CN203069744U - 半导体三极管参数测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体三极管参数测试仪，包括测试电路、采样电路、单片机和显示装置；所述测试电路与被测三极管和采样电路相连接，用于测试三极管的各种参数并将所得的参数值传送给采样电路；采样电路与单片机相连接，用于获取测试电路所测得的参数值，并对参数值进行采样处理后传送给单片机；单片机上还连接有所述显示装置，所述显示装置用于显示单片机所传送的三极管参数。本实用新型的半导体三极管参数测试仪，具有可测量精度高、测量方法简单、智能化程度高等优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体三极管参数测试仪。
背景技术
在电学实验的过程中，常常需要对三极管的参数进行测试。对三极管的测试中，涉及到基极和集电极的电压测量、反向击穿电压测量、反向包和电流测量等参数的测试过程。三极管发射极开路，集电结反向偏置（Uc>Ub），这时，流过集电结的电流是少子的反向电流，称为反向饱和电流。实质上，就是PN结的反向饱和电流。由于反向饱和电流极小，测量中容易产生较大的误差。在现有技术中，常常采用数字式万用表、示波器等设备手动对三极管进行测试，存在有测试精度低、测量步骤复杂等问题。
实用新型内容
本实用新型是为避免上述已有技术中存在的不足之处，提供一种半导体三极管参数测试仪，以提高三极管的参数测量精度。
本实用新型为解决技术问题采用以下技术方案。
半导体三极管参数测试仪，其结构特点是，包括测试电路、采样电路、单片机和显示装置；所述测试电路与被测三极管和采样电路相连接，用于测试三极管的各种参数并将所得的参数值传送给采样电路；采样电路与单片机相连接，用于获取测试电路所测得的参数值，并对参数值进行采样处理后传送给单片机；单片机上还连接有所述显示装置，所述显示装置用于显示单片机所传送的三极管参数。
本实用新型的半导体三极管参数测试仪还具有以下技术特点。
所述显示装置为液晶显示器。
所述测试电路包括三极管基极和集电极电压测量单元、反向击穿电压测量单元和反向饱和电流测量单元。
与已有技术相比，本实用新型有益效果体现在：
本发明的半导体三极管参数测试仪，通过测试电路获取三极管的各种参数，由采用电路对测试电路获得的参数进行信号采样，采样后的信号送至单片机处理和计算，然后将获得的参数交由显示装置显示，测量简单快速，显示直观，可自动测量，智能化水平高，能精确测量三极管交直流放大系数、集电极－发射极反向击穿电压和反向饱和电流。系统所用高压通过倍压电路获得。单片机根据采集所得数据进行处理，并通过液晶对各项参数进行显示。
本实用新型的半导体三极管参数测试仪，具有可测量精度高、测量方法简单、智能化程度高等优点。
附图说明
图1为本实用新型的半导体三极管参数测试仪的结构框图。
以下通过具体实施方式，并结合附图对本实用新型作进一步说明。
具体实施方式
参见图1，半导体三极管参数测试仪，包括测试电路、采样电路、单片机和显示装置；所述测试电路与被测三极管和采样电路相连接，用于测试三极管的各种参数并将所得的参数值传送给采样电路；采样电路与单片机相连接，用于获取测试电路所测得的参数值，并对参数值进行采样处理后传送给单片机；单片机上还连接有所述显示装置，所述显示装置用于显示单片机所传送的三极管参数。
所述显示装置为液晶显示器。
所述测试电路包括三极管基极和集电极电压测量单元、反向击穿电压测量单元和反向饱和电流测量单元。
本发明的半导体三极管参数测试仪，通过测试电路的三极管基极和集电极电压测量单元对三极管的基极电压和集电极电压进行测量，通过反向击穿电压测量单元测量三极管的反向击穿电压，通过反向饱和电流测量单元获取三极管的反向包和电流，这些测量单元获得三极管的参数后将参数传送给采样电路，由采样电路采集这些参数，并将这些参数一一发送给单片机，由单片机对这些参数进行处理和计算，从而获得三极管的其他参数和特性，如放大系数、输入输出特性曲线等。
显示装置主要是用来显示电压数值。采用智能型显示模块，它具有体积小、功耗低、显示内容丰富、超薄轻巧等优点，在袖珍式仪表和低功耗应用系统中得到广泛的应用。目前字符型液晶显示模块已经是单片机应用设计中最常用的信息显示器件。本设计中采用的LCD1602液晶显示器可以显示两行，每行16个字符，采用单+5V电源供电，外围电路配置简单，价格便宜，具有很高的性价比，且与单片机接口方便。
本发明的半导体三极管参数测试仪，能精确测量三极管交直流放大系数、集电极－发射极反向击穿电压和反向饱和电流。系统所用高压通过倍压电路获得。单片机根据采集所得数据进行处理，并通过液晶对各项参数进行显示。
Claims (3)
1.半导体三极管参数测试仪，其特征是，包括测试电路、采样电路、单片机和显示装置；所述测试电路与被测三极管和采样电路相连接，用于测试三极管的各种参数并将所得的参数值传送给采样电路；采样电路与单片机相连接，用于获取测试电路所测得的参数值，并对参数值进行采样处理后传送给单片机；单片机上还连接有所述显示装置，所述显示装置用于显示单片机所传送的三极管参数。
2.根据权利要求1所述的半导体三极管参数测试仪，其特征是，所述显示装置为液晶显示器。
3.根据权利要求1所述的半导体三极管参数测试仪，其特征是，所述测试电路包括三极管基极和集电极电压测量单元、反向击穿电压测量单元和反向饱和电流测量单元。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN103760485A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-04-30 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 二极管、三极管的后端检测方法 |
| CN104297656A (zh) * | 2014-08-23 | 2015-01-21 | 陈益楷 | 一种小功率三极管管脚自动判断电路 |
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| CN103760485B (zh) * | 2014-01-27 | 2016-01-20 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 二极管、三极管的后端检测方法 |
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