JP6242159B2 - 測長器 - Google Patents

測長器 Download PDF

Info

Publication number
JP6242159B2
JP6242159B2 JP2013228513A JP2013228513A JP6242159B2 JP 6242159 B2 JP6242159 B2 JP 6242159B2 JP 2013228513 A JP2013228513 A JP 2013228513A JP 2013228513 A JP2013228513 A JP 2013228513A JP 6242159 B2 JP6242159 B2 JP 6242159B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spindle
stopper
end side
bearing
scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013228513A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015087360A (ja
Inventor
哲也 水越
哲也 水越
健司 ▲桑▼山
健司 ▲桑▼山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Citizen Fine Device Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Citizen Fine Device Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Watch Co Ltd, Citizen Fine Device Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Priority to JP2013228513A priority Critical patent/JP6242159B2/ja
Publication of JP2015087360A publication Critical patent/JP2015087360A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6242159B2 publication Critical patent/JP6242159B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description

本発明は、測定対象物に当接するスピンドルを備えた接触式の測長器に関する。
測定部が設けられた軸線方向に移動可能なスピンドルを測定対象物に当接させ、スピンドルの軸線方向に生じた基準位置からの変位を前記測定部から読み取ることで測長する測長器が知られている。このような測長器は、変位測定器、変位検出器、ダイヤルゲージ、リニアゲージ、マイクロメータ(電気マイクロメータ)などとも称される。
例えば、測定対象物に先端側が当接し、該測定対象物に応じて軸線方向に摺動するスピンドルと、該スピンドルに一体的に設けられた測定部と、前記スピンドルを支持する本体ケースとを備え、前記スピンドルと前記本体ケースとの間に、前記スピンドルの摺動を案内する軸受を設け、前記スピンドル側と本体ケース側との間に、前記スピンドルの可動範囲を規制するストッパ部を設けたものがある(例えば、特許文献1参照。)。
特開平6−147804号公報
特許文献1に記載された測長器の場合、スピンドルの先端とストッパ部との間に軸受が配置されているため、スピンドルのストロークエンドでの衝撃等によってスピンドル側に負荷がかかると、スピンドルのストッパより先端側で前記負荷を受け、軸受側に悪影響が発生する場合があり、測定精度が低下することがある他、測長器自体を破損する場合がある。
したがって本発明の目的は、上記問題に鑑み、スピンドルのストロークエンドでの衝撃に対して丈夫であり、高精度の測長が可能な測長器を提供することにある。
上記目的を実現するために、本発明によれば、測定対象物に先端側が当接し、測定対象物に応じて軸線方向に摺動するスピンドルと、スピンドルに一体的に設けられた測定部と、スピンドルを支持する本体ケースとを備え、スピンドルと本体ケースとの間に、スピンドルの摺動を案内する軸受が設けられ、スピンドル側と本体ケース側との間に、スピンドルの可動範囲を規制するストッパ部が設けられ、測定部によって前記スピンドルの軸線方向の変位を算出し、測定対象物の長さを計測する測長器において、スピンドルの軸受より先端側にストッパ部が配置され、軸受より基端側に測定部が配置される。
ここで、スピンドルが、一体的に形成された摺動軸と測定子軸とから構成され、測定子軸の先端に測定対象物に当接する測定子が設けられ、摺動軸と本体ケースとの間に軸受が配置され、測定部が摺動軸に取り付けられ、ストッパ部が測定子軸側に形成された構成とすることができる。
本発明によれば、ストッパ部が軸線方向において軸受より先端側に設けられ、測定部が軸受より基端側に設けられているので、スピンドルがストロークエンドで停止する際に発生する衝撃を、スピンドルの軸受より先端側で受け、軸受側への悪影響が防止され、測長器自体の破損等や、計測精度の低下等が防止される。この場合、スピンドルを、一体的に形成された摺動軸と測定子軸とから構成し、測定部を、軸受によって安定的に支持されている摺動軸に固定し、ストッパ部を測定子軸の先端に設けることができる。
本発明の実施例による測長器の軸線方向の断面図である。 図1の領域Aの拡大図である。 本発明の実施例による測長器の半径方向の断面図である。 本発明の実施例による測長器の側面図である。 本発明の実施例による測長器の斜視図(その1)である。 本発明の実施例による測長器の斜視図(その2)である。 本発明の実施例におけるストッパ部の変形例を示す拡大図である。 本発明の実施例におけるストッパ部の別の変形例を示す拡大図である。
図1は、本発明の実施例による測長器の軸線方向の断面図であり、図2は、図1の領域Aの拡大図であり、図3は、本発明の実施例による測長器の半径方向の断面図であり、図4は、本発明の実施例による測長器の側面図であり、図5および図6は、本発明の実施例による測長器の斜視図である。以降、異なる図面において同じ参照符号が付されたものは同じ機能を有する構成要素であることを意味する。
本発明の実施例による測長器1は、スピンドル11と、軸受12と、スケール部13と、スケール読み取り部14と、測定子15と、バネ16と、回転防止手段17と、ストッパ部18と、本体ケース31と、を備える。
スピンドル11は、摺動軸11−1と測定子軸11−2とからなり、摺動軸11−1が、軸線方向に離間した2つの軸受12によって本体ケース31に軸線方向に摺動可能に支持されている。摺動軸11−1および測定子軸11−2は、半径方向に沿った断面は略円形状である。測定子軸11−2は摺動軸11−1より径が小さい。
本体ケース31の先端側(図1において右向き)にはキャップ18−2が設けられている。キャップ18−2によって測定子軸11−2の基端部側(図1において左向き)がおおわれている。キャップ18−2は、先端側に蓋部19を有する。蓋部19は、キャップ18−2の先端に螺合して取り付けられている。
摺動軸11−1の両軸受12の間には、摺動軸11−1の外周面に対して半径方向に凹んだ凹部22と、凹部22の底面からスピンドル11の半径方向に貫通した開口部21とが形成される。凹部22は、摺動軸11−1の外周面の一部を平面状に切り欠き加工することによって形成される。
測定子15は、測定子軸11−2の先端に設けられ、測定対象物に当接する。
測定部となるスケール部13は、スケールが形成された板状の光透過型スケールとして構成している。スケール部13は、摺動軸11−1の外周面から突出せず、かつ開口部21を塞ぐように凹部22内に設置される。したがって、スケール部13は摺動軸11−1の外周面から半径方向外側に突出しない。
スケール部13は、スケールが形成された板状の光透過型スケールとして構成している。
スケール読み取り部14は、スケール部13に向けて光を照射するLEDなどの発光素子14−1と、スケール部13を間に挟むように発光素子14−1と対向し、スケール部13を透過した光を受光する受光素子14−2とを備え、発光素子14−1と受光素子14−2とは本体ケース31側に固定されている。発光素子14−1から発せられた光は、開口部21を通ってスケール部13を透過した後、受光素子14−2に到達して受光素子14−2により受光される。スケール読み取り部14は、受光素子14−2が受光した光を用いて、スケール部13に描かれたスケールを読み取り、計算装置(図示せず)へ出力する。スピンドル11が軸線方向に摺動すると、スケール部13もスピンドル11と一体に移動するので、スケール読み取り部14が読み取るスケールが変化する。計算装置は、スケール読み取り部14から得られたスケールの変化情報を用いて、スピンドル11の軸線方向の変位を算出する。前記計算装置は、測長器1の内部、例えば本体ケース31内に配置して設けたり、測長器1の外部に、測長器1とは別体に設けたりすることができる。
バネ16は、摺動軸11−1の基端部側(図1において左向き)と本体ケース31との間に、スピンドル11を先端側(図1において右向き)に摺動する方向に付勢するように設けられている。スピンドル11の基端部側への摺動は、バネ16の付勢力に抗して弾力的に行われる。
測定子軸11−2のキャップ18−2内の外周面に、軸線方向に所定距離離間して溝18−1cが2つ形成される。リング形状のストッパリング18−1aが、それぞれの溝18−1cに嵌め込まれる。ストッパリング18−1aと溝18−1cの軸心方向に生じる隙間を埋めるように、溝18−1cにリング状のストッパ受け18−1bが嵌め込まれている。基端部側にある溝18−1Cにおいては当該溝18−1Cの基端部側の内壁にストッパリング18−1aが当接し、先端部側にある溝18−1Cにおいては当該溝18−1Cの先端側の内壁にストッパリング18−1aが当接する。ストッパリング18−1aの直径は溝18−1cの深さよりも大きく、ストッパリング18−1aは、測定子軸11−2の外周面よりも半径方向外側に突出する。ストッパリング18−1aは測定子軸11−2の摺動に伴い移動するので、キャップ18−2の内径は、ストッパリング18−1aの移動を許容するように設定されている。キャップ18−2の基端側の内周面には測定子軸11−2に摺接する突起部20が突設されている。蓋部19の先端側は測定子軸11−2に摺接するように内径が設定されている。
スピンドル11は、測定子15側のストッパリング18−1aが、バネ16の付勢力により蓋部19の内壁18−2bに押し当てられることによって、突出位置が位置決めされている。スピンドル11は、軸受12側のストッパリング18−1aが突起部20の内壁18−2aに接するまで、軸線方向(図1において左向き)への摺動が許容される。このように、ストッパリング18−1a、ストッパ受け18−1bおよび溝18−1cからなる測定子軸11−2上の第1部材と、キャップ18−2(突起部20および蓋部19)からなる本体ケース31側の第2部材とからストッパ部18が構成され、スピンドル11の軸線方向の可動範囲を規制する。ストッパ部18は、軸線方向において軸受12と測定子15との間に設けられる。
回転防止手段17は、摺動軸11−1上に設けられる回り止めピン17−1と、本体ケース31上に設けられる回り止めガイド17−2とで構成される。回り止めピン17−1は、摺動軸11−1の半径方向外向きに、本体ケース31から突出する。回り止めガイド17−2は、回り止めピン17−1が貫通できるよう設けられた本体ケース31上の開口溝の両側に設けられ、回り止めピン17−1が挿入されるスリットを形成し、回り止めピン17−1の軸方向への移動を許容し、半径方向には動かないようガイドする。これにより、スピンドル11は半径方向への回転が規制され、軸線方向への移動が許容される。
上述した構成を有する測長器1において、測定子15に測定対象物が当接すると、スピンドル11が測定対象物に追従して摺動し、スケール部13がスピンドル11と一体的に移動し、このときのスケールをスケール読み取り部14で読み取る。スケール部13もスピンドル11と一体に移動するので、スケール読み取り部14が読み取るスケールが変化する。スケール読み取り部14から得られたスケールの変化情報を用いて、スピンドル11の軸線方向の変位を算出し、測定対象物の長さを計測することができる。
以上説明したように、本発明によれば、スケール部13が、軸受12によって安定的に支持されている摺動軸11−1に固定されているので、スピンドル11がストロークエンドで停止する際に衝撃が発生しても、衝撃に起因する揺れや振動等が防止され、スケールの読み取り精度の低下等が防止され、正確な計測が可能になる。また、ストッパ部18が軸線方向において軸受12より先端側に設けられ、スケール部13が軸受12より基端側に設けられているので、スピンドル11がストロークエンドで停止する際に発生する衝撃は、スピンドル11の軸受12より先端側に位置する測定子軸11−2で受け、スピンドル11のストッパ部18より基端部側となる摺動軸11−1側に直接かからないため、ストロークエンドでの衝撃による摺動軸11−1側の湾曲等の悪影響や、スケール部13側への過大な負荷が防止され、スピンドル11の基端部側(摺動軸11−1)や、軸受12、スケール部13の破損等が防止される。
なお図示した実施例では、2つの軸受12によって摺動軸11−1を支持するように構成しているが、軸線方向に延出する1つの軸受によって摺動軸11−1を支持するように構成してもよい。また図示した実施例では、お互いに別体である摺動軸11−1と測定子軸11−2とを螺合や接着等によって一体的に形成しているが、摺動軸11−1と測定子軸11−2とを一体成形してもよく、また摺動軸11−1と測定子軸11−2とを同径とすることもできる。また、図示した実施例では、開口部21を摺動軸11−1の中間部分付近に設けたが、両軸受12の間であれば中間部分よりもずれた位置にあってもよい。
また、図示した実施例では、スケール部13を光透過型スケールとして構成したが、スケール部13を光反射型スケールとして構成してもよい。この場合は例えば光を反射可能な金属板上に、立体的に彫られたスケールや、金属板とは異なる色に着色されたスケールなどを凹部22内に設ければよい。ただし光を透過させる必要がないため、開口部21は不要である。スケール部13を光反射型スケールとして構成する場合、受光素子を、発光素子と同じ側に設置すればよい。
また、スケール部13を電磁気的スケール、磁気的スケール、あるいは静電容量式スケールとして構成してもよい。この場合、スケール読み取り部14は、スケール部13の態様に合わせて公知の読み取り構成とすればよい。
また、図示した実施例では、回転防止手段17における回り止めピン17−1を摺動軸11−1上に設け、回り止めガイド17−2を本体ケース31上に設けたが、回り止めピン17−1を本体ケース31の内壁面上に半径方向内向きに突出するように設け、回り止めガイド17−2を摺動軸17−2の外周面上に設けられる溝として実現してもよい。
また、図示した実施例では、ストッパ部18として、ストッパリング18−1aと溝18−1cの軸心方向に生じる隙間を埋めるためにストッパ受け18−1bを設けたが、ストッパ受け18−1bを省略してもよい。図7は、本発明の実施例におけるストッパ部の変形例を示す拡大図である。この例では、第1部材として、ストッパリング18−1aと、溝18−1cと、ストッパ受け部18−1dとを有する。溝18−1cはスピンドル11の測定子軸11−2の外周面上に2つ形成されるが、これら2つの溝18−1cの間における測定子軸11−2の軸径を、2つの溝18−1cの間以外の測定子軸11−2の軸径よりも太くすることで、2つの溝18−1cの間にストッパ受け部18−1dを形成する。すなわち、ストッパ受け部18−1dは、測定子軸11−2と一体に形成されるものであるが、2つの溝18−1cの間以外の測定子軸11−2の外周面があるレベルよりも半径方向外側に突出した構造を有する。ストッパ受け部18−1dは、溝18−1cに嵌め込まれたストッパリング18−1aが軸心方向にずれないようにする。本変形例において、ストッパ受け部18−1d以外の構造および機能については上述した実施例と同じであるので説明は省略する。
またストッパ部18の別の変形例として、ストッパリング18−1aを1つとしたものにしてもよい。図8は、本発明の実施例におけるストッパ部の別の変形例を示す拡大図である。この例では、第1部材として、ストッパリング18−1aと、溝18−1cと有する。溝18−1cは、測定子軸11−2のキャップ18−2内の外周面に1つ形成される。リング形状のストッパリング18−1aが溝18−1cに嵌め込まれる。ストッパリング18−1aの直径は溝18−1cの深さよりも大きく、ストッパリング18−1aは、測定子軸11−2の外周面よりも半径方向外側に突出する。ストッパリング18−1aは測定子軸11−2の摺動に伴い移動するので、キャップ18−2の内径は、ストッパリング18−1aの移動を許容するように設定されている。スピンドル11は、ストッパリング18−1aが、バネ16の付勢力により蓋部19の内壁18−2bに押し当てられることによって、突出位置が位置決めされている。また、スピンドル11は、ストッパリング18−1aが突起部20の内壁18−2aに接するまで、軸線方向(図1において左向き)への摺動が許容される。これ以外の構造および機能については上述した実施例と同じであるので説明は省略する。
1 測長器
11 スピンドル
11−1 摺動軸
11−2 測定子軸
12 軸受
13 スケール部
14 スケール読み取り部
14−1 発光素子
14−2 受光素子
15 測定子
16 バネ
17 回転防止手段
17−1 回り止めピン
17−2 回り止めガイド
18 ストッパ部
18−1a ストッパリング
18−1b ストッパ受け
18−1c 溝
18−1d ストッパ受け部
18−2 キャップ
18−2a、18−2b キャップ内壁
19 蓋部
20 突起部
21 開口部
31 本体ケース

Claims (3)

  1. 測定対象物に先端側が当接し、該測定対象物に応じて軸線方向に摺動するスピンドルと、該スピンドルに一体的に設けられた測定部と、前記スピンドルを支持する本体ケースと、前記スピンドルを先端側に付勢する付勢手段とを備え、前記スピンドルと前記本体ケースとの間に、前記スピンドルの摺動を案内する軸受が設けられ、前記スピンドル側と本体ケース側との間に、前記スピンドルの可動範囲を規制するストッパ部が設けられ、前記測定部によって前記スピンドルの軸線方向の変位を算出し、測定対象物の長さを計測する測長器において、
    前記スピンドルは、前記測定部から先端側に向かう方向に延伸する軸状の形状を有し、前記軸受によって支持される摺動部と、前記摺動部の先端側に位置する測定子部とを備え、
    前記ストッパ部は、前記測定子部に配置された第1部材と、前記測定子部に沿って先端側に延伸し且つ前記測定子部の基端部側を覆うキャップ、前記キャップの基端側に配置され、前記第1部材と接することで測定対象物が当接されたときの可動範囲を規定する突起部、及び前記キャップの先端側に配置され、前記第1部材と接することで測定対象物が当接しないときの突出位置を規定する蓋部を備える第2部材とを備え、
    前記スピンドルの前記軸受より先端側に前記第1部材が配置され、前記軸受より基端側に前記測定部が配置されたことを特徴とする測長器。
  2. 前記測定子部の先端に測定対象物に当接する測定子が設けられ、前記摺動部と本体ケースとの間に前記軸受が配置され、前記測定部が前記摺動部取り付けられたことを特徴とする請求項1の測長器。
  3. 前記第1部材は、前記測定子部に形成された溝に配置されたリング形状のストッパリングと、前記ストッパリングと共に前記ストッパリングの先端側に接するように前記溝に配置されたストッパ受けとを有する、を特徴とする請求項1の測長器。
JP2013228513A 2013-11-01 2013-11-01 測長器 Active JP6242159B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013228513A JP6242159B2 (ja) 2013-11-01 2013-11-01 測長器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013228513A JP6242159B2 (ja) 2013-11-01 2013-11-01 測長器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015087360A JP2015087360A (ja) 2015-05-07
JP6242159B2 true JP6242159B2 (ja) 2017-12-06

Family

ID=53050269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013228513A Active JP6242159B2 (ja) 2013-11-01 2013-11-01 測長器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6242159B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7568204B2 (ja) 2019-11-25 2024-10-16 春日電機株式会社 電気特性測定装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6920856B2 (ja) * 2017-03-31 2021-08-18 シチズンファインデバイス株式会社 測長器、および測長システム
JP7120611B2 (ja) * 2018-07-18 2022-08-17 多摩川精機株式会社 リニアセンサ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58135903A (ja) * 1982-02-08 1983-08-12 Mitsutoyo Mfg Co Ltd ダイヤルゲ−ジ
JPH06185907A (ja) * 1992-09-24 1994-07-08 Kawaguchiko Seimitsu Kk 変位検出器の密封構造
JPH06147804A (ja) * 1992-10-30 1994-05-27 Ando Electric Co Ltd 電気マイクロメータの測定ヘッド
JPH08122040A (ja) * 1994-10-19 1996-05-17 Mitsutoyo Corp 変位検出器
JP3497126B2 (ja) * 2000-10-26 2004-02-16 株式会社ミツトヨ 測定器のスピンドル支持構造
WO2007096403A2 (en) * 2006-02-22 2007-08-30 Marposs Societa' Per Azioni Axial movement linear gauge
JP2008309597A (ja) * 2007-06-14 2008-12-25 Citizen Seimitsu Co Ltd 接触式変位センサー

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7568204B2 (ja) 2019-11-25 2024-10-16 春日電機株式会社 電気特性測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015087360A (ja) 2015-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101801536B1 (ko) 페달 스트로크 센서의 설치구조
JP6242159B2 (ja) 測長器
US20090071025A1 (en) Linear measuring arrangement
JP2015200589A (ja) 形状測定機
CN105890495B (zh) 内部测量仪器
US7347084B2 (en) Roughness measuring instrument with testing standard
JP2018077193A (ja) 測長器、および測長システム
JP6214317B2 (ja) 測長器
CN103344167A (zh) 曲轴半圆键槽深度检测工具
US7599070B2 (en) Optical axis polarization type laser interferometer
JP6462248B2 (ja) 測長器、変位量算出手段及び測長器のスケール部とパターン読取部との位置合わせ方法
KR20040019310A (ko) 다중좌표 검출 측정 장치
US20180120078A1 (en) Flatness measuring device
CN110231001B (zh) 光学孔检测装置
JP2017167016A (ja) 光学スケールを有する測長器およびタッチ・プローブ
JP7109298B2 (ja) 測長器
JP6333970B2 (ja) 機械部品の寸法及び/又は形状を測定する機器
KR101524489B1 (ko) 리니어 센서
JP2010025875A (ja) リニアゲージ
KR102471430B1 (ko) 디지털 변위 게이지
JP6474680B2 (ja) リニアゲージ
JP5745664B1 (ja) 双方向変位検出器
JP6951183B2 (ja) 測定器
JP6747027B2 (ja) ロッド部材移動量検出装置
JP6348693B2 (ja) 変位測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20151127

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160921

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170615

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170718

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170829

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171010

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171107

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6242159

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250