JP6156446B2 - 耐食性部材、静電チャック用部材および耐食性部材の製造方法 - Google Patents

耐食性部材、静電チャック用部材および耐食性部材の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、耐食性部材、静電チャック用部材および耐食性部材の製造方法に関し、さらに詳しくは、フッ素系腐食性ガス、塩素系腐食性ガスなどのハロゲン系腐食性ガスおよびこれらのプラズマに対して高い耐食性を有する耐食性部材、それを含む静電チャック用部材およびその耐食性部材の製造方法に関する。
IC、LSI、VLSIなどの半導体装置の製造ラインには、フッ素系腐食性ガス、塩素系腐食性ガスなどのハロゲン系腐食性ガスおよびこれらのプラズマを用いる工程がある。これらの工程では、静電チャックにより固定された半導体ウエハに対して、たとえば、ドライエッチング、プラズマエッチング、クリーニングなどの処理が実施される。これらの処理には、CF、SF、HF、NF、F等のフッ素系ガスや、Cl、SiCl、BCl、HCl等の塩素系ガス、それらのガスのプラズマなどが使用される。これらの腐食性ガスやプラズマは腐食性が高いため、これらの腐食性ガスやプラズマによる静電チャックを構成する静電チャック用部材の腐食が問題となっている。そこで、従来は、静電チャック用部材に用いる耐食性材料として、イットリウム・アルミニウム・ガーネット(YAl12、以下、YAGと略す)や、酸化イットリウム以外の希土類酸化物をYAGに添加したものなどが使用されている(例えば、特許文献1〜3参照)。
特開2004−315308号公報 特開2011−151336号公報 特開2012−94826号公報
特許文献1〜3に記載されている耐食性部材は、フッ素系腐食性ガス、塩素系腐食性ガスなどのハロゲン系腐食性ガスおよびこれらのプラズマに対して高い腐食性を有する。これらの耐食性部材は、とくに静電チャック用部材に使用されるので、腐食性が高いのみならず、静電チャック用部材として使用した場合、電界を印加したときの静電チャックの吸着力が強く、電界の印加を停止したときの静電チャックの残留吸着力が弱いことが重要である。そこで、本発明は、静電チャック用部材に使用した場合、電界を印加したときの静電チャックの吸着力を従来よりもさらに強くし、電界の印加を停止したときの静電チャックの残留吸着力を従来よりもさらに弱くすることができる耐食性部材、静電チャック用部材および耐食性部材の製造方法を提供することを目的とする。
従来、ペロブスカイト型化合物の多くは、正方晶、斜方晶、三方晶などの立方格子から歪んだ構造を有しているため、強誘電性を示し、強い電界が印加される静電チャック用部材の用途には不適当であると考えられていた。しかし、本発明者は、SmAlOは、斜方晶ペロブスカイト型構造(LaAlO型構造)であるにも関わらず、静電チャック用部材としての用途に好適であることを見出し、本発明を完成させた。すなわち、本発明は以下のとおりである。
[1]サマリウムおよびアルミニウムを含み、ペロブスカイト型構造を有する酸化物を含む耐食性部材。
[2]上記耐食性部材における上記酸化物の割合は80体積%以上である上記[1]に記載の耐食性部材。
[3]上記酸化物におけるサマリウム:アルミニウム(モル比)の範囲は、73:27〜9:91である上記[1]または[2]に記載の耐食性部材。
[4]圧力が0.5Pa未満である雰囲気で、1mmの厚さを有する耐食性部材に2.0kVの電圧を60秒間印加して、1インチのシリコンウエハを耐食性部材に吸着させた後、電圧の印加を止めたときの残留吸着力が0.1〜0.9kPaである上記[1]〜[3]のいずれかに記載の耐食性部材。
[5]上記[1]〜[4]のいずれかに記載の耐食性部材を含む静電チャック用部材。
[6]酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末と溶媒とを混合して、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含むスラリーを作製する工程、スラリーを乾燥して、アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含む混合粉末を作製し、該混合粉末を成形して成形体を作製する工程、および成形体を焼成して焼結体を作製する工程を含む耐食性部材の製造方法。
[7]焼結体をアニールする工程をさらに含む上記[6]に記載の耐食性部材の製造方法。
本発明によれば、静電チャック用部材に使用した場合、電界を印加したときの静電チャックの吸着力を強くし、電界の印加を停止したときの静電チャックの残留吸着力を弱くすることができる耐食性部材、静電チャック用部材および耐食性部材の製造方法を提供することができる。
図1は実施例1のX線回折パターンを示す図である。
[耐食性部材]
本発明の耐食性部材は、サマリウムおよびアルミニウムを含み、ペロブスカイト型構造を有する酸化物を含む。サマリウムおよびアルミニウムを含み、ペロブスカイト型構造を有する酸化物は、たとえば、SmAlOである。
本発明の耐食性部材は、サマリウムおよびアルミニウムを含み、ペロブスカイト型構造を有する酸化物であれば、他の元素を含んでもよい。しかし、この酸化物は、酸化物を構成する原子がサマリウム、アルミニウムおよび酸素で大部分占められる酸化物であることが好ましい。
上記酸化物におけるサマリウム:アルミニウム(モル比)の範囲は、好ましくは73:27〜9:91であり、より好ましくは73:27〜14:86であり、より好ましくは73:27〜19:81であり、より好ましくは、73:27〜26:74であり、より好ましくは73:27〜35:65であり、さらに好ましくは65:35〜40:60であり、とくに好ましくは60:40〜45:55であり、さらに好ましくは60:40〜47:53である。上記酸化物におけるサマリウム:アルミニウム(モル比)の範囲が73:27〜9:91であると、上記酸化物の主要な構造をペロブスカイト型構造にすることができる。
本発明の耐食性部材における上記酸化物の割合は、好ましくは80体積%以上であり、より好ましくは90体積%以上であり、さらに好ましくは95体積%以上である。耐食性部材における上記酸化物の割合が80体積%以上であると、耐食性部材の誘電率を高くすることができるとともに、本発明の耐食性部材を静電チャック用部材に使用した場合、電界を印加したときの静電チャックの吸着力を強くし、電界の印加を停止したときの静電チャックの残留吸着力を弱くすることができる。
本発明の耐食性部材の40Hzの周波数における比誘電率は、好ましくは20以上であり、より好ましくは23以上であり、さらに好ましくは25以上である。本発明の耐食性部材における比誘電率が20以上であると、耐食性部材を静電チャック用部材に使用した場合、電界を印加したときの静電チャックの吸着力を強くすることができる。
本発明の耐食性部材の曲げ強度は、好ましくは150MPa以上であり、より好ましくは160MPa以上であり、さらに好ましくは170MPa以上である。ここで、曲げ強度は、JIS R1601に準拠して、4点曲げ試験により測定した値である。耐食性部材の曲げ強度が150MPa以上であると、耐食性部材を静電チャック用部材として使用した場合、強度に関して実用上の問題は生じない。
本発明の耐食性部材における相対密度は、好ましくは97%以上であり、より好ましくは97.5%以上であり、さらに好ましくは98%以上である。耐食性部材における相対密度が97%以上であると、耐食性部材の強度を高くし、耐食性部材の比誘電率を高くすることができる。また、耐食性部材中の気孔は誘電損失増大の原因となるので、耐食性部材における相対密度が97%以上であると、耐食性部材の誘電損失を低減することができる。
圧力が0.5Pa未満である雰囲気で、1mmの厚さを有する耐食性部材に2.0kVの電圧を印加して、1インチのシリコンウエハを、本発明の耐食性部材に吸着させたきの吸着力は、好ましくは10〜30kPaであり、より好ましくは12〜30kPaである。吸着力が10〜30kPaであると、本発明の耐食性部材を静電チャック用部材に使用することにより、シリコンウエハなどの基板を静電チャックに確実に固定させることができる。
圧力が0.5Pa未満である雰囲気で、1mmの厚さを有する本発明の耐食性部材に2.0kVの電圧を60秒間印加して、1インチのシリコンウエハを耐食性部材に吸着させた後、電圧の印加を止めたときの残留吸着力は、好ましくは0.1〜0.9kPaである。残留吸着力が0.1〜0.9kPaであると、本発明の耐食性部材を静電チャック用部材に使用することにより、シリコンウエハなどの基板の処理が終わった後、基板を静電チャックから容易に取り外すことができる。
[耐食性部材の製造方法]
本発明の耐食性部材の製造方法は、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末と溶媒とを混合して、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含むスラリーを作製する工程(A)、スラリーを乾燥して、アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含む混合粉末を作製し、該混合粉末を成形して成形体を作製する工程(B)、および成形体を焼成して焼結体を作製する工程(C)を含む。
(工程(A))
工程(A)では、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末と溶媒とを混合して、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含むスラリーを作製する。酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の平均粒子径は、それぞれ、好ましくは0.01〜1.0μmである。酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の平均粒子径が0.01〜1.0μmであると、相対密度が高い耐食性部材を得ることができる。また、耐食性部材中のアルミニウムおよびサマリウムの偏析を抑制できる。また、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は、好ましくは0.01〜1.0μmである。なお、平均粒子径は、1次粒子の平均粒子径であり、レーザー回折・散乱法により測定した体積平均粒子径である。
酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末のBET比表面積は、好ましくは5〜25m/gである。酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末のBET比表面積が5〜25m/gであると、相対密度が高い耐食性部材を得ることができる。BET比表面積は、窒素ガスを使用したBET法で測定した比表面積である。
工程(A)で使用する溶媒には、たとえば、水、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、トルエン、キシレン、アセトン、塩化メチレン、酢酸エチル、ジメチルホルムアミド、ジエチルエーテルなどが挙げられる。好ましい溶媒は、水、メタノール、エタノール、プロパノールおよびブタノールからなる群から選択される少なくとも1種である。溶媒を用いて酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を混合するので、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を均一に混合することができる。
酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末と溶媒との混合に使用する装置は、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を均一に含むスラリーを作製できれば、とくに限定されない。酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末と溶媒との混合に使用する装置には、たとえば、ボールミル、ビーズミル、ディスパーミル、ホモジナイザー、振動ミル、サンドグラインドミル、アトライター、超音波分散機、高圧分散機などが挙げられる。
(工程(B))
工程(B)では、上記スラリーを乾燥して、アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含む混合粉末を作製し、その混合粉末を成形して成形体を作製する。
アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末を含む混合粉末は、混合粉末の成形を容易にするために、顆粒状であることが好ましい。したがって、スラリーの乾燥は、スラリーを乾燥するとともに、顆粒を形成する方法で実施されることが好ましい。スラリーの乾燥には、たとえば、噴霧乾燥機、気流乾燥機、流体層などが使用される。混合粉末の顆粒を形成するために、ポリアクリル酸塩などの分散剤、ポリエチレングリコール系消泡剤などの消泡剤、ステアリン酸などの潤滑剤、ポリビニルアルコールなどの結合材、ポリエチレングリコールなどの可塑剤などをスラリーに添加してもよい。工程(B)では、たとえば、得られた混合粉末を金型中で一軸プレスするか、またはゴム型中で静水圧プレスすることにより成形体を得る。
結合材などの有機成分を顆粒状の混合粉末から除去するために、成形の前に、混合粉末を脱脂することが好ましい。混合粉末を脱脂する温度は、たとえば50〜600℃である。
(工程(C))
工程(C)では、成形体を焼成して焼結体を作製する。成形体を焼成するときの焼成温度は、好ましくは1400〜1800℃であり、より好ましくは1450〜1750℃であり、さらに好ましくは1500〜1700℃である。焼成温度が1400〜1800℃であると、緻密な焼結体を得ることができるとともに焼結体が溶融することを抑制することができる。上記焼成温度の焼成のおける焼成時間は、好ましくは1〜5時間であり、より好ましくは1〜4時間であり、さらに好ましくは1.5〜3時間である。焼成時間が1〜5時間であると、緻密な焼結体を得ることができるとともに、焼結体に異常粒成長が起こることを抑制することができる。大気中で成形体を焼成してもよいし、不活性ガス雰囲気中で成形体を焼成してもよい。
成形体の焼成は、常圧焼成でもよいが、より緻密な焼結体を得ることができるという点で加圧焼成であることがより好ましい。加圧焼成には、たとえば熱間静水圧(HIP)焼成、ホットプレス(HP)一軸加圧焼成、超高圧プレス(UHP)多軸加圧焼成などが挙げられる。加圧焼成により成形体を焼成するときの成形体への圧力は、たとえば10〜40MPaである。
(アニールする工程(D))
本発明の耐食性部材の製造方法は、焼結体をアニールする工程(D)をさらに含んでもよい。これにより、焼結体中の酸素欠陥を少なくすることができる。なお、焼結体中に酸素欠陥が多いと、誘電率が高くなり吸着力は高くなるが、抵抗値が低下するので残留吸着力は高くなる。酸素欠陥を少なくすることを目的とすることから、焼結体のアニール処理は大気中で実施することが好ましい。アニール処理温度は、好ましくは1300〜1600℃であり、より好ましくは1350〜1550℃であり、さらに好ましくは1400〜1500℃である。アニール処理温度が1300〜1600℃であると、酸素欠陥を充分に減少させることができるとともに、吸着力が低減しすぎることを抑制できる。上記アニール処理温度におけるアニール処理時間は、好ましくは2〜10時間であり、より好ましくは3〜10時間である。アニール処理時間が2〜10時間であると、酸素欠陥を充分に減少させることができるとともに吸着力が低減しすぎることを抑制できる。
[静電チャック用部材]
本発明の静電チャック用部材は本発明の耐食性部材を含む。静電チャック用部材は、たとえば、試料を静電吸着するための試料載置面を有する板状体と、その背面に設けられた静電吸着用内部電極層と、静電吸着用内部電極層を埋設する接着剤層と、接着剤層における板状体と反対側に設けられた絶縁性材料層とを有する。静電チャック部材における板状体の少なくとも試料載置面に、本発明の耐食性部材が使用される。
次に、本発明を実施例により、さらに詳細に説明するが、本発明は、これらの実施例によってなんら限定されるものではない。
後述の実施例および比較例における測定および評価は以下のように行った。
(1)原料粉体の平均粒子径
原料粉体を水中に分散させた後、粒度分布測定装置((株)島津製作所製、SALD−2000J)を使用して原料粉体の平均粒子径を測定した。
(2)耐食性部材の相対密度
アルキメデス法により、実施例および比較例で得られた耐食性部材の密度を測定し、下記式により求めた理論密度で、測定した密度を割り算して相対密度を算出した。
単位胞重量(g)=酸化サマリウムアルミニウム結晶相の各単位胞重量×各結晶相のmol%
単位胞体積(cm)=酸化サマリウムアルミニウム結晶相の各単位胞体積×各結晶相のmol%
理論密度(g/cm)=単位胞重量/単位胞体積
なお、酸化サマリウムアルミニウムの各結晶相%のmol%は、原料粉体の仕込み量から算出した。
(3)耐食性部材の結晶相の同定
粉末X線回折法により、実施例および比較例で得られた耐食性部材の結晶相の同定を行った。粉末X線回折には、X線回折装置(PANalytical社製、X’Pert PRO MPD)を使用した。
(4)耐食性部材の比誘電率
実施例および比較例で得られた耐食性部材をφ48×1mmに加工した後、40MHzのおける耐食性部材の比誘電率を、充放電評価装置(東洋システム(株)製、TOSCAT−3000)を使用して測定した。
(5)耐食性部材の吸着力
実施例および比較例で得られた耐食性部材を厚さ1.0mmに加工し、加工した耐食性部材とアルミナセラミックスとの間に電極を埋設した接着層を形成して静電チャックを作製した。静電チャックの試料載置面温度を25℃にし、2.0kVの電圧を電極に60秒間印加して、1インチのシリコンウエハを静電チャックに真空中(<0.5Pa)で吸着させた。そして、1インチのシリコンウエハに対する吸着力を測定した。測定はロードセルを用いた引き剥がしにより行い、そのとき発生した最大引き剥がし応力を吸着力とした。
(6)耐食性部材の残留吸着力
実施例および比較例で得られた耐食性部材を厚さ1.0mmに加工し、加工した耐食性部材とアルミナセラミックスとの間に電極を埋設した接着層を形成して静電チャックを作製した。静電チャックの試料載置面温度を25℃にし、2.0kVの電圧を電極に60秒間印加して、1インチのシリコンウエハを静電チャックに真空中(<0.5Pa)で吸着させた。その後、電圧の印加を停止し、電圧の印加を停止した直後の1インチのシリコンウエハに対する残留吸着力を測定した。測定はロードセルを用いた引き剥がしにより行い、そのとき発生した最大引き剥がし応力を残留吸着力とした。
(7)耐食性部材の曲げ強度
JIS R1601に準拠して、4点曲げ試験により実施例および比較例で得られた耐食性部材の曲げ強度を測定した。測定には曲げ試験器((株)丸東製作所製、マルトーJIS曲げ試験機MZ−401)を使用した。
(8)耐食性評価
実施例および比較例で得られた耐食性部材に(i)CF/O/Ar(2/2/16mL/分)および(ii)SF(10mL/分)のガス種を照射し、プラズマ暴露試験を行った。条件は真空度:1mTorr、電極周波数:2.5GHz、バイアス周波数:13.56MHz、電圧:3400V、電流:1.8A、プラズマパワー:420W(CF) および400W(SF)であった。
暴露していない部分と暴露後の部分の表面粗さを測定し、その差からエッチングレートを算出した。
(実施例1)
酸化アルミニウム(Al)粉末(大明化学工業(株)製、型番:TM−5D)および酸化サマリウム(Sm)粉末(日本イットリウム(株)製、型番:N−SM3CP)を表1に示す組成となるようにそれぞれ秤量した。秤量した酸化アルミニウム粉末と酸化サマリウム粉末および酸化アルミニウム粉末と酸化サマリウム粉末の合計した質量に対して1質量%の分散剤(中京油脂(株)製、型番:D−735)を水の入ったビーカーに投入した。水の量は固形分が30%になるように測りとってあった。次に、撹拌羽により湿式混合した後、ボールミルで分散させて、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末のスラリーを作製した。このスラリーの一部を採取して酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径の測定を行ったところ、0.541μmであった。
スプレードライヤー(日本ビュッヒ(株)製、型番:B−290)を使用してこのスラリーを乾燥および造粒して、混合粉末の顆粒を作製した。この混合粉末の顆粒を500℃で4時間熱処理して脱脂した。次いで、この混合粉末を所定形状に成形した。そして、ホットプレス機(富士電波工業(株)製、型番:ハイマルチ5000)を使用して、1600℃の焼成温度、2時間の焼成時間、20MPaの圧力およびアルゴン中で成形体を加圧焼成し、焼結体を得た。得られた焼結体を1480℃のアニール温度および3時間のアニール時間でアニール処理を行い、実施例1の耐食性部材を作製した。
(実施例2)
焼成温度を1700℃にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例2の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.662μmであった。
(実施例3)
焼成温度を1500℃にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例3の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.578μmであった。
(実施例4)
焼成温度を1450℃にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例4の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.521μmであった。
(実施例5)
サマリウム:アルミニウム(モル比)を9:91にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例5の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.552μmであった。
(実施例6)
サマリウム:アルミニウム(モル比)を14:86にし、焼成温度を1400℃にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例6の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.548μmであった。
(実施例7)
サマリウム:アルミニウム(モル比)を19:81にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例6の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.531μmであった。
(実施例8)
サマリウム:アルミニウム(モル比)を26:74にし、焼成温度を1500℃にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例8の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.529μmであった。
(実施例9)
サマリウム:アルミニウム(モル比)を47:53にし、焼成温度を1550℃にした以外は、実施例1と同様な方法で実施例8の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末の混合粉末の平均粒子径は0.520μmであった。
(比較例1)
酸化サマリウム粉末の代わりに酸化イットリウム(Y)粉末(日本イットリウム(株)製、型番:YT3S)を使用した以外は、実施例1と同様な方法で比較例1の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化イットリウム粉末の混合粉末のスラリーの一部を採取して酸化アルミニウム粉末および酸化イットリウム粉末の混合粉末の平均粒子径の測定を行ったところ、0.674μmであった。
(比較例2)
酸化サマリウム粉末の代わりに酸化イットリウム(Y)粉末(日本イットリウム(株)製、型番:YT3S)を使用し、酸化アルミニウム粉末および酸化イットリウム粉末を表1に示す組成となるようにそれぞれ秤量した以外は、実施例1と同様な方法で比較例2の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末および酸化イットリウム粉末の混合粉末のスラリーの一部を採取して酸化アルミニウム粉末および酸化イットリウム粉末の混合粉末の平均粒子径の測定を行ったところ、0.564μmであった。
(比較例3)
酸化アルミニウム粉末および酸化サマリウム粉末に加えて酸化イットリウム(Y)粉末(日本イットリウム(株)製、型番:YT3S)をさらに使用し、酸化アルミニウム粉末、酸化サマリウム粉末および酸化イットリウム粉末を表1に示す組成となるようにそれぞれ秤量した以外は、実施例1と同様な方法で比較例3の耐食性部材を作製した。なお、酸化アルミニウム粉末、酸化サマリウム粉末および酸化イットリウム粉末の混合粉末のスラリーの一部を採取して酸化アルミニウム粉末、酸化サマリウムおよび酸化イットリウム粉末の混合粉末の平均粒子径の測定を行ったところ、0.775μmであった。
実施例1〜4および比較例1〜3で得られた耐食性部材の結晶相を同定するために測定されたX線回折パターンの一例として実施例1のX線回折パターンを図1に示す。実施例1〜4および比較例1で得られた耐食性部材の結晶構造はペロブスカイト型構造であったのに対し、比較例2および3で得られた耐食性部材の結晶構造はガーネット構造であった。
実施例1〜9および比較例1〜3で得られた耐食性部材の評価結果を表1〜3に示す。
Figure 0006156446
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Figure 0006156446
表1〜3に示すように実施例1〜9および比較例1〜3で得られた耐食性部材の相対密度は、すべて97%以上であり、実施例1〜9および比較例1〜3で得られた耐食性部材は緻密な焼結体であることがわかった。また、これらの耐食性部材は良好な耐食性を有していた。
実施例1〜9で得られた耐食性部材の比誘電率は比較例1〜3で得られた耐食性部材の比誘電率に比べて高かった。これらの結果は、ペロブスカイト型構造はガーネット構造よりも分極が起こりやすいことと、サマリウムのイオン半径はイットリウムのイオン半径よりも大きいため分極が大きいこととによると予想される。
一方、実施例1〜9で得られた耐食性部材の吸着力は比較例1〜3で得られた耐食性部材の吸着力よりも大きかった。これより、実施例1〜9で得られた耐食性部材を静電チャック用部材として使用することにより、シリコンウエハなどの基板を静電チャックにより確実に固定できることがわかった。
また、実施例1〜9で得られた耐食性部材の残留吸着力は比較例1〜3で得られた耐食性部材の残留吸着力よりも小さかった。これより、実施例1〜9で得られた耐食性部材を静電チャック用部材として使用することにより、所定の処理が終わった後、シリコンウエハなどの基板を静電チャックからより容易に取り外せることがわかった。
実施例1〜9で得られた耐食性部材の曲げ強度は比較例2および3で得られた耐食性部材の曲げ強度よりも強かった。これより、実施例1〜9で得られた耐食性部材を静電チャック用部材として使用することにより、静電チャックの強度を高くすることができることがわかった。

Claims (4)

  1. ロブスカイト型構造を有するSm Al (1−x) (x=0.09〜0.73)を含み、
    前記Sm Al (1−x) の割合は80体積%以上である、半導体装置を製造するための装置におけるハロゲン系腐食性ガスおよびプラズマの少なくとも一種に曝される部材
  2. 圧力が0.5Pa未満である雰囲気で、1mmの厚さを有する前記耐食性部材に2.0kVの電圧を60秒間印加して、1インチのシリコンウエハを前記耐食性部材に吸着させた後、電圧の印加を止めたときの残留吸着力が0.1〜0.9kPaである請求項1に記載の部材
  3. 請求項1または2に記載の部材を含む静電チャック用部材。
  4. 酸化アルミニウム原料粉末および酸化サマリウム原料粉末と溶媒とを混合して、前記酸化アルミニウム粉末および前記酸化サマリウム粉末を含むスラリーを作製する工程、
    前記スラリーを乾燥して、アルミニウム粉末および前記酸化サマリウム粉末を含む混合粉末を作製し、該混合粉末を成形して成形体を作製する工程
    記成形体を焼成してペロブスカイト型構造を有する焼結体を作製する工程、および
    1300〜1600℃のアニール処理温度で前記焼結体をアニールする工程を含む耐食性部材の製造方法。
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