JP6192855B2 - 磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法 - Google Patents

磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法 Download PDF

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Description

本発明は、磁気スケール及び感磁素子を用いた磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法に関し、特に、簡素な構成で、高精度かつ高速応答が可能な磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法に関するものである。
従来の磁気式位置検出装置(例えば、国際出願番号:PCT/JP2013/061871号参照)においては、磁性的な性質が異なる幅λの第1磁性部と幅λの第2磁性部と構成された幅2λの複数の磁極対から形成された磁気スケールが設けられている。それらの磁極対は、磁極対幅2λの周期で等間隔に一列に配列されている。
また、当該磁気スケールに対して、予め定めた空隙を隔てて、感磁装置が対向配置されている。感磁装置は、その空隙を維持しながら、磁気スケールによって形成される磁場の中を、磁気スケールの配列方向に相対移動し、相対移動の際の磁場の変化を、感磁素子を用いて測定する。
感磁装置は、感磁素子として、n個(nは2以上の自然数)の第1感磁素子からなり、λ=nPとなるように感磁素子間隔Pで等間隔に配列された第1感磁素子群を備えている。第1感磁素子の各々は、相対移動の際の磁場の変化の測定結果を並列に出力する。
位置算出回路は、感磁装置の出力値を解析することにより、感磁装置と磁気スケール間の相対位置を算出する。位置算出回路は、n個の第1の感磁素子から並列に出力された出力値を解析することにより、感磁装置と磁気スケール間の相対位置をλ/nの位置検出分解能として算出する。
上述した従来の磁気式位置検出装置では、検出した磁極対の位置情報をメモリに記憶させておけば、記憶させた位置情報を絶対位置の検出に用いることが可能である。しかしながら、メモリが揮発性メモリの場合には、磁気式位置検出装置の電源がOFFとなった場合に、メモリの中の位置情報が消去されてしまう。その結果、磁気式位置検出装置の電源投入時に、絶対位置を検出することができないという課題があった。
また、メモリが不揮発性メモリの場合であっても、磁気式位置検出装置の電源がOFFとなった後に、感磁素子と磁気スケールの位置が移動した場合には、メモリに記憶されている磁極対の位置情報と実際の位置との間にずれが生じるため、磁気式位置検出装置の電源投入時に、正確な絶対位置を検出することができないという課題があった。
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、簡素な構成で、絶対位置を高精度かつ高速に検出する磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法を得ることを目的としている。
本発明は、均等な長さλ1の磁極N及び磁極Sが移動方向に交互に配列された第一磁気スケールと、前記第1磁気スケールに並行して設けられ、均等な長さλ2の磁極N及び磁極Sが移動方向に交互に配列された第二磁気スケールとから構成された磁気スケールと、前記第一磁気スケール及び前記第二磁気スケールに対して空隙を隔てて対向配置され、前記空隙を維持しながら、前記第一磁気スケール及び前記第二磁気スケールによって形成される磁場の中を前記移動方向に相対移動し、前記相対移動の際の前記磁場の変化を感磁素子を用いて測定する感磁装置と、前記感磁素子の信号パターンと前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置情報とを対応させて予め記憶し、前記感磁装置から出力される前記感磁素子の出力値から、前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置を算出する位置算出装置とを備え、前記第一磁気スケールに含まれる前記磁極Nの個数と前記磁極Sの個数とを合計させた磁極数はk個で、第二磁気スケールに含まれる前記磁極Nの個数と前記磁極Sの個数とを合計させた磁極数はk+2個であり、それらの磁極数の差は2個であり、前記感磁装置は、前記第一磁気スケールによって形成される磁場の変化を検知するための1以上の感磁素子からなる第一感磁素子群と、前記第二磁気スケールによって形成される磁場の変化を検知するための1以上の感磁素子からなる第二感磁素子群とを備え、前記第一感磁素子群および前記第二感磁素子群を構成する前記感磁素子のそれぞれから、前記相対移動の際の前記磁場の変化の測定結果を並列に出力し、前記第一感磁素子群の感磁素子の個数nと前記第二感磁素子群の感磁素子の個数mとの比は、前記第一磁気スケールの磁極数kの逆数と前記第二磁気スケールの磁極数k+2の逆数との比と等しく、前記第一感磁素子群の各感磁素子から出力される信号の出力波形が、前記第一磁気スケールの1つの磁極の長さλ1を前記感磁素子の個数nで等分化した位相P1=λ1/nだけ順にずれるように、前記第一感磁素子群の前記感磁素子の配列間隔をP1に設定するとともに、前記第二感磁素子群の各感磁素子から出力される信号の出力波形が、前記第二磁気スケールの1つの磁極の長さλ2を前記感磁素子の個数mで等分化した位相P2=λ2/mだけ順にずれるように、前記第二磁気スケールの前記感磁素子の配列間隔をP2に設定するか、あるいは、前記第一感磁素子群の感磁素子の個数n及び前記第二感磁素子群の感磁素子の個数mのうち、一方の個数が偶数で、他方の個数が奇数のとき、偶数の感磁素子の個数を1/2倍にして、前記感磁素子を配列した磁気式位置検出装置である。
本発明によれば、2つの磁気スケールと複数の感磁素子を設けることで、簡素な構成で、絶対位置を高精度かつ高速に検出することのできる磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法を得ることができる。
本発明の実施の形態1での磁気スケールと感磁素子の配置を示す図である。 本発明の実施の形態1での位置算出装置の構成の例示図である。 本発明の実施の形態1における、感磁装置が磁気スケールに対して相対移動する際の、感磁装置及びパルス生成部の出力波形図である。 本発明の実施の形態1における、感磁装置が磁気スケールに対して相対移動する際の、パルス生成部及びHi/Lo判定部の出力と磁気スケールの位置の例示図である。 本発明の実施の形態2での磁気スケールと感磁素子の配置を示す図である。 本発明の実施の形態2における、感磁装置が磁気スケールに対して相対移動する際の、Hi/Lo判定部の出力と磁気スケールの位置の例示図である。 本発明の実施の形態3での磁気スケールと感磁素子の配置を示す図である。 本発明の実施の形態4での位置算出装置の構成の例示図である。 本発明の実施の形態4における、感磁装置が磁気スケールに対して相対移動する際の、Hi/Lo判定部及び位置カウンタ部の出力と磁気スケールの位置の例示図である。 本発明の実施の形態5での磁気スケールと半導体チップに一括形成した感磁素子の配置を示す図である。
以下、本発明における磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法の好適な実施の形態について図面を用いて説明する。なお、各図において同一、または相当する部分については、同一符号を付して説明する。
実施の形態1.
本発明の実施の形態1に係る磁気式位置検出装置は、磁極数差が2極の2つの磁気スケールと、それらの磁気スケールによって形成される磁場を感磁素子を用いて検知する感磁装置と、感磁素子の出力値から、感磁素子と磁気スケールとの間の絶対位置を算出する位置算出装置とを備え、簡素な構成で、絶対位置を高精度かつ高速に検出する磁気式位置検出装置である。
図1は、本発明の実施の形態1における磁気式位置検出装置の構成の一例を示した図である。本実施の形態1における磁気式位置検出装置は、磁気スケール1、感磁装置2、及び位置算出装置3(図示省略、図2参照)から構成される。
磁気スケール1は、第一磁気スケール1aと第二磁気スケール1bとで構成されている。第一磁気スケール1aと第二磁気スケール1bとは、空隙W1を隔てて並行に配置されている。空隙W1は、所望の幅に予め設定する。なお、この空隙W1の幅は一定でなくともよく、位置によって変化してもよい。
また、図1に示すように、第一磁気スケール1aは、N極の磁極12aとS極の磁極11aとから構成されている。N極の磁極12aとS極の磁極11aとは均等な長さλ1(=L/k)を有している。N極の磁極12aとS極の磁極11aとは交互に配列されている。
第二磁気スケール1bは、N極の磁極12bとS極の磁極11bとから構成されている。N極の磁極12bとS極の磁極11bとは均等な長さλ2(=L/(k+2))を有している。N極の磁極12bとS極の磁極11bとは交互に配列されている。
以下では、隣接した1つのN極の磁極と1つのS極の磁極とを合わせて、「磁極対」と呼ぶこととする。
第一磁気スケール1aの磁極11a,12aの長さλ1は、第二磁気スケール1bの磁極11b,12bの長さλ2よりも長い。
従って、磁気スケール1の位置検出を行う長さLにおいて比較すると、第一磁気スケール1aの磁極数と第二磁気スケール1bの磁極数とは異なる。ここで、第一磁気スケール1aの磁極数とは、N極の磁極12aの個数とS極の磁極11aの個数とを合計した個数である。また、同様に、第二磁気スケール1bの磁極数とは、N極の磁極12aの個数とS極の磁極11aの個数とを合計した個数である。
図1の例では、第一磁気スケール1aの磁極数が8個で、第二磁気スケール1bの磁極数が6個であるので、磁極数の差は2個である。
本実施の形態では、このように、磁極数の差が2個になるように、第一磁気スケール1aと第二磁気スケール1bとを形成する。
図1に示すように、第一磁気スケール1aにおける長さLにおいて、第一磁気スケール1aの磁極数をk個とすると、1つの磁極11a,12aの長さλ1はλ1=L/kとなる。このとき、第二磁気スケール1bにおける長さLにおいて、第二磁気スケール1bの磁極数は(k+2)個となるので、1つの磁極11b,12bの長さλ2はλ2=L/(k+2)となる。
なお、図1では、第一磁気スケール1aの位置検出を行う長さL1と第二磁気スケール1bの位置検出を行う長さL2とを、互いに等しい長さLとしているが、これに限定されるものではなく、L1およびL2は互いに異なる長さであってもよい。また、図1では、第一磁気スケール1aの磁極11a,12aの形状と第二磁気スケール1bの磁極11b,12bの形状は、長方形になっているが、これに限定されるものではなく、各々のN極とS極が均等な長さで交互に配列されていれば、任意の形状でよい。例えば、平行四辺形でも構わない。また、図1では、第一磁気スケール1aの磁極数が6個で、第二磁気スケール1bの磁極数が8個であるが、これに限定されるものではなく、2つの磁気スケールの磁極数の差が2個を維持すればよい。以下の説明では、第一磁気スケール1aの磁極数および第二磁気スケール1bの磁極数を、それぞれ、k、k+2と記述する。
感磁装置2は、第一感磁素子群2aと第二感磁素子群2bとから構成される。第一感磁素子群2aがn個の感磁素子21a〜21dから構成され、第二感磁素子群2bがm個の感磁素子21e〜21gで構成されている。感磁装置2は、磁気スケール1に対して、空隙W2を隔てて、対向配置されている。感磁装置2は、磁気スケール1に対して、水平方向に空隙W2だけ離間していてもよく、垂直方向に空隙W2だけ離間していてもよい。感磁装置2は、この空隙W2を維持しながら、磁気スケール1によって形成される磁場の中を、磁気スケール1の配列方向に、相対移動する。そして、この相対移動の際の磁場の変化を、n個の感磁素子21a〜21d及びm個の感磁素子21e〜21gを用いて検知する。なお、磁気スケール1によって形成される磁場は、磁気スケール1の磁極対であるN極とS極の磁性の強度と方向が、磁極対の周期で変化する磁場である。すなわち、第一磁気スケール1aによって形成される磁場は、2×λ1の周期で変化し、第二磁気スケール1bによって形成される磁場は、2×λ2の周期で変化する。
なお、各感磁素子21a〜21gと磁気スケール1との間の各々の空隙W2は必ずしも同一である必要はなく、各感磁素子21a〜21gごとに異なっていてもよい。ただし、各感磁素子21a〜21gが、磁気スケール1に対して相対移動する際に、各空隙W2が維持されるようになっていればよい。これらの感磁装置2を構成する感磁素子21a〜21gとしては、ホール素子、異方向性磁気抵抗素子(AMR:An-Isotropic Magneto Resistive Device)、巨大磁気抵抗素子(GMR:Giant Magneto Resistive Device)、トンネル磁気抵抗素子(TMR:Tunnel Magneto Resistance Device)等が用いられている。なお、図1では、第一感磁素子群2aが4個の感磁素子から構成され、第二感磁素子群2bが3個の感磁素子から構成されている例を示している。しかしながら、感磁素子の個数はこれに限定されるものではなく、以下の説明ではn、mと記述する。
第一感磁素子群2aのn個の感磁素子21a〜21dは、第一磁気スケール1aによって形成される磁場を検知する。第二感磁素子群2bのm個の感磁素子21e〜21gは、第二磁気スケール1bによって形成される磁場を検知する。
第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21dの個数nと第二感磁素子群2bの感磁素子21e〜21gの個数mの比は、第一磁気スケール1aの磁極数kの逆数と、第二磁気スケール1bの磁極数(k+2)の逆数との比になるように設定される(n:m=(1/k):(1/(k+2)))。従って、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数n及び第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mは、それぞれ、下記の式(1),(2)で示される。
n=k/2 + 1 (1)
m=k/2 (2)
なお、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数n、第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mのどちらか一方の感磁素子数を削減することができる。式(1)及び式(2)から明らかなように、nまたはmのいずれか一方は偶数で、他方は奇数となる。偶数の感磁素子21の個数を削減する場合は、感磁素子数を1/2倍にし、一方、奇数の感磁素子21の個数を削減する場合は、感磁素子数に1を加算した後に1/2倍にすればよい。
例えば、式(1)を用いて算出した第一感磁素子群2aの感磁素子の個数nが偶数で、第式(2)を用いて算出した第二感磁素子群2bの感磁素子の個数mが奇数とした場合に、第一感磁素子群2aの感磁素子の個数nを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の式(3)及び(4)となる。
n=(k/2 + 1)×(1/2)
=k/4 + 1/2 (3)
m=k/2 (4)
または、第一感磁素子群2aの感磁素子の個数nが偶数で、第二感磁素子群2bの感磁素子の個数mが奇数とした場合に、第一感磁素子群2bの感磁素子の個数mを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の式(5)及び(6)となる。
n=k/2 + 1 (5)
m=(k/2 + 1)×(1/2)
=k/4 + 1/2 (6)
一方、式(1)を用いて算出した第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数nが奇数、式(2)を用いて算出した第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mが偶数とした場合に、第一感磁素子群2aの感磁素子の個数nを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の式(7)及び(8)となる。
n=(k/2 + 1 +1)×(1/2)
=(k/2 + 2)×(1/2)
=k/4 + 1 (7)
m=k/2 (8)
また、第二感磁素子群2bの感磁素子数mを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の式(9)及び(10)となる。
n=k/2 + 1 (9)
m=(k/2)×(1/2)
=k/4 (10)
式(1)で算出した第一感磁素子群2aの感磁素子の個数n、式(2)で算出した第二感磁素子群2bの感磁素子の個数mにおいて、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔をP1、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔をP2とする。ここで、配置間隔P1,P2とは、図1のPで示されるように、1つの感磁素子21の移動方向における一端から、隣接する感磁素子21の同じ側の一端までの長さである。
第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21dの配置間隔P1は均等である。n個の感磁素子21a〜21dは、図1に示すように、1つの磁極11aまたは12aの長さλ1(=L/k)の範囲内に収まるように配置されている。具体的には、これらのn個の感磁素子21a〜21dの配置間隔P1を合わせた長さ(P1×n)は、第一磁気スケール1aの1つの磁極11a,12aの長さ(L/k)と同じになっている。
同様に、第二感磁素子群2bの感磁素子21e〜21gの配置間隔P2は均等である。m個の感磁素子21e〜21gは、図1に示すように、1つの磁極11bまたは12bの長さλ2(=L/(k+2))の範囲内に収まるように配置されている。具体的には、これらのm個の感磁素子21e〜21gの配置間隔P2を合わせた長さ(P2×m)は、第二磁気スケール1bの1つの磁極11b,12bの長さ(L/(k+2))と同じになっている。
従って、第一磁気スケール1aの位置検出を行う長さをL1、第二磁気スケール1bの位置検出を行う長さをL2としたとき、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1、および、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔をP2は、それぞれ、下記の式(11)及び式(12)となる。
P1=L1/n/k (11)
P2=L2/m/(k+2) (12)
図1では、第一磁気スケール1aの位置検出を行う長さL1と第二磁気スケール1bの位置検出を行う長さL2とは同じLとなっているため、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1、および、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2も同じ長さPとなる。なお、感磁素子21a〜21gは、磁気スケール1a,2aの相対移動方向に対して平行になるように直線状に配置する必要はなく、各々の感磁素子21a〜21dの配置間隔Pを維持しながら、磁気スケール1が形成する磁場を検知できるような配置であればよい。
なお、式(3)で算出したn値、式(4)で算出したm値、または、式(9)で算出したn値、式(10)で算出したm値においては、配置間隔Pは、式(11)で算出したP1、式(12)で算出したP2でよい。一方、式(5)で算出したn値、式(6)で算出したm値の場合における、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1、および、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2は、それぞれ、下記の式(13)、(14)となる。
P1=L1/n/k (13)
P2=L2/(m−1/2)/(k+2) (14)
しかしながら、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2は、式(14)で算出されるP2のみで構成しなくてもよい。すなわち、1つの感磁素子の配置間隔のみを下記の式(15)で示されるP2’とし、他の感磁装置の配置間隔を式(14)で算出されるP2としてもよい。
P2’=L2/(2×m−1)/(k+2) (15)
また、式(7)で算出したn値、式(8)で算出したm値の場合における第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔をP1、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔をP2は、それぞれ、下記の式(16),(17)となる。
P1=L1/(n−1/2)/k (16)
P2=L2/m/(k+2) (17)
しかしながら、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1は、式(16)で算出されるP1のみで構成しなくてもよい。すなわち、第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21dのうちの1つの感磁素子の配置間隔のみを下記の式(18)で示されるP1’とし、他の感磁装置の配置間隔を式(16)で算出されるP1としてもよい。
P1’=L1/(2×n−1)/k (18)
図2は、本発明の実施の形態1における位置算出装置3の構成の一例を示す図である。位置算出装置3は、感磁装置2の出力値を解析することにより、感磁装置2と磁気スケール1との間の相対位置を算出する。図2に示すように、位置算出装置3は、パルス生成部31と、Hi/Lo判定部32と、位置演算部33と、位置変換テーブル部34と、出力部35とを備えている。
パルス生成部31は、感磁装置2と接続されている。パルス生成部31は、後述する図3(a)に示すような感磁装置2の感磁素子21a〜21gの出力を、後述する図3(b)に示すようなパルス出力31a〜31gに変換する。
Hi/Lo判定部32は、パルス生成部31に接続されている。Hi/Lo判定部32は、パルス生成部31が出力するパルス出力31a〜31gを、Hi/Lo判定して2値化し、Hi/Lo出力32a〜32gとして出力する。なお、Hi/Lo出力32a〜32gは、Hi信号またはLo信号である。
位置演算部33は、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32a〜32gを用いて、後述する図4(b)に示すようなテーブルデータを参照して、磁気スケール1の絶対位置を算出する。
位置変換テーブル部34(記憶部)は、位置演算部33に接続され、当該テーブルデータを予め記憶している。
出力部35は、位置演算部33に接続され、位置演算部33で算出された磁気スケール1の位置情報を出力する。
上述した各部31〜35の動作について説明する。
パルス生成部31では、感磁装置2の感磁素子21a〜21gからの出力信号が入力される。感磁素子21a〜21gからの出力信号は、後述する図3(a)に示されるような、正弦波に近い信号である。感磁素子21a〜21gからの出力信号は、磁気スケール1のN極とS極の切り替わり部分で0となり、切り替わり部分で、正から負、または、負から正に切り替わる。パルス生成部31は、感磁素子21a〜21gからの出力信号を、図3(b)に示すような、パルス出力(矩形波)31a〜31gに変換する。当該パルス出力は、磁気スケール1のN極とS極の切り替わり部分で反転するパルス波である。
Hi/Lo判定部32では、パルス生成部31から出力されるパルス出力31a〜31gをHi/Lo判定して、Hi/Lo出力32a〜32g(Hi信号またはLo信号)を出力する。
位置演算部33では、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32a〜32g(Hi信号またはLo信号)を用いて、位置変換テーブル部34に記憶されているテーブルデータを読み出して、絶対位置情報を演算する。
位置変換テーブル部34は、図4(b)に示すように、Hi/Lo判定部32から出力されるHi/Lo出力32a〜32gの信号パターンと、磁気スケール1と感磁装置2との間の絶対位置情報(1〜24)とを、テーブルデータ化して、予め記憶している。
出力部35は、位置演算部33から出力された磁気スケール1と感磁装置2との絶対位置情報を出力する送信インターフェイスである。
図3は、本発明の実施の形態1における、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の、感磁装置2及びパルス生成部31の出力波形図である。
図3(a)は、感磁装置2が相対移動する際の、図2のS点における、感磁素子21a〜21gの出力波形を示している。感磁装置2は、各感磁素子21a〜21gから、相対移動の際の磁場の変化を並列出力する。
図3(b)は、感磁装置2が相対移動する際の、図2のT点における、パルス生成部31の出力波形を示している。
図3(a)に示すように、感磁素子21a〜21gの出力波形は、使用する感磁装置2及び磁気スケール1の特性にもよるが、一般には、ほぼ正弦波状の波形となる。このときの第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21dの出力波形と、第二感磁素子群2bの感磁素子21e〜21gの出力波形とを比べると、それらの波形の周期は異なっている。これは、磁気スケール1aの磁極対(11a及び12a)の長さ2×λ1と磁気スケール1bの磁極対(11b及び12b)の長さ2×λ2との差が、周期の差となるためである。
第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21dの各出力波形は、順に、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1だけ位相がずれた波形となっている。
同様に、第二感磁素子群2bの感磁素子21e〜21gの各出力波形は、順に、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2だけ位相がずれた波形となっている。
なお、図3では、感磁素子21a〜21gの出力波形の周期は、磁極対に対して1周期としているが、これを限定されるものではない。異方向性磁気抵抗素子では、1つの磁極に対して1周期の出力波形となり、ホール素子、巨大磁気抵抗素子、トンネル磁気抵抗素子1つの磁極対に対して1周期の出力波形であってもよい。図1では、磁気スケール1の1つの磁極に対して感磁装置2の感磁素子21a〜21gが配置されているが、これに限定されるものではない。例えば、磁気スケール1のN極に感磁素子を配置し、S極に感磁素子を配置して、この2つの感磁素子を1つの磁極の長さの距離に配置してブリッジ構成にすることで、図3(a)のような感磁素子21a〜21gの出力波形を得てもよい。
図3(b)のパルス生成部31のパルス出力31a〜31gの出力波形は、ほぼデューティ比50%のパルス状の波形となる。
感磁素子21a〜21gの出力波形と同様に、パルス生成部31のパルス出力31a〜31dの出力波形と、パルス生成部31のパルス出力31e〜31gの出力波形とは、周期が異なっている。これは、磁気スケール1aの磁極対の長さと磁気スケール1bの磁極対の長さの差が周期の差となるためである。
パルス生成部31のパルス出力31a〜31dの各出力波形は、順に、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1だけ位相がずれた波形となっている。
同様に、パルス生成部31のパルス出力31e〜31gの各出力波形は、順に、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2だけ位相がずれた波形となっている。
図4(a)は、本発明の実施の形態1における、磁気スケール1と感磁装置2の配置と、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の、パルス生成部31の出力信号の一例を示している。
図4(b)は、位置変換テーブル部34が記憶しているテーブルデータの一例を示している。
図4(a)は、磁気スケール1および感磁装置2の配置と、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際のパルス生成部31から出力されるパルス出力31a〜31gをタイミングチャートとしたものである。ここで、図4(a)の横軸の磁気スケール位置は、感磁装置2の磁気スケール1に対する絶対位置を示している。
図4(b)は、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力(Hi信号またはLo信号)の信号パターンと、磁気スケール位置とを対応させて記憶したテーブルデータの一例を示している。感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動するときに、Hi/Lo判定部32は、パルス生成部31から出力されるパルス出力31a〜31gの信号レベルがHiかLoかを判定して(Hi/Lo判定)、判定結果として、Hi信号またはLo信号を出力する。
図4(b)に示すテーブルデータでは、1行目には、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の位置算出装置3で算出される絶対位置情報(1〜24)が示されている。図4(b)の2行目〜8行目には、磁気スケール1の各絶対位置情報(1〜24)ごとに、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32a〜32gのHiまたはLoの信号パターンが示されている。
図4(a)および図4(b)より、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32a〜32gのうち、Hi/Lo出力32a〜32dは磁気スケール1aの磁極対と同様の周期で変化し、Hi/Lo出力32e〜32gは磁気スケール1bの磁極対と同様の周期で変化していることが分かる。また、Hi/Lo出力32a〜32gは、磁気スケール位置ごとに、HiまたはLoのパターンが全て異なっていることが分かる。
そこで、本実施の形態では、位置演算部33は、図4(b)に示すようなテーブルデータを予め作成し、位置変換テーブル部34(記憶部)に記憶させておく。位置演算部33は、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32a〜32gが入力され、それらに対応する磁気スケール1の絶対位置を当該テーブルデータから読み出すことで、磁気スケール1の絶対位置を取得する。
例えば、位置演算部33は、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32a〜32gが全てHiである場合には、第一感磁素子群2aの最端の感磁素子21aおよび第二感磁素子群2bの感磁素子21eが、磁気スケール1の「13」の位置にあると判断する。
また、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32a〜32eがHiで、3Hi/Lo出力32fと32gがLoである場合には、感磁装置2の感磁素子21aおよび21eが磁気スケール1の「21」の位置にあると判断する。
こうして、図2に示す出力部35は、位置演算部33から出力された磁気スケール1の位置情報を出力する。
このように、感磁装置2の感磁素子21a〜21gの出力信号から求められるHiまたはLoの信号パターンによって、磁気スケール1と感磁装置2との絶対位置情報を検出することができる。このHiまたはLoの信号パターンの1つは、磁気スケール1と感磁装置2との絶対位置の分解能に相当し、信号パターンの切り替わりは、感磁装置2の感磁素子21の配置間隔P1、P2によって決まる。よって、第一磁気スケール1aと第一感磁素子群2aとの絶対位置の分解能をδ1、第二磁気スケール1bと第一感磁素子群2bとの絶対位置の分解能をδ2とすると、δ1およびδ2は、それぞれ、下記の式(19),(20)となる。
δ1=L1/n/k (19)
δ2=L2/m/(k+2) (20)
分解能δ1を算出するためのn値と、分解能δ2を算出するm値とは、それぞれ、式(1)で算出したn値と式(2)で算出したm値で決定され、n値とm値を削減した式(3)〜式(18)の値からは決定されていない。なお、図1では、第一磁気スケール1aと第二磁気スケール1bの絶対位置検出範囲である長さは同じLとなっているため、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔をδ1、第二感磁素子群2bの感磁素子間隔をδ2も同じになる。
以上のように、本実施の形態1においては、2つの磁気スケール1a,1bを備え、各磁気スケール1a,1bに対して予め定めた空隙を隔てて感磁装置2を対向配置させている。磁気スケール1a,1bは、S極とN極の磁極11a,12a,11b,12bが交互に配列されて構成されている。磁気スケール1a,1bの磁極数差は2個である。感磁装置2は、複数の感磁素子21a〜21gから構成されている。それらの感磁素子21a〜21d,21e〜21gは、磁気スケール1a,1bの1つの磁極の長さに対して、配置間隔Pで配列されている。こうして、感磁装置2を磁気スケール1a,1bに対して相対移動させる際に、磁気スケール1a,1bが形成する磁場の変化を感磁素子で検知することにより、磁気スケール1a,1bと感磁装置2との絶対位置を算出する。
この結果、磁極数kとk+2の2つの磁気スケール1a,1bが、同じ長さLにおいて、n個またはm個の感磁素子21により、δ=L/n/k=L/m/(k+2)の位置検出分解能で、感磁装置2の磁気スケール1に対する絶対位置を算出することができる。こうして、本実施の形態では、簡素で、高速応答のできる、磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法を得ることができる。
実施の形態2.
本発明の実施の形態2では、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数と第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数とを、実施の形態1よりも増加させた場合の、磁気式位置検出装置および方法について説明する。実施の形態2では、感磁素子21の個数を増加させたことにより、上述の実施の形態1よりも、分解能が向上し、高精度になるという効果が得られる。
図5は、実施の形態2における磁気式位置検出装置の構成の一例を示す図である。実施の形態2における磁気式位置検出装置は、上述した実施の形態1における感磁装置2の第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数と、第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数とを増加させたことを特徴としている。他の構成については、実施の形態1と同じであるため、ここでは、その説明を省略する。
第一感磁素子群2aは、感磁素子21a〜21hから構成されている。感磁素子21a〜21hの個数nmultiは、実施の形態1の感磁素子21a〜21dの個数nの2倍になっている。このときの第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21hの感磁素子21の配置間隔P1multiは、実施の形態1におけるP1の1/2倍になっている。本実施の形態においても、実施の形態1と同様に、1つの磁極11aまたは12aの範囲内に、感磁素子21が均等に配列されている。
同様に、第二感磁素子群2bは、感磁素子21i〜21nから構成されている。感磁素子21i〜21nの個数mmultiは、実施の形態1の感磁素子21e〜21gの個数mの2倍になっている。このときの第一感磁素子群2bの感磁素子21i〜21nの感磁素子21の間隔P2multiは、実施の形態1におけるP2の1/2倍になっている。本実施の形態においても、実施の形態1と同様に、1つの磁極11bまたは12bの範囲内に、感磁素子21が均等に配列されている。
図5では、第一磁気スケール1aにおける位置検出する長さL1と、第二磁気スケール1bにおける位置検出する長さL2とは、同じ長さLとなっている。そのため、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1multiと第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2multiとが、同じ配置間隔Pmultiとなる。
図6は、実施の形態2における、磁気スケール1と感磁装置2の配置と、位置変換テーブル部34のテーブルデータの一例を示した図である。実施の形態2においても、テーブルデータには、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32a〜32nと磁気スケール位置とが対応させた記憶されている。
図6に示すように、第一磁気スケール1aが形成する磁場に対して、第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21hが配置されている。また、第二磁気スケール1bが形成する磁場に対して、第二感磁素子群2bの感磁素子21i〜21nが配置されている。なお、図6の磁気スケール1には、位置検出する長さLにおいて、位置情報(1〜48)を示している。
また、図6には、磁気スケール1の位置検出する長さLに対して感磁装置2が移動した際の、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32a〜32nと、その出力値における磁気スケール1の位置情報とが対応した位置変換テーブル部34のテーブルデータを示している。図6に示すテーブルデータでは、1行目には、磁気スケール1の位置情報(1〜48)が示されており、2〜15行目の行には、磁気スケール1の各位置情報(1〜48)ごとに、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32a〜32nの信号パターンが示されている。位置演算部33は、図6に示すテーブルデータを予め作成し、位置変換テーブル部34に記憶させておく。
位置演算部33は、例えば、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32a〜32nが全てHiである場合には、第一感磁素子群2aの最端の感磁素子21aおよび第二感磁素子群2bの最端の感磁素子21iが、磁気スケール1の「25」の位置にあると判断する。また、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32a〜32jがHi、Hi/Lo出力32k〜32nがLoである場合には、感磁装置2が感磁素子21aおよび21iが磁気スケール1の「41」の位置にあると判断する。
以上のように、実施の形態2では、実施の形態1と比較すると、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数と、第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数とが、それぞれ、2倍になっている。実施の形態2でも、実施の形態1と同様に、磁気スケール1の位置検出の長さLに対して絶対位置を検出する。このとき、実施の形態2の分解能は1/2倍になる。なお、感磁素子21の個数は、これらに限定されるものではない。
このように、感磁装置2の感磁素子21の個数を、実施の形態1で示した式(1)、式(2)のn,mに対して、それぞれ、i倍,j倍にすることで、位置検出の分解能を変えることが可能となる。位置検出の分解能は、iまたはjの数値が大きい方に依存して決定される。i、jは自然数であればよく、互いに異なる値でもよい。i、jを互いに異なる値にする場合、小さい方の値は、大きい方の値の約数である必要がある。例えば、大きい方の値をiとして、そのiの値を6とした場合、jは1、2、3のいずれかに設定することができる。あるいは、jを同じ値の6としてもよい。これより、i倍,j倍したときの、第一感磁素子群2aの感磁素子の個数nmulti、第二感磁素子群2bの感磁素子の個数mmulti、第一感磁素子群2aの感磁素子の配置間隔P1multi、第二感磁素子群2bの感磁素子の配置間隔P2multi、第一磁気スケール1aと第一感磁素子群2aとの絶対位置の分解能δ1multi、第二磁気スケール1bと第二感磁素子群2bとの絶対位置の分解能δ2multiは、それぞれ、実施の形態1で示した式(1)、式(2)、式(11)、式(12)、式(19)、式(20)により、以下のように示される。ここで、iまたはjの数値が大きい方をhとする。
multi=n×i=(k+2)/2×i (21)
multi=m×j=k/2×j (22)
P1multi=P1/i=L1/n/k/i (23)
P2multi=P2/j=L2/m/(k+2)/j (24)
δ1multi=δ1/h=L1/n/k/h (25)
δ2multi=δ2/h=L2/m/(k+2)/h (26)
iまたはjのどちらか一方を1とした場合、実施の形態1で示した式(3)〜式(10)を利用して、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数または第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数を削減してもよい。
このように、実施の形態2によれば、磁気スケール1の位置検出を行う長さLに対して配置した感磁素子21の個数を変化させることにより、位置検出の分解能を変化させることが可能となる。これにより、感磁素子21の個数を増加させることで、高精度な磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法を得ることができる。
実施の形態3.
実施の形態3では、磁気スケールの形状を円形にすることで、回転角度検出を行うことが可能な、磁気式位置検出装置および方法について説明する。
図7は、本発明の実施の形態3における磁気式位置検出装置の構成の一例を示した図である。実施の形態3における磁気式位置検出装置は、上述した実施の形態1の磁気スケール1を、円環状または円形の磁気ロータ1Aにすることで、回転角度を検出することを特徴としている。他の構成については、実施の形態1と同じであるため、ここでは、その説明は省略する。
実施の形態3における磁気式位置検出装置は、磁気ロータ1Aと、感磁装置2と、位置算出装置3(図7では図示省略、図8参照)とから構成される。
磁気ロータ1Aは、第一磁気ロータ41aと第二磁気ロータ41bとで構成されている。第一磁気スケール1aと第二磁気スケール1bとは、空隙を隔てて、同軸上に、対向配置されている。この空隙は、実施の形態1の空隙W1と同じでよく、所望の幅に予め設定する。
第一磁気ロータ41aは、図7に示すように、S極の磁極11aとN極の磁極12aとから構成されている。これらの磁極11a,12aは、均等な長さλ1を有している。また、これらの磁極11a,12aは、交互に配列されている。同様に、第二磁気ロータ41bは、図7に示すように、S極の磁極11bとN極の磁極12bとから構成されている。これらの磁極11b,12bは、均等な長さλ2を有している。また、これらの磁極11b,12bは、交互に配列されている。
実施の形態3では、位置検出を行う長さLは、磁気ロータ1Aの一周の長さとする。
図7に示すように、実施の形態1と同様に、第一磁気ロータ41aの磁極11a,12aの長さλ1は、第二磁気ロータ41bの磁極11b,12bの長さλ2よりも長い。
従って、磁気ロータ1Aの位置検出を行う長さLにおいて、第一磁気ロータ41aの磁極数と、第二磁気ロータ41bの磁極数とは、異なる。ここで、第一磁気ロータ41aの磁極数とは、N極の磁極12aの個数とS極の磁極11aの個数とを合計した個数である。また、同様に、第二磁気ロータ41bの磁極数とは、N極の磁極12aの個数とS極の磁極11aの個数とを合計した個数である。
図7の例では、第一磁気ロータ41aの磁極数と、第二磁気ロータ41bの磁極数との差は2個である。
実施の形態3では、実施の形態1と同様に、磁極数の差が2個になるように、第一磁気ロータ41aと第二磁気ロータ41bとを形成する。
第一磁気ロータ41aの磁極数をkとすると、1つの磁極11a,11bの角度幅は360/kと示すことができる。第二磁気ロータ41bの磁極数をk+2とすると、第二磁気ロータ41bの1つの磁極11b,12bの角度幅は360/(k+2)と示すことができる。
なお、第一磁気ロータ41aと第二磁気ロータ41bの直径は等しくする必要はなく、互いに異なる直径でもよい。また、図7では、第一磁気ロータ41aの磁極11a,12aと第二磁気ロータ41bの磁極11b、12bとの境界が、周方向(回転方向)に対して垂直になっている。すなわち、図7の磁極11a,12a,11b,12bは、実施の形態1の長方形の磁極11a,12a,11b,12bを、第一磁気ロータ41aおよび第二磁気ロータ41bの外周の弧の形状に合わせて湾曲させた形状となっている。しかしながら、これに限定されず、各々の磁極11a,12a,11b,12bが均等な長さで交互に配列されていればよい。例えば、磁極11a,12a,11b,12bを平行四辺形を湾曲させた形状とし、第一磁気ロータ41aの磁極11a,12aと第二磁気ロータ41bの磁極11b、12bとの境界が、周方向(回転方向)に対して一定の角度だけ回転した直線から構成されていてもよい。また、図7では、第一磁気ロータ41aの磁極数が8個で、第二磁気ロータ41bが6個であるが、これに限定されるものではなく、2つの磁気ロータの磁極数の差が2極を維持すればよい。以下の説明では、k、k+2と記述する。
感磁装置2は、第一感磁素子群2aと第二感磁素子群2bとから構成されている。第一感磁素子群2aは、n個の感磁素子21a〜21dで構成され、第二感磁素子群2bは、m個の感磁素子21e〜21gで構成されている。感磁装置2は、磁気ロータ1Aに対して予め定めた空隙を隔てて対向配置されている。感磁装置2は、この空隙を維持しながら、磁気ロータ1Aが形成する磁場の中を、磁気ロータ1Aの配列方向に、相対移動する。そして、この相対移動の際の磁場の変化を、感磁素子21a〜21gを用いて検知する。当該磁場の変化について説明する。当該磁場においては、N極の磁極とS極の磁極との磁性の強度と方向が、磁極対の周期で変化する。
なお、各感磁素子21a〜21gと磁気ロータ1Aとの間の、各々の空隙は必ずしも同一である必要はなく、各感磁素子21a〜21gごとに異なっていてもよく、各感磁素子21a〜21gが、磁気ロータ1Aに対して相対移動する際に、空隙が維持されるようになっていればよい。これらの感磁装置2を構成する感磁素子21a〜21gとしては、ホール素子、異方向性磁気抵抗素子(AMR:An-Isotropic Magneto Resistive Device)、巨大磁気抵抗素子(GMR:Giant Magneto Resistive Device)、トンネル磁気抵抗素子(TMR:Tunnel Magneto Resistance Device)等が用いられている。なお、図1では、第一感磁素子群2aが感磁素子4個、第二感磁素子群2bが感磁素子3個で構成されている例を示すが、感磁素子の配列数はこれに限定されるものではなく、以下の説明ではn、mと記述する。
第一感磁素子群2aのn個の感磁素子21a〜21dは、第一磁気ロータ41aによって形成される磁場を検知して、第二感磁素子群2bのm個の感磁素子21e〜21gは、第二磁気ロータ41bによって形成される磁場を検知する。
第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数と第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数は、第一磁気ロータ41aの磁極数をkの逆数と、第二磁気ロータ41bの磁極数をk+2の逆数との、比になるように設定される。この第一感磁素子群2aの感磁素子数をn、第二感磁素子群2bの感磁素子数をmとすると、n,mは、それぞれ、下記の式(27),(28)となる。
n=k/2+1 (27)

m=k/2 (28)
なお、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数n、第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mのどちらか一方の個数を削減することができる。式(27)を用いて算出したnまたは式(28)で算出したmの一方は偶数で、他方は奇数となる。偶数の感磁素子21の個数を削減する場合は1/2倍にし、奇数の感磁素子21の個数を削減する場合は1を加算した後に1/2倍にすればよい。
式(27)を用いて算出した第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数nが偶数で、式(28)を用いて算出した第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mが奇数とした場合に、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数nを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の式(29),(30)となる。
n=k/4 + 1/2 (29)
m=k/2 (30)
一方、第一感磁素子群2bの感磁素子21の個数mを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の式(31),(32)となる。
n=k/2 + 1 (31)
m=k/4 + 1/2 (32)
また、式(27)を用いて算出した第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数nが奇数で、式(28)を用いて算出した第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mが偶数とした場合に、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数nを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の(33),(34)となる。
n=k/4+1 (33)
m=k/2 (34)
一方、第一感磁素子群2bの感磁素子数mを削減すると、n,mは、それぞれ、下記の(35)、(36)となる。
n=k/2+1 (35)
m=k/4 (36)
式(27)で算出した第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数n、式(28)で算出した第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数mにおいて、第一感磁素子群2aの感磁素子21は、第一磁気ロータ41aの1つの磁極11a,12aの角度幅の範囲内に、均等に配置される。第二感磁素子群2bの感磁素子21は、第二磁気ロータ41bの1つの磁極11b,12bの角度幅の範囲内に、均等に配置される。この第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔をP1、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔をP2とすると、P1,P2は、それぞれ、下記の式(37),(38)となる。
P1=360/n/k (37)
P2=360/m/(k+2) (38)
なお、式(29)で算出したn値、式(30)で算出したm値、または、式(35)で算出したn値、式(36)で算出したm値においては、式(37)で算出したP1、式(38)で算出したP2の感磁素子21の配置間隔でよい。一方、式(31)で算出したn値、式(32)で算出したm値の場合における第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔をP1、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2は、下記の式(39)、(40)となる。
P1=360/n/k (39)
P2=360/(m−1/2)/(k+2) (40)
しかしながら、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2は、式(40)で算出されるP2のみで構成しなくてもよい。すなわち、1つの感磁素子の配置間隔のみを下記の式(41)で示されるP2’とし、他の感磁装置の配置間隔を式(40)で算出されるP2としてもよい。
P2’=360/(2×m−1)/(k+2) (41)
また、式(33)で算出したn値、式(34)で算出したm値の場合における第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2は、それぞれ、下記の式(42),(43)となる。
P1=360/(n−1/2)/k (42)
P2=360/m/(k+2) (43)

しかしながら、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1は、式(42)で算出されるP1のみで構成しなくてもよい。すなわち、1つの感磁素子の配置間隔のみを下記の式(44)で示されるP1’とし、他の感磁装置の配置間隔を式(42)で算出されるP2としてもよい。
P1’=360/(2×n−1)/k (44)
位置検出算出方法は、上述した実施の形態1における位置検出算出方法と基本的に同じでよいが、実施の形態3の場合は、検出される位置が回転角度となる。そのため、位置変換テーブル部34に予め記憶している磁気ロータ1Aと感磁装置2の位置情報は回転角度情報となる。検出する位置情報は回転角度となるので、位置検出分解能は、第一磁気ロータ41aと第一感磁素子群2aとの絶対位置の分解能をδ1、第二磁気ロータ41bと第一感磁素子群2bとの絶対位置の分解能をδ2とすると、δ1,δ2は、それぞれ、下記の式(45),(46)となる。
δ1=360/n/k (45)
δ2=360/m/(k+2) (46)
分解能δ1を算出するn値と分解能δ2を算出するm値は、式(27)で算出したn値と式(28)で算出したm値で決定され、n値とm値を削減した式(29)〜式(36)の値からは決定されていない。
また、図7では、位置検出を行う長さLは、磁気ロータ1Aの1周分となっているが、これに限定されることはなく、磁気ロータ1Aの1周のうちの一部分をLとしても良い。磁気ロータ1Aの1周における一部分Lの割合をr(=L/R、ここで、Rは1周の長さ)とした時に、第一感磁素子群2aの感磁素子21の個数はn=(k+2)/2×rとなり、第二感磁素子群2bの感磁素子21の個数はm=k/2×rとなる。また、第一感磁素子群2aの感磁素子21の配置間隔P1、第二感磁素子群2bの感磁素子21の配置間隔P2、第一磁気ロータ41aと第一感磁素子群2aとを検出する位置の位置検出分解能δ1、および、第二磁気ロータ41bと第二感磁素子群2bとを検出する位置の位置検出分解能δ2を算出する、上記の式(37)〜式(46)は、それぞれ、以下の式(47)〜(56)と示すことができる。
P1=360/n/k×r (47)
P2=360/m/(k+2)×r (48)
P1=360/n/k×r (49)
P2=360/(m−1/2)/(k+2)×r (50)
P2’=360/(2×m−1)/(k+2)×r (51)
P1=360/(n−1/2)/k×r (52)
P2=360/m/(k+2)×r (53)
P1’=360/(2×n−1)/k×r (54)
δ1=360/n/k×r (55)
δ2=360/m/(k+2)×r (56)
以上のように、実施の形態3によれば、N極とS極とからなる磁極対が配列され、磁極数差が2極ある2つの磁気ロータ1Aと、磁気ロータ1Aの1つの磁極の長さに合わせて複数の感磁素子21が配列された感磁装置2とを、予め定めた空隙を隔てて対向配置させ、感磁装置2が磁場の変化を検知することにより、感磁装置2の磁気ロータ1Aに対する回転角度を算出することができる。
この結果、磁極数kとk+2の2つの磁気ロータ41a,41bで2つの感磁素子数n、mにより、δ=360/n/k=360/m/(k+2)の位置検出分解能で、感磁装置2の磁気ロータ1Aに対する絶対角度を算出することが可能な、簡素で、高速応答の、磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法を得ることができる。
実施の形態4.
実施の形態4に係る磁気式位置検出装置においては、上述した実施の形態1〜3とは異なる位置算出装置3における位置算出方法を用いる。実施の形態4の磁気式位置検出装置は、上記の実施の形態1における磁気式位置検出装置と同様の効果を有することができる。実施の形態4においては、位置算出装置3の構成が実施の形態1と異なるが、他の構成については、実施の形態1と同じであるため、図1、図3、図4を参照し、ここでは、詳細な説明を省略する。
図8は、本発明の実施の形態4における磁気式位置検出装置の位置算出装置3の構成の一例を示した図である。図2に示した実施の形態1の位置算出装置3との違いは、図8においては、位置カウンタ部36が追加されている点である。
実施の形態4では、磁気式位置検出装置の電源投入後の、初回の位置検出においては、位置算出装置3の位置演算部33が、実施の形態1と同じ位置検出方法で、磁気スケール1の位置検出を行う。位置演算部33で検出された磁気スケール1の絶対位置情報は、位置カウンタ部36に入力される。位置カウンタ部36では、予め記憶されているデータテーブルを用いて、当該絶対位置情報を予め割り当てられた値に変換する。
実施の形態4では、2回目以降の位置検出においては、位置演算部33が、一方の感磁素子群(ここでは、第二感磁素子群2bとする)からの信号と、位置カウンタ部36からの信号とに基づいて、磁気スケール1の絶対位置検出を行う。
なお、実施の形態1で説明したように、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32e〜32gは、磁極対ごとに、1周期の信号パターンを形成するため、位置カウンタ部36は、磁気スケール1の絶対位置情報を、磁極対毎にインクリメントまたはディクリメントする機能を有している。
位置カウンタ部36について詳細に説明する。
位置カウンタ部36は、図9に示すようなデータテーブルを予め作成して記憶している。
図9は、位置カウンタ部36に記憶されているデータテーブルの一例を示している。図9のデータテーブルでは、磁気スケール1の位置ごとに、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32e〜32gと、位置カウンタ部36の出力とが、対応付けて記憶されている。
図9の1行目には、感磁装置2が磁気スケール1に対して相対移動する際の、位置演算部33で算出される、磁気スケール1の絶対位置情報(1〜24)が示されている。
図9の2行目には、磁気スケール1の絶対位置情報(1〜24)ごとに、位置カウンタ部36から出力される信号αが示されている。
図9の3行目には、磁気スケール1の絶対位置情報(1〜24)ごとに、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32e〜32gのHiまたはLoの信号パターンを1つにした情報「1」〜「6」が示されている。この「1」〜「6」は、感磁素子21a,21eの位置を示す。
図9の4行目〜6行目は、磁気スケール1の絶対位置情報(1〜24)ごとに、Hi/Lo判定部32のHi/Lo出力32e〜31g(HiまたはLo)の信号パターンが示されている。
ここで、上述したように、磁気スケール1が形成する磁場は、N極の磁極とS極の磁極との磁性の強度と方向が、磁極対の周期で変化する。第二磁気スケール1bで考えると、位置検出を行う長さLに4周期が含まれる。すなわち、磁気スケール1が「1」の位置から「6」の位置までが1周期となり、磁気スケール「7」の位置から「12」の位置が1周期となり、磁気スケール「13」の位置から「18」の位置が1周期となり、磁気スケール「19」の位置から「24」の位置が1周期となる。図9の2行目には、各磁気スケールの位置「1」〜「24」に対して、これらの周期「0」、「1」、「2」、「3」のいずれかが割り当てられて、位置カウンタ部36の出力信号αとして、記憶されている。
また、これらの「0」、「1」、「2」、「3」の各周期には、図9に示すように、「1」〜「6」までのHi/Lo出力32e〜31gのHiまたはLoの信号パターンが含まれる。「1」の信号パターンは、32e、32f、32gが全てHiで、「2」の信号パターンは、32eと32fはHiで、32gがLoで、「3」の信号パターンは、32eはHiで、32fと32gがLoで、「4」の信号パターンは、32e、32f、32gがすべてLoで、「5」の信号パターンは、32eと32fがLoで、32gがHiで、「6」の信号パターンは、32eがLoで、32f、32gがHiである。図9の3行目には、これらの「1」〜[6]までの信号パターンが、記憶されている。
実施の形態4では、初回の位置検出において位置演算部33により検出された磁気スケール1の絶対位置情報が、位置カウンタ部36に入力される。位置カウンタ部36は、2回目の位置検出において、当該絶対位置情報を、それに割り当てられた、図9の2行目の「0」、「1」、「2」、「3」のいずれかに変換して、信号αとして出力する。
なお、2回目以降の位置検出の際には、位置カウンタ部36に、Hi/Lo判定部32からのHi/Lo出力32e〜31gが入力される。位置カウンタ部36は、図9のデータテーブルを参照して、入力されたHi/Lo出力32e〜31gが、図9の3行目の「1」〜「6」のいずれの信号パターンであるかを検索し、当該信号パターンを信号βとして出力する。また、位置カウンタ部36は、検索した信号パターンが「6」から「1」へと切り替わる場合には、信号αの値をインクリメントし、「1」から「6」へと切り替わる場合には、信号αの値をディクリメントする。
このように、実施の形態4における磁気式位置検出装置は、電源投入後の初回の位置検出では、上記の実施の形態1における位置算出方法と同じ方法で位置検出を行い、2回目以降の位置検出では、位置カウンタ部36からの信号α,βとに基づいて位置検出を行う。
図8及び図9を用いて、実施の形態4における磁気式位置検出装置の動作について説明をする。電源投入時などの初回の位置検出では、上記の実施の形態1で説明したように、第一磁気スケール1aの磁場を検知する第一感磁素子群2aの感磁素子21a〜21dからの出力信号と、第二磁気スケール1bの磁場を検知する第二感磁素子群2bの感磁素子21e〜21gの出力信号とから、パルス生成部31で、パルス出力31a〜31gを出力する。次に、Hi/Lo判定部32で、パルス出力31a〜31gがHiであるかLoであるかの判定をして、判定結果を、Hi/Lo出力32a〜32gとして出力する。位置演算部33は、そのHi/Lo出力32a〜32gと位置変換テーブル部34に予め記憶されている図4(b)のテーブルデータとを用いて、磁気スケール1の絶対位置を算出する。この動作は、実施の形態1で説明した通りである。
こうして初回で算出された絶対位置情報は、算出された直後に、位置カウンタ部36に送信される。位置カウンタ部36は、予め記憶されている図9のデータテーブルを参照して、送信されてきた絶対位置情報を、対応する「0」、「1」、「2」、「3」のいずれかの値に変換して、位置演算部33に出力する。それ以降は、磁気スケール1の磁極対ごとに、Hi/Lo判定部32の信号32e〜32gのHiまたはLoの信号パターンが切り替わると同時に、位置カウンタ部36のαの値をインクリメントまたはディクリメントする。その値を位置演算部33へ出力する。
2回目以降の位置検出では、位置演算部33は、位置カウンタ部36からの信号α,βを用いて、磁気スケール1の絶対位置を算出する。
こうして算出された絶対位置情報が、出力部35から出力される。
位置演算部33の演算方法について説明する。位置演算部33により算出される磁気スケール位置をXとすると、位置演算部33で行われる演算は、下記の式(57)となる。
X=6×α+β (57)
磁気式位置検出装置に電源を投入したときに、磁気スケール1に対して感磁装置2の位置が磁気スケール位置の「1」と判断された場合、位置カウンタ部36は、図9のデータテーブルを参照して、当該「1」に対応するαの値として「0」を算出する。その後、磁気スケール1に対して感磁装置2が1つの磁極対分だけ移動したときは、位置カウンタ部36の出力信号αは「1」にインクリメントされ、Hi/Lo判定部32のHi/Lo信号32e〜32gは全てHiとなり、感磁素子21e〜21gの位置βは「1」となる。よって、式(57)より位置演算部33で演算された磁気スケール位置Xは「7」となる。
以上のように、実施の形態4によれば、感磁装置の磁性スケールに対する絶対位置を算出することができる。また、電源投入時に位置情報出力された後は、感磁装置2の21e〜21gのみで絶対位置を算出することができ、このとき、感磁装置2の感磁素子21a〜21dとパルス生成部31の31a〜31dとHi/Lo判定部32の32a〜32dは動作しないため、これらの電源供給を停止することができる。
この結果、使用する感磁素子の数に応じたδ=P/2の位置検出分解能で、感磁装置の磁性スケールに対する絶対位置を算出することができる簡素な磁気式位置検出装置及び磁気式位置検出方法を得ることができる。
なお、上記の説明においては、実施の形態4を実施の形態1に適用させる例について説明したが、その場合に限らず、実施の形態4は、実施の形態2,3にも適用可能であることは言うまでもない。
実施の形態5.
実施の形態5では、感磁装置2の位置検出分解能を向上させるために、感磁装置2を1つの半導体チップ22上に形成する場合について説明する。
図10は、本発明の実施の形態3における感磁装置2の構成の一例を示す図である。実施の形態5における感磁装置2は、図10に示すように、半導体プロセスを用いて、1つの半導体チップ22上に形成されていることを特徴としている。他の構成については、上記の実施の形態1,2と同じであるため、ここでは、その説明を省略する。
上記の実施の形態2では、磁気スケール1aが形成する磁場を検出するための第一感磁素子群の感磁素子21a〜21hと、磁気スケール1bが形成する磁場を検出するための第二感磁素子群の感磁素子21i〜21nとを用いて位置検知を行うと説明した。位置検出分解能を向上させるためには、感磁素子21の個数を増やし、感磁素子21の配置間隔を小さくすることが望ましい。このとき、高精度な磁気式位置検出装置を得るには、感磁装置2の感磁素子21を等間隔に配置する必要がある。
そこで、実施の形態5では、図10に示すように、半導体プロセスを用いて、感磁装置2を、半導体チップ22上に一括形成させることにより、第一感磁素子群の感磁素子21a〜21hと第二感磁素子群の感磁素子21i〜21nの配置間隔を小さくして、等間隔に配列させている。このとき、磁気スケール1aの磁場を検知する第一感磁素子群2aと磁気スケール1bの磁場を検知する第二感磁素子群2bが同一平面上に構成されるような配置にすればよい。
この結果、感磁装置2の位置検出分解能を向上させることができる。また、各素子間の傾き等のばらつきを抑えて感磁特性を揃え、出力の位相差を均一にして絶対位置の検出精度を向上させることができる。
以上のように、実施の形態5によれば、感磁装置を1つの半導体チップ上に形成することにより、絶対位置の検出精度を向上させ、位置検出分解能を向上させることができる。
1 磁気スケール、1A 磁気ロータ、1a,41a 第一磁気スケール、1b,41b 第二磁気スケール、2 感磁装置、2a 第一感磁素子群、2b 第二感磁素子群、3 位置算出装置、11a,11b,12a,12b 磁極、21a,21b,21c,21d,21e,21f,21g,21h,21i,21j,21k,21l,21m,21n 感磁素子、31 パルス生成部、31a,31b,31c,31d,31e,31f,31g パルス出力、32 Hi/Lo判定部、32a,32b,32c,32d,32e,32f,32g Hi/Lo出力、33 位置演算部、34 位置変換テーブル部、35 出力部、36 位置カウンタ部。

Claims (10)

  1. 均等な長さλ1の磁極N及び磁極Sが移動方向に交互に配列された第一磁気スケールと、前記第1磁気スケールに並行して設けられ、均等な長さλ2の磁極N及び磁極Sが移動方向に交互に配列された第二磁気スケールとから構成された磁気スケールと、
    前記第一磁気スケール及び前記第二磁気スケールに対して空隙を隔てて対向配置され、前記空隙を維持しながら、前記第一磁気スケール及び前記第二磁気スケールによって形成される磁場の中を前記移動方向に相対移動し、前記相対移動の際の前記磁場の変化を感磁素子を用いて測定する感磁装置と、
    前記感磁素子の信号パターンと前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置情報とを対応させて予め記憶し、前記感磁装置から出力される前記感磁素子の出力値から、前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置を算出する位置算出装置と
    を備え、
    前記第一磁気スケールに含まれる前記磁極Nの個数と前記磁極Sの個数とを合計させた磁極数はk個で、第二磁気スケールに含まれる前記磁極Nの個数と前記磁極Sの個数とを合計させた磁極数はk+2個であり、それらの磁極数の差は2個であり、
    前記感磁装置は、
    前記第一磁気スケールによって形成される磁場の変化を検知するための1以上の感磁素子からなる第一感磁素子群と、
    前記第二磁気スケールによって形成される磁場の変化を検知するための1以上の感磁素子からなる第二感磁素子群と
    を備え、前記第一感磁素子群および前記第二感磁素子群を構成する前記感磁素子のそれぞれから、前記相対移動の際の前記磁場の変化の測定結果を並列に出力し、
    前記第一感磁素子群の感磁素子の個数nと前記第二感磁素子群の感磁素子の個数mとの比は、前記第一磁気スケールの磁極数kの逆数と前記第二磁気スケールの磁極数k+2の逆数との比と等しく、
    前記第一感磁素子群の各感磁素子から出力される信号の出力波形が、前記第一磁気スケールの1つの磁極の長さλ1を前記感磁素子の個数nで等分化した位相P1=λ1/nだけ順にずれるように、前記第一感磁素子群の前記感磁素子の配列間隔をP1に設定するとともに、前記第二感磁素子群の各感磁素子から出力される信号の出力波形が、前記第二磁気スケールの1つの磁極の長さλ2を前記感磁素子の個数mで等分化した位相P2=λ2/mだけ順にずれるように、前記第二磁気スケールの前記感磁素子の配列間隔をP2に設定するか、あるいは、前記第一感磁素子群の感磁素子の個数n及び前記第二感磁素子群の感磁素子の個数mのうち、一方の個数が偶数で、他方の個数が奇数のとき、偶数の感磁素子の個数を1/2倍にして、前記感磁素子を配列した
    磁気式位置検出装置。
  2. 前記第一感磁素子群内の前記感磁素子の個数nをi倍のnmulti個にするか、または、前記第二感磁素子群内の前記感磁素子の個数mをj倍のmmulti個にするか、または、前記第一感磁素子群内の前記感磁素子の個数nと前記第二感磁素子群内の前記感磁素子の個数mとをそれぞれi倍及びj倍のnmulti個及びmmulti個にし、
    前記iおよび前記jは自然数で、
    前記第一感磁素子群内の前記感磁素子の個数nを前記nmulti個にした場合には、前記第一感磁素子群内の前記感磁素子の配置間隔P1multiを、等間隔で、かつ、前記i倍にする前の配置間隔P1に対して反比例した値になるように設定し、
    前記第二感磁素子群内の前記感磁素子の個数mを前記mmulti個にした場合には、前記第二感磁素子群内の前記感磁素子の配置間隔P2multiを、等間隔で、かつ、前記j倍にする前の配置間隔P2に対して反比例した値になるように設定し、
    前記第一感磁素子群内の前記感磁素子の個数nと前記第二感磁素子群内の前記感磁素子の個数mとをそれぞれ前記nmulti個及び前記mmulti個にした場合には、前記第一感磁素子群内の前記感磁素子の配置間隔P1multiを、等間隔で、かつ、前記i倍にする前の配置間隔P1に対して反比例した値になるように設定し、前記第二感磁素子群内の前記感磁素子の配置間隔P2multiを、等間隔で、かつ、前記j倍にする前の配置間隔P2に対して反比例した値になるように設定する
    請求項1に記載する磁気式位置検出装置。
  3. 前記第一磁気スケールと前記第一感磁素子群の前記感磁素子との間の位置検出を行う長さをL1とし、
    前記第二磁気スケールと前記第二感磁素子群の前記感磁素子との間の位置検出を行う長さをL2とし、
    前記iまたは前記jの一方は他方の約数とし、
    前記第一磁気スケールと前記第一感磁素子群の前記感磁素子との間の位置検出の分解能をδ1multi、前記第二磁気スケールと前記第二感磁素子群の前記感磁素子との間の位置検出の分解能をδ2multiとしたとき、前記nmulti、前記mmulti、前記P1multi、前記P2multi、前記δ1multi、前記δ2multiは、それぞれ、
    multi=(k+2)/2 × i,
    multi=k/2 × j,
    P1multi=L1/n/k/i,
    P2multi=L2/m/(k+2)/j,
    δ1multi=L1/n/k/i,
    δ2multi=L2/m/(k+2)/j
    を満たす
    請求項1または2に記載の磁気式位置検出装置。
  4. 前記iまたは前記jのいずれか一方を1としたとき、
    前記第一感磁素子群の感磁素子の個数n及び第二感磁素子群の感磁素子の個数mのうち、
    偶数である感磁素子の個数を1/2倍とし、かつ、その感磁素子の配置間隔を2倍にするか、あるいは、
    奇数である感磁素子の個数を1だけ加算した後に1/2倍とし、その感磁素子の配置間隔を2倍とするか、または、その感磁素子の一箇所の配置間隔を変更せずに残りの箇所の配置間隔を2倍とする
    請求項3に記載の磁気式位置検出装置。
  5. 前記磁気スケールは円環状で、
    前記移動方向は周方向であり、
    前記位置算出装置は、前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置として、前記磁気スケールと前記感磁素子との間の回転角度を検出する
    請求項1記載の磁気式位置検出装置。
  6. 円環状の一部の位置検出をする場合に1周に対する位置検出範囲の割合をrとした場合、前記第一磁気スケールと前記第一感磁素子群の前記感磁素子との間の位置検出の分解能をδ1、前記第二磁気スケールと前記第二感磁素子群の前記感磁素子との間の位置検出の分解能をδ2としたとき、前記n、前記m、前記P1、前記P2、前記δ1、前記δ2は、それぞれ、
    n=(k+2)/2×r,
    m=k/2×r,
    P1=360/n/k×r,
    P2=360/m/(k+2)×r,
    δ1=360/n/k×r,
    δ2=360/m/(k+2)×r
    を満たす
    請求項5に記載の磁気式位置検出装置。
  7. 前記iまたは前記jのいずれか一方を1としたとき、
    前記第一感磁素子群の感磁素子の個数n及び第二感磁素子群の感磁素子の個数mのうち、
    偶数である感磁素子の個数を1/2倍とし、かつ、その感磁素子の配置間隔を2倍にするか、あるいは、
    奇数である感磁素子の個数を1だけ加算した後に1/2倍とし、その感磁素子の配置間隔を2倍とするか、または、その感磁素子の一箇所の配置間隔を変更せずに残りの箇所の配置間隔を2倍とする
    請求項6に記載の磁気式位置検出装置。
  8. 前記位置算出装置は、
    電源投入時の初回は、前記第一感磁素子群および前記第二感磁素子群の前記感磁素子の出力信号から、前記絶対位置を算出し、
    当該初回の後の2回目以降は、初回の前記絶対位置をインクリメントまたはディクリメントした値と、前記第一感磁素子群および前記第二感磁素子群のいずれか一方の前記感磁素子の出力信号から、前記絶対位置を算出する
    請求項1から請求項7までのいずれか1つに記載の磁気式位置検出装置。
  9. 前記感磁素子を、1つの半導体チップ上に搭載した
    請求項1から請求項8までのいずれか1つに記載の磁気式位置検出装置。
  10. 均等な長さλ1の磁極N及び磁極Sが移動方向に交互に配列された第一磁気スケールと、前記第1磁気スケールに並行して設けられ、均等な長さλ2の磁極N及び磁極Sが移動方向に交互に配列された第二磁気スケールとから構成された磁気スケールと、
    前記第一磁気スケール及び前記第二磁気スケールに対して空隙を隔てて対向配置され、前記空隙を維持しながら、前記第一磁気スケール及び前記第二磁気スケールによって形成される磁場の中を前記移動方向に相対移動し、前記相対移動の際の前記磁場の変化を感磁素子を用いて測定する感磁装置と、
    前記感磁装置から出力される前記感磁素子の出力値を解析することにより、前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置を算出する位置算出装置と
    を備え、
    前記第一磁気スケールに含まれる前記磁極Nの個数と前記磁極Sの個数とを合計させた磁極数はk個で、第二磁気スケールに含まれる前記磁極Nの個数と前記磁極Sの個数とを合計させた磁極数はk+2個であり、それらの磁極数の差は2個であり、
    前記感磁装置は、
    前記第一磁気スケールによって形成される磁場の変化を検知するための1以上の感磁素子からなる第一感磁素子群と、
    前記第二磁気スケールによって形成される磁場の変化を検知するための1以上の感磁素子からなる第二感磁素子群と
    を備え、前記第一感磁素子群および前記第二感磁素子群を構成する前記感磁素子のそれぞれから、前記相対移動の際の前記磁場の変化の測定結果を並列に出力し、
    前記第一感磁素子群の感磁素子の個数nと前記第二感磁素子群の感磁素子の個数mとの比は、前記第一磁気スケールの磁極数kの逆数と前記第二磁気スケールの磁極数k+2の逆数との比と等しく、
    前記第一感磁素子群の各感磁素子から出力される信号の出力波形が、前記第一磁気スケールの1つの磁極の長さλ1を前記感磁素子の個数nで等分化した位相P1=λ1/nだけ順にずれるように、前記第一感磁素子群の前記感磁素子の配列間隔をP1に設定するとともに、前記第二感磁素子群の各感磁素子から出力される信号の出力波形が、前記第二磁気スケールの1つの磁極の長さλ2を前記感磁素子の個数mで等分化した位相P2=λ2/mだけ順にずれるように、前記第二磁気スケールの前記感磁素子の配列間隔をP2に設定するか、あるいは、前記第一感磁素子群の感磁素子の個数n及び前記第二感磁素子群の感磁素子の個数mのうち、一方の個数が偶数で、他方の個数が奇数のとき、偶数の感磁素子の個数を1/2倍にして、前記感磁素子を配列した
    磁気式位置検出装置において用いられる磁気式位置検出方法であって、
    前記位置算出装置において、
    前記感磁装置の前記感磁素子のそれぞれが並列に出力するn+m個の出力値をHi/Lo判定して2値化し、n+m個のHi/Lo出力として出力するHi/Lo判定ステップと、
    前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置情報と、前記n+m個のHi/Lo出力のパターンとの関係を予め規定したデータテーブルを記憶部に記憶させておく記憶ステップと、
    前記記憶ステップで前記記憶部に記憶された前記データテーブルを基に、前記Hi/Lo判定ステップで出力された前記前記n+m個のHi/Lo出力に対応する前記磁気スケールと前記感磁素子との間の絶対位置を算出する位置演算ステップと
    を備えた磁気式位置検出方法。
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