JP6150991B2 - 電子ビーム照射装置 - Google Patents
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Description
(1)全ての電極に同時に4通りの電圧を印加し、移動量Xi,Yi(i=1,2,3,4)を測定する(図4(c)でV1〜V4の組み合わせ4通り)。
(2)Xi,Yiからxi,yiを計算する。
(3)電圧の調整量ΔVを求める。
(4)調整の有効性の確認を行う。調整後も1次ビームが軸ずれを起こす場合、上の手順を繰り返し、調整精度を向上する。
検出器に印加する電圧:V、
1次ビームの横方向の速度:v、
1次ビームの移動量:r
電極に電圧を印加しても、光軸z方向に1次電子の最終速度は変化しない。なぜならば、1次電子が電極の領域に入るときz方向に加速するが、出るときはその分減速するため、結局速度のz成分は変化しない。以下では電子の速度の横成分のみ考慮する。
(x1+x2+x3+x4),(y1+y2+y3+y4)
となる。一般的に、この移動量はゼロにならない。そこで、電極1から4のそれぞれに同時にV0+ΔV1,V0+ΔV2,V0+ΔV3,V0+ΔV4を印加した時の移動量を考える。
(p1x1+p2x2+p3x3+p4x4),(p1y1+p2y2+p3y3+p4y4)
となる。1次ビームが軸ずれを起こさないために、
p1x1+p2x2+p3x3+p4x4=0
p1y1+p2y2+p3y3+p4y4=0
となるようにΔViを調整すればよい。但し、ΔViの中で2つ固定して(ゼロにしてもよい)、残りの2つを調整する。以下、ΔV1とΔV3を固定にする(つまり、p1とp3が既知数である)場合を示す。解くべき方程式は、
p2x2+p4x4=−(p1x1+p3x3)
p2y2+p4y4=−(p1y1+p3y3)
となる。
ここでは具体的に以下の4通りを印加する。kiを1付近の係数だとすると、
第2組:V0,k1 2V0,V0,V0 (視野移動X2,Y2をSEM画像から測定)
第3組:V0,V0,k2 2V0,V0 (視野移動X3,Y3をSEM画像から測定)
第4組:V0,V0,V0,k3 2V0 (視野移動X4,Y4をSEM画像から測定)。
この行列式の解は
102 電子ビーム
103 集束レンズ
104 偏向器
105 対物レンズ
106 試料
107 走査領域
108 BSE検出器
109 SE検出器
Claims (5)
- 電子源から放出される電子ビームを走査する走査偏向器を備えた電子ビーム照射装置において、
複数の後方散乱電子検出器と、当該複数の後方散乱電子検出器のそれぞれに電圧を印加する検出器用電源と、前記複数の後方散乱電子検出器に電圧を印加したときの像ずれに基づいて、前記検出器用電源の印加電圧を調整する制御装置を備え、当該制御装置は、前記複数の後方散乱電子検出器に、少なくとも1つの後方散乱電子検出器への印加電圧条件が異なると共に、少なくとも前記後方散乱電子検出器の数と同数の複数の印加電圧の組み合わせを、前記複数の後方散乱電子検出器に印加したときに得られる複数の視野移動量を求め、当該複数の視野移動量から前記複数の後方散乱電子検出器のそれぞれに対する印加電圧を演算することを特徴とする電子ビーム照射装置。 - 請求項1において、
前記複数の後方散乱電子検出器は、電子ビームの理想光軸について、軸対称に配置されていることを特徴とする電子ビーム照射装置。 - 請求項1において、
前記制御装置は、前記像ずれを抑制するように前記電源を制御することを特徴とする電子ビーム照射装置。 - 請求項1において、
前記後方散乱電子検出器は、電圧が印加されるシンチレーターを備えたことを特徴とする電子ビーム照射装置。 - 請求項1において、
前記制御装置は、前記複数の後方散乱電子検出器への印加電圧の複数の組み合わせを記憶するメモリを備え、当該異なる組み合わせの電圧を印加したときに得られる複数の像ずれに基づいて、前記検出器用電源による印加電源を調整することを特徴とする電子ビーム照射装置。
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