JP6230467B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents

Description

本発明は、ラインイメージセンサ間のつなぎ目部分に対応する欠落画素を復元する画像処理装置及び画像処理方法に関するものである。

一般に、原稿を読み取る画像処理装置は、光源を照明してラインイメージセンサにより原稿を読取る。ラインイメージセンサは、原稿の主走査方向に複数並べて使用されることが一般的である。このような複数並べられたラインイメージセンサを用いて原稿を読み取ると、ラインイメージセンサ間のつなぎ目に対応する部分の原稿を読み取れない。そのため、原稿画像におけるつなぎ目部分の画素が欠落し、画質劣化が生じる。以後、この欠落する画素のことを欠落画素と呼ぶ。欠落画素による画質劣化を改善する技術として、例えば特許文献１に記載の技術が提案されている。特許文献１は、原稿画像の主走査方向の画素数をカウントし、カウント値が欠落画素位置と一致した場合、その欠落画素位置に、その欠落画素位置の左右画素の平均値にて補間された画素を補間画素として挿入する手法である。

特開２０１２−２３５６４号公報

ラインイメージセンサの取り付けずれや原稿設置時のずれにより、原稿を斜行にスキャンした場合、ラインイメージセンサで読み取った原稿画像は、斜め方向に歪んだ画像（以後、斜行画像と呼ぶ）となる。しかしながら、特許文献１の手法では、欠落画素を原稿画像の左右画素にて補間するため、斜行画像に対しては斜め方向の画素での補間になる。そのため、補間後の罫線が歪になってしまう。このような問題は、例えばＣＡＤ図面に表れるような細線をスキャンするようなケースにおいて顕在化する。例えばＣＡＤ図面に記載されている罫線上の欠落画素を復元する場合、罫線に対して、斜め方向に補間することになるため、補間場所によって罫線の太さが不均一になってしまう。また、斜行の角度によって罫線の太さが異なってしまう。特に原稿の縦方向の罫線（以後、縦線と呼ぶ）にラインイメージセンサのつなぎ目が位置する場合、その影響範囲は原稿の縦方向に大きくなるため、補間後の縦線のがたつきが目立ってしまう。

本発明に係る画像処理装置は、複数のラインイメージセンサによって原稿を読み取ることで画像データを取得する画像取得手段と、前記画像データを斜行補正することにより斜行補正画像データを出力する斜行補正手段と、前記斜行補正画像データにおける欠落画素の位置を示す欠落画素位置情報を取得する欠落画素位置情報取得手段と、前記欠落画素位置情報を用いて前記斜行補正画像データにおける欠落画素を補間する補間手段とを有する。

本発明によれば、原稿を斜行にスキャンしたとしても、縦線の太さの不均一さや斜行の角度による縦線の太さの変化を最小限に抑えることができる。一例としては、ＣＡＤ図面に記載されている縦線上にラインイメージセンサのつなぎ目がある斜行画像に対して有効に作用する。

本発明の実施例１に係る画像処理装置を示すブロック図である。 原稿とラインイメージセンサの関係例を示す図である。 斜行画像の１例を示す図である。 欠落画素情報の１例を示す図である。 斜行補正画像の１例を示す図である。 本発明の実施例２に係る欠落画素補間部の処理フローを説明するフローチャート 局所領域における斜行補正画像の１例を示す図である。 縦線情報の１例を示す図である。 本発明の実施例１に係る画像処理装置の出力例を示す図である。 本発明の実施例２に係る画像処理装置を示すブロック図である。 本発明の実施例２に係る欠落画素補間部の処理フローを説明するフローチャートである。 本発明の実施例３に係る画像処理装置を示すブロック図である。 本発明の実施例４に係る画像処理装置を示すブロック図である。

以下、添付の図面を参照して、本発明を好適な実施例に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施例において示す構成は一例にすぎず、本発明は図示された構成に限定されるものではない。

図１は本発明の実施例１に係る画像処理装置の全体構成を示すブロック図である。画像処理装置は、欠落画素挿入部１０１、斜行補正部１０２、欠落画素位置情報取得部１０３、縦線検出部１０４、及び欠落画素補間部１０５を有する。その他の構成も含み得るが本実施例の主眼ではないので省略する。各部の動作については具体例を示しながら説明する。

まず、画像形成装置は、図示しない複数のラインイメージセンサにより、斜行する可能性のある原稿から斜行画像を取得する。斜行する可能性があるとは、ラインイメージセンサの取り付けずれがある場合や原稿設置時のズレによって斜行する可能性があるということである。以下の例では、原稿を読み取って得られた原稿画像は斜行している斜行画像であるものとして説明する。

図２は、原稿とラインイメージセンサとの関係例を示し、原稿画像取得を説明する図である。以下、本実施例の理解を容易にするため、図２（ａ）に示す原稿は２本のラインセンサーによって読み取られるものとする。また、読み取りの際、ラインイメージセンサ２０１の取り付けずれや原稿設置時のずれによって図２（ｂ）に示すように斜行してスキャンされたとして説明する。尚、図２（ａ）及び図２（ｂ）に示す原稿は、白色の下地に対して、黒色の２画素幅の罫線が縦横に引かれているものとする。また、図２（ｂ）に示すセンサのつなぎ目領域２０２は原稿を読み取れないラインイメージセンサ間の画素位置を示しており、１画素幅の画素が欠落するものとする。また、この時のラインイメージセンサはそれぞれ１１画素分の画像データを取得できるものとする。

欠落画素挿入部１０１は、図２（ｂ）に示すように原稿が斜めにスキャンされて生成された斜行画像を入力する。図３は図２（ａ）に示す原稿をスキャンして得られる斜行画像の模式図である。図３の円形はそれぞれ、ラインイメージセンサで読み取った１画素幅の画素を表している。また、センサのつなぎ目領域２０２は、ラインイメージセンサで読み取れない欠落画素の領域を示しており、実際は画素が存在しないが、説明の便宜上、欠落画素の１画素幅を表示している。尚、説明しやすいように斜行画像には列番号を設ける。０〜１０列目及び１２〜２１列目はラインイメージセンサによって読み取った画素であり、１１列目は欠落画素である。尚、理解し易くするため図３及び後述する図５に原稿の罫線及び原稿の外枠を記載しているが、実際には斜行画像は画素のみ（すなわち、図３の円形のみ）で構成される。

また、欠落画素挿入部１０１は、予め取得済の欠落画素識別情報を入力する。欠落画素識別情報は、例えば欠落画素数及び欠落画素位置を示す情報である。この欠落画素識別情報は、例えば、ラインイメージセンサ取り付け時の仕様や、プレスキャンによって予め画像処理装置において取得可能である。図３に示す斜行画像の場合、センサのつなぎ目領域は１１列目で１画素幅であるため、欠落画素位置は１１（列目）となり、欠落画素数は１（画素）、となる。そして、欠落画素挿入部１０１は、入力した欠落画素識別情報を基に、斜行画像におけるセンサのつなぎ目領域の欠落画素位置に画素を挿入する。挿入方法は公知の方法でよい。例えば、特開２０１２−２３５６４号記載にあるように主走査方向に画素をカウントしていく。そして、欠落画素位置の値とカウント値が同じになった時、欠落画素位置であると判定できるため、欠落画素数の画素を挿入する。この時の画素値は周辺画素から推定した値で欠落画素を挿入するのが望ましい。例えば、左画素の値で埋めてもよいし、左右画素または上下左右画素の平均値で埋めてもよい。

欠落画素挿入部１０１は、このようにして欠落画素が挿入された斜行画像を斜行補正部１０２に出力する。また、欠落画素を挿入した座標（以後、欠落画素情報と呼ぶ）を欠落画素位置情報取得部１０３に出力する。欠落画素情報は欠落画素の座標を認識できればよいので、各画素１ビットの２値で表すことができる。以後、欠落画素情報は１ビットの２値で出力されるものとして説明する。ただし、欠落画素情報は、後述する欠落画素位置情報取得部１０３で回転処理のために多値化されることになるので、予め多値として出力してもよい。図４（ａ）は、図３に示す斜行画像の局所領域３０１（点線内の１０×１０画素）に対する欠落画素情報の一例を模式的に表したものである。図４において円形は画素を表しており、欠落画素を１、それ以外（非欠落画素）を０と表記している。図４（ａ）に示すように、欠落画素情報は、後述する斜行補正前の画像データにおいて特定された欠落画素の位置と欠落画素以外の画素の位置とを表す情報である。欠落画素は、図３におけるセンサつなぎ目領域に位置するため、図５（ａ）に示すように欠落画素を示す１は縦一列に並ぶ。

斜行補正部１０２は、欠落画素挿入部１０１で欠落画素が挿入された斜行画像を入力する。そして、予め取得済の回転情報（回転角度）を基に、公知の斜行補正を用いて斜行画像を補正して、斜行補正画像データを出力する。例えば、解像度変換により斜行画像を高解像度にし、それに対して行列演算を用いて斜行補正し、ニアレストネイバー補間法やバイリニア補間法により画素を補間し、元の解像度に変換することで、斜行画像を補正する。補正後の斜行画像（以後、斜行補正画像と呼ぶ）の例を図５に示す。図５に示す斜行補正画像は図３に示す斜行画像を斜行補正したものである。図５において薄い線数の斜線の円形で示す画素５０１は、欠落画素挿入部１０１で画素挿入された欠落画素を示し、他の画素と同様に斜行補正に伴いラインによって座標が変わる。尚、回転情報は、プレスキャンで取得可能である。例えば、原稿の上下左右の端部を検出し、その検出結果を用いて回転角度を取得することができる。実際は斜行補正の方法によっては縦線が図５に示すようにきれいにならない場合もある。その場合、斜行補正画像に対し、エッジ強調や太らせ処理等のフィルタ処理で対応する。

欠落画素位置情報取得部１０３は、回転情報と欠落画素挿入部１０１から出力された欠落画素情報とを入力し、斜行補正部１０２での斜行補正と同様の方法にて、欠落画素情報を補正する。以後、斜行補正された欠落画素情報を欠落画素位置情報と呼ぶ。欠落画素情報が多値の場合は、そのまま斜行補正する。一方、欠落画素情報が各画素１ビット２値の場合は、一旦多値にしてから、斜行補正を行う。そして、予め設定された閾値で２値化し、各画素１ビット２値にしてから欠落画素位置情報として出力する。図４（ｂ）は、欠落画素位置情報取得部１０３が図４（ａ）に示す欠落画素情報を補正した欠落画素位置情報の一例である。図４（ｂ）に示すように斜行補正に伴いラインによって欠落画素の座標が変わる。本実施例においては、この斜行補正後の欠落画素の座標（すなわち欠落画素位置情報）を用いて後述する欠落画素の補間を行なうことで、原稿からの変化を最小限に抑えることができる。

縦線検出部１０４は、斜行補正部１０２から出力された斜行補正画像を基に、公知の方法にて、縦線を検出する。例えば、１次微分で勾配を計算することでエッジの強さを計算し、勾配の方向からエッジの局所的方向を予測し、その方向の勾配が局所的に極大となる箇所を探索する。そして、それによって、任意に設定された縦方向の参照領域で、エッジと判定された画素が一定数以上存在する場合、または、エッジと判定された画素の割合が一定以上である場合、その参照領域を縦線と判定する。縦線検出部１０４が判定した結果は、縦線情報として欠落画素補間部１０５に出力される。欠落画素補間部１０５は、出力された縦線情報取得を行なう。

欠落画素補間部１０５は、斜行補正部１０２で出力された斜行補正画像と、縦線検出部１０４で出力された縦線情報と、欠落画素位置情報取得部１０３で出力された欠落画素位置情報とを入力する。そして、斜行補正画像における欠落画素を補間することで、所望の画像を出力する。

欠落画素補間部１０５の動作を図６のフローを用いて説明する。まず、ステップＳ６０１において欠落画素補間部１０５は斜行補正部１０２から出力された斜行補正画像と、縦線検出部１０４から出力された縦線情報と、欠落画素位置情報取得部１０３から出力された欠落画素位置情報とを入力する。以下、動作の理解を容易にするため、図７に示す斜行補正画像と、図４（ｂ）に示す欠落画素位置情報と、図８に示す縦線情報とが入力されたものとして説明する。図８に示す縦線情報は、縦線の画素を１、それ以外の画素を０と表記している。欠落画素補間部１０５は斜行補正画像を画素毎に処理していく。ここで、処理対象の注目画素を注目画素Ｐとする。注目画素Ｐの座標表記はＰ（ｘ、ｙ）とし、例えば、図７に示す円形（点線）の画素が注目画素だった場合、その画素を注目画素Ｐ（９，０）と表記する。

次にステップＳ６０２において欠落画素補間部１０５は、注目画素Ｐが欠落画素か否かを、注目画素Ｐに対応する欠落画素位置情報を基に判定する。例えば、図４（ｂ）を参照すると注目画素Ｐ（４，３）に対応する欠落画素位置情報は１なので、斜行補正画像における注目画素Ｐ（４，３）は欠落画素と判定され後述するステップＳ６０３に処理を移す。一方、例えば注目画素Ｐ（５，３）に対応する欠落画素位置情報は０なので、注目画素Ｐ（５，３）は欠落画素ではないと判定され後述するステップＳ６０８に処理を移す。即ち注目画素Ｐが欠落画素ではない場合、画素の補間は行わない。以後、説明簡略化のため、斜行補正画像における欠落画素ではない画素を有効画素と呼ぶ。

ステップＳ６０３において欠落画素補間部１０５は、注目画素Ｐが縦線上の画素か否かを、注目画素Ｐに対応する縦線情報から判定する。例えば、図８を参照すると注目画素Ｐ（４，３）に対応する縦線情報は１なので、注目画素Ｐ（４，３）は縦線上にあると判定され、後述するステップＳ６０４に処理を移す。一方、注目画素Ｐ（３，７）に対応する縦線情報は０なので、注目画素Ｐ（３，７）は縦線上にないと判定され後述するステップＳ６０７に処理を移す。

ステップＳ６０４で欠落画素補間部１０５は、注目画素Ｐに対応する予め決められた参照領域における上下方向の画素である上下画素（以後、上下画素Ｑと呼び、座標表記は注目画素Ｐと同様とし、説明を割愛する）を参照する。尚、参照領域における画素数（以後、上下画素数と呼ぶ）は予めレジスタ等に設定されている。これにより、上下画素Ｑは決定される。例えば、上下画素数が６の場合、注目画素Ｐ（４，３）に対応する上下画素Ｑは上下画素Ｑ（４、０）、（４、１）、（４、２）、（４、４）、（４、５）、（４、６）となる。

そして、ステップＳ６０５に処理が移り、欠落画素補間部１０５はステップＳ６０４で参照した上下画素Ｑに有効画素が含まれているか否かを、上下画素Ｑに対応する欠落画素位置情報から判定する。例えば、注目画素Ｐ（４，３）の時、それに対応する上下画素Ｑは、上下画素Ｑ（４、０）、（４、１）、（４、２）、（４、４）、（４、５）、（４、６）となる。これらの上下画素Ｑに対応する欠落画素位置情報は、上下画素Ｑ（４、０）、（４、１）、（４、２）が有効画素を示す０である。従って、この場合上下画素Ｑに有効画素が存在するため、後述するステップＳ６０６に処理が移る。一方、上記上下画素Ｑに有効画素が１つも存在しない場合は、後述するステップＳ６０７に処理が移る。

ステップＳ６０６は、注目画素Ｐが欠落画素で且つ縦線上にあり、上下画素Ｑに有効画素がある場合の画素補間処理である。注目画素Ｐを上下画素Ｑの有効画素の平均値にて補間する。例えば、注目画素Ｐ（４，３）の場合、上述したように上下画素Ｑの有効画素は上下画素Ｑ（４、０）、（４、１）、（４、２）である。そこで、上記上下画素Ｑ（４、０）、（４、１）、（４、２）の平均値を算出し、その値で斜行補正画像における注目画素Ｐ（４，３）の画素値を置換する。このように縦線上の有効画素のみで補間するため、縦線以外の影響がなく、所望の縦線を復元することができる。

ステップＳ６０７は、注目画素Ｐが欠落画素である場合であり、かつ、注目画素Ｐが縦線上にないもしくは注目画素Ｐに対応する上下画素Ｑに１つも有効画素がない場合の補間処理である。この場合縦線を用いて補間することができないので、画質に影響の少ない注目画素Ｐの周辺画素の平均値にて補間処理を行う。例えば、縦線上にない注目画素Ｐ（３、７）は、その周辺画素（２、６）、（２、７）、（２、８）、（３、６）、（３、８）、（４、６）、（４、７）、（４、８）の平均値にて補間される。

ステップＳ６０８において欠落画素補間部１０５は、注目画素Ｐが最終画素か否かを判定する。注目画素Ｐが最終画素でない場合、ステップＳ６０９にて注目画素Ｐを更新し、上記ステップＳ６０２〜Ｓ６０８の処理を行う。一方、注目画素Ｐが最終画素の場合は、全ての欠落画素の補間が終了したとみなされ、補間済みの斜行補正画像が出力される。

なお、ステップＳ６０６やステップＳ６０７の補間処理は、ステップＳ６０１で入力された時点の斜行補正画像における画素値を用いる処理である。つまり、補間後に得られた欠落画素の画素値については、ステップＳ６０６やステップＳ６０７の平均処理においては用いられない。

図９は、図７に示す斜行補正画像の欠落画素を上記ステップＳ６０２〜Ｓ６０８の処理によって、補間した模式図である。図７に示す４、５列の欠落画素は縦線上にあるため、上下画素でありかつ有効画素にて補間される。従って、４、５列の欠落画素の縦線は、エッジや、がたつきを損なうことなく復元される。一方、図７に示す３列の欠落画素は縦線上にないため、周辺画素にて補間される。従って、３列の欠落画素は図９に示すように黒に近い中間色（０〜１２７）、または白に近い中間色（１２８〜２５４）となり、視覚上違和感のない画素に復元される。

尚、図６に示すステップＳ６０７の処理では、周辺画素の平均値で欠落画素を補間しているが、視覚上違和感のない画素に補間すればよいため、上記補間方法に限定する必要はないことは言うまでもない。例えば、左右画素にて補間する補間方法でもよいし、上下画素にて補間する補間方法でもよい。

また、説明上、斜行画像を入力することを前提として説明しているが、斜行画像ではない場合の縦線においても画質劣化なく再現できることは言うまでもない。

以上のように本実施例によれば、斜行補正後の画像に対して、縦線情報を基に適応的に欠落画素を補間するので、原稿を斜行にスキャンしたとしても、画質劣化を最小限に抑える画像処理装置を提供することができる。特に、欠落画素が縦線上に存在する場合、欠落画素を上下及び有効画素の平均値にて、欠落画素を補間するので、ＣＡＤ図面に記載されている縦線上にラインイメージセンサのつなぎ目がある斜行画像に対して有効に作用する。

次に実施例２について説明する。実施例２は回路規模削減のための構成である。図１０は実施例２に係る画像処理装置の全体構成を示すブロック図であり、図１に示す実施例１の画像処理装置から、縦線検出部１０４を取り除いたものである。図１０に示す欠落画素挿入部１００１と、斜行補正部１００２と、欠落画素位置情報取得部１００３とは、それぞれ図１に示す欠落画素挿入部１０１と、斜行補正部１０２と、欠落画素位置情報取得部１０３と同等なので説明を割愛する。

欠落画素補間部１００５は、斜行補正部１００２から出力された斜行補正画像及び欠落画素位置情報取得部１００３から出力された欠落画素位置情報を入力する。そして、図１１に示す処理フローに従って欠落画素を補間する。図１１に示す処理フローは、図６に示す処理フローからＳ６０３〜Ｓ６０７を取り除き、後述するＳ１１１０を追加したものである。図１０に示すＳ１１０１、Ｓ１１０２、Ｓ１１０８、Ｓ１１０９の処理は、図６に示すＳ６０１、Ｓ６０２、Ｓ６０８、Ｓ６０９の処理と同等なため、説明を割愛する。ただし、図１０に示すステップＳ１１０１は、縦線情報を入力しない。

図１１に示すステップＳ１１１０の処理は、図６に示すＳ６０６の処理の代わりとのなるもので、欠落画素を左右画素にて補間する。尚、左右画素にて補間するのは、回路規模削減のためであり、それが実現できれば、この補間方法に限定する必要はない。なぜならば、斜行補正画像に対して、斜行補正された位置にある欠落画素の補間を行うため、原稿の斜行角度が画質に影響することはないからである。

以上のように本実施例によれば、斜行補正画像に対し、公知の補間方法にて欠落画素を復元する。そのため、斜行画像に対し、少ない回路規模で欠落画素の復元が可能である。また、縦線の復元精度は実施例１よりも劣るが、例えば、縦線が太い場合や自然画では、本実施例による処理で視覚上十分な画質が保たれる。

次に実施例３について説明する。実施例１では、斜行補正部１０２に入力される斜行画像は、欠落画素挿入部１０１で欠落画素が挿入された後の斜行画像が入力されているものとして説明した。実施例３においては、斜行補正時にラインイメージセンサのつなぎ目を認識して欠落画素を挿入することも可能である。この場合、図１２に示すような全体構成を示すブロック図となる。図１２に示す縦線検出部１２０４及び欠落画素補間部１２０５は、それぞれ実施例１のブロック図の図１に示す縦線検出部１０４及び欠落画素補間部１０５と同様であるため、説明を割愛する。

斜行補正部１２０２は、実施例１のブロック図の図１に示す斜行補正部１０２と同様の機能に加え、ラインイメージセンサの切れ目を認識して欠落画素を挿入する機能を加えたものである。従って、図１に示す欠落画素挿入部１０１への入力（斜行画像、欠落画素識別情報）が斜行補正部１２０２へ入力され、図１に示す欠落画素位置情報取得部１０３からの出力（欠落画素位置情報）及び斜行補正画像が出力される。尚、図１２の例では欠落画素位置情報と斜行補正画像とを斜行補正部１２０２から別々の信号として後段へ送っているが、欠落画素位置情報と斜行補正画像を画素毎にパックして送ってもよいし、斜行補正画像に、欠落画素位置情報を埋め込んで送ってもよい。例えば、欠落画素位置情報が各画素１ビットで表現されている場合、斜行補正画像の画素の下位１ビットを、それに対応する欠落画素位置情報に置き換えてもよい。下位１ビットに埋め込むことで、画質への影響を最低限に抑えつつ、構成を簡略化できる。

以上のように本実施例によれば、斜行補正時にラインイメージセンサのつなぎ目を認識して欠落画素を挿入する機能を備えている場合は、実施例１よりも構成を簡略化できる。

次に実施例４について説明する。図１３は、実施例４に係る画像処理装置の全体構成を示すブロック図であり、図１に示す実施例１の画像処理装置の構成に平坦画像判定部１３０６が追加されたものである。図１３に示す斜行補正部１３０２と、欠落画素位置情報取得部１３０３と、縦線検出部１３０４とは、それぞれ実施例１の図１に示す斜行補正部１０２と、欠落画素位置情報取得部１０３と、縦線検出部１０４と同様であるため、説明を割愛する。欠落画素挿入部１３０１と欠落画素補間部１３０５とについては、それぞれ欠落画素挿入部１０１と欠落画素補間部１０５との差分のみ説明する。

平坦画像判定部１３０６は、公知の方法を用いて、斜行画像が平坦画像か否かを判定する。例えば、全ての画素において、隣接する画素が予め指定されている閾値を超えない場合、その斜行画像は平坦画像と判定できる。その判定結果を平坦情報として出力する。尚、上記平坦情報は斜行画像が平坦画像か否かを判別できればよいので、１ビット情報でよい。以下、斜行画像が平坦画像の場合、上記平坦情報が１を示し、それ以外は０を示すものとして説明する。

欠落画素挿入部１３０１は、実施例１の図１に示す欠落画素挿入部１０１に、平坦画像判定部１３０６から出力された平坦情報を入力したものである。平坦情報が１の時、後述する欠落画素補間部１３０５で欠落画素を補間する必要がないので、欠落画素識別情報を出力しない。

欠落画素補間部１３０５は、実施例１の図１に示す欠落画素挿入部１０１に、平坦画像判定部１３０６から出力された平坦情報を入力したものである。平坦情報が１の時、後述する欠落画素補間部１３０５で欠落画素を補間する必要がないので、入力した斜行補正画像をそのまま出力する。

以上のように本実施例によれば、斜行画像が平坦画像と判定された場合、欠落画素補間部１３０５で欠落画素を補間することはしない。従って、平坦画像の場合、処理の高速化が実現できる。

＜その他の実施形態＞
上記の実施例２から４については、実施例１との差異を中心に説明したが、各実施例の構成を適宜組み合わせてもよい。

また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

また、本実施形態の機能を実現するためのプログラムコードを、１つのコンピュータ（ＣＰＵ、ＭＰＵ）で実行する場合であってもよいし、複数のコンピュータが協働することによって実行する場合であってもよい。さらに、プログラムコードをコンピュータが実行する場合であってもよいし、プログラムコードの機能を実現するための回路等のハードウェアを設けてもよい。またはプログラムコードの一部をハードウェアで実現し、残りの部分をコンピュータが実行する場合であってもよい。

Claims (19)

1. 複数のラインイメージセンサによって原稿を読み取ることで画像データを取得する画像取得手段と、
   前記画像データを斜行補正することにより斜行補正画像データを出力する斜行補正手段と、
   前記斜行補正画像データにおける欠落画素の位置を示す欠落画素位置情報を取得する欠落画素位置情報取得手段と、
   前記欠落画素位置情報を用いて前記斜行補正画像データにおける欠落画素を補間する補間手段と
   を有する画像処理装置。
2. 前記欠落画素位置情報取得手段は、斜行補正前の画像データにおいて特定された欠落画素の位置と欠落画素以外の画素の位置とを表す情報を斜行補正することで前記欠落画素位置情報を取得する請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記欠落画素位置情報取得手段は、斜行補正前の画像データにおける、前記複数のラインイメージセンサ間のつなぎ目に位置する欠落画素の位置と欠落画素以外の位置とを表す座標を斜行補正することで前記欠落画素位置情報を取得する請求項１に記載の画像処理装置。
4. 前記補間手段は、前記斜行補正画像データにおける欠落画素の画素値を当該欠落画素の周辺の画素値に基づいて補間する請求項１から３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
5. 前記補間手段は、前記斜行補正画像データにおける欠落画素の画素値を当該欠落画素の周辺の画素値の平均値によって補間する請求項１から３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
6. 前記補間手段は、前記斜行補正画像データにおける欠落画素の画素値を当該欠落画素の前記斜行補正画像データにおける左右の画素値の平均値によって補間する請求項１から３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
7. 前記斜行補正画像データにおける縦線の画素の位置を示す縦線情報を取得する縦線情報取得手段をさらに有し、
   前記補間手段は、さらに前記縦線情報を用いて前記斜行補正画像データにおける欠落画素を補間する請求項１から６のいずれか一項に記載の画像処理装置。
8. 前記補間手段は、前記縦線情報に基づいてそれぞれの欠落画素に対して異なる補間処理を行なう請求項７に記載の画像処理装置。
9. 前記補間手段は、前記欠落画素が縦線上の画素である場合、前記縦線上の欠落画素ではない画素を用いて補間する請求項７または８に記載の画像処理装置。
10. 前記補間手段は、前記欠落画素が縦線上の画素であり、かつ、当該欠落画素の前記斜行補正画像データにおける上下方向に欠落画素ではない画素が含まれている場合、当該欠落画素の前記斜行補正画像データにおける上下方向の欠落画素ではない画素を用いて補間する請求項７から９のいずれか一項に記載の画像処理装置。
11. 前記補間手段は、前記欠落画素が縦線上の画素であり、かつ、当該欠落画素の前記斜行補正画像データにおける上下方向に欠落画素ではない画素が含まれていない場合、当該欠落画素の周辺画素を用いて補間する請求項７から１０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
12. 前記補間手段は、前記欠落画素が縦線上の画素ではない場合、当該欠落画素の周辺画素を用いて補間する請求項７から１１のいずれか一項に記載の画像処理装置。
13. 前記画像取得手段で取得した画像データが平坦画像を示す画像データかを判定する判定手段をさらに有し、
    前記判定手段で平坦画像を示す画像データであると判定された場合、前記補間手段は前記補間を行わない請求項１から１２のいずれか一項に記載の画像処理装置。
14. 前記斜行補正手段は、各画素値の下位１ビットに欠落画素を示す値を含む斜行補正画像データを出力し、
    前記欠落画素位置情報取得手段は、前記斜行補正画像データに含まれる各画素の画素値を参照して前記欠落画素位置情報を取得する請求項１から１３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
15. 前記斜行補正手段は、予め取得された回転情報に基づいて前記斜行補正を行う請求項１から１４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
16. 複数のラインイメージセンサを含む読み取り手段と、
    前記読み取り手段によって原稿を読み取ることで画像データを取得する画像取得手段と、
    前記画像データを斜行補正することにより斜行補正画像データを生成する斜行補正手段と、
    前記斜行補正画像データにおける欠落画素の位置を示す欠落画素位置情報を取得する欠落画素位置情報取得手段と、
    前記欠落画素位置情報を用いて前記斜行補正画像データにおける欠落画素を補間する補間手段と、
    前記補間手段で前記欠落画素が補間された斜行補正画像データを出力する出力手段と
    を有する読み取り装置。
17. 複数のラインイメージセンサによって原稿を読み取ることで画像データを取得する画像取得ステップと、
    前記画像データを斜行補正することにより斜行補正画像データを出力する斜行補正ステップと、
    前記斜行補正画像データにおける欠落画素の位置を示す欠落画素位置情報を取得する欠落画素位置情報取得ステップと、
    前記欠落画素位置情報を用いて前記斜行補正画像データにおける欠落画素を補間する補間ステップと
    を有する画像処理方法。
18. 複数のラインイメージセンサを用いた読み取り方法であって、
    前記複数のラインイメージセンサによって原稿を読み取ることで画像データを取得する画像取得ステップと、
    前記画像データを斜行補正することにより斜行補正画像データを生成する斜行補正ステップと、
    前記斜行補正画像データにおける欠落画素の位置を示す欠落画素位置情報を取得する欠落画素位置情報取得ステップと、
    前記欠落画素位置情報を用いて前記斜行補正画像データにおける欠落画素を補間する補間ステップと、
    前記補間ステップで前記欠落画素が補間された斜行補正画像データを出力する出力ステップと
    を有する読み取り方法。
19. コンピュータを請求項１から１５のいずれか一項に記載の画像処理装置として機能させるためのプログラム。

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