JP6240494B2 - 第5族金属オキソ−アルコキソ錯体、その製造方法及び第5族金属酸化物膜の作製方法 - Google Patents
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Description
MA(μ4−O)B(μ3−O)C(μ−O)D(μ−OtBu)E(OtBu)F (1)
(式中、Mはニオブ原子又はタンタル原子を表す。A、B、C、D、E、Fはそれぞれ10、1、8、8、0、16または9、1、5、9、1、14の数値を表す。)で示されることを特徴とする第5族金属オキソ−アルコキソ錯体に関する。
MA(μ4−O)B(μ3−O)C(μ−O)D(μ−OtBu)E(OtBu)F (1)
(式中、M、A、B、C、D、E、Fは前記と同義である。)で示される第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法に関する。
MA(μ4−O)B(μ3−O)C(μ−O)D(μ−OtBu)E(OtBu)F (1)
(式中、M、A、B、C、D、E、Fは前記と同義である。)で示される第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法に関する。
MA(μ4−O)B(μ3−O)C(μ−O)D(μ−OtBu)E(OtBu)F (1)
(式中、M、A、B、C、D、E、Fは前記と同義である。)で示される第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法に関する。
MA(μ4−O)B(μ3−O)C(μ−O)D(μ−OtBu)E(OtBu)F (1)
(式中、M、A、B、C、D、E、Fは前記と同義である。)で示される第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法に関する。
MA(μ4−O)B(μ3−O)C(μ−O)D(μ−OtBu)E(OtBu)F (1)
(式中、M、A、B、C、D、E、Fは前記と同義である。)で示される第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法に関する。
最初に、本発明の製造方法1において、合成原料として用いられる金属イミド−トリアルコキソ錯体(2)の入手方法について説明する。金属イミド−トリアルコキソ錯体(2)のR1がC4〜C12の第三級アルキル基の場合には、特開2008−266280に記載の方法に従って製造することが出来る。また、R1が置換されていてもよいフェニル基(2Ar)の場合には、下記の製造方法Arに従って製造することが出来る。製造方法Arは、金属イミド−トリアルコキソ錯体(2a)とアニリン誘導体(5)とを反応させることにより、金属イミド−トリアルコキソ錯体(2b)を製造する方法である。
製造方法Arにおいて、合成原料として用いられる金属イミド−トリアルコキソ錯体(2a)は、特開2008−266280号公報に記載の方法に従って製造することが出来る。
オブ、(フェニルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)ニオブ、(tert−ブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(tert−ペンチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1−ジメチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1−エチルー1−メチルプロピル)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1,2−トリメチルプロピル)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1−ジメチルペンチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1−ジエチルプロピルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1−エチルー1−メチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1,2−トリメチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1,3−トリメチルブチル)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1,2,2−テトラメチルプロピルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1−ジエチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1−メチルー1−プロピルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1−エチルー1−メチルペンチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1,3,3−テトラメチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル及び(フェニルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタルが更に好ましく、(tert−ブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)ニオブ、(tert−ペンチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)ニオブ、(1,1,3,3−テトラメチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)ニオブ、(フェニルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)ニオブ、(tert−ブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル、(1,1,3,3−テトラメチルブチルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタル及び(フェニルイミド)トリ(tert−ブチルオキソ)タンタルが殊更好ましい。
本発明の製造方法2は、前記の製造方法1及び製造方法Arを組み合わせて同時に実施することと同義であり、製造方法1及び製造方法Arと同様の条件に従って実施することにより、本発明の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体(1)を製造することができる。
本発明の製造方法3において、合成原料として用いられるニオブオキソ−アルコキソ錯体(3)は、下記の製造方法Nb1に従って製造することが出来る。製造方法Nb1は、金属イミド−トリアルコキソ錯体(2a−Nb)とベンズアルデヒドとを反応させることにより、ニオブオキソ−アルコキソ錯体(3)を製造する方法である。
本発明のニオブオキソ−アルコキソ錯体(1)の製造方法3における反応温度は、本発明の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体(1)の収率が良い点で、50℃から350℃の範囲が好ましく、80℃から200℃の範囲が更に好ましく、100℃から180℃の範囲が殊更好ましい。なお、120℃から145℃の範囲においては第5族金属オキソ−アルコキソ錯体(1A−Nb)を、145℃から160℃の範囲においては第5族金属オキソ−アルコキソ錯体(1B−Nb)を優先して合成することができる。
本発明の製造方法4において、合成原料として用いられるニオブオキソ−アルコキソ錯体(4)は、下記の製造方法Nb2に従って製造することが出来る。製造方法Nb2は、金属イミド−トリアルコキソ錯体(2a−Nb)とアルデヒド誘導体(6)とを反応させることにより、ニオブオキソ−アルコキソ錯体(4)を製造する方法である。
R2の定義について詳しく説明する。R2で表されるC4〜C8の第三級アルキル基としては、具体的には、tert−ブチル基、tert−ペンチル基、1,1−ジメチルブチル基、1−エチルー1−メチルプロピル基、1,1,2−トリメチルプロピル基、1,1−ジメチルペンチル基、1,1−ジエチルプロピル基、1−エチルー1−メチルブチル基、1,1,2−トリメチルブチル基、1,1,3−トリメチルブチル基、1,1,2,2−テトラメチルプロピル基、1,1−ジメチルヘキシル基、1,1−ジエチルブチル基、1−メチルー1−プロピルブチル基、1−エチルー1−メチルペンチル基及び1,1,3,3−テトラメチルブチル基を例示することができる。
本発明の製造方法5において、合成原料として用いられるペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブは、下記の製造方法Nb3に従って製造することが出来る。製造方法Nb3は、金属イミド−トリアルコキソ錯体(2a−Nb)とtert−ブチルアルコールとを反応させることにより、ペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブを製造する方法である。
本発明の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体(1B−Nb)の製造方法5におけるペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブとジアセトンアルコールのモル比については、ペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブ1モルに対して1.3モル以上2.0モル以下の範囲に限定され、本発明の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体(1B−Nb)の収率が良い点で、ペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブ1モルに対して1.6モル〜1.8モルのジアセトンアルコールを反応させることが好ましい。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ1.38(s,27H),1.37(s,9H)。
13C NMR(125MHz,C6D6)δ77.5(br),66.2(br),33.8,32.9。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ1.43(s,9H),1.38(s,27H)。
13C NMR(125MHz,C6D6)δ77.9,64.4,35.3,33.0。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ1.71(s,36H),1.68(s,36H),1.67(s,36H),1.58(s,36H)。
13C NMR(125MHz,C6D6)δ83.1,83.0,82.6,82.1,32.5,31.7,31.5,31.2。
結晶系:斜方晶
空間群:Pnnn(#48)
Z:2
計算密度:1.498 g/cm3
格子定数:a=14.07Å、b=14.80Å、c=26.33Å、α=β=γ=90°
上記測定の結果より、上記反応で得た生成物Nb10(μ4−O)(μ3−O)8(μ−O)8(OtBu)16は、10個のニオブ原子が17個の酸素原子により架橋され、16個のtert−ブチルオキシ基が周囲に結合した構造であることが分かった。またNb10(μ4−O)(μ3−O)8(μ−O)8(OtBu)16とジイソプロピルエーテルが1:1のモル比で結晶中に含まれていることが分かった。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ1.69(s,36H),1.66(s,36H),1.65(s,36H),1.59(s,36H)。
13C NMR(125MHz,C6D6)δ82.2,81.30,81.27,79.9,32.6,32.0,31.9,31.6。
結晶系:斜方晶
空間群:Pnnn(#48)
Z:2
計算密度:2.044 g/cm3
格子定数:a=14.00Å、b=14.80Å、c=26.29Å、α=β=γ=90°
上記測定の結果より、上記反応で得た生成物Ta10(μ4−O)(μ3−O)8(μ−O)8(OtBu)16は、10個のタンタル原子が17個の酸素原子により架橋され、16個のtert−ブチルオキシ基が周囲に結合した構造であることが分かった。またTa10(μ4−O)(μ3−O)8(μ−O)8(OtBu)16とジイソプロピルエーテルが1:1のモル比で結晶中に含まれていることが分かった。
アルゴン雰囲気下で、実施例1で得たNb10(μ4−O)(μ3−O)8(μ−O)8(OtBu)160.04gをトルエン0.8mLに溶かし、シリンジフィルター(Millipore社製SLLGM25NS孔径0.20μm)を通して不溶物をろ別することにより、製膜用材料Nb−01を得た。
アルゴン雰囲気下で、実施例2で得たTa10(μ4−O)(μ3−O)8(μ−O)8(OtBu)160.10gをトルエン2.0mLに溶かし、シリンジフィルター(Millipore社製SLLGM25NS孔径0.20μm)を通して不溶物をろ別することにより、製膜用材料Ta−01を得た。
実施例3及び実施例4に示した方法で作製した製膜用材料を、スピンコーティング法によりコーニングガラス1737基板の表面にそれぞれ塗布し、該基板を室温から110℃まで20℃/分の速度で昇温しながら加熱し、さらに110℃に保って30分間熱処理した(表19中、熱処理温度1)。その後室温まで冷却した後、該基板を再び200℃まで100℃/分の速度で昇温しながら加熱し、さらに200、400℃又は700℃で30分間熱処理(表19中、熱処理温度2)することによって第5族金属酸化物膜を作製した。得られた第5族金属酸化物膜の評価結果を表19に表す。なお、本実施例におけるスピンコーティング法の回転条件は回転数2000rpmであり、処理時間は30秒間である。膜厚及び屈折率は、エリプソメーター(日本分光製MEL−30S)を用いて測定した波長300〜800nmのスペクトルの多層膜解析をすることにより決定した。表19に記載の屈折率は、波長634nmの可視光を入射して測定した値である。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ7.28(d,J=8.2Hz,2H),7.15(t,J=8.2Hz,2H)、6.84(t,J=7.8Hz,1H),1.37(s,27H)。
13C NMR(125MHz,C6D6)δ129.3、128.9、124.6、122.5、79.7、32.5。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ1.84(s,9H),1.79(s,9H),1.753(s,9H),1.750(s,9H),1.74(s,9H),1.70(s,9H),1.69(s,9H),1.642(s,9H),1.637(s,9H),1.63(s,9H),1.618(s,9H),1.615(s,9H),1.58(s,9H),1.50(s,9H),1.44(s,9H)。
結晶系:単斜晶
空間群:P21/c(#14)
Z:4
計算密度:1.501 g/cm3
格子定数:a=23.61Å、b=16.78Å、c=25.41Å、α=γ=90°、β=95.22°
上記測定の結果より、上記反応で得た生成物Nb9(μ4−O)(μ3−O)5(μ−O)9(μ−OtBu)(OtBu)14は、9個のニオブ原子が15個の酸素原子により架橋され、15個のtert−ブチルオキシ基が周囲に結合した構造であることが分かった。またNb9(μ4−O)(μ3−O)5(μ−O)9(μ−OtBu)(OtBu)14とトルエンが1:2のモル比で結晶中に含まれていることが分かった。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ8.01(d,J=7.8Hz,2H),7.77(s,1H),7.36(dd,J=7.8,7.3Hz,2H),7.20(t,J=7.3Hz,1H),1.76(s,9H),1.75(s,9H),1.70(s,9H),1.67(s,9H),1.65(s,9H),1.58(s,9H),1.52(s,9H),1.48(s,9H),1.27(s,9H),1.11(s,9H)。
結晶系:単斜晶
空間群:P21/c(#14)
Z:4
計算密度:1.386 g/cm3
格子定数:a=16.67Å、b=19.34Å、c=19.16Å、α=γ=90°、β=91.58°
上記測定の結果より、上記反応で得た生成物Nb4(μ4−O2CHPh)(μ3−O)(μ−O)3(μ−OtBu)(OtBu)9は、4個のニオブ原子が4個の酸素原子、1個のtert−ブチルオキシ基及び1個のベンジリデンジオキシ基により架橋され、9個のtert−ブチルオキシ基が周囲に結合した構造であることが分かった。
1H NMR(500MHz,C6D6,30℃)δ1.61(br),1.58(br),1.51(br)。
1H NMR(500MHz,C6D6,−40℃)δ1.73(s,9H),1.71(s,9H),1.65(s,9H),1.64(s,9H),1.63(s,9H),1.61(s,27H),1.56(s,9H),1.55(s,9H),1.49(s,9H)。
結晶系:単斜晶
空間群:P21/n(#14)
Z:4
計算密度:1.498 g/cm3
格子定数:a=16.90Å、b=18.63Å、c=19.46Å、α=γ=90°、β=91.98°
上記測定の結果より、上記反応で得た生成物Nb5(μ3−O)3(μ−O)4(μ−OtBu)(OtBu)10は、5個のニオブ原子が7個の酸素原子及び1個のtert−ブチルオキシ基により架橋され、10個のtert−ブチルオキシ基が周囲に結合した構造であることが分かった。
1H NMR(500MHz,C6D6)δ1.48(br s,半値幅15.93Hz,45H)
13C NMR(125MHz,C6D6)δ79.8、31.6
元素分析(C、H、N)
アルゴン雰囲気下で、実施例16で得たNb9(μ4−O)(μ3−O)5(μ−O)9(μ−OtBu)(OtBu)140.04gをトルエン0.8mLに溶かし、シリンジフィルター(Millipore社製SLLGM25NS孔径0.20μm)を通して不溶物をろ別することにより、製膜用材料Nb−02を得た。
実施例22に示した方法で作製した製膜用材料Nb−02を、スピンコーティング法によりコーニングガラス1737基板の表面にそれぞれ塗布し、該基板を室温から110℃まで20℃/分の速度で昇温しながら加熱し、さらに110℃に保って30分間熱処理した(表21中、熱処理温度1)。その後室温まで冷却した後、該基板を再び200℃まで100℃/分の速度で昇温しながら加熱し、さらに200℃、400℃又は700℃で30分間熱処理(表21中、熱処理温度2)することによって作製した膜をそれぞれX線光電子分光法により分析した。得られた第5族金属酸化物膜の評価結果を表21に表す。なお、本実施例におけるスピンコーティング法の回転条件は回転数2000rpmであり、処理時間は30秒間である。
Claims (13)
- 酸化剤が酸素又は空気であることを特徴とする請求項2又は3に記載の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法。
- 酸化剤が酸素であることを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法。
- ペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブ(Nb(OtBu)5)とジアセトンアルコールとを、該ペンタキス(tert−ブチルオキソ)ニオブ1モルに対しジアセトンアルコールを1.3モル以上2.0モル以下のモル比で反応させることを特徴とする、請求項1に記載の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体の製造方法。
- 請求項1に記載の第5族金属オキソ−アルコキソ錯体と有機溶媒とを、重量比1:0.1〜1:1000000で含有することを特徴とする製膜用材料。
- 有機溶媒が脂肪族炭化水素又は芳香族炭化水素であることを特徴とする請求項9に記載の製膜用材料。
- 請求項9又は10に記載の製膜用材料を基板表面に塗布し、該基板を熱処理することを特徴とする第5族金属酸化物膜の作製方法。
- 熱処理温度が20℃以上400℃以下であることを特徴とする、請求項11に記載の作製方法。
- 熱処理温度が20℃以上200℃以下であることを特徴とする、請求項11又は12に記載の作製方法。
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