JP6147016B2 - 組立機 - Google Patents

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Description

本発明は、供給位置で取得した部品を組立位置まで移送して、当該部品を被組立体に組み付ける組立機に関するものである。
組立機は、回路基板に複数の電子部品を実装して電子回路製品を生産する部品実装機や、パワーモジュールなどを組み立てる製造設備として用いられる。例えば、上記の部品実装機は、部品供給位置において吸着ノズルにより電子部品を吸着し、この電子部品を部品組立位置(回路基板上の所定の座標位置)に実装する構成となっている。ここで、部品供給位置で供給される複数の電子部品は、吸着ノズルに対して吸着される部位や角度が個々に異なる。そのため、吸着した電子部品を回路基板に単に移載したのでは、吸着ノズルによる電子部品の保持状態が影響することになる。
そこで、例えば特許文献1,2には、部品カメラを用いて認識した吸着ノズルによる電子部品の保持状態を実装制御に反映させた構成が開示されている。具体的には、特許文献1では、部品供給位置から電子部品を部品実装位置まで移送する際に、部品カメラにより電子部品を下方から撮像し、取得した画像データに基づいて吸着ノズルに対する電子部品の位置および角度を計測する構成となっている。また、特許文献2では、吸着ノズルを支持するヘッド内において吸着された電子部品を側方から撮像し、電子部品の高さを計測する構成となっている。そして、部品実装機は、認識した電子部品の保持状態に応じて吸着ノズルの位置や角度などを補正することで、実装精度の向上を図っている。
特開2010−199630号公報 特開2012−235056号公報
しかしながら、特許文献1では、電子部品を移送する際に、部品カメラの上方を経由する必要がある。そのため、移送経路の延長に伴うサイクルタイムの増加が懸念される。また、特許文献2では、例えば画像処理により投影された電子部品の外形全体から部品高さを計測する。そのため、電子部品におけるリード部を除いた本体部の高さを計測する場合には、マスク処理などにより本体部以外を除外した画像処理が必要となる。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、従来とは異なる構成により、部品の立体形状を認識して組立制御の精度向上を図ることが可能な組立機を提供することを目的とする。
本発明に係る組立機は、部品供給位置に供給された部品を取得して保持する保持部材と、1または複数の前記保持部材を昇降可能に支持し、前記部品供給位置から被組立体が位置決めされた部品組立位置まで移動可能に設けられた移動ヘッドと、前記移動ヘッドの内部に配置され、上昇した状態の前記保持部材に保持された前記部品を対象物として、前記対象物に予め定められたパターン光を投影するプロジェクタと、前記移動ヘッドの内部に前記プロジェクタから規定距離だけ離間して配置され、前記対象物に投影された前記パターン光を撮像するカメラと、前記カメラの撮像により取得した複数の画像データに基づいて前記対象物の立体形状を計測する形状計測部と、前記形状計測部による計測結果に基づいて、前記保持部材の昇降および前記移動ヘッドの移動を制御する制御部と、を備え、前記移動ヘッドは、回転可能なホルダ部材により複数の前記保持部材を支持し、当該ホルダ部材の回転により前記移動ヘッドにおいて前記保持部材を昇降可能とする昇降位置に複数の前記保持部材を順次割出し可能に構成され、前記プロジェクタおよび前記カメラにより構成される計測ユニットは、前記昇降位置に所定の前記保持部材が割出されることによって前記昇降位置と異なる位置に割出された他の前記保持部材に保持された部品を前記対象物とし、前記移動ヘッドには、複数の前記計測ユニットが設けられ、複数の前記計測ユニットの各前記プロジェクタは、互いに異なる前記パターン光を対応する前記対象物に投影する。

このような構成によると、形状計測部は、プロジェクタとカメラを用いた能動型計測のアクティブステレオ法により、保持部材が保持している部品の立体形状を計測することができる。これにより、制御部は、計測結果である部品の立体形状から保持部材に対する部品の位置および角度を認識することができる。また、制御部は、部品の立体形状から部品の全体または一部の高さを認識することができる。そして、制御部が認識した部品の立体形状を勘案して保持部材の昇降および移動ヘッドの移動を制御することにより、組立機は、組立制御の精度向上を図ることが可能となる。
第一実施形態における部品実装機を構成する組立機を示す全体図である。 部品装着ヘッドの一部を拡大した正面図である。 図2のA方向矢視図である。 吸着ノズルと計測ユニットの位置関係を示す模式図である。 位相の異なるパターン光を示す図である。 制御装置を示すブロック図である。 部品実装機による実装制御を示すアクティビティ図である。
以下、本発明の組立機を具体化した実施形態について図面を参照して説明する。実施形態においては、組立機が部品実装機を構成する場合を例示する。部品実装機は、例えば、集積回路の製造工程において、回路基板に複数の電子部品を実装する装置である。回路基板は、本発明の「被組立体」に相当する。この回路基板は、例えばクリームハンダ印刷機により電子部品の装着位置にハンダを塗布され、複数の部品実装機を順に搬送されて電子部品を装着される。その後に、電子部品を装着された回路基板は、リフロー炉に搬送されてハンダ付けされることにより集積回路を構成する。
<実施形態>
(部品実装機の全体構成)
部品実装機1(本発明の「組立機」に相当する)は、基板搬送装置10と、部品供給装置20と、部品移載装置30と、複数の計測ユニット61〜68と、基板カメラ69と、制御装置70とを備えて構成される。基板搬送装置10、部品供給装置20、および部品移載装置30は、部品実装機1の基台2に設けられ、制御装置70により制御される。また、図1に示すように、部品実装機1の水平幅方向(図1の左上から右下に向かう方向)をX軸方向、部品実装機1の水平長手方向(図1の右上から左下に向かう方向)をY軸方向、鉛直高さ方向(図1の上下方向)をZ軸方向とする。
基板搬送装置10は、回路基板Bを部品実装機1のX軸方向に搬送する装置であり、回路基板Bを所定位置に位置決めして保持する基板保持装置を兼ねる。この基板搬送装置10は、部品実装機1のY軸方向に並設された第一搬送機構11と第二搬送機構12とにより構成されたダブルコンベアタイプの装置である。第一搬送機構11は、一対のガイドレール11a,11bと、図示しないコンベアベルトなどにより構成されている。
第一搬送機構11の一対のガイドレール11a,11bは、基台2の上部にX軸方向に平行に配置され、コンベアベルトに載置されて搬送される回路基板Bを案内する。また、第一搬送機構11には、所定位置まで搬送された回路基板Bを基台2側から押し上げてクランプすることで、回路基板Bを位置決めするクランプ装置が設けられている。第二搬送機構12は、第一搬送機構11と同様に構成されているため、詳細な説明を省略する。
部品供給装置20は、回路基板Bに実装される電子部品を供給する装置である。部品供給装置20は、部品実装機1のY軸方向の前部側(図1の左前側)に配置されている。この部品供給装置20は、本実施形態において、複数のカセット式のフィーダ21を用いたフィーダ方式としている。フィーダ21は、基台2に対して着脱可能に取り付けられるフィーダ本体部21aとフィーダ本体部21aの後端側に設けられたリール収容部21bとを有する。フィーダ21は、リール収容部21bにより部品包装テープが巻回された供給リール22を保持している。
上記の部品包装テープは、電子部品が所定ピッチで収納されたキャリアテープと、このキャリアテープの上面に接着されて電子部品を覆うトップテープとにより構成される。フィーダ21は、図示しないピッチ送り機構により供給リール22から引き出された部品包装テープをピッチ送りする。そして、フィーダ21は、キャリアテープからトップテープを剥離して電子部品を露出させている。これにより、フィーダ21は、フィーダ本体部21aの前端側に位置する部品供給位置Psにおいて、部品移載装置30が電子部品を吸着可能となるように電子部品の供給を行っている。
部品移載装置30は、電子部品を部品供給位置Psから回路基板Bの装着位置Pa(本発明の「部品組立位置」に相当する)に移載する装置である。本実施形態において、部品移載装置30は、基板搬送装置10および部品供給装置20の上方に配置された直交座標型としている。この部品移載装置30は、Y軸方向に延在する一対のY軸レール31a,31bにY軸方向に移動可能にY軸移動台32が設けられている。Y軸移動台32は、ボールねじ機構を介してY軸モータ33の動作により制御される。また、Y軸移動台32には、X軸移動台34がX軸方向に移動可能に設けられている。X軸移動台34は、図示しないボールねじ機構を介してX軸モータ35の動作により制御される。
また、部品移載装置30のX軸移動台34には、部品装着ヘッド40(本発明の「移動ヘッド」に相当する)が取り付けられている。この部品装着ヘッド40は、Z軸と平行なR軸回りに回転可能なノズルホルダ41により複数の吸着ノズル42を昇降可能に支持する。このノズルホルダ41および吸着ノズル42は、それぞれ本発明の「ホルダ部材」および「保持部材」に相当する。また、部品装着ヘッド40は、フレーム43をX軸移動台34に固定され、当該フレームの上部にR軸モータ44およびZ軸モータ45を支持している。
より詳細には、部品装着ヘッド40のノズルホルダ41は、全体形状としては円柱状に形成され、図2に示すように、インデックス軸46を介してR軸モータ44の出力軸に連結されている。これにより、ノズルホルダ41は、R軸モータ44およびインデックス軸46によって回転制御可能に構成されている。また、ノズルホルダ41は、図3に示すように、R軸と同心の円周上において周方向に等間隔に複数(本実施形態では12本)のノズルスピンドル47をZ軸方向に摺動可能に支持している。各ノズルスピンドル47の下端部には、図2に示すように、吸着ノズル42が交換可能にそれぞれ取り付けられている。このように、ノズルホルダ41は、各ノズルスピンドル47を介して各吸着ノズル42を支持している。
また、ノズルスピンドル47の上端部にはノズルギヤ47aが形成されている。このノズルギヤ47aは、インデックス軸46の外周側に相対回転可能に支持されたθ軸ギヤ51とZ軸方向に摺動可能に噛合している。θ軸ギヤ51は、Z軸方向に所定長さの歯幅を有し、図示しないθ軸モータと変速機構52を介して連結され、θ軸モータにより回転駆動する。このような構成により、θ軸モータが回転すると、変速機構52およびθ軸ギヤ51を介して、ノズルホルダ41に支持された全てのノズルスピンドル47が回転する。よって、各吸着ノズル42は、θ軸モータの回転によりノズルホルダ41に対して自転し、θ軸モータ等によって回転制御可能に構成されている。
また、ノズルスピンドル47の外周側であって、ノズルホルダ41の上面とノズルギヤ47aの下面との間には圧縮スプリング48が設けられている。ノズルスピンドル47は、この圧縮スプリング48によりノズルホルダ41に対して上方に付勢され、下端部に形成された大径部47bがノズルホルダ41の下面に当接することで上方への移動を規制されている。つまり、ノズルスピンドル47の大径部47bがノズルホルダ41に当接している状態は、ノズルスピンドル47に取り付けられた吸着ノズル42が最も上昇した状態にある。
複数のノズルスピンドル47のうち後述する昇降位置H1に割出されたノズルスピンドル47の上端面には、ノズルレバー53が当接している。ノズルレバー53は、Z軸モータ45の出力軸に図示しないボールねじ機構を介して連結され、Z軸モータ45の回転駆動によりZ軸方向に移動制御される。このような構成により、Z軸モータ45が回転すると、ノズルレバー53がノズルスピンドル47を押圧し、ノズルスピンドル47が圧縮スプリング48の弾性力に抗してZ軸方向にノズルスピンドル47を下降させる。
このように、Z軸モータ45や圧縮スプリング48等により昇降機構が構成され、吸着ノズル42は、ノズルスピンドル47のZ軸方向移動に伴って昇降するようになっている。また、各吸着ノズル42には、ノズルスピンドル47を介して図示しない吸着ノズル駆動装置から負圧が供給される。これにより、各吸着ノズル42は、その先端部で部品Tを吸着可能としている。
ブラケット54は、全体形状としては有底筒状に形成され、フレーム43に固定されている。このブラケット54は、ノズルホルダ41の下端部および上昇した状態にある各吸着ノズル42を覆うことにより環境光をある程度遮断している。また、ブラケット54の底部のうち昇降位置H1に対応する位置には、昇降する吸着ノズル42が通過可能となるように貫通孔54aが形成されている。
複数の計測ユニット61〜68は、後述する制御装置70の形状計測部72による部品Tの立体形状の計測に用いられる画像データを取得するユニットである。各計測ユニット61〜68は、外部で予め組み付けられてユニット化されており、部品装着ヘッド40のブラケット54の底部にそれぞれ固定されることにより、部品装着ヘッド40の内部に配置される構成となっている。具体的には、図3に示すように、ノズルホルダ41により割出された各吸着ノズル42のうち昇降位置H1と隣り合う割出し位置H2から順に割出し位置H9に割出されている計8個の各吸着ノズル42に対応する位置に、計測ユニット61〜68が順に配置されている。
計測ユニット61(62〜68)は、図4に示すように、プロジェクタ61a(62a〜68a)および計測カメラ61b(62b〜68b)により構成される。また、各計測ユニット61〜68は、本実施形態においては、ブラケット54における配置位置および投影するパターン光が異なるのみで、基本的な構成は実質的に同一である。従って、以下では割出し位置H2に対応する位置に配置された計測ユニット61について詳細な構成について説明する。
プロジェクタ61aは、立体形状の計測対象となる対象物に予め定められたパターン光を投影する装置である。ここで、計測ユニット61は、部品装着ヘッド40の内部において昇降位置H1と隣り合う割出し位置H2に対応した位置に配置されている。つまり、プロジェクタ61aは、割出し位置H2において上昇した状態の吸着ノズル42に保持された部品Tを対象物とする。このプロジェクタ61aは、光源の光をスリットまたは透過型の液晶などにより所定のパターン光を生成し、投影レンズにより対象物に投影している。本実施形態において、プロジェクタ61aにより投影されるパターン光は、図5に示すように、輝度が正弦波状に変化する縞状からなる。
計測カメラ61bは、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子を有するデジタルカメラである。計測カメラ61bは、図4に示すように、部品装着ヘッド40の内部にプロジェクタ61aから規定距離Dpだけパターン光の配列方向(図5の上下方向)に離間して配置され、対象物に投影されたパターン光を撮像する。計測カメラ61bは、通信可能に接続された制御装置70による制御信号に基づいて撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを制御装置70に送出する。
割出し位置H3〜H9に対応して配置された他の計測ユニット62〜68は、割出し位置H2に対応して配置された計測ユニット61と実質的に同一の構成であるが、対象物に投影するパターン光が相違する。具体的には、図5の上段に示すように、プロジェクタ61aが投影するパターン光を基準として、プロジェクタ62a〜64aは、周波数Aの周期の1/4にあたる(1/2)πずつ位相を縞状の配列方向(図5の上下方向)にシフトさせたパターン光を投影する。また、プロジェクタ65a〜68aは、図5の下段に示すように、プロジェクタ61aの周波数Aとは異なる周波数Bのパターン光を投影する。そして、プロジェクタ65aが投影するパターン光を基準として、プロジェクタ66a〜68aは、(1/2)πずつ位相を縞状の配列方向(図5の上下方向)にシフトさせたパターン光を投影する。
基板カメラ69は、計測ユニット61の計測カメラ61bと同様に、CCDやCMOS等の撮像素子を有するデジタルカメラである。基板カメラ69は、通信可能に接続された制御装置70による制御信号に基づいて撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを制御装置70に送出する。また、基板カメラ69は、光軸がZ軸方向となるようにX軸移動台34に固定され、回路基板Bを撮像可能に構成されている。より詳細には、基板カメラ69は、基板搬送装置10によって所定位置に搬入された回路基板Bに設けられた基板マーク(フィデューシャルマークとも称される)を撮像する。
制御装置70は、主として、CPUや各種記憶装置、制御回路により構成され、計測カメラ61b〜68bおよび基板カメラ69の撮像により取得した画像データに基づいて部品装着ヘッド40の動作を制御する。この制御装置70は、図6に示すように、実装制御部71、形状計測部72、記憶装置73に、バスを介して入出力インターフェイス74が接続されている。入出力インターフェイス74には、モータ制御回路75および撮像制御回路76が接続されている。
実装制御部71は、モータ制御回路75を介して部品装着ヘッド40に支持された吸着ノズル42の昇降や吸着ノズル駆動装置の動作を制御する。より詳細には、実装制御部71は、部品実装機1に複数設けられた各種センサから出力される情報や、各種の認識処理の結果を入力する。そして、実装制御部71は、記憶装置73に記憶されている制御プログラム、各種センサによる情報、後述する形状計測部72による計測結果などに基づいて、モータ制御回路75に制御信号を送出することで各種制御を行う。
形状計測部72は、各計測カメラ61bの撮像により取得した複数の画像データに基づいて対象物の立体形状を計測する。本実施形態において、形状計測部72は、図5に示される各パターン光にそれぞれ対応する複数の画像データを用いて、位相シフト法により対象物の立体形状を計測する構成としている。また、位相シフト法では、対象物に投影する位相の異なるパターン光については少なくとも3種類が必要とされ、1周期を4分割して(1/2)πずつシフトさせる方法が一般に多く用いられる。本実施形態では、対象物とする部品のサイズが小さく、また部品のリード部などの凹凸が不連続となることなどに鑑みて、図5に示すように、異なる周波数A,Bからなる2組のパターン光を用いる構成としている。
そして、形状計測部72は、先ず、各組における4種類のパターン光に対応した画像データに基づいて画素ごとの輝度を算出する。次に、形状計測部72は、算出された輝度に依存するパターン光の投影角度、規定距離Dp、計測カメラ61b〜68bの焦点距離に基づいて、各画素に対応する計測対象の各部位までの距離を各組についてそれぞれ算出する。そして、形状計測部72は、各組で算出された距離の値で補間し合うことにより、対象物の各部位までの距離を算出して、結果として対象物の立体形状を取得している。
記憶装置73は、ハードディスク装置などの光学ドライブ装置、またはフラッシュメモリなどにより構成される。この記憶装置73には、部品実装機1を動作させるための制御プログラム、バスや通信ケーブルを介して計測カメラ61b〜68bおよび基板カメラ69から制御装置70に転送された画像データ、各種制御における画像処理の一時データなどが記憶される。入出力インターフェイス74は、CPUや記憶装置73と各制御回路75,76との間に介在し、データ形式の変換や信号強度を調整する。
モータ制御回路75は、実装制御部71による制御信号に基づいて、Y軸モータ33、X軸モータ35、Z軸モータ45、およびθ軸モータを制御する。これにより、部品装着ヘッド40が各軸方向に位置決めされるとともに、所定の吸着ノズル42が昇降位置H1に割出されるとともに、当該吸着ノズル42が所定角度となるように制御される。撮像制御回路76は、制御装置70のCPUまたはモータ制御回路75による撮像の制御信号に基づいて、各計測カメラ61b〜68bおよび基板カメラ69による撮像を制御する。また、撮像制御回路76は、各計測カメラ61b〜68bおよび基板カメラ69の撮像による画像データを取得して、入出力インターフェイス74を介して記憶装置73に記憶させる。
(部品実装機における実装制御)
部品実装機1における実装制御について、図7を参照して説明する。この実装制御は、複数の吸着ノズル42に順次部品を吸着させる吸着サイクルと、部品供給位置Psから装着位置Paまで部品装着ヘッド40を移動させる工程と、部品を回路基板に順次装着する装着サイクルとを繰り返す制御である。そして、この実装制御では、実装精度の向上を図るために、各吸着ノズル42による部品の吸着状態に対応して吸着ノズル42の移動を制御している。そのため、制御装置70は、図7に示すように、吸着サイクルなどと並行して、部品の立体形状の計測処理、および当該処理に必要となる画像データを取得する撮像サイクルを実行する構成としている。
より詳細には、吸着サイクルにおいては、制御装置70は、先ずノズルホルダ41を回転させて部品を吸着していない特定の吸着ノズル42を昇降位置H1に割出す(ステップ11(以下、「ステップ」を「S」と表記する))。そして、制御装置70は、部品の吸着処理を実行する(S12)。具体的には、昇降位置H1に割出された吸着ノズル42を下降させ、吸着ノズル42の先端部に部品供給装置20により共有された部品を吸着させる。その後に、吸着ノズル42を上昇端まで上昇させる。
このとき、制御装置70は、吸着ノズル42による吸着処理(S12)と並行して、他の吸着ノズル42に既に保持された部品の撮像処理を行う。詳細には、制御装置70は、先ず、昇降位置H1に所定の吸着ノズル42が割出されることによって昇降位置H1とは異なる位置(割出し位置H2〜H9)に割出された他の吸着ノズル42について、既に吸着処理により部品を保持しているか否かを判定する(S21)。そして、吸着ノズル42が部品を保持している場合には(S21:Yes)、部品の撮像処理を行う(S22)。一方で、吸着ノズル42が部品を保持していない場合には(S21:No)、待機した状態を維持する。
部品の撮像処理(S22)では、部品を保持した吸着ノズル42の割出し位置H2〜H9に対応して配置された計測ユニット61〜68に制御信号が送出される。例えば、昇降位置H1と隣り合う割出し位置H2に対応して配置された計測ユニット61が部品を保持している場合には、先ず、プロジェクタ61aが図5の上段最左に示すようなパターン光を対象物である部品に投影する。この状態で、計測ユニット61の計測カメラ61bが部品を撮像することにより画像データが取得され、計測カメラ61bから制御装置70に当該画像データが送出される。
その後に、制御装置70は、実装制御において必要とする吸着ノズル42の全てに部品が吸着されたかにより今回の吸着サイクルが終了したか否かを判定する(S13)。吸着サイクルが終了していない場合には(S13:No)、再び所定の吸着ノズル42を昇降位置H1に割出し(S11)、および部品の吸着処理(S12)を繰り返す。このとき、吸着ノズル42が割出し位置H2〜H9に順次割出されることになり、上記と同様に部品の撮像処理が行われる。
このような動作を繰り返すことにより吸着サイクルが終了すると(S13:Yes)、制御装置70は、部品装着ヘッド40を部品供給位置Psから装着位置Paまで移動させる(S14)。このとき、制御装置70は、当該移動と並行して、各吸着ノズル42に保持された部品の撮像処理を行う。ここでは、上記のS11,S22と同様に、各吸着ノズル42を割出し位置H2〜H9の何れかに割出し(S23)、部品の撮像処理を行う(S24)。そして、部品を吸着した全ての吸着ノズル42について、S22またはS24の撮像処理により8箇所の割出し位置H2〜H9で撮像され、撮像サイクルが終了したかを判定する(S25)。
つまり、本実施形態では、12本の吸着ノズル42の全てに部品を吸着した場合には、1本の吸着ノズルにつき8箇所(H2〜H9)での撮像により8枚の画像データが取得され、全体として96枚(8枚×12)の画像データが取得される。全ての画像データが取得されていない場合には(S25:No)、S23およびS24を繰り返す。一方で、全ての画像データが取得された場合には(S25:Yes)、立体形状の計測処理に移行する(S26)。
ここで、位相シフト法などのアクティブステレオ法を用いた立体形状の計測処理においては、異なるパターン光を投影する際に計測の対象物の位置や角度が変化すると誤差が生じる。本実施形態では、上述のように異なるパターン光を別々の計測ユニット61〜68により投影し、撮像を行う構成としている。よって、上記のような誤差を抑制するためには、移動する部品が計測ユニット61〜68に対して一定の姿勢を維持する必要がある。これに対して、本構成のような部品装着ヘッド40では、吸着ノズル42を割出す(S11,S23)ためにノズルホルダ41を回転させると、各吸着ノズル42は、ノズルギヤ47aおよびθ軸ギヤ51の歯数差とR軸モータ44の回転量に応じた分だけ自転する。これにより、計測ユニット61〜68に対する部品の角度が変化するおそれがある。
そこで、制御装置70は、各割出し位置H2〜H9におけるノズルホルダ41に対する吸着ノズル42の回転角度が一定となるように、θ軸モータとR軸モータ44の回転駆動を同期させた制御を行う。つまり、ノズルホルダ41がR軸回りに角度αだけ回転された場合には、吸着ノズル42も同方向に角度(α+2nπ:nは0以上の整数)だけ自転するように、R軸モータに同期してθ軸モータが駆動制御される。このような同期制御により、吸着ノズル42の割出しにより部品がR軸回りに公転しても、計測ユニット61〜68に対しては常に同一の姿勢が維持される。
続いて、形状計測部72は、取得した画像データに基づいて各吸着ノズル42に保持された各部品の立体形状を計測する(S26)。より詳細には、形状計測部72は、一の部品に対する縞状の配列方向の異なる2組計8枚の画像データを用いて、位相シフト法により各組で部品の各部位(画素に対応する)までの距離を算出する。そして、算出された部品の各部位までの距離に基づいて部品の立体形状を取得する。これを本実施形態では、最大で12個の部品について計測を行う。
そして、制御装置70の実装制御部71は、形状計測部72による計測結果、即ち各部品の立体形状に基づいて、当該部品の実装処理を行う(S15)。より詳細には、実装制御部71は、部品の立体形状に基づいて、部品の有無や、吸着ノズル42に対する部品の位置および角度を認識する。また、実装制御部71は、必要に応じて部品の全体または一部の高さを認識する。そして、実装制御部71は、認識した部品の位置等と、基板カメラ69の撮像による画像データを画像処理して認識した基板マークの位置に基づいて、部品装着ヘッド40の移動および吸着ノズル42の昇降を制御して、当該部品を回路基板上に装着する。
さらに、制御装置70は、吸着サイクル(S11〜S13)と同様に、昇降位置H1への吸着ノズル42の割出しと装着動作を繰り返して、複数の吸着ノズル42に吸着されていた部品を回路基板に順次装着する装着サイクルを実行する。このように、部品実装機1は、装着サイクルが終了した後に、制御プログラムに従って再び部品装着ヘッド40を部品供給位置Psまで戻し、各サイクル(S11〜S16,S21〜S26)を繰り返すことにより部品の実装制御を行う構成となっている。
なお、上述した実装制御において、立体形状の計測処理(S26)は、部品装着ヘッド40の移動中に行うものとしている。これに対して、例えば、吸着サイクル(S11〜S13)と並行した部品の撮像処理(S22)により一の部品について同組4枚または2組8枚の画像データが取得された際には、S26における立体形状の計測処理に先行して、吸着サイクル(S11〜S13)と並行に当該部品の立体形状の計測処理を実行してもよい。さらに、立体形状の計測処理は、計測対象の部品が装着されるまでに終了していればよいことから、装着サイクル(S15)と並行に実行されるものとしてもよい。
(本実施形態の構成による効果)
上述した部品実装機1によると、制御装置70の形状計測部72は、能動型計測のアクティブステレオ法により、吸着ノズル42が保持している部品の立体形状を計測することができる。これにより、実装制御部71は、計測結果である部品の立体形状から吸着ノズル42に対する部品のサイズ、位置および角度を認識することができる。また、実装制御部71は、部品の立体形状から部品の全体または一部の高さを認識することができる。そして、実装制御部71が認識した部品の立体形状を勘案して吸着ノズル42の昇降および部品装着ヘッド40の移動を制御することにより、部品実装機1は、実装制御の精度向上を図ることが可能となる。
また、形状計測部72は、アクティブステレオ法のうちパターン光に正弦波パターンを用いた位相シフト法をより対象物の立体形状を計測するものとした。これにより、アクティブステレオ法における他の方法と比較して、少ない画像データにより広範囲に亘り対象物の立体形状を計測することが可能となる。従って、立体形状の計測に要する時間を短縮できるとともに、部品の細部を認識することができる。
計測ユニット61〜68は、部品装着ヘッド40内において昇降位置H1と異なる位置に割出される吸着ノズル42に対応した位置(割出し位置H2〜H9)に設けられている。そして、計測ユニット61〜68は、当該吸着ノズル42に保持された部品を対象物として、プロジェクタ61a〜68aがパターン光を投影し、計測カメラ61b〜68bが投影されたパターン光を撮像する構成となっている。よって、計測ユニット61〜68は、昇降位置H1にある吸着ノズル42が部品の取得や装着のために動作している間にも、立体形状の計測に用いられる画像データを取得するための撮像を行うことができる。従って、実装制御全体に要する時間を短縮して、実装制御の効率化を図ることができる。
ここで、アクティブステレオ法においては、三角測量に基づく計測方法ため、プロジェクタ61aと計測カメラ61bの設置間隔が既知であることが前提とされる。つまり、プロジェクタ61aと計測カメラ61bを部品実装機1に配置する際には、両部材61a,61bが規定距離Dpだけ離間して配置されるように調整されることが求められる。これに対して、計測ユニット61がプロジェクタ61aおよび計測カメラ61bをユニット化して構成されることにより、両部材61a,61bの距離や設置角度を予め調整することができる。よって、部品実装機1への設置作業の負担を軽減することができる。
また、アクティブステレオ法においては、画像処理を行うために、部品に異なる複数のパターン光をそれぞれ投影した状態で撮像して取得された画像データが用いられる。具体的には、位相シフト法ではパターン光の位相が異なる。そのため、従来、プロジェクタには、異なるパターン光を投影するために、例えばスリットの駆動機構や位置制御用のセンサなどを必要としていた。
これに対して、本実施形態の部品実装機1は、部品装着ヘッド40がノズルホルダ41の回転により複数の吸着ノズル42から特定の吸着ノズル42の位置を割出すことを利用して、部品装着ヘッド40内における所定の割出し位置H2〜H9で互いに異なるパターン光を投影した撮像を行うものとしている。これにより、各割出し位置H2〜H9での撮像回数を低減することができるので、複数の画像データを取得するための撮像に要する時間を短縮することができる。また、1台のプロジェクタ61a〜68aが1種類のパターン光を投影する構成とすることで、スリットの駆動機構や位置制御用のセンサなどが不要となり、構成を簡易にして装置のコストを低減できる。
本実施形態において、組立機が部品実装機1を構成するものとした。ここで、部品実装機1では、実装制御(組立制御)の精度向上が望まれ、部品サイズや耐衝撃性などが異なる部品種に対応するために、吸着ノズル42による部品の吸着状態をより正確に認識する必要性がある。そこで、アクティブステレオ法を用いた立体形状の計測処理を部品装着ヘッド40に設けられた計測ユニット61〜68を用いて行う構成を部品実装機1に適用することで、部品のサイズおよび吸着状態をより確実に認識することができる。そして、この計測結果に基づいて実装制御を行うことで、装着位置Paへの装着をより高精度に行うことができ、また部品の耐衝撃性に応じた吸着ノズル42の昇降速度の制御が可能となる。
<実施形態の変形態様>
(吸着ノズル検査への応用)
本実施形態においては、制御装置70の形状計測部72は、吸着ノズル42に保持された部品を対象物として、当該対象物の立体形状を計測するものとした。これに対して、形状計測部72は、吸着ノズルを対象物としてもよい。詳細には、例えば、4台の計測ユニット61〜64を用いて、各プロジェクタ61a〜64aにより上昇した状態にあり且つ部品を保持していない吸着ノズルにパターン光を投影する。そして、各計測カメラ61b〜64bが投影されたパターン光を撮像し、形状計測部72は、各計測カメラ61b〜64bの撮像により取得した複数の画像データに基づいて吸着ノズル42の立体形状を計測する。当該計測の方法については、本実施形態で対象物を部品とした場合と同様の方法とすることができる。
そして、実装制御部71は、形状計測部72の計測結果に基づいて、吸着ノズル42の先端部の状態を検査する。より具体的には、実装制御部71は、検査結果により、吸着ノズル42の欠けや部品の持ち帰りの有無、吸着ノズル42の洗浄の要否などを認識することができる。これにより、部品実装機1は、実装制御のリカバリ処理や吸着ノズル42の交換等を行うことにより、良好な実装環境を維持することができる。また、このように部品の立体形状を計測するための計測ユニット61〜64をノズル検査に兼用とすることができるので装置のコストを低減できる。
(ディップ検査への応用)
形状計測部72が立体形状を計測する対象物は、吸着ノズル42の他に、接合材料を転写された部品としてもよい。ここで、部品を回路基板に接合するために、両部材の間に接合材料としてハンダが塗布される。ハンダを塗布する方法としては、上述のようなクリームハンダ印刷機などにより回路基板上の装着位置にハンダを印刷する他に、部品実装機に設けられたディップ装置のハンダ槽に吸着ノズル42に保持された部品を浸漬(ディップ)させることで部品にハンダを転写する方法がある。
このような場合において、部品にハンダが適切に転写されたかの検査を要することがある。従来では、部品カメラなどにより下方から撮像して、撮像により取得した画像データを画像処理してディップ検査をしていた。これに対して、ハンダを転写された部品を対象物として立体形状を計測し、本実施形態で例示した構成をディップ検査に用いてもよい。この立体形状の計測については、部品または吸着ノズルの立体形状の計測と実質的に同様であるため詳細な説明を省略する。
このような構成によると実装制御部71は、部品の立体形状に基づいて接合材料の状態を検査し、この検査結果に応じた実装制御を行うことができる。具体的には、実装制御部71は、検査結果により、部品に転写された接合材料の分量や位置などが許容範囲にあるか否かを認識することができる。また、部品の立体形状を計測するためのプロジェクタ61a〜68aおよび計測カメラ61b〜68bをノズル検査に兼用とすることができるので装置のコストを低減できる。
(その他)
本実施形態においては、部品実装機1の制御装置70は、プロジェクタとカメラを用いた能動型計測のアクティブステレオ法のうち位相シフト法により対象物の立体形状を計測するものとした。アクティブステレオ法としては、位相シフト法の他にスポット光投影法やスリット光投影法、交換コード化法などが知られ、これらの方法を用いた構成としてもよい。
何れのアクティブステレオ法においても、部品に異なる複数のパターン光をそれぞれ投影した状態で撮像して取得された画像データが用いられる。具体的には、位相シフト法では上述のようにパターン光の位相が異なり、空間コード化法ではパターン光の明暗のピッチが異なり、スポット光投影法およびスリット光投影法では対象物に対するパターン光の投影位置が異なる。そのため、本実施形態で例示したように、異なるパターン光を別々のプロジェクタから投影する構成についても同様に適用することが可能である。
また、部品装着ヘッド40は、回転可能なノズルホルダ41により複数の吸着ノズル42を保持するものとし、昇降位置H1と異なる割出し位置H2〜H9に対して配置された計測ユニット61〜68によりパターン光の投影および撮像を行う構成とした。これに対して、部品装着ヘッド40は、1本の吸着ノズルのみを保持する構成としてもよい。このような場合には、昇降位置において上昇した状態にある吸着ノズルの部品を対象物として、パターン光の投影および撮像を行う。但し、異なる複数のパターン光を投影する必要があるため、例えば位相シフト法による計測の場合には、プロジェクタ内のスリットを縞状の配列方向に移動させる機構を設ける必要がある。
本実施形態では、8台の計測ユニット61〜68がそれぞれ異なるパターン光を投影して(図5を参照)、撮像を行うものとした。ここで、計測ユニットは、プロジェクタとカメラを少なくとも1台ずつ有する構成であればよく、例えば、複数のプロジェクタを備えオンオフ切り換えにより異なるパターン光を投影したり、複数のカメラを備え同時に別の角度から撮像したりする構成としてもよい。さらに、2組以上のパターン光を用いる構成では、本実施形態のように周波数を相違させる他に、対象物に対してパターン光を投影する角度を相違させる構成としてもよい。
また、本実施形態では、組立機が部品実装機1を構成する場合を例示して説明した。その他に、供給位置で取得した部品を組立位置まで移送して、当該部品を被組立体に組み付ける組立機であれば、計測した部品の立体形状に基づいて組立制御を行うことが可能である。よって、組立機は、例えば、パワーモジュールなどを組み立てる製造設備を構成するものとしてもよい。このような構成においても、本実施形態と同様の効果を得られる。
1:部品実装機(組立機)、 2:基台
10:基板搬送装置、 20:部品供給装置
30:部品移載装置
40:部品装着ヘッド(移動ヘッド)
41:ノズルホルダ(ホルダ部材)、 42:吸着ノズル(保持部材)
61〜68:計測ユニット
61a〜68a:プロジェクタ、 61b〜68b:計測カメラ
70:制御装置、 71:実装制御部、 72:形状計測部
B:回路基板(被組立体)、 T:部品、 Dp:規定距離
Ps:部品供給位置、 Pa:装着位置(部品組立位置)
H1:昇降位置、 H2〜H9:割出し位置

Claims (5)

  1. 部品供給位置に供給された部品を取得して保持する保持部材と、
    1または複数の前記保持部材を昇降可能に支持し、前記部品供給位置から被組立体が位置決めされた部品組立位置まで移動可能に設けられた移動ヘッドと、
    前記移動ヘッドの内部に配置され、上昇した状態の前記保持部材に保持された前記部品を対象物として、前記対象物に予め定められたパターン光を投影するプロジェクタと、
    前記移動ヘッドの内部に前記プロジェクタから規定距離だけ離間して配置され、前記対象物に投影された前記パターン光を撮像するカメラと、
    前記カメラの撮像により取得した複数の画像データに基づいて前記対象物の立体形状を計測する形状計測部と、
    前記形状計測部による計測結果に基づいて、前記保持部材の昇降および前記移動ヘッドの移動を制御する制御部と、
    を備え
    前記移動ヘッドは、回転可能なホルダ部材により複数の前記保持部材を支持し、当該ホルダ部材の回転により前記移動ヘッドにおいて前記保持部材を昇降可能とする昇降位置に複数の前記保持部材を順次割出し可能に構成され、
    前記プロジェクタおよび前記カメラにより構成される計測ユニットは、前記昇降位置に所定の前記保持部材が割出されることによって前記昇降位置と異なる位置に割出された他の前記保持部材に保持された部品を前記対象物とし、
    前記移動ヘッドには、複数の前記計測ユニットが設けられ、
    複数の前記計測ユニットの各前記プロジェクタは、互いに異なる前記パターン光を対応する前記対象物に投影する組立機。
  2. 前記プロジェクタは、輝度が正弦波状に変化する縞状からなり且つ位相の異なる3種類以上の前記パターン光を前記対象物に投影し、
    前記形状計測部は、各前記パターン光にそれぞれ対応する複数の前記画像データを用いて、位相シフト法により前記対象物の立体形状を計測する、請求項1の組立機。
  3. 前記保持部材は、部品を先端部で吸着して保持する吸着ノズルであり、
    前記組立機は、前記制御部の制御により前記被組立体である回路基板に前記吸着ノズルが保持する前記部品を実装する部品実装機を構成する、請求項1または2の組立機。
  4. 前記プロジェクタは、上昇した状態にあり且つ前記部品を保持していない前記吸着ノズルを対象物として、前記対象物に前記パターン光を投影し、
    前記形状計測部は、前記カメラの撮像により取得した複数の画像データに基づいて前記対象物の立体形状を計測し、
    前記制御部は、前記形状計測部による計測結果に基づいて、前記吸着ノズルの先端部の状態を検査する、請求項の組立機。
  5. 前記部品実装機は、前記部品を前記回路基板に接合する接合材料を前記部品に転写するディップ装置を備え、
    前記プロジェクタは、上昇した状態にあり且つ前記接合材料を転写された前記部品を対象物として、前記対象物に前記パターン光を投影し、
    前記形状計測部は、前記カメラの撮像により取得した複数の画像データに基づいて前記対象物の立体形状を計測し、
    前記制御部は、前記対象物とした前記部品に転写された前記接合材料の状態を検査する、請求項3または4の組立機。
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