JP6143445B2 - ビアホールを検査する方法及び装置 - Google Patents
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Description
105 本体
111 支持台
121 カメラ
131 メモリ
141 制御器
151 ディスプレイ
161 特定素材
161a 回路基板
163,164 回路パターン
165 ビアホール
166 金属膜
211 画像入力部
221 エッジ抽出部
231 ハフ変換部
241 ビアホール判断部
Claims (14)
- 素材に形成されたビアホールを検査する方法において、
(a)前記ビアホールの領域を撮影して、画像を生成するステップと、
(b)前記画像からエッジを抽出するステップと、
(c)前記エッジをハフ変換して、最大値を検出するステップと、
(d)前記最大値を有する位置を中心とする円の面積を算出するステップと、
(e)前記最大値、前記位置、及び前記円の面積を基準値と比較して、前記ビアホールの状態を判断するステップと、を含み、
前記基準値は、前記ビアホールの位置を判断するために定めた第4基準値を含み、前記最大値を有するビアホールの位置及び基準となるビアホールの位置のユークリッド距離を第4基準値と比較して、前記ユークリッド距離が前記第4基準値より大きければ、前記ビアホールは、規定された位置を外れたと判断して、不良処理し、
前記ステップの(d)において、前記最大値を有する位置を中心として2値化した画像で、中心位置から輝度値が低い2値化値を有する領域拡張を試みて、拡張された領域の広さを獲得し、前記円の面積とすることを特徴とするビアホール検査方法。 - 前記撮影された画像を2値化し、前記2値化したデータから、エッジ検出技法を利用して前記エッジを抽出することを特徴とする請求項1に記載のビアホール検査方法。
- 前記2値化過程で、前記ビアホールの内部は、最も低い輝度値に、前記ビアホールの外部は、最も高い輝度値に設定することを特徴とする請求項2に記載のビアホール検査方法。
- 前記素材は、電気回路が形成された回路基板及び半導体チップを含むことを特徴とする請求項1に記載のビアホール検査方法。
- (a1)前記素材に形成された基準ビアホールの位置及び半径を設定するステップと、
(a2)前記基準ビアホールの領域を撮影して基準画像を生成するステップと、
(a3)前記基準画像を2値化するステップと、
(a4)前記2値化したデータから、エッジ検出技法を利用してエッジを抽出するステップと、
(a5)前記エッジをハフ変換して、前記ハフ変換されたハフ画像から、前記ビアホールの位置及び面積を算出して、前記基準値に設定するステップと、を含むことを特徴とする請求項1に記載のビアホール検査方法。 - 前記(a1)、(a2)及び(a3)ステップを経ず、前記ビアホールの位置及び半径が表示された設計資料を利用して、前記2値化したデータを獲得することを特徴とする請求項5に記載のビアホール検査方法。
- 前記基準値は、前記ビアホールの存在を表示する第1基準値を含み、前記最大値が前記第1基準値より小さければ、前記ビアホールがないと判断して、不良処理することを特徴とする請求項1に記載のビアホール検査方法。
- 前記ビアホールの内部で低い2値化値を有する画素の数を計数し、前記最大値が前記第1基準値より小さく、前記ビアホールの内部で低い2値化値を有する画素の数が‘0’である時、前記ビアホールがないと判断することを特徴とする請求項7に記載のビアホール検査方法。
- 前記基準値は、前記ビアホールの面積の超過状態を判断するために定めた第2基準値を含み、前記円の面積が前記第2基準値より大きければ、前記ビアホールは、規定より広いと判断して、不良処理することを特徴とする請求項1に記載のビアホール検査方法。
- 前記基準値は、前記ビアホールの面積の不足状態を判断するために定めた第3基準値を含み、前記円の面積が前記第3基準値より小さければ、前記ビアホールは、規定より狭いと判断して、不良処理することを特徴とする請求項1に記載のビアホール検査方法。
- 請求項1ないし10のうちいずれか1項に記載の方法を利用して、素材に形成されたビアホールを検査するビアホール検査装置。
- 素材に形成されたビアホールを検査する装置において、
前記素材に形成される基準ビアホールの基準値を保存するメモリと、
前記素材が装着される支持台と、
前記支持台に装着された素材のビアホールを撮影して画像を生成するカメラと、
前記カメラから前記画像を受信して保存する画像入力部と、
前記画像入力部から前記画像を受けてエッジを抽出するエッジ抽出部と、
前記エッジ抽出部から伝送される前記エッジをハフ変換して、最大値とその位置を検出するハフ変換部と、
前記ハフ変換部から前記最大値とその位置を受信し、前記メモリから前記基準値を受信し、前記最大値を有する位置を中心とする円の面積を算出し、前記最大値とその位置、及び前記円の面積を前記基準値と比較して、前記ビアホールの状態を判断するビアホール判断部と、を備え、
前記基準値は、前記ビアホールの位置を判断するために定めた第4基準値を含み、前記ビアホール判断部は、前記最大値を有するビアホールの位置及び基準となるビアホールの位置のユークリッド距離を第4基準値と比較して、前記ユークリッド距離が前記第4基準値より大きければ、前記ビアホールは、規定された位置を外れたと判断して、不良処理し、前記最大値を有する位置を中心として2値化した画像で、中心位置から輝度値が低い2値化値を有する領域拡張を試みて、拡張された領域の広さを獲得し、前記円の面積とすることを特徴とするビアホール検査装置。 - 前記メモリ、支持台、カメラ及び制御器を内蔵する本体をさらに備えることを特徴とする請求項12に記載のビアホール検査装置。
- 前記カメラを複数台備えて、複数の素材を同時に検査することを特徴とする請求項12に記載のビアホール検査装置。
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