CN203587717U - 一种简易伏安特性测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种简易伏安特性测试仪,包括主控制器单元、元器件参数采集单元和输入输出单元,所述主控制器单元分别与元器件参数采集单元、输入输出单元连接,所述元器件参数采集单元包括温度测量电路、电流采集电路和电压采集电路,主要获取元器件工作时的相关电流值、电压值和温度值,所述输入输出单元包括按键电路、显示电路、USB接口电路和数据存储电路。该简易伏安特性测试仪,不仅能够测量元器件的电流值、电压值和外部环境温度值,通过LCD液晶显示器实时显示伏安特性曲线,而且具有数据记录功能,通过USB接口将记录数据输出到电脑上进行更精确的处理。
Description
技术领域
本实用新型涉及实验测量仪器领域,具体的说是一种简易伏安特性测试仪。
背景技术
为了研究元器件的伏安特性性能,通常使用普通的万用表测量出电流,电压值,然后手动描绘出伏安特性曲线并计算出相关参数。该方法过程复杂,存在人为操作误差,且不能连续测试,很难获取准确的伏安特性曲线。为了提供测试的准确度,经常需要使用专业的测试仪,这些测试仪价格昂贵,操作相对复杂,很难满足普通用户的需要。为此,设计一款功能强大、操作方便、经济实用的伏安特性测试仪具有较好的市场应用前景。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型的目的是提供种简易伏安特性测试仪,该仪器不仅能够测量元器件的电流值、电压值和外部环境温度值,通过LCD液晶显示器实时显示伏安特性曲线,而且具有数据记录功能,通过USB接口将记录数据输出到电脑上进行更精确的处理。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种简易伏安特性测试仪,包括主控制器单元、元器件参数采集单元和输入输出单元,所述主控制器单元分别与元器件参数采集单元、输入输出单元连接,所述元器件参数采集单元包括温度测量电路、电流采集电路和电压采集电路,主要获取元器件工作时的相关电流值、电压值和温度值,所述输入输出单元包括按键电路、显示电路、USB接口电路和数据存储电路。
所述数据存储模块采用大容量的SD卡。该模块可以记录多次采集到相关的数据,并且可以永久的保存。
所述主控制器单元采用采用高性能、低功耗的8位AVR微处理器ATmega16。主控制器单元是系统的核心控制部分,主要负责控制数据信号时实采集,处理,显示、存储和输出。
所述显示电路可以实时显示伏安特性曲线,通过采集的电压、电流数据,经过液晶显示屏实时显示元器件的特性曲线,方便使用者判断元器件是否符合设计要求;所述显示电路可以显示所测元器件周围温度值。
本实用新型的有益效果是:
本实用新型中,所述数据存储模块采用大容量的SD卡,该模块可以记录多次采集到相关的数据,并且可以永久的保存。所述USB接口电路提供了数据输出通道,通过USB接口可以将记录数据输出到电脑上进行更精确的处理。
本实用新型中,所述主控制器单元采用采用高性能的8位AVR微处理器ATmega16,可以使整个系统集成度高,结构简单,功耗低,且处理速度快。
本实用新型可实现显示相关电流电压伏安特性的曲线及相关需要测量的参数,特别适合学校实验室使用。
附图说明
为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解,下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
图1是本实用新型结构框架示意图。
具体实施方式
如图1所示,一种简易伏安特性测试仪,包括主控制器单元、元器件参数采集单元和输入输出单元,所述主控制器单元分别与元器件参数采集单元、输入输出单元连接,所述元器件参数采集单元包括温度测量电路、电流采集电路和电压采集电路,主要获取元器件工作时的相关电流值、电压值和温度值,所述输入输出单元包括按键电路、显示电路、USB接口电路和数据存储电路。
所述数据存储模块采用大容量的SD卡。该模块可以记录多次采集到相关的数据,并且可以永久的保存。
所述主控制器单元采用采用高性能、低功耗的8位AVR微处理器ATmega16。由于其先进的指令集以及单时钟周期指令执行时间,该模块的数据吞吐率高达16MIPS,可以满足系统对处理速度的要求。主控制器单元是系统的核心控制部分,主要负责控制数据信号时实采集,处理,显示、存储和输出。
所述电流采集电路采用采样电阻,经过低功耗仪表放大器适当放大后利用高分辨率的A/D转换器采样获取电流数据。所述电压采集电路利用电阻对电压分压,利用高分辨率的A/D转换器采样获取电压数据。
所述显示电路采用诺基亚5110液晶模块,该液晶能显示汉字及曲线,被广泛用于单片机控制的智能仪器、仪表和低功耗电子产品。
所述温度测量电路采用数字化温度传感器DS18B20芯片。该芯片的测量温度范围为-55℃-125℃,精度为±0.5℃,具有单独数据总线的数字传输特点。由于每个DS18B20都有一个独特的64位序列号,从而允许多只DS18B20同时连在一根单线总线上,因此,主控制器单元利用单总线共享方式实现多个DS18B20芯片温度数据的采集,实现一定区域温度的准确测量。
本实用新型可以实时显示伏安特性曲线,通过采集的电压、电流数据,经过液晶显示屏实时显示元器件的特性曲线,方便使用者判断元器件是否符合设计要求,还可以显示所测元器件周围温度值,研究温度对电压和电流的影响。
以上公开的仅为本专利的具体实施例,但本专利并非局限于此,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,做出的变形应视为属于本实用新型保护范围。
Claims (3)
1.一种简易伏安特性测试仪,其特征在于:包括主控制器单元、元器件参数采集单元和输入输出单元,所述主控制器单元分别与元器件参数采集单元、输入输出单元连接,所述元器件参数采集单元包括温度测量电路、电流采集电路和电压采集电路,主要获取元器件工作时的相关电流值、电压值和温度值,所述输入输出单元包括按键电路、显示电路、USB接口电路和数据存储电路。
2.根据权利要求1所述的简易伏安特性测试仪,其特征在于:所述数据存储电路采用大容量的SD卡。
3.根据权利要求1所述的简易伏安特性测试仪,其特征在于:所述主控制器单元采用采用高性能、低功耗的8位AVR微处理器ATmega16。
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GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20140507 Termination date: 20141022 |
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