CN105527558A - 测试系统的坐标图形显示单元及其显示方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种测试系统的坐标图形显示单元，解决了现有技术的问题，技术方案为：包括通信接口模块、探针坐标获取模块和Map显示模块，所述通信接口模块与波形测试系统连接，所述探针坐标获取模块与通信接口模块连接，所述Map显示模块与所述探针坐标获取模块连接，所述Map显示模块包括图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块。

Description

测试系统的坐标图形显示单元及其显示方法

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，尤其是指一种用于集成芯片测试的系统及其扫描测试及显示方法。

背景技术

集成电路测试是集成电路生产中的重要一环，测试准确性和测试效率直接影响产品的质量和成本；量产测试前进行产品测试参数调试耗时耗力，调试过程中示波器是必备工具，需要根据示波器的读数调整测试参数相关值。

工程师对集成电路测试机的测试电路和测试程序进行调试时，希望具有比示波器更简单的工具，能够观察参数实时结果，提高调试效率。

中华人民共和国国家知识产权局于2012年05月23日公开了名称为“一种用波形显示测量结果的数字万用表”的专利文献(公告号：CN102466745A)，其中公开的波形显示测量结果的数字万用表，具有数值测量和波形显示的功能，集合了一部分万用表和示波器的功能，但不能直接用于集成电路测试时的实时电路参数数值采集、计算和显示。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中集成电路不能实时测试，调试效率较低的缺点，提供一种用于集成芯片测试的系统及其扫描测试及显示方法。

本实用解决其技术问题所采用的技术方案是：一种测试系统的坐标图形显示单元，适用于波形测试系统，包括通信接口模块、探针坐标获取模块和Map显示模块，所述通信接口模块与波形测试系统连接，所述探针坐标获取模块与通信接口模块连接，所述Map显示模块与所述探针坐标获取模块连接，所述Map显示模块包括图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块，图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块均与所述的探针坐标获取模块连接，所述波形测试系统包括电路参数采集模块和电路参数显示模块，电路参数采集模块包括电路测试单元、模数转换单元和主控芯片单元，电路参数显示模块包括通信单元和运算单元，电路测试单元和模数转换单元相连接，模数转换单元与主控芯片单元相连接，主控芯片单元与通信单元通信连接，通信单元与运算单元相连接，运算单元与测试系统的坐标图形显示单元相连接。

作为优选，所述波形测试系统为探针台波形测试系统。

作为优选，通信接口模块为定义与探针台波形测试系统的通信协议，获取探针台波形测试系统的开始测试标志及测试工位信息及坐标信息的模块；

map显示模块为定义一个类来实现map显示的各种操作的模块；图形显示模块为定义一个结构体保存map相关信息的模块，Bin值数量显示模块为采用静态控件进行bin数量显示，定义数组SBin[]进行测试结果bin存储的模块；参数设置模块为通过编辑框输入进行map直径、角度、针卡测试顺序和芯片大小进行设置的模块；文件保存模块为保存map图片的文本格式、保存BMP格式图片保存坐标和bin信息的模块。

一种测试系统的坐标图形显示方法，适用于如权利要求1所述的测试系统的坐标图形显示单元，

步骤1，电路测试单元测量并采集集成芯片参数，集成芯片参数为时序数据；

步骤2，模数转换单元将采集的集成芯片参数进行模数转换；

步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成芯片参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；

步骤4，通信单元将采集的集成芯片参数发送至运算单元，运算单元对集成芯片参数进行运算加工；

步骤5，测试系统的坐标图形显示单元接收运算单元运算加工后的集成芯片参数并显示。

作为优选，所述的步骤1具体为电路测试单元以设定值为步距采集至少50个点，则集成芯片参数为0到步距与至少50个点的乘积的时间内的电路参数时序数据。

作为优选，所述的设定值的范围为5us至20us，采集的数量为至少500个点。

作为优选，所述的步骤4具体为通信单元将采集的集成芯片参数发送至运算单元，运算单元计算出电路参数时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间，并进行图形运算绘制波形图。

作为优选，还包括步骤6，测试系统的坐标图形显示单元还显示集成芯片参数的理论波形图，并将理论波形图的每个点的数值的±5-10％作为误差，测试系统的坐标图形显示单元显示理论波形图误差范围，再将实际的波形图和理论波形图做比较，若实际的波形图在误差范围内，则表示集成芯片合格，若实际的波形图超出误差范围，则表示集成芯片不合格。

作为优选，还包括步骤7，测试系统的坐标图形显示单元显示一条与X轴平行的且以理论波形图最大值上浮5％为数值的直线，若实际的波形图最大值未超过直线，则表示集成芯片合格，若实际的波形图最大值超过直线，则表示集成芯片不合格。

作为优选，还包括步骤8，测试系统的坐标图形显示单元显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值延迟若干时间为数值的第一直线，测试系统的坐标图形显示单元还显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值提早若干时间为数值的第二直线，若实际的波形图稳定时间值在第一直线和第二直线之间，则表示集成芯片合格，若实际的波形图稳定时间值不在第一直线和第二直线之间，则表示集成芯片不合格。

本发明的实质性效果是：用于集成芯片测试的系统及其扫描测试及显示方法能使集成电路时序数据实时显示，显示的内容包括波形以及时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间等，并且该系统及方法能实时判定被检测电集成芯片是否合格，检测方法方便快捷。

附图说明

图1：本发明的框架示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施例，对本实用的技术方案作进一步的具体说明。

实施例：

一种测试系统的坐标图形显示单元(参见附图1)，适用于波形测试系统，包括通信接口模块、探针坐标获取模块和Map显示模块，所述通信接口模块与波形测试系统连接，所述探针坐标获取模块与通信接口模块连接，所述Map显示模块与所述探针坐标获取模块连接，所述Map显示模块包括图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块，图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块均与所述的探针坐标获取模块连接，所述波形测试系统包括电路参数采集模块和电路参数显示模块，电路参数采集模块包括电路测试单元、模数转换单元和主控芯片单元，电路参数显示模块包括通信单元和运算单元，电路测试单元和模数转换单元相连接，模数转换单元与主控芯片单元相连接，主控芯片单元与通信单元通信连接，通信单元与运算单元相连接，运算单元与测试系统的坐标图形显示单元相连接。所述波形测试系统为探针台波形测试系统。通信接口模块为定义与探针台波形测试系统的通信协议，获取探针台波形测试系统的开始测试标志及测试工位信息及坐标信息的模块；map显示模块为定义一个类来实现map显示的各种操作的模块；图形显示模块为定义一个结构体保存map相关信息的模块，Bin值数量显示模块为采用静态控件进行bin数量显示，定义数组SBin[]进行测试结果bin存储的模块；参数设置模块为通过编辑框输入进行map直径、角度、针卡测试顺序和芯片大小进行设置的模块；文件保存模块为保存map图片的文本格式、保存BMP格式图片保存坐标和bin信息的模块。一种测试系统的坐标图形显示方法，适用于如权利要求1所述的测试系统的坐标图形显示单元，其特征在于：

步骤1，电路测试单元测量并采集集成芯片参数，集成芯片参数为时序数据；

步骤2，模数转换单元将采集的集成芯片参数进行模数转换；

步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成芯片参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；

步骤4，通信单元将采集的集成芯片参数发送至运算单元，运算单元对集成芯片参数进行运算加工；

步骤5，测试系统的坐标图形显示单元接收运算单元运算加工后的集成芯片参数并显示。

所述的步骤1具体为电路测试单元以设定值为步距采集至少50个点，则集成芯片参数为0到步距与至少50个点的乘积的时间内的电路参数时序数据。

所述的设定值的范围为5us至20us，采集的数量为至少500个点。

所述的步骤4具体为通信单元将采集的集成芯片参数发送至运算单元，运算单元计算出电路参数时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间，并进行图形运算绘制波形图。

还包括步骤6，测试系统的坐标图形显示单元还显示集成芯片参数的理论波形图，并将理论波形图的每个点的数值的±5-10％作为误差，测试系统的坐标图形显示单元显示理论波形图误差范围，再将实际的波形图和理论波形图做比较，若实际的波形图在误差范围内，则表示集成芯片合格，若实际的波形图超出误差范围，则表示集成芯片不合格。

还包括步骤7，测试系统的坐标图形显示单元显示一条与X轴平行的且以理论波形图最大值上浮5％为数值的直线，若实际的波形图最大值未超过直线，则表示集成芯片合格，若实际的波形图最大值超过直线，则表示集成芯片不合格。

还包括步骤8，测试系统的坐标图形显示单元显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值延迟若干时间为数值的第一直线，测试系统的坐标图形显示单元还显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值提早若干时间为数值的第二直线，若实际的波形图稳定时间值在第一直线和第二直线之间，则表示集成芯片合格，若实际的波形图稳定时间值不在第一直线和第二直线之间，则表示集成芯片不合格。

本实施例用于集成芯片测试的系统及其扫描测试及显示方法能使集成电路时序数据实时显示，显示的内容包括波形以及时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间等，并且该系统及方法能实时判定被检测电集成芯片是否合格，检测方法方便快捷。

以上所述的实施例只是本实用的一种较佳的方案，并非对本实用作任何形式上的限制，在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。

Claims (10)

1.一种测试系统的坐标图形显示单元，适用于波形测试系统，其特征在于：包括通信接口模块、探针坐标获取模块和Map显示模块，所述通信接口模块与波形测试系统连接，所述探针坐标获取模块与通信接口模块连接，所述Map显示模块与所述探针坐标获取模块连接，所述Map显示模块包括图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块，图形显示模块、Bin值数量显示模块、颜色设置模块、参数设置模块和文件播出模块均与所述的探针坐标获取模块连接，所述波形测试系统包括电路参数采集模块和电路参数显示模块，电路参数采集模块包括电路测试单元、模数转换单元和主控芯片单元，电路参数显示模块包括通信单元和运算单元，电路测试单元和模数转换单元相连接，模数转换单元与主控芯片单元相连接，主控芯片单元与通信单元通信连接，通信单元与运算单元相连接，运算单元与测试系统的坐标图形显示单元相连接。

2.根据权利要求1所述的测试系统的坐标图形显示单元，其特征在于：所述波形测试系统为探针台波形测试系统。

3.根据权利要求2所述的测试系统的坐标图形显示单元，其特征在于：通信接口模块为定义与探针台波形测试系统的通信协议，获取探针台波形测试系统的开始测试标志及测试工位信息及坐标信息的模块；

map显示模块为定义一个类来实现map显示的各种操作的模块；图形显示模块为定义一个结构体保存map相关信息的模块，Bin值数量显示模块为采用静态控件进行bin数量显示，定义数组SBin[]进行测试结果bin存储的模块；参数设置模块为通过编辑框输入进行map直径、角度、针卡测试顺序和芯片大小进行设置的模块；文件保存模块为保存map图片的文本格式、保存BMP格式图片保存坐标和bin信息的模块。

4.一种测试系统的坐标图形显示方法，适用于如权利要求1所述的测试系统的坐标图形显示单元，其特征在于：

步骤1，电路测试单元测量并采集集成芯片参数，集成芯片参数为时序数据；

步骤2，模数转换单元将采集的集成芯片参数进行模数转换；

步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成芯片参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；

步骤4，通信单元将采集的集成芯片参数发送至运算单元，运算单元对集成芯片参数进行运算加工；

步骤5，测试系统的坐标图形显示单元接收运算单元运算加工后的集成芯片参数并显示。

5.根据权利要求4所述的测试系统的坐标图形显示方法，其特征在于：所述的步骤1具体为电路测试单元以设定值为步距采集至少50个点，则集成芯片参数为0到步距与至少50个点的乘积的时间内的电路参数时序数据。

6.根据权利要求5所述的测试系统的坐标图形显示方法，其特征在于：所述的设定值的范围为5us至20us，采集的数量为至少500个点。

7.根据权利要求6所述的测试系统的坐标图形显示方法，其特征在于：所述的步骤4具体为通信单元将采集的集成芯片参数发送至运算单元，运算单元计算出电路参数时序数据的最大值、最小值、超调量和稳定时间，并进行图形运算绘制波形图。

8.根据权利要求7所述的测试系统的坐标图形显示方法，其特征在于：还包括步骤6，测试系统的坐标图形显示单元还显示集成芯片参数的理论波形图，并将理论波形图的每个点的数值的±5-10％作为误差，测试系统的坐标图形显示单元显示理论波形图误差范围，再将实际的波形图和理论波形图做比较，若实际的波形图在误差范围内，则表示集成芯片合格，若实际的波形图超出误差范围，则表示集成芯片不合格。

9.根据权利要求8所述的测试系统的坐标图形显示方法，其特征在于：还包括步骤7，测试系统的坐标图形显示单元显示一条与X轴平行的且以理论波形图最大值上浮5％为数值的直线，若实际的波形图最大值未超过直线，则表示集成芯片合格，若实际的波形图最大值超过直线，则表示集成芯片不合格。

10.根据权利要求9所述的测试系统的坐标图形显示方法，其特征在于：还包括步骤8，测试系统的坐标图形显示单元显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值延迟若干时间为数值的第一直线，测试系统的坐标图形显示单元还显示一条与Y轴平行的且以理论波形图稳定时间值提早若干时间为数值的第二直线，若实际的波形图稳定时间值在第一直线和第二直线之间，则表示集成芯片合格，若实际的波形图稳定时间值不在第一直线和第二直线之间，则表示集成芯片不合格。