後に前記傾斜カメラとは異なる方向へ向かう光を射出する領域の少なくとも一部を外して、前記入射側偏光部材は前記環状射出面に配される外観検査装置。 - 前記入射側偏光部材および前記反射側偏光部材が前記進行経路毎に設けられ、同一の前記進行経路に設けられた前記入射側偏光部材および前記反射側偏光部材が互いに異なる種類の偏光成分を通過させる請求項1に記載の外観検査装置。
- 前記入射側偏光部材はS偏光成分を通過させ、前記反射側偏光部材はP偏光成分を通過させる請求項2に記載の外観検査装置。
- 前記反射側偏光部材が前記進行経路毎に設けられるとともに、単一の前記入射側偏光部材が前記各進行経路に交差するように配されることで前記各進行経路に対して共通に設けられ、前記入射側偏光部材はその全域で一様な向きに光を偏光し、前記各反射側偏光部材は、前記入射側偏光部材による偏光の向きに直交する向きに光を偏光する請求項1、2あるいは3に記載の外観検査装置。
- 前記中心線が延びる方向から前記検査対象に対向して前記検査対象を撮像する正対カメラをさらに備える請求項1、2、3あるいは4に記載の外観検査装置。
- 検査対象を保持する保持部と、
所定の中心線を中心とする円環形状を有して前記検査対象へ向けて光を射出する照明部と、
前記中心線に対して傾いた方向から前記検査対象に対向して前記検査対象を撮像する ローリングシャッタ方式の傾斜カメラと、
前記中心線が延びる方向から前記検査対象に対向して前記検査対象を撮像する正対カメラと、
前記傾斜カメラ、前記正対カメラおよび前記照明部を制御して、前記照明部から前記検査対象へ向けて光を射出しつつ前記傾斜カメラおよび前記正対カメラの撮像をそれぞれの露光時間を重複させて実行する制御部と、
前記照明部から射出された後に前記検査対象で正反射されて前記傾斜カメラへ向かう光の進行経路において光の偏光状態を2種類の偏光成分の間で調整する偏光手段と、
前記照明部とは異なる角度から前記検査対象へ向けて光を射出する、前記正対カメラによる撮像に専用の正対専用照明部と
を備え、
前記保持部は、前記中心線が延びる方向から前記円環形状の中心に前記検査対象が対向するように前記検査対象を保持し、
前記偏光手段は、前記進行経路における前記検査対象の入射側に配されて2種類の偏光成分のうち1種類を選択的に通過させる入射側偏光部材と、前記進行経路における前記検査対象の反射側に配されて2種類の偏光成分のうち1種類を選択的に通過させる反射側偏光部材とを有し、
前記入射側偏光部材が通過させる偏光成分と前記反射側偏光部材が通過させる偏光成分とは異なり、
前記制御部は、前記正対専用照明部から前記検査対象へ向けて光を射出しつつ前記正対カメラにより前記検査対象を撮像し終えてから、前記照明部から前記検査対象へ向けて光を射出しつつ前記傾斜カメラおよび前記正対カメラの撮像をそれぞれの露光時間を重複させて実行する外観検査装置。 - 複数の前記傾斜カメラが前記中心線の回りに配され、前記複数の傾斜カメラのそれぞれには互いに異なる前記進行経路を進む光が入射する請求項6に記載の外観検査装置。
- 前記入射側偏光部材および前記反射側偏光部材が前記進行経路毎に設けられ、同一の前記進行経路に設けられた前記入射側偏光部材および前記反射側偏光部材が互いに異なる種類の偏光成分を通過させる請求項7に記載の外観検査装置。
- 前記入射側偏光部材はS偏光成分を通過させ、前記反射側偏光部材はP偏光成分を通過させる請求項8に記載の外観検査装置。
- 前記照明部は、前記保持部が保持する前記検査対象へ向けて光を射出する、前記中心線を中心とする円環形状を有した環状射出面を有し、
前記入射側偏光部材は、前記環状射出面に配される請求項8または9に記載の外観検査装置。 - 前記環状射出面のうち、前記検査対象で正反射された後に前記傾斜カメラとは異なる方向へ向かう光を射出する領域の少なくとも一部を外して、前記入射側偏光部材は前記環状射出面に配される請求項10に記載の外観検査装置。
- 前記反射側偏光部材が前記進行経路毎に設けられるとともに、単一の前記入射側偏光部材が前記各進行経路に交差するように配されることで前記各進行経路に対して共通に設けられ、前記入射側偏光部材はその全域で一様な向きに光を偏光し、前記各反射側偏光部材は、前記入射側偏光部材による偏光の向きに直交する向きに光を偏光する請求項7に記載の外観検査装置。
- 前記照明部は、前記保持部が保持する前記検査対象へ向けて光を射出する、前記中心線を中心とする円環形状を有した環状射出面を有し、
前記入射側偏光部材は、前記中心線を中心とする円環形状を有し、前記環状射出面の全域を覆うように前記環状射出面に配される請求項12に記載の外観検査装置。 - 平板形状の基板を前記検査対象として撮像する請求項1ないし13のいずれか一項に記載の外観検査装置と、
前記外観検査装置による前記基板の撮像結果に基づいて前記基板の状態を判定する判定部と
を備える基板検査装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2014/073933 WO2016038703A1 (ja) | 2014-09-10 | 2014-09-10 | 外観検査装置および基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016038703A1 JPWO2016038703A1 (ja) | 2017-04-27 |
JP6246942B2 true JP6246942B2 (ja) | 2017-12-13 |
Family
ID=55458491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016547305A Active JP6246942B2 (ja) | 2014-09-10 | 2014-09-10 | 外観検査装置および基板検査装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6246942B2 (ja) |
KR (1) | KR101863572B1 (ja) |
WO (1) | WO2016038703A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102121142B1 (ko) * | 2019-02-26 | 2020-06-10 | (주)다원엔지니어링 | 가전제품 외관 검사 장치 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH0471849A (ja) * | 1990-07-12 | 1992-03-06 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷物検査用光学的検出装置 |
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JPH07307599A (ja) | 1994-05-10 | 1995-11-21 | Shigeki Kobayashi | 検査装置及び製品製造方法 |
JPH08191185A (ja) * | 1995-01-10 | 1996-07-23 | Hitachi Ltd | 電子回路基板の製造方法および検査方法ならびにスルーホール検査方法およびスルーホール検査装置 |
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JP4641275B2 (ja) * | 2006-03-29 | 2011-03-02 | 東レエンジニアリング株式会社 | 自動外観検査装置及び自動外観検査方法 |
KR101381836B1 (ko) * | 2012-05-15 | 2014-04-07 | 주식회사 미르기술 | 영상 선명도가 개선된 비전검사장치 |
-
2014
- 2014-09-10 KR KR1020167035351A patent/KR101863572B1/ko active IP Right Grant
- 2014-09-10 JP JP2016547305A patent/JP6246942B2/ja active Active
- 2014-09-10 WO PCT/JP2014/073933 patent/WO2016038703A1/ja active Application Filing
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102121142B1 (ko) * | 2019-02-26 | 2020-06-10 | (주)다원엔지니어링 | 가전제품 외관 검사 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2016038703A1 (ja) | 2017-04-27 |
KR101863572B1 (ko) | 2018-06-01 |
KR20170012329A (ko) | 2017-02-02 |
WO2016038703A1 (ja) | 2016-03-17 |
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