JP6155038B2 - 外観検査装置および外観検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、外観検査装置および外観検査方法に関する。

従来、所謂光切断法によって、検査対象面の三次元形状に対応した画像を得ることが可能な外観検査装置が知られている（例えば、特許文献１）。この種の外観検査装置では、検査対象面に照射された線状の光の位置や形状に基づいて検査対象領域の各位置での高さが算出され、さらに当該高さに応じた各位置での輝度値が設定されて二次元の疑似画像データが生成され、当該疑似画像データに基づいて異常領域の有無の判別、すなわち外観検査が行われる場合がある。

特開２０１１−１４１２６０号公報

しかしながら、この種の外観検査装置では、疑似画像データにおいて位置（位相）を特定するのに手間がかかる場合があった。

そこで、本発明の実施形態は、一例としては、疑似画像データの位置（位相）を特定しやすい外観検査装置および外観検査方法を得ることを目的の一つとする。

本発明の実施形態にかかる外観検査装置にあっては、ライトシートに照らされることで検査対象物の検査対象面に形成された第一の方向に沿った線状の光をライトシートと交叉した第二の方向から撮像した画像を、第一の方向と直交しかつ検査対象面に沿った第三の方向に沿って順次取得する撮像部と、検査対象面の第一の方向ならびに第三の方向に離散化された各点に対応した線状の光の画像のずれに基づいて各点での輝度値を決定して二次元の疑似画像データを生成する疑似画像データ生成部と、二次元の疑似画像データから、検査対象面に第三の方向に沿って間隔をあけて設けられた複数の指標物に対応した指標画像データを得る指標画像データ特定部と、二次元の疑似画像データにおける指標画像データと基準となる指標画像データとの比較により、二次元の疑似画像データの第三の方向に対応した方向での位相を特定する位相特定部と、二次元の疑似画像データを画像処理して検査対象面での異常領域を決定する異常領域決定部と、二次元の疑似画像データから、検査対象面に第三の方向に沿って間隔をあけて設けられた指標物と異なる複数の第二の指標物に対応し、指標画像データの領域より広い領域の第二の指標画像データを得る第二の指標画像データ特定部と、を備えた。位相特定部は、二次元の疑似画像データにおける指標画像データと基準となる指標画像データとの比較によって二次元の疑似画像データの第三の方向に対応した方向での位相が特定できない場合に、二次元の疑似画像データにおける第二の指標画像データと基準となる第二の指標画像データとの比較により、二次元の疑似画像データの第三の方向に対応した方向での位相を特定する。

本発明の実施形態によれば、一例としては、疑似画像データの位置（位相）を特定しやすい外観検査装置および外観検査方法を得ることができる。

図１は、実施形態にかかる外観検査装置の一例が示された模式的な平面図である。 図２は、実施形態にかかる外観検査装置の一例が示された模式的な側面図である。 図３は、実施形態にかかる外観検査装置で得られた検査対象領域に当てられた線状の光の一例が示された模式図（Ｓ方向から見た図）である。 図４は、実施形態にかかる外観検査装置の一例が示された模式的なブロック図である。 図５は、実施形態にかかる外観検査装置の制御部の一例が示された模式的なブロック図である。 図６は、実施形態にかかる外観検査装置による検査方法の一例が示されたフローチャートである。 図７は、実施形態にかかる外観検査装置で得られた疑似画像データの一例の一部が示された模式図である。 図８は、実施形態にかかる外観検査装置での指標画像データと基準となる指標画像データとのパターンマッチングの一例が示された概念図である。 図９は、実施形態にかかる外観検査装置の処理により表示装置の表示画面に表示された疑似画像ならびに異常領域の画像の一例が示された模式図である。

本実施形態では、一例として、外観検査装置１は、検査対象物１００を撮像した画像に基づいて、当該検査対象物１００の検査対象面１０１の検査を行う。外観検査装置１は、図１，２，４，５に示されるように、光源２や、撮像部３、制御部４０、移動装置５（移動部）、表示装置６（表示部）等を備える。

本実施形態では、図１〜３に示されるように、タイヤが検査対象物１００の一例であり、当該タイヤの外周面（トレッド面、接地面）が検査対象面１０１の一例である。また、図１に示されるように、検査対象物１００は、平面視では円環状（ドーナツ状）であり、検査対象面１０１は、円筒面状である。検査対象物１００は、移動装置５によって動かされる。本実施形態では、一例として、検査対象物１００は、中心軸Ａｘを中心として回転される。なお、検査対象物１００としてのタイヤはあくまで一例であって、本発明は例えばシート等のタイヤ以外の検査対象物１００にも適用可能である。

光源２は、図１に示されるように、ライトシートＬＳ（シート状の光、平坦なカーテン状の光、スリット光、一例としてはレーザーライトシート）を出射する。図３に示されるように、検査対象面１０１には、光源２から出射されたライトシートＬＳに照らされることで、線状の光Ｌ（の筋）が形成される。線状の光Ｌは、検査対象面１０１の幅方向（検査対象物１００の回転の中心軸Ａｘに沿うとともに検査対象面１０１に沿ったＸ方向、第一の方向）に沿って延びている。また、ライトシートＬＳは、本実施形態では、一例として、回転軸Ａｘを含む平面に沿っている。すなわち、光源２は、検査対象面１０１の法線方向（直交方向、図１中のＲ方向、検査対象物１００としてのタイヤの径方向の外側）から、線状の検査対象領域Ａを照らしている。光源２は、例えば、輝線照射用のレーザ光源等である。

撮像部３は、図１，２に示されるように、ライトシートＬＳが沿う方向と交叉する方向（本実施形態では、一例としてＲ方向と鋭角をなす方向、Ｓ方向、第二の方向）から検査対象領域Ａを含む検査対象面１０１の細長い領域を撮像する。図３の視線では、右側が光源２に近い側、左側が光源２から遠い側である。撮像部３は、例えば、二次元に配列された光電変換素子（光電変換部）を有したエリアセンサ（固体撮像素子、例えば、ＣＣＤ（charge coupled device）イメージセンサや、ＣＭＯＳ（complementary metal oxide semiconductor）イメージセンサ等）である。

ここで、仮に検査対象面１０１に凹凸（Ｘ方向に沿った凹凸）が無かった場合、検査対象面１０１上の光Ｌ（輝線）は直線状である。しかし、検査対象面１０１が凸部を有していた場合、検査対象面１０１が平面であった場合の光Ｌを基準線ＲＬ（直線、基準位置）とすると、当該凸部に当たった光Ｌは、基準線ＲＬより光源２側（図３の例では右側）にずれる。また、逆に、検査対象面１０１が凹部を有していた場合、当該凹部に当たった光Ｌは、基準線ＲＬより光源２とは反対側（光源２から遠い側、図３の例では左側）にずれる。すなわち、光Ｌの位置（形状、基準線ＲＬからのずれ）によって、検査対象面１０１の凹凸ならびに当該凹凸の程度（凸部の高さ、凹部の深さ、法線方向における位置）を特定することができる。なお、ライトシートＬＳの向きならびに撮像部３による撮像方向は、種々に設定することが可能である。

移動装置５は、検査対象物１００の検査対象面１０１を光Ｌ（検査対象領域Ａ）の幅方向（検査対象面１０１の長手方向、回転軸Ａｘの周方向、図１中のＣ方向、タイヤの周方向、第三の方向）に動かし、検査対象面１０１における検査対象領域Ａを動かす。なお、検査対象物１００が固定され、光源２や撮像部３等が検査対象面１０１に沿って移動する構成（移動装置５によって動かされる構成）であってもよい。

また、外観検査装置１は、図４に示されるように、制御部４０（例えばＣＰＵ（central processing unit）等）や、ＲＯＭ４１（read only memory）、ＲＡＭ４２（random access memory）、ＳＳＤ４３（solid state drive）、光照射コントローラ４４、撮像コントローラ４５、移動コントローラ４６、表示コントローラ４７等を備えることができる。光照射コントローラ４４は、制御部４０からの制御信号に基づいて、光源２の発光（オン、オフ）等を制御する。撮像コントローラ４５は、制御部４０からの制御信号に基づいて、撮像部３による撮像を制御する。移動コントローラ４６は、制御部４０から受けた制御信号に基づいて、移動装置５を制御し、検査対象物１００の移動（回転、開始、停止、速度等）を制御する。表示コントローラ４７は、制御部４０からの制御信号に基づいて、表示装置６を制御する。また、制御部４０は、不揮発性の記憶部としてのＲＯＭ４１やＳＳＤ４３等にインストールされたプログラム（アプリケーション）を読み出して実行する。ＲＡＭ４２は、制御部４０がプログラムを実行して種々の演算処理を実行する際に用いられる各種データを一時的に記憶する。なお、図４に示されるハードウエアの構成はあくまで一例であって、例えばチップやパッケージにする等、種々に変形して実施することが可能である。また、各種演算処理は、並列処理することが可能であり、制御部４０等は、並列処理が可能なハードウエア構成とすることが可能である。

また、本実施形態では、一例として、制御部４０は、ハードウエアとソフトウエア（プログラム）との協働によって、外観検査装置１の少なくとも一部として機能（動作）する。すなわち、図５に示されるように、制御部４０は、光照射制御部４０ａや、撮像制御部４０ｂ、移動制御部４０ｃ、画像処理部４０ｄ、表示制御部４０ｅ等として機能する。光照射制御部４０ａは、光照射コントローラ４４を制御する。撮像制御部４０ｂは、撮像コントローラ４５を制御する。移動制御部４０ｃは、移動コントローラ４６を制御する。画像処理部４０ｄは、撮像部３が取得した疑似画像データを画像処理する。表示制御部４０ｅは、表示装置６（例えば、ＬＣＤ（liquid crystal display）、ＯＥＬＤ（organic electroluminescent display）等）を制御する。

ここで、本実施形態では、一例として、画像処理部４０ｄは、複数の検査対象領域Ａの各点（検査対象領域Ａの長手方向の各点）に対応した光Ｌの画像の基準線ＲＬ（基準位置）からのずれに応じて、当該各点での輝度値を決定することにより、二次元の疑似画像データＩｍｖ（図７等参照）を生成する。画像処理部４０ｄは、一例として、各位置での基準線ＲＬから光源２に近い側（図３では右側）へのずれが大きいほど輝度値を高く設定し（画素を明るくし）、光源２から遠い側の遠い側（図３では左側）へのずれが大きいほど輝度値を低く設定する（画素を暗くする）。これにより、疑似画像データＩｍｖは、検査対象領域Ａの二次元の外観に近い画像となる。表示制御部４０ｅは、疑似画像データＩｍｖが表示されるよう、表示装置６を制御することができる。疑似画像データＩｍｖは、検査対象面１０１の凹凸の状態（大きさや、位置等）を視覚的に判断しやすいという利点を有している。

また、本実施形態では、一例として、画像処理部４０ｄは、撮像された画像から得られた疑似画像データＩｍｖと、所定の記憶部（例えば、ＳＳＤ４３や、ＲＯＭ４１等）に記憶された基準となる疑似画像データとを比較して、各点の輝度値の差異を取得する。そして、画像処理部４０ｄは、輝度値の差異が所定の閾値と同じかあるいは超えている点（画素）の群（集合、かたまり、領域）の大きさが、所定数（画素数あるいは面積の閾値）と同じかあるいはより多かった場合には、当該領域を異常領域と決定する。なお、疑似画像データＩｍｖと基準となる疑似画像データとの比較は、輝度値によって二値化処理したデータ同士を比較してもよい。画像処理部４０ｄは、異常領域決定部の一例である。

次に、図６を参照して、本実施形態にかかる外観検査装置１による異常領域の特定処理の一例について説明する。具体的に、制御部４０は、まず、画像処理部４０ｄ（疑似画像データ生成部４０ｄ１）として機能し、複数の検査対象領域Ａの各点（画素）についての基準線ＲＬ（基準位置）に対する光Ｌの位置（ずれ）から、当該各点の輝度値を決定し、二次元の疑似画像データＩｍｖを生成する（ステップＳ１）。このステップＳ１で、画像処理部４０ｄは、一例として、各点の輝度値を、ずれの大きさに応じて線形的に決定することができる。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（前処理部４０ｄ２）として機能し、画像処理の前処理を実行する（ステップＳ２）。前処理としては、例えば、ノイズ除去や、フィルタリング（平滑化）、穴埋め処理等がある。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（補間処理部４０ｄ３）として機能し、輝度値が無い画素（データ欠損領域の画素）について、当該画素の輝度値を、その周囲の画素の輝度値から補間して決定する（ステップＳ３）。一例として、検査対象面１０１に比較的深い凹部（図示されず）が存在した場合、当該凹部内に形成された線状の光Ｌが、当該凹部の縁に遮られて撮像部３に入らない場合がある。このような場合は、対応する画素の輝度値が無い状態となる。輝度値が無いと、疑似画像データの画像処理の演算に支障を来したり、疑似画像データに基づいて表示装置６で表示される画像に、欠損（例えば、黒い領域）が含まれたりすることになる。そこで、ステップＳ２では、このような不都合が生じないよう、輝度値が無いデータ欠損領域の画素の輝度値を、その周囲の画素の輝度値から補間する。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（第一の指標画像データ特定部４０ｄ４）として機能し、撮像部３で撮像された画像から、第一の指標画像データを特定する（ステップＳ４）。本実施形態では、一例として、検査対象物１００がタイヤ（自動車用のタイヤ）である場合、ステップＳ４での第一の指標画像データは、図７に例示されるような、スリップサイン１０２に対応した疑似画像データＩｍｓであることができる。スリップサイン１０２は、検査対象面１０１に設けられた周方向（Ｃ方向）に沿った主溝１０３（溝部）内に設けられた突起（突出部、凸部）である。主溝１０３内には、複数のスリップサイン１０２が、周方向に間隔隔Ｄ１〜Ｄ４をあけて設けられている。ここで、図７に示されるように、本実施形態では、一例として、検査対象物１００に設けられた複数のスリップサイン１０２間の間隔Ｄ１〜Ｄ４が、それぞれ異なっている。よって、スリップサイン１０２に対応した第一の指標画像データ（疑似画像データＩｍｓ）と、所定の記憶部（例えば、ＳＳＤ４３や、ＲＯＭ４１等）に記憶された基準となる第一の指標画像データとを比較することにより、撮像された画像から得られた疑似画像データＩｍｖと、所定の記憶部に記憶された基準となる疑似画像データとの位相差（疑似画像データＩｍｖの、基準となる疑似画像データに対する位置、位相）を取得することができる。このような処理を後段のステップＳ５〜Ｓ７で実行するため、本実施形態では、一例として、画像処理部４０ｄは、ステップＳ４で、二次元の疑似画像データから第一の指標画像データを特定する。

このステップＳ４において、画像処理部４０ｄは、まず、主溝１０３の領域を特定する。図７に示される主溝１０３は、一例としては、検査対象面１０１の幅方向の所定の位置で、略一定幅で帯状に凹んだ領域である。よって、画像処理部４０ｄは、例えば、各点（画素）の高さ（深さ）に応じた輝度値の所定の輝度値（閾値）との比較により、主溝１０３に対応した疑似画像データＩｍｄ（領域）を特定することができる。この際、画像処理部４０ｄは、主溝１０３に対応した疑似画像データＩｍｄの特定（決定）をより容易にあるいはより精度良く実行するため、主溝１０３に対応した疑似画像データＩｍｄの特定を、主溝１０３の存在する領域付近で各点の輝度値を周方向（Ｃ方向）に平滑化した疑似画像データに対して行うことができる。こうすれば、主溝１０３に突起として存在するスリップサイン１０２の領域も含めて輝度値を平滑化することができるので、閾値に対する比較により、主溝１０３に対応した疑似画像データＩｍｄと、主溝１０３が形成されない外周面の疑似画像データとを、より容易にあるいはより精度良く区別することができる。なお、この場合、スリップサイン１０２に対応した疑似画像データＩｍｓの特定は、平滑化していない疑似画像データに対して実行される。

次いで、ステップＳ４において、画像処理部４０ｄは、特定された主溝１０３の疑似画像データＩｍｄ（領域）から、スリップサイン１０２に対応した第一の指標画像データ（疑似画像データＩｍｓ）を特定する。具体的に、画像処理部４０ｄは、例えば、各点（画素）の高さ（深さ）に応じた輝度値の所定の輝度値（閾値）との比較により、スリップサイン１０２に対応した第一の指標画像データ（疑似画像データＩｍｓ、領域）を特定することができる。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（位相特定部４０ｄ６）として機能し、スリップサイン１０２に対応した疑似画像データＩｍｓと、所定の記憶部（例えば、ＳＳＤ４３や、ＲＯＭ４１等）に記憶された基準となる疑似画像データとを用いて、パターンマッチング（例えば、テンプレートマッチング）を行う（ステップＳ５）。このステップＳ５では、画像処理部４０ｄは、例えば、図８に示されるように、疑似画像データＩｍｓおよび基準となる疑似画像データＩｍｒのうち少なくとも一方を、検査対象面１０１の長手方向（回転軸Ａｘの周方向、図１中のＣ方向、タイヤの周方向）に沿ってずらしながら（位置を変化させながら）、各位置（位相、図８の例ではＰ１〜Ｐ３）での相関係数を取得する。画像処理部４０ｄは、相関係数が最も高い位置（位相）を取得する。図８の例では、最も下の段の状態で、基準となる疑似画像データＩｍｒと一致する位置Ｐ３（位相）を取得する。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄとして機能し、条件分岐を行う（ステップＳ６）。このステップＳ６では、例えば、上記ステップＳ５において相関係数が最も高い位置（位相）での相関係数が所定の閾値と同じかあるいは超えており、かつ他に同等の相関係数となる位置（位相）が無かった場合に、ステップＳ１０へ進み、それ以外の場合にはステップＳ７へ進む。

ステップＳ７において、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（第二の疑似画像データ特定部４０ｄ５）として機能し、トレッドパターン１０４に対応した第二の指標画像データ（疑似画像データＩｍｔ）を特定する。具体的に、画像処理部４０ｄは、例えば、各点（画素）の高さ（深さ）に応じた輝度値の所定の輝度値（閾値）との比較により、トレッドパターン１０４に対応した第二の指標画像データ（疑似画像データＩｍｔ、領域）を特定することができる。トレッドパターン１０４は、外周面に設けられた溝によって形成されている。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（位相特定部４０ｄ６）として機能し、トレッドパターン１０４に対応した疑似画像データＩｍｔと、所定の記憶部（例えば、ＳＳＤ４３や、ＲＯＭ４１等）に記憶された基準となる疑似画像データとを用いて、パターンマッチング（例えば、テンプレートマッチング）を行う（ステップＳ８）。このステップＳ８では、画像処理部４０ｄは、例えば、疑似画像データＩｍｔおよび基準となる疑似画像データのうち少なくとも一方を、検査対象面１０１の長手方向（回転軸Ａｘの周方向、図１中のＣ方向、タイヤの周方向）に沿ってずらしながら（位置を変化させながら）、各位置（位相）での相関係数を取得する。画像処理部４０ｄは、相関係数が最も高い位置（位相）を取得する。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄとして機能し、条件分岐を行う（ステップＳ９）。このステップＳ９では、例えば、上記ステップＳ８において相関係数が最も高い位置（位相）での相関係数が所定の閾値と同じかあるいは超えており、かつ他に同等の相関係数となる位置（位相）が無かった場合に、ステップＳ１０へ進み、それ以外の場合には一連の処理が終了される。

上述したステップＳ７〜Ｓ９の処理は、対象が異なるものの、ステップＳ４〜Ｓ６の処理と同様である。ただし、本実施形態では、一例として、データ量が少ない（疑似画像データのデータサイズが小さい、対象となる領域がより狭い）スリップサイン１０２についての疑似画像データＩｍｓと対応する基準データとの比較を、データ量が多い（疑似画像データのデータサイズが大きい、対象となる領域がより広い）トレッドパターン１０４についての疑似画像データＩｍｔと対応する基準データとの比較より先に実行している。よって、本実施形態によれば、一例としては、位相（差）を特定する処理をより迅速に実行することができる。また、スリップサイン１０２についての疑似画像データＩｍｓと対応する基準データとの比較では位相（差）を特定できなかった場合には、トレッドパターン１０４についての疑似画像データＩｍｔと対応する基準データとの比較によって位相（差）を特定できるため、位相（差）がより特定されやすくなる。

次に、制御部４０は、画像処理部４０ｄ（異常領域決定部４０ｄ７）として機能し、異常領域を決定する（ステップＳ１０）。このステップＳ１０では、画像処理部４０ｄは、上述したように、撮像された画像から得られた疑似画像データＩｍｖと、所定の記憶部（例えば、ＳＳＤ４３や、ＲＯＭ４１等）に記憶された基準となる疑似画像データとを比較して、各点の輝度値の差異を取得する。そして、画像処理部４０ｄは、輝度値の差異が所定の閾値と同じかあるいは超えている点（画素）の群（集合、かたまり、領域）の大きさが、所定数（画素数あるいは面積の閾値）と同じかあるいはより多かった場合に、当該領域を異常領域と決定する。なお、疑似画像データＩｍｖと基準となる疑似画像データとの比較は、輝度値によって二値化処理したデータ同士を比較してもよい。

次いで、制御部４０は、表示制御部４０ｅとして機能し、例えば、図９に示されるように、表示装置６の表示画面６ａに、疑似画像２００や、異常領域を示す画像２０１、位相を示す数値２０２等が表示されるよう、表示コントローラ４７ひいては表示装置６を制御する（ステップＳ１１）。

以上、説明したように、本実施形態では、一例として、撮像された画像から得られた二次元の疑似画像データＩｍｖにおける指標画像データ（疑似画像データＩｍｓ，Ｉｍｔ）と所定の記憶部に記憶された基準となる指標画像データとの比較により、二次元の疑似画像データの周方向（図１のＣ方向、第三の方向）に対応した方向での位相を特定する。よって、本実施形態によれば、一例としては、二次元の疑似画像データＩｍｖの全体を用いて位相を特定する場合に比べて、より迅速にあるいはより容易に位相を特定することができる。

例えばタイヤのような検査対象物１００を外観検査装置１にセットする際に、検査対象面１０１を高精度に位置合わせする作業を行うと、検査に手間がかかる、すなわち、単位時間あたりに検査できる検査対象物１００の数が減る場合がある。この点、本実施形態では、上記一例として、撮像された画像から得られた指標画像データ（疑似画像データＩｍｓ，Ｉｍｔ）と、基準となる指標画像データとを比較することで、撮像された画像から得られた疑似画像データＩｍｖと基準となる疑似画像データとの位相差（ずれ）を取得する。よって、本実施形態によれば、一例としては、検査対象物１００を外観検査装置１にセットする際の、位置合わせ作業（位置決め作業）の精度を低くできたり、位置決め作業を無くしたりすることができ、よって、一例としては、検査の手間や、検査に要する時間が減りやすい。

また、本実施形態では、一例として、二種類の指標画像データ（スリップサイン１０２に対応した疑似画像データＩｍｓ、およびトレッドパターン１０４に対応した疑似画像データＩｍｔ）について、基準となる指標画像データとの比較により、二次元の疑似画像データの周方向（図１のＣ方向、第三の方向）に対応した方向での位相を特定する。よって、一種類の指標画像データと基準となる指標画像データとの比較によって位相を特定する場合に比べて、位相がより特定されやすくなる。

また、本実施形態では、一例として、データ量の少ない指標画像データ（スリップサイン１０２に対応した疑似画像データＩｍｓ）と基準となる指標画像データとの比較による位相の特定を、データ量の多い指標画像データ（トレッドパターン１０４に対応した疑似画像データＩｍｔ）と基準となる指標画像データとの比較による位相の特定よりも、前に実行する。よって、本実施形態によれば、一例としては、位相（差）がより迅速に特定されやすい。

また、本実施形態では、一例として、画像処理部４０ｄ（指標画像データ特定部）は、各点での輝度値と所定の閾値との比較により指標画像データを決定する。よって、本実施形態によれば、一例としては、指標画像データを特定する演算が、より容易にあるいはより迅速に実行されやすい。

また、本実施形態では、一例として、検査対象物はタイヤであり、検査対象面はタイヤの外周面であり、第一の方向は外周面の幅方向であり、第三の方向は外周面の周方向であり、指標物はスリップサインである。また、本実施形態では、一例として、第二の指標物はトレッドパターンである。よって、本実施形態にかかる外観検査装置１を、タイヤの外周面の検査装置として実施することができる。

以上、本発明の実施形態を例示したが、上記実施形態はあくまで一例である。実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、組み合わせ、変更を行うことができる。また、実施形態の構成や形状は、部分的に他の構成や形状と入れ替えて実施することも可能である。また、各構成や形状等のスペック（構造や、種類、方向、角度、形状、大きさ、長さ、幅、厚さ、高さ、数、配置、位置、材質等）は、適宜に変更して実施することができる。例えば、タイヤや外周面以外の種々の物について、本発明を実施することができる。また、検査対象物や検査対象面の移動態様や、移動方法等も、種々に変更して実施することができる。また、例えば、第一の方向や、第二の方向、第三の方向も、種々に変更して実施することができる。

１…外観検査装置、１００…検査対象物、１０１…検査対象面、１０２…スリップサイン（指標物）、１０３…主溝、１０４…トレッドパターン（第二の指標物）、３…撮像部、４０ｄ…画像処理部、４０ｄ１…疑似画像データ生成部、４０ｄ４…第一の指標画像データ特定部、４０ｄ５…第二の疑似画像データ特定部、４０ｄ６…位相特定部、４０ｄ７…異常領域決定部、Ｉｍｖ…（二次元の）疑似画像データ、Ｉｍｓ…（第一の）指標画像データ、Ｉｍｔ…第二の指標画像データ、ＬＳ…ライトシート、Ｘ…第一の方向、Ｓ…第二の方向、Ｃ…第三の方向。

Claims (5)

1. ライトシートに照らされることで検査対象物の検査対象面に形成された第一の方向に沿った線状の光を前記ライトシートと交叉した第二の方向から撮像した画像を、前記第一の方向と直交しかつ前記検査対象面に沿った第三の方向に沿って順次取得する撮像部と、
   前記検査対象面の前記第一の方向ならびに前記第三の方向に離散化された各点に対応した前記線状の光の画像のずれに基づいて前記各点での輝度値を決定して二次元の疑似画像データを生成する疑似画像データ生成部と、
   前記二次元の疑似画像データから、前記検査対象面に前記第三の方向に沿って間隔をあけて設けられた複数の指標物に対応した指標画像データを得る指標画像データ特定部と、
   前記二次元の疑似画像データにおける前記指標画像データと基準となる指標画像データとの比較により、前記二次元の疑似画像データの前記第三の方向に対応した方向での位相を特定する位相特定部と、
   前記二次元の疑似画像データを画像処理して前記検査対象面での異常領域を決定する異常領域決定部と、
   前記二次元の疑似画像データから、前記検査対象面に前記第三の方向に沿って間隔をあけて設けられた前記指標物と異なる複数の第二の指標物に対応し、前記指標画像データの領域より広い領域の第二の指標画像データを得る第二の指標画像データ特定部と、を備え、
   前記位相特定部は、前記二次元の疑似画像データにおける前記指標画像データと前記基準となる指標画像データとの比較によって前記二次元の疑似画像データの前記第三の方向に対応した方向での位相が特定できない場合に、前記二次元の疑似画像データにおける前記第二の指標画像データと基準となる第二の指標画像データとの比較により、前記二次元の疑似画像データの前記第三の方向に対応した方向での位相を特定する、
   外観検査装置。
2. 前記指標画像データ特定部は、前記各点での輝度値と所定の閾値との比較により前記指標画像データを決定する、請求項１に記載の外観検査装置。
3. 検査対象物はタイヤであり、前記検査対象面はタイヤの外周面であり、前記第一の方向は前記外周面の幅方向であり、前記第三の方向は前記外周面の周方向であり、前記指標物はスリップサインである、請求項１または２に記載の外観検査装置。
4. 前記第二の指標物はトレッドパターンである、請求項３に記載の外観検査装置。
5. 外観検査装置を構成するコンピュータが、
   ライトシートに照らされることで検査対象物の検査対象面に形成された第一の方向に沿った線状の光を前記ライトシートと交叉した第二の方向から撮像した画像を、前記第一の方向と直交しかつ前記検査対象面に沿った第三の方向に沿って順次取得するステップと、
   前記検査対象面の前記第一の方向ならびに前記第三の方向に離散化された各点に対応した前記線状の光の画像のずれに基づいて前記各点での輝度値を決定して二次元の疑似画像データを生成するステップと、
   前記二次元の疑似画像データから、前記検査対象面に前記第三の方向に沿って間隔をあけて設けられた複数の指標物に対応した指標画像データを得るステップと、
   前記二次元の疑似画像データにおける前記指標画像データと基準となる指標画像データとの比較により、前記二次元の疑似画像データの前記第三の方向に対応した方向での位相を特定するステップと、
   前記二次元の疑似画像データを画像処理して前記検査対象面での異常領域を決定するステップと、
   前記二次元の疑似画像データから、前記検査対象面に前記第三の方向に沿って間隔をあけて設けられた前記指標物と異なる複数の第二の指標物に対応し、前記指標画像データの領域より広い領域の第二の指標画像データを得るステップと、
   前記二次元の疑似画像データにおける前記指標画像データと前記基準となる指標画像データとの比較によって前記二次元の疑似画像データの前記第三の方向に対応した方向での位相が特定できない場合に、前記二次元の疑似画像データにおける前記第二の指標画像データと基準となる第二の指標画像データとの比較により、前記二次元の疑似画像データの前記第三の方向に対応した方向での位相を特定するステップと、
   を実行する、外観検査方法。

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