CN106133537A - 一种fpga功能模块仿真验证方法及其系统 - Google Patents
一种fpga功能模块仿真验证方法及其系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106133537A CN106133537A CN201480013747.9A CN201480013747A CN106133537A CN 106133537 A CN106133537 A CN 106133537A CN 201480013747 A CN201480013747 A CN 201480013747A CN 106133537 A CN106133537 A CN 106133537A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- function module
- test
- measured
- fpga function
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000012795 verification Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 124
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 39
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000013011 mating Effects 0.000 abstract 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 64
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 4
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012731 temporal analysis Methods 0.000 description 1
- 238000000700 time series analysis Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31704—Design for test; Design verification
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31703—Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318364—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences as a result of hardware simulation, e.g. in an HDL environment
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
- G06F30/3308—Design verification, e.g. functional simulation or model checking using simulation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/34—Circuit design for reconfigurable circuits, e.g. field programmable gate arrays [FPGA] or programmable logic devices [PLD]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/34—Circuit design for reconfigurable circuits, e.g. field programmable gate arrays [FPGA] or programmable logic devices [PLD]
- G06F30/343—Logical level
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318385—Random or pseudo-random test pattern
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318516—Test of programmable logic devices [PLDs]
- G01R31/318519—Test of field programmable gate arrays [FPGA]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
- G06F2119/12—Timing analysis or timing optimisation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
Claims (6)
- 一种FPGA功能模块仿真验证方法,其特征在于,通过枚举各个FPGA功能模块全部的参数特征,产生全部的测试用例;根据输入的待测FPGA功能模块类型和参数特征,产生匹配相应待测FPGA功能模块配置的仿真测试平台;所述仿真测试平台根据输入的待测FPGA功能模块参数特征,随机生成测试激励和相应的期望输出,将所述期望输出与所述测试激励施加在待测FPGA功能模块对应的测试用例后的实际输出进行比较,根据比较结果输出待测FPGA功能模块的测试报告。
- 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在将所述期望输出与所述测试激励施加在待测FPGA功能模块对应的测试用例后的实际输出进行比较步骤之前还包括:判断待测FPGA功能模块是否为已有功能模块基础上的升级,如果是,则先将测试激励施加在所述待测FPGA功能模块后的第一值与施加在所述已有功能模块后的第二值进行比较,如果第一值和第二值不同,则仿真报错;如果第一值和第二值相同,再将所述第一值与所述期望输出进行比较,如果不同,则仿真报错,如果相同,则仿真通过。
- 一种FPGA功能模块仿真验证系统,其特征在于,包括:验证平台控制中心,所述验证平台控制中心用于通过枚举各个FPGA功能模块全部的参数特征,产生全部的测试用例;并根据输入的待测FPGA功能模块的类型和参数特征,产生匹配待测FPGA功能模块配置的仿真测试平台;所述仿真测试平台根据输入的待测FPGA功能模块参数特征,随机生成测试激励和相应的期望输出,将所述期望输出与所述测试激励施加在待测FPGA功能模块对应的测试用例后的实际输出进行比较,根据比较结果输出待测FPGA功能模块的测试报告。
- 根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述验证平台控制中心 包括测试用例生成器和测试平台生成器,所述测试用例生成器,用于通过枚举各个FPGA功能模块全部的参数特征,产生全部的测试用例;所述测试平台生成器,用于根据输入的待测FPGA功能模块的类型和参数特征,产生匹配待测FPGA功能模块配置的仿真测试平台。
- 根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述仿真测试平台包括随机激励发生器和比较器,所述随机激励发生器,用于根据输入的待测FPGA功能模块参数特征,随机生成测试激励和相应的期望输出;比较器,用于将所述期望输出和所述测试激励施加在待测FPGA功能模块对应的测试用例后的实际输出进行比较,根据比较结果输出待测FPGA功能模块的测试报告。
- 根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述仿真测试平台包括随机激励发生器和双重比较器,所述随机激励发生器,用于根据输入的待测FPGA功能模块参数特征,随机生成测试激励和相应的期望输出;所述双重比较器,用于判断待测FPGA功能模块是否为已有功能模块基础上的升级,如果是,则先将测试激励施加在所述待测FPGA功能模块后的第一值与施加在所述已有功能模块后的第二值进行比较,如果第一值和第二值不同,则仿真报错;如果第一值和第二值相同,再将所述第一值与所述期望输出进行比较,如果不同,则仿真报错,如果相同,则仿真通过。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/CN2014/095667 WO2016106605A1 (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种fpga功能模块仿真验证方法及其系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106133537A true CN106133537A (zh) | 2016-11-16 |
CN106133537B CN106133537B (zh) | 2019-03-05 |
Family
ID=56283880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201480013747.9A Active CN106133537B (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种fpga功能模块仿真验证方法及其系统 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160320451A1 (zh) |
CN (1) | CN106133537B (zh) |
WO (1) | WO2016106605A1 (zh) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106841974A (zh) * | 2016-12-13 | 2017-06-13 | 深圳市紫光同创电子有限公司 | 一种fpga测试平台及方法 |
CN108267683A (zh) * | 2017-01-04 | 2018-07-10 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种fpga自测的方法及装置 |
CN109472061A (zh) * | 2018-10-17 | 2019-03-15 | 北京广利核系统工程有限公司 | 一种可重用的仿真验证平台及仿真验证方法 |
CN109596976A (zh) * | 2018-12-11 | 2019-04-09 | 上海精密计量测试研究所 | Fpga内部dsp模块的测试方法 |
CN110569162A (zh) * | 2018-06-06 | 2019-12-13 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种通信领域中fpga的自动测试方法及装置 |
CN111123083A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-05-08 | 国家电网有限公司 | 一种针对fpga pll ip核的测试系统及方法 |
CN111859832A (zh) * | 2020-07-16 | 2020-10-30 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 一种芯片仿真验证方法、装置及相关设备 |
CN113760774A (zh) * | 2021-09-28 | 2021-12-07 | 中汽创智科技有限公司 | 一种ota仿真测试方法、平台及系统 |
CN115422865A (zh) * | 2022-10-28 | 2022-12-02 | 飞腾信息技术有限公司 | 仿真方法及装置、计算设备、计算机可读存储介质 |
CN117407288A (zh) * | 2023-09-28 | 2024-01-16 | 航天中认软件测评科技(北京)有限责任公司 | 基于fpga测试平台的测试用例推荐方法 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3647801A1 (de) | 2018-10-30 | 2020-05-06 | dSPACE digital signal processing and control engineering GmbH | Verfahren zur überprüfung eines fpga-programms |
CN110967618A (zh) * | 2019-03-21 | 2020-04-07 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 电路参数的检测方法及检测装置 |
CN110675014B (zh) * | 2019-07-24 | 2023-04-07 | 中国电子科技集团公司电子科学研究院 | 国产电子器件替代验证项目确定方法及设备 |
CN110688821B (zh) * | 2019-09-27 | 2023-10-13 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 一种复杂算法的测试激励生成器及其控制方法 |
CN110932726A (zh) * | 2019-11-21 | 2020-03-27 | 江苏旭微科技有限公司 | 一种模数转换器验证方法 |
CN111639470B (zh) * | 2020-05-28 | 2022-06-17 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 一种处理器协同芯片的仿真测试方法、系统及相关组件 |
CN112486835B (zh) * | 2020-12-11 | 2024-05-03 | 南京艾科朗克信息科技有限公司 | 应用于证券期货柜台的验证平台和方法 |
CN113110370B (zh) * | 2021-03-10 | 2021-11-19 | 北京天能继保电力科技有限公司 | 一种测试系统和方法 |
CN113704044B (zh) * | 2021-07-19 | 2024-05-24 | 新华三半导体技术有限公司 | 一种接口验证系统、方法及芯片 |
CN113312879B (zh) * | 2021-07-28 | 2021-11-09 | 北京燧原智能科技有限公司 | 芯片电路功能验证系统、方法、设备及存储介质 |
CN114036720B (zh) * | 2021-10-13 | 2022-08-30 | 北京市应急管理科学技术研究院 | 用于应急仿真演练的多端输出配置方法、系统及存储介质 |
CN114860519B (zh) * | 2022-04-08 | 2022-12-23 | 中国人民解放军国防科技大学 | 一种面向大规模asic芯片的多芯片联合验证方法及装置 |
CN116305722A (zh) * | 2022-09-09 | 2023-06-23 | 广州汽车集团股份有限公司 | 电机性能验证方法、装置以及电子设备 |
CN116136950B (zh) * | 2023-04-14 | 2023-06-30 | 北京燧原智能科技有限公司 | 芯片验证方法、装置、系统、电子设备及存储介质 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1848092A (zh) * | 2005-04-14 | 2006-10-18 | 华为技术有限公司 | 测试装置及方法 |
US7225416B1 (en) * | 2004-06-15 | 2007-05-29 | Altera Corporation | Methods and apparatus for automatic test component generation and inclusion into simulation testbench |
CN101153892A (zh) * | 2007-10-12 | 2008-04-02 | 成都华微电子系统有限公司 | 现场可编程门阵列输入输出模块验证方法 |
CN101739334A (zh) * | 2008-11-21 | 2010-06-16 | 上海科梁信息工程有限公司 | 嵌入式软件自动化测试方法 |
WO2012022065A1 (zh) * | 2010-08-17 | 2012-02-23 | 中兴通讯股份有限公司 | 实现数字信号处理器自动测试的方法及系统 |
US8230382B2 (en) * | 2010-01-28 | 2012-07-24 | International Business Machines Corporation | Model based simulation of electronic discharge and optimization methodology for design checking |
CN102650966A (zh) * | 2011-02-24 | 2012-08-29 | 王轶辰 | 一种面向复用的嵌入式软件测试方法及其测试系统 |
CN102789227A (zh) * | 2012-08-02 | 2012-11-21 | 北京京航计算通讯研究所 | 基于覆盖率统计的可编程逻辑器件仿真测试方法 |
-
2014
- 2014-12-30 CN CN201480013747.9A patent/CN106133537B/zh active Active
- 2014-12-30 US US14/758,379 patent/US20160320451A1/en not_active Abandoned
- 2014-12-30 WO PCT/CN2014/095667 patent/WO2016106605A1/zh active Application Filing
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7225416B1 (en) * | 2004-06-15 | 2007-05-29 | Altera Corporation | Methods and apparatus for automatic test component generation and inclusion into simulation testbench |
CN1848092A (zh) * | 2005-04-14 | 2006-10-18 | 华为技术有限公司 | 测试装置及方法 |
CN101153892A (zh) * | 2007-10-12 | 2008-04-02 | 成都华微电子系统有限公司 | 现场可编程门阵列输入输出模块验证方法 |
CN101739334A (zh) * | 2008-11-21 | 2010-06-16 | 上海科梁信息工程有限公司 | 嵌入式软件自动化测试方法 |
US8230382B2 (en) * | 2010-01-28 | 2012-07-24 | International Business Machines Corporation | Model based simulation of electronic discharge and optimization methodology for design checking |
WO2012022065A1 (zh) * | 2010-08-17 | 2012-02-23 | 中兴通讯股份有限公司 | 实现数字信号处理器自动测试的方法及系统 |
CN102650966A (zh) * | 2011-02-24 | 2012-08-29 | 王轶辰 | 一种面向复用的嵌入式软件测试方法及其测试系统 |
CN102789227A (zh) * | 2012-08-02 | 2012-11-21 | 北京京航计算通讯研究所 | 基于覆盖率统计的可编程逻辑器件仿真测试方法 |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106841974A (zh) * | 2016-12-13 | 2017-06-13 | 深圳市紫光同创电子有限公司 | 一种fpga测试平台及方法 |
CN108267683A (zh) * | 2017-01-04 | 2018-07-10 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种fpga自测的方法及装置 |
CN110569162A (zh) * | 2018-06-06 | 2019-12-13 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种通信领域中fpga的自动测试方法及装置 |
CN109472061A (zh) * | 2018-10-17 | 2019-03-15 | 北京广利核系统工程有限公司 | 一种可重用的仿真验证平台及仿真验证方法 |
CN109472061B (zh) * | 2018-10-17 | 2022-10-14 | 北京广利核系统工程有限公司 | 一种可重用的仿真验证平台及仿真验证方法 |
CN109596976B (zh) * | 2018-12-11 | 2021-08-27 | 上海精密计量测试研究所 | Fpga内部dsp模块的测试方法 |
CN109596976A (zh) * | 2018-12-11 | 2019-04-09 | 上海精密计量测试研究所 | Fpga内部dsp模块的测试方法 |
CN111123083B (zh) * | 2019-12-06 | 2022-04-29 | 国家电网有限公司 | 一种针对fpga pll ip核的测试系统及方法 |
CN111123083A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-05-08 | 国家电网有限公司 | 一种针对fpga pll ip核的测试系统及方法 |
CN111859832A (zh) * | 2020-07-16 | 2020-10-30 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 一种芯片仿真验证方法、装置及相关设备 |
CN111859832B (zh) * | 2020-07-16 | 2022-07-08 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 一种芯片仿真验证方法、装置及相关设备 |
CN113760774A (zh) * | 2021-09-28 | 2021-12-07 | 中汽创智科技有限公司 | 一种ota仿真测试方法、平台及系统 |
CN113760774B (zh) * | 2021-09-28 | 2023-10-27 | 中汽创智科技有限公司 | 一种ota仿真测试方法、平台及系统 |
CN115422865A (zh) * | 2022-10-28 | 2022-12-02 | 飞腾信息技术有限公司 | 仿真方法及装置、计算设备、计算机可读存储介质 |
CN117407288A (zh) * | 2023-09-28 | 2024-01-16 | 航天中认软件测评科技(北京)有限责任公司 | 基于fpga测试平台的测试用例推荐方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2016106605A1 (zh) | 2016-07-07 |
CN106133537B (zh) | 2019-03-05 |
US20160320451A1 (en) | 2016-11-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106133537B (zh) | 一种fpga功能模块仿真验证方法及其系统 | |
CN102169846B (zh) | 一种在集成电路晶圆测试过程中实现多维变量密码并行写入的方法 | |
CN104407951A (zh) | 一种自动化进行服务器整机测试的方法 | |
CN104298595A (zh) | 自动化测试方法及测试系统 | |
CN105022694B (zh) | 用于移动终端测试的测试用例生成方法及系统 | |
CN106598834A (zh) | Ui测试方法及装置 | |
CN103514090A (zh) | 测试浏览器的方法和装置 | |
CN105654993B (zh) | 用于ddr3 sdram控制器的功能验证方法及平台 | |
CN103577309A (zh) | 自动化测试的方法及装置 | |
CN109298317A (zh) | 一种中低频电路的智能化测试装置及其测试方法 | |
CN111400169B (zh) | 一种自动化生成用于测试软硬件的网表文件的方法及系统 | |
CN105183641B (zh) | 一种内核模块的数据一致性校验方法及系统 | |
CN103823145A (zh) | 硬件自动化测试平台 | |
CN108874649A (zh) | 自动化测试脚本的生成方法、装置及其计算机设备 | |
CN114662427A (zh) | 一种逻辑系统设计的调试方法及设备 | |
CN105279092A (zh) | 一种软件测试的方法及装置 | |
CN104732123A (zh) | 一种基于json格式的功能操作权限控制方法 | |
CN103530166B (zh) | 一种基于虚拟ram的面向多通道芯片的验证平台和验证方法 | |
CN102565683A (zh) | 一种测试向量的生成与验证方法 | |
CN114281624A (zh) | 一种i2c信号完整性的测试方法、系统、装置及设备 | |
CN103425558B (zh) | 一种基于测试配置表实现板卡io口测试的方法 | |
CN101916305A (zh) | 一种复杂管脚芯片的验证方法 | |
CN116663490A (zh) | 一种异步存储芯片的验证方法、平台、装置及介质 | |
CN103165405A (zh) | 一种通过gpib接口实时生成多维变量密码方法 | |
CN111124790A (zh) | 一种可重用仿真接口模型的生成系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20240819 Address after: 601, Floor 6, Building 5, Yard 8, Kegu 1st Street, Beijing Economic and Technological Development Zone, Daxing District, Beijing, 100176 (Yizhuang Cluster, High-end Industrial Zone, Beijing Pilot Free Trade Zone) Patentee after: Jingwei Qili (Beijing) Technology Co.,Ltd. Country or region after: China Address before: 20th Floor, Building B, Tiangong Building, No. 30 Yuan Road, Haidian District, Beijing 100083 Patentee before: CAPITAL MICROELECTRONICS Co.,Ltd. Country or region before: China |