JP6190141B2 - 記録装置、記録方法 - Google Patents

Description

本発明は、記録装置、記録方法に関する。

モジュール式計測器（以下、単に「モジュール」という。）などからの被測定入力信号をディジタル変換した波形データをたとえばメモリに保持しながらプリンタに与えてその波形を実時間記録させたり、あるいは後でメモリからデータを読み出してその波形を記録させたりする記録装置が各分野で利用されている。

図５は、従来の記録装置の概略構成例を示す図である。図５に示すように、各モジュールからのアナログ入力信号は、例えば入力増幅部５１においてそれぞれサンプリングされ、その波形はディジタルデータに変換されてメモリコントローラ５２に入力される。メモリコントローラ５２はストレージメモリ５３のモジュール毎の記憶領域にディジタルデータを格納する。

ところで、被検査対象物の検査ラインなどにこの種の記録装置を用いる場合、記録装置に接続されているすべてのモジュールを用いて検査する必要があるとは限らない。たとえば、１つの検査項目中に、モジュール１〜３を使用した測定（以下、「測定１」という。）を行った後に、モジュール４〜ｎを使用した測定（以下、「測定２」という。）を行いたい場合を考える。このような検査の場合、各モジュールから出力されるデータがそのまますべてストレージメモリ５３に格納されるという性質上、「測定１」の後の「測定２」を行うと、「測定１」における測定データは、「測定２」における測定データですべて上書きされてしまう。そのため、このような不具合を避けるには「測定１」、「測定１」で測定された測定データの判定作業、「測定２」、「測定２」で測定された測定データの判定作業の順番で作業を行う必要がある。

しかしながら、検査ライン等ではできるだけ測定作業はひとまとまりの作業で行うようにして、トータルの作業工程時間（タクトタイム）を削減することが求められている。そのため、たとえば特許文献１に開示される従来装置の技術を適用し、ストレージメモリ５３のメモリ全域を適宜に分割して、異なるメモリ領域に測定データをそれぞれ保持できるように構成すれば、各測定による測定データが他の測定データで上書きされないようにすることができる。

特開平１−１０５１１３号公報

特許文献１に開示される従来装置を採用すると、たとえば、図６に示すように、ストレージメモリ５３を２分割して、「測定１」の測定データは、「測定１」用のメモリ領域に記憶すると共に、「測定２」の測定データは「測定２」用のメモリ領域にそれぞれ記憶されるので、各測定による測定データが他の測定データで上書きされない。そのため「測定１」、「測定２」を先に行った後に、「測定１」で測定された測定データの判定と「測定２」で測定された測定データの判定を行うことができる。特に、これらの判定作業は、検査対象物の搬送中であって次の検査項目の測定作業までの間に行うこととすれば、トータルの作業工程時間（タクトタイム）を削減することも可能である。

しかしながら、特許文献１に開示される従来装置では、１つの検査項目中の測定作業が多くなればなるほど、ストレージメモリ５３のメモリ領域が分割されることになるため、各モジュールでの測定可能時間が短くなる上に、そもそも必要のない測定データがストレージメモリ５３に格納されることになり、ストレージメモリ５３の利用効率が低下してしまうという課題がある。また、この課題によって、各モジュールでの測定時間が不足する場合には、ストレージメモリ５３を増設する必要があり、コストアップにつながってしまうという課題がある。

本発明は、このような背景の下に行われたものであって、複数の波形データを効率よく記録することができる記録装置、記録方法を提供することを目的とする。

本発明の１つの観点は、記録装置としての観点である。すなわち、本発明の記録装置は、複数の測定モジュールから入力されるアナログ信号をサンプリングして得た測定データをメモリに記録する記録装置であって、メモリに複数の測定データを記録させる記録手段と、複数の測定データそれぞれについて、複数の測定データ毎に設けられているメモリの特定のメモリ空間への書き込みを、サンプリング時間毎にマスクするか否かを設定するマスク手段とを有するものである。

本発明の他の観点は、記録方法としての観点である。すなわち、本発明の記録方法は、複数の測定モジュールから入力されるアナログ信号をサンプリングして得た測定データをメモリに記録する記録装置に用いられる記録方法であって、記録装置の記録手段がメモリに測定データを記録させる記録ステップと、複数の測定データそれぞれについて、複数の測定データ毎に設けられているメモリの特定のメモリ空間への書き込みを、サンプリング時間毎にマスクするか否かを設定するマスクステップとを有するものである。

本発明によれば、複数の波形データを効率よく記録することができる記録装置、記録方法を提供することができる。

本発明の実施の形態に係る記録装置の概略的な構成を示すブロック図である。 図１のストレージメモリに格納される測定データの一例を示す図である。 従来の記録装置を用いた検査の流れと図１の記録装置を用いた検査の流れの一例を示す図である。 外部インタフェース（不図示）を介して記録装置にＰＣなどを接続して、波形データの記録方法を設定する画面例を示す図である。 従来の記録装置の概略構成例を示す図である。 従来の記録装置に特許文献１に記載の技術を適用した場合の概略構成例を示す図である。

（はじめに）
以下、本発明の実施の形態に係る記録装置について説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る記録装置１の概略的な構成を示すブロック図である。なお、本発明の記録装置、記録方法は、図１に示す記録装置の実施形態に限定されるものではない。

（記録装置１の構成）
図１は本発明の一実施の形態である記録装置１の概略を示すブロック図である。同図において、記録装置１は、入力増幅部２、メモリコントローラ３、マスク回路４、ストレージメモリ５、制御部６および表示部７を有している。

図１において、モジュール１〜ｎからのアナログ入力信号は入力増幅部２にてそれぞれサンプリングされてディジタルデータに変換され、その変換されたディジタルデータはメモリコントローラ３およびマスク回路４を介してストレージメモリ５の所定のアドレス空間にそれぞれ格納されるように構成されている。なお、ここでいうモジュールとは様々な計測モジュールを指している。以下、具体的に説明する。

入力増幅部２は、モジュール１〜ｎからのアナログ入力信号をメモリコントローラ３から出力されるサンプリングクロックで同期してディジタルデータである波形データに変換する。入力増幅部２は、変換した波形データをメモリコントローラ３に出力する。

メモリコントローラ３は、入力増幅部２に水晶発振器（不図示）で生成された基準クロックからサンプリングクロックを生成し入力増幅部２へ出力する。メモリコントローラ３はまた、入力増幅部２から出力されるモジュール１〜ｎからの波形データをマスク回路４へ出力する。

マスク回路４は、メモリコントローラ３がストレージメモリ５にデータを書き込む前の場所にモジュール毎の書き込み禁止(マスク)回路として設けられている。マスク回路４は、後述する制御部６の制御に基づいて、モジュール毎に設けられているメモリ空間であって、予めデータを記録させるように設定されている特定のメモリ空間（一部のメモリ空間）以外のメモリ空間へのデータの書き込みをさせないようにマスクすることができる。具体的には、制御部６の制御に従って、ストレージメモリ５の全記憶領域を指定可能なビットの一部をマスクすることにより、特定のメモリ空間以外のメモリ空間へのデータの書き込みが禁止される。

ストレージメモリ５は、たとえばＲＡＭなどである。

制御部６は、ＣＰＵおよび内部メモリ（いずれも図示せず）等で構成されていて、記録装置１の各構成要素に対する初期設定処理、波形入力信号の入力処理、ストレージメモリ５に記録されている各波形データの表示部７への表示処理、マスク回路４の制御などを実行する。

表示部７は、ＬＣＤ等を備え、その表示画面上にストレージメモリ５に記録されている波形データに基づく波形を表示する。

ここで、測定１および測定２がストレージメモリ５に格納される場合を例にとり説明する。

図２は、図１のストレージメモリ５に格納される測定データの一例を示す図である。測定１を行う際にはモジュール１の測定データ、モジュール２の測定データおよびモジュール３の測定データが所定のメモリ領域にそれぞれ格納されるが、モジュール４〜ｎの測定データが格納されるべきメモリ領域にはマスク回路４によりマスクされるため、測定１のタイミングでは書き込みは行われない。そして、測定２を行う際には、測定１のモジュール１の測定データ、モジュール２の測定データおよびモジュール３の測定データが格納されているメモリ領域にはマスク回路４により書き込みができなくなるため、何も変更が加えられずに、モジュール４〜ｎの測定データが格納されるべきメモリ領域に測定データがそれぞれ格納される。すなわち「測定１」、「測定２」を行った後に、「測定１」で測定された測定データの判定と「測定２」で測定された測定データの判定を行うことができる。

図３は、従来の記録装置を用いた検査の流れと図１の記録装置１を用いた検査の流れの一例を示す図である。図３の上段に示すように、従来の記録装置における検査中（Ｎｏ１）では、「測定１」と「測定１」で測定された測定データの判定(判定１)および「測定２」が行われる。その後、検査対象物の搬送中のタイミングで測定２の測定データの判定(判定２)が行われる。

一方、図３の下段に示すように、記録装置１における検査中（Ｎｏ１）では、「測定１」および「測定２」が行われ、その後、検査対象物の搬送中のタイミングで測定１の測定データの判定(判定１)と測定２の測定データの判定(判定２)が行われる。また、同様に、検査中（Ｎｏ２）として、測定１および測定２が行われ、その後、検査対象物の搬送中に測定１の測定データの判定(判定１)と測定２の測定データの判定(判定２)が行われる。このように、従来の記録装置での検査中（Ｎｏ１）と記録装置１における検査中（Ｎｏ１）とを比較すると、作業工程時間（タクトタイム）が判定１の分だけ短縮される。

図４は、外部インタフェース（不図示）を介して記録装置１にＰＣなどを接続して、波形データの記録方法を設定する画面例を示す図である。図４の上段に示す画面４０のように、縦方向にモジュール毎の項目が設けられており、横方向は時間の経過を表している。このように、モジュール１〜３を利用して測定する測定１と、モジュール４〜ｎを利用して測定する測定２などを視覚的に表示させて、この設定内容情報を記録装置１が取り込むことにより設定することができる。

また、図４の下段に示す画面４１のように、マスクの設定を自由に設定することができる。図４の例は、モジュール１〜４の測定結果に基づいた判定（判定１）およびモジュール４〜ｎの測定結果に基づいて判定（判定２）が行われる。たとえばあるモジュールの出力は、安定するのに時間がかかる場合、安定するまでそのモジュールの出力が、予め記録するように設定されている特定のメモリ空間（一部のメモリ空間）以外のメモリ空間に記録されないようにマスクすることで、精度のよい判定を行うことができる。図４の例では、モジュール４の出力が安定する時間（時間「１」、「２」の間）、その出力がストレージメモリ５に記録されないようになっている。

また判定に多くのデータ量が必要でない場合、必要なだけが該当する一部のメモリ空間に記録されるようにマスクすることで、必要なデータ量のデータをストレージメモリ５に記憶することができる。図４の例では、判定１においては、モジュール１〜３では、時間「１」〜「５」の間に測定されるデータ量が記録されるが、モジュール４は、それより短い間のデータ量が記憶されている。

また、測定中にマスクを外す必要がある場合、たとえば、波形データが安定してから測定したい場合などにはこの設定画面上において途中からマスクを外す（図中の測定表示４２）ように予め設定することも可能である。反対に、必要以上に測定したくない場合には、この設定画面上においてマスクを途中からかけるように設定することも可能である。

なお、モジュール１〜ｎは同じものである必要はなく、たとえば波形モジュールであったり、デジタルマルチメータモジュール（以下、「ＤＭＭモジュール」という）であってもよい。記録装置１においては、波形モジュールとＤＭＭモジュールを同時に測定し、波形と数値を時間的に結び付けることもできるし、ＤＭＭの数値を完全なサンプリング時間としてタイムプロットすることもできる。また、波形モジュールとＤＭＭモジュールを別々に測定するように構成してもよい。本来与えられているストレージメモリ５のメモリ容量を十分に生かしつつ、様々なモジュールを時間的に紐つけすることも可能である。

（実施の形態の効果について）
以上説明したように、記録装置１は、複数の波形データをメモリに記録する記録装置であり、ストレージメモリ５（メモリ）に複数の波形データを記憶させるメモリコントローラ３（記録手段）と、メモリコントローラ３から出力される複数の波形データの一部をマスクしてストレージメモリ５に出力するマスク回路４（マスク手段）とを有するように構成したので、従来の記録装置のようにメモリ分割によって各モジュールでの測定可能時間が短くなることもなく、必要のない測定データが格納されることもなくなるため、ストレージメモリ５の利用効率を向上させることができる。すなわち、この記録装置１は、複数のモジュールから入力される波形データを効率よく記憶することができる。

なお、従来の記録装置において上述した「測定１」、「測定２」のように数回に分けて作業を行う場合には、別々の記録装置を用意することが多く、これらの装置を置いておくスペースやコストについても考慮する必要があった。また、ＰＣなどにドッキングするモジュールタイプの記録装置も存在するが、数回に分けて作業を行う場合で各モジュールを完全に同期させることはできなかった。一方、記録装置１では、上述した「測定１」、「測定２」のように数回に分けて作業を行う場合であっても複数の記録装置を用意する必要がない上に、必要に応じて各モジュールを同期させることも可能である。

また、メモリコントローラ３は、複数の波形データそれぞれを、複数のモジュール毎に予め割り当てられているメモリ空間に記録させるものであり、マスク回路４は、メモリコントローラ３から出力される複数の波形データそれぞれに対して、ストレージメモリ５に記録するように予め設定されている特定のメモリ空間（一部のメモリ空間）以外のメモリ空間へ記録させないようにマスクするように構成されているので、制御部６によりマスク回路４のＯＮ／ＯＦＦ制御を行うのみで、記録させるべきストレージメモリ５のアドレス空間を柔軟に変更することができる。

また、記録装置１の動作（記録方法）についても上述した効果と同様の効果を奏することができる。

１…記録装置、３…メモリコントローラ（記録手段の一例）、４…マスク回路（マスク手段の一例）、５…ストレージメモリ（メモリの一例）

Claims (2)

1. 複数の測定モジュールから入力されるアナログ信号をサンプリングして得た測定データをメモリに記録する記録装置であって、
   前記メモリに前記複数の測定データを記録させる記録手段と、
   前記複数の測定データそれぞれについて、前記複数の測定データ毎に設けられている前記メモリの特定のメモリ空間への書き込みを、サンプリング時間毎にマスクするか否かを設定するマスク手段と
   を有することを特徴とする記録装置。
2. 複数の測定モジュールから入力されるアナログ信号をサンプリングして得た測定データをメモリに記録する記録装置に用いられる記録方法であって、
   前記記録装置の記録手段が前記メモリに前記測定データを記録させる記録ステップと、
   前記複数の測定データそれぞれについて、前記複数の測定データ毎に設けられている前記メモリの特定のメモリ空間への書き込みを、サンプリング時間毎にマスクするか否かを設定するマスクステップと
   を有することを特徴とする記録方法。