JPH0791914A - 回路基板の原点検出方法及び装置 - Google Patents
回路基板の原点検出方法及び装置Info
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- JPH0791914A JPH0791914A JP5277349A JP27734993A JPH0791914A JP H0791914 A JPH0791914 A JP H0791914A JP 5277349 A JP5277349 A JP 5277349A JP 27734993 A JP27734993 A JP 27734993A JP H0791914 A JPH0791914 A JP H0791914A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 原点マークが印刷されていない基板について
も適用可能で、ノイズに強く基板原点を正確に検出でき
る方法と、それを実施すするための装置を提供する。 【構成】 スルーホールを有する回路基板を撮像し、得
られた画像の明るさを微分することにより当該画像を構
成する各画素のグラジエントを算出し、グラジエントの
大きさによって画像を２値化し、２値化された画像に対
して円ハフ変換を適用することにより、スルーホールの
中心を基板原点として検出する。
も適用可能で、ノイズに強く基板原点を正確に検出でき
る方法と、それを実施すするための装置を提供する。 【構成】 スルーホールを有する回路基板を撮像し、得
られた画像の明るさを微分することにより当該画像を構
成する各画素のグラジエントを算出し、グラジエントの
大きさによって画像を２値化し、２値化された画像に対
して円ハフ変換を適用することにより、スルーホールの
中心を基板原点として検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣ等の電子部品が装
着されるプリント基板のような回路基板の原点位置を検
出する方法及び装置に関する。これは、プリント基板に
電子部品を実装するマウンタ（表面実装機）やプリント
基板の検査装置など、回路基板を位置決めする機能を持
つ装置の全てに利用することができる。
着されるプリント基板のような回路基板の原点位置を検
出する方法及び装置に関する。これは、プリント基板に
電子部品を実装するマウンタ（表面実装機）やプリント
基板の検査装置など、回路基板を位置決めする機能を持
つ装置の全てに利用することができる。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子部品を実装する回路基板の位
置決めを行う際には、画像処理技術を用いて位置決めの
適否を判定している。その画像処理技術では、予めプリ
ント基板上に画像認識しやすい原点マーク（基板とのコ
ントラストが明瞭で、非常に安定な光学的性質を有する
マーク）を付けておき、これを含む基板画像に対して２
値化、重心計算などの処理を施すようにしている。
置決めを行う際には、画像処理技術を用いて位置決めの
適否を判定している。その画像処理技術では、予めプリ
ント基板上に画像認識しやすい原点マーク（基板とのコ
ントラストが明瞭で、非常に安定な光学的性質を有する
マーク）を付けておき、これを含む基板画像に対して２
値化、重心計算などの処理を施すようにしている。
【０００３】詳しくは、予め基板上に水平基準となる原
点マークを２つ印刷しておく。基板位置の検出を開始す
る際、その開始位置の１点を基板が固定されるＸＹテー
ブルの基準原点とし、各原点マークの中心座標値をこの
基準原点からの距離として検査装置に記憶させる。固定
された撮像装置（カメラ）の中心位置に第１の原点マー
クが据えられるように前記距離に応じてＸＹテーブルを
移動する。得られた第１の原点マークの画像を２値化処
理し、その中心位置を求め、これと全体画像の中心位置
（理想位置）との誤差をＸＹ座標値で求める。第１の原
点マークと第２の原点マークとの設計距離分、ＸＹテー
ブルを移動し、カメラの画像領域内に第２の原点マーク
の画像を据える。得られた第２の原点マークの画像を２
値化処理し、その中心位置を求め、これと理想位置との
誤差をＸＹ座標値で求める。２つの原点マークの座標値
を演算して基板の角度誤差値を得る。上記で得られた２
つの原点マーク及び基板の角度の誤差値を位置補正量と
して、ＸＹテーブル制御部に送出する。上記の位置補正
を実行するために必要な原点マークは、ガラスエポキシ
や紙フェノールの基板では、回路パターンを形成する銅
箔で四角形や十字形のマークを予め印刷することによっ
て形成されている。この場合、基板と銅箔の輝度差が大
きいことから、２値化画像処理により容易に原点マーク
の位置を検出することができる。
点マークを２つ印刷しておく。基板位置の検出を開始す
る際、その開始位置の１点を基板が固定されるＸＹテー
ブルの基準原点とし、各原点マークの中心座標値をこの
基準原点からの距離として検査装置に記憶させる。固定
された撮像装置（カメラ）の中心位置に第１の原点マー
クが据えられるように前記距離に応じてＸＹテーブルを
移動する。得られた第１の原点マークの画像を２値化処
理し、その中心位置を求め、これと全体画像の中心位置
（理想位置）との誤差をＸＹ座標値で求める。第１の原
点マークと第２の原点マークとの設計距離分、ＸＹテー
ブルを移動し、カメラの画像領域内に第２の原点マーク
の画像を据える。得られた第２の原点マークの画像を２
値化処理し、その中心位置を求め、これと理想位置との
誤差をＸＹ座標値で求める。２つの原点マークの座標値
を演算して基板の角度誤差値を得る。上記で得られた２
つの原点マーク及び基板の角度の誤差値を位置補正量と
して、ＸＹテーブル制御部に送出する。上記の位置補正
を実行するために必要な原点マークは、ガラスエポキシ
や紙フェノールの基板では、回路パターンを形成する銅
箔で四角形や十字形のマークを予め印刷することによっ
て形成されている。この場合、基板と銅箔の輝度差が大
きいことから、２値化画像処理により容易に原点マーク
の位置を検出することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
画像処理技術は、予め原点マークが印刷されていない基
板には適用できない。また、近年の高密度実装プリント
基板においては、原点マークのように部品を実装できな
いパターンは設けない方が良い。
画像処理技術は、予め原点マークが印刷されていない基
板には適用できない。また、近年の高密度実装プリント
基板においては、原点マークのように部品を実装できな
いパターンは設けない方が良い。
【０００５】更に、従来の画像処理技術は画像処理が単
純なため、撮像過程で加わるノイズに弱い、つまりノイ
ズの影響を受けやすいという問題点があった。
純なため、撮像過程で加わるノイズに弱い、つまりノイ
ズの影響を受けやすいという問題点があった。
【０００６】従って、本発明の目的は、原点マークが印
刷されていない基板についても適用できると共に、ノイ
ズに強く基板原点を正確に検出できる方法と、それを実
施すするための装置を提供することである。
刷されていない基板についても適用できると共に、ノイ
ズに強く基板原点を正確に検出できる方法と、それを実
施すするための装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、殆どのプリント基板にはスルーホール
（貫通孔）があることに着目し、その中心を基板原点と
して検出するようにしたものである。
達成するため、殆どのプリント基板にはスルーホール
（貫通孔）があることに着目し、その中心を基板原点と
して検出するようにしたものである。
【０００８】すなわち、本発明の方法は、スルーホール
を有する回路基板を撮像し、得られた画像の明るさを微
分することで、該画像を構成する各画素のグラジエント
を算出し、該グラジエントの大きさにより前記画像を２
値化し、２値化された画像に対して円ハフ変換を行うこ
とにより、前記回路基板のスルーホールの中心を基板原
点として検出することを特徴とする。
を有する回路基板を撮像し、得られた画像の明るさを微
分することで、該画像を構成する各画素のグラジエント
を算出し、該グラジエントの大きさにより前記画像を２
値化し、２値化された画像に対して円ハフ変換を行うこ
とにより、前記回路基板のスルーホールの中心を基板原
点として検出することを特徴とする。
【０００９】また、本発明の装置は、スルーホールを有
する回路基板を撮像するための撮像手段と、この撮像手
段で生成された画像信号をデータとして格納する記憶手
段と、この記憶手段に格納された画像データに対し空間
微分を施して当該画像を構成する各画素のグラジエント
の大きさ及び方向を算出し、グラジエントの大きさによ
って当該画像を２値化し、２値化された画像に対して円
ハフ変換を適用して前記スルーホールの中心を検出する
画像処理を行う処理手段とを備えて構成される。
する回路基板を撮像するための撮像手段と、この撮像手
段で生成された画像信号をデータとして格納する記憶手
段と、この記憶手段に格納された画像データに対し空間
微分を施して当該画像を構成する各画素のグラジエント
の大きさ及び方向を算出し、グラジエントの大きさによ
って当該画像を２値化し、２値化された画像に対して円
ハフ変換を適用して前記スルーホールの中心を検出する
画像処理を行う処理手段とを備えて構成される。
【００１０】
【作用】初めに、ＴＶカメラのような撮像手段でスルー
ホールを含む基板を撮像し、得られた画像（原画像）に
対し空間微分を施してグラジエントの大きさ及び方向を
求める。ここで、グラジエントとは画像の明るさの微分
であり、その方向は、濃淡画像の明と暗の境界線に垂直
で暗から明に向かうベクトルの角度で表される。原画像
の性質として、基板上の金属表面部分が最も明るく、ス
ルーホール部が最も暗いため、クラジエントの大きさ
は、スルーホールの輪郭である円周上の画素で最も大き
くなる。そこで、グラジエントの大きさにより画像を２
値化する、すなわち、スルーホールの輪郭円周上の画素
の多くと金属表面上の暗い部分の一部が１で、他はほぼ
０となる。こうして２値化した画像に対し、円ハフ変換
を適用する。
ホールを含む基板を撮像し、得られた画像（原画像）に
対し空間微分を施してグラジエントの大きさ及び方向を
求める。ここで、グラジエントとは画像の明るさの微分
であり、その方向は、濃淡画像の明と暗の境界線に垂直
で暗から明に向かうベクトルの角度で表される。原画像
の性質として、基板上の金属表面部分が最も明るく、ス
ルーホール部が最も暗いため、クラジエントの大きさ
は、スルーホールの輪郭である円周上の画素で最も大き
くなる。そこで、グラジエントの大きさにより画像を２
値化する、すなわち、スルーホールの輪郭円周上の画素
の多くと金属表面上の暗い部分の一部が１で、他はほぼ
０となる。こうして２値化した画像に対し、円ハフ変換
を適用する。
【００１１】ハフ変換は、上記２値画像のように、ノイ
ズを多く含む画像から図形（方程式で記述できるもの）
を検出するのに有用な手法として知られている（米国特
許第3,069,654号）。これを円に応用した円ハフ変換
は、次のように行われる。
ズを多く含む画像から図形（方程式で記述できるもの）
を検出するのに有用な手法として知られている（米国特
許第3,069,654号）。これを円に応用した円ハフ変換
は、次のように行われる。
【００１２】まず、前段階の２値画像において１となっ
ているスルーホールの輪郭（円周）上の画素の各々につ
いて、その位置（ｘ，ｙ）とグラジエントの大きさθか
らスルーホールの中心位置（Ｘ，Ｙ）を計算し、ＸＹ平
面上の点として投票する。そして、ＸＹ平面内の最大投
票位置（点の集積度が最も高い位置）をスルーホールの
中心位置として検出する。
ているスルーホールの輪郭（円周）上の画素の各々につ
いて、その位置（ｘ，ｙ）とグラジエントの大きさθか
らスルーホールの中心位置（Ｘ，Ｙ）を計算し、ＸＹ平
面上の点として投票する。そして、ＸＹ平面内の最大投
票位置（点の集積度が最も高い位置）をスルーホールの
中心位置として検出する。
【００１３】上記のように、スルーホールを含む基板を
撮像して得られた画像に対し、グラジエントの算出、グ
ラジエントの大きさによる２値化、円ハフ変換の一連の
画像処理を適用する。これにより、基板の原点マークの
有無にかかわらず、ノイズの影響を受けにくく、スルー
ホールの中心を基板原点として正確に検出することがで
きる。
撮像して得られた画像に対し、グラジエントの算出、グ
ラジエントの大きさによる２値化、円ハフ変換の一連の
画像処理を適用する。これにより、基板の原点マークの
有無にかかわらず、ノイズの影響を受けにくく、スルー
ホールの中心を基板原点として正確に検出することがで
きる。
【００１４】
【実施例】図１は、本発明の方法を実施する装置の構成
を示す。これは、スルーホール１を有するプリント基板
２の原点位置を検出するための装置であり、検出の際、
プリント基板２は保持装置３に保持されている。
を示す。これは、スルーホール１を有するプリント基板
２の原点位置を検出するための装置であり、検出の際、
プリント基板２は保持装置３に保持されている。
【００１５】図１の装置は、プリント基板２を撮像する
ための撮像手段として照明器１１及びＴＶカメラ１２を
有し、ＴＶカメラ１２で生成した画像信号をＡ／Ｄ変換
して格納するための記憶手段としてフレームメモリ１３
を有する。このため、フレームメモリ１３の入力側に
は、ＴＶカメラ１２からの画像信号をディジタル化して
画像データとするＡ／Ｄ変換器（図示省略）が設けられ
る。
ための撮像手段として照明器１１及びＴＶカメラ１２を
有し、ＴＶカメラ１２で生成した画像信号をＡ／Ｄ変換
して格納するための記憶手段としてフレームメモリ１３
を有する。このため、フレームメモリ１３の入力側に
は、ＴＶカメラ１２からの画像信号をディジタル化して
画像データとするＡ／Ｄ変換器（図示省略）が設けられ
る。
【００１６】更に、図１の装置は、フレームメモリ１３
に格納された画像データに対し空間微分を施して、当該
画像を構成する各画素のグラジエントの大きさ及び方向
を算出し、グラジエントの大きさによって当該画像を２
値化し、２値された画像に対して円ハフ変換を適用して
スルーホールの中心を検出する一連の画像処理を行う処
理手段として、コンピュータ１４を備えている。
に格納された画像データに対し空間微分を施して、当該
画像を構成する各画素のグラジエントの大きさ及び方向
を算出し、グラジエントの大きさによって当該画像を２
値化し、２値された画像に対して円ハフ変換を適用して
スルーホールの中心を検出する一連の画像処理を行う処
理手段として、コンピュータ１４を備えている。
【００１７】上記の構成によれば、照明器１１で回路基
板２を照らし、ＴＶカメラ１２によって基板２のスルー
ホール１を含む画像を表わす信号を生成する。そして、
この信号をＡ／Ｄ変換し、ディジタル信号で表わされた
画像データとしてフレームメモリ１３に格納する。この
フレームメモリ１３内の画像データに対し、コンピュー
タ１４で後述の画像処理演算を実行することにより、プ
リント基板２のスルーホール１の中心位置を検出するこ
とができる。以下、詳細に説明する。
板２を照らし、ＴＶカメラ１２によって基板２のスルー
ホール１を含む画像を表わす信号を生成する。そして、
この信号をＡ／Ｄ変換し、ディジタル信号で表わされた
画像データとしてフレームメモリ１３に格納する。この
フレームメモリ１３内の画像データに対し、コンピュー
タ１４で後述の画像処理演算を実行することにより、プ
リント基板２のスルーホール１の中心位置を検出するこ
とができる。以下、詳細に説明する。
【００１８】（１）基板画像の性質 図２は、スルーホール１を含むプリント基板２の画像
（原画像）を模式的に示す。プリント基板保持装置３の
基板載置部が光沢のない黒色の場合、（Ａ）の理想的な
状態では、スルーホール部１が最も暗く、基板２上の金
属表面３が最も明るく、基板２自体の表面部分が両者の
中間の明るさとなった原画像が得られる。しかし、実際
には、金属表面３のわずかな凹凸や表面状態（光沢の有
無など）により、金属表面３の一部が（Ｂ）のように暗
く映る場合がある。この場合、従来通り２値化して重心
を計算する方法では、スルーホール１の中心を検出する
ことができない。
（原画像）を模式的に示す。プリント基板保持装置３の
基板載置部が光沢のない黒色の場合、（Ａ）の理想的な
状態では、スルーホール部１が最も暗く、基板２上の金
属表面３が最も明るく、基板２自体の表面部分が両者の
中間の明るさとなった原画像が得られる。しかし、実際
には、金属表面３のわずかな凹凸や表面状態（光沢の有
無など）により、金属表面３の一部が（Ｂ）のように暗
く映る場合がある。この場合、従来通り２値化して重心
を計算する方法では、スルーホール１の中心を検出する
ことができない。
【００１９】本発明によれば、（Ｂ）のような原画像に
対しても、正確にスルーホール部の中心を検出すること
が可能である。
対しても、正確にスルーホール部の中心を検出すること
が可能である。
【００２０】（２）スルーホールの中心位置の検出 図３のフローチャートを参照すると、初めにグラジエン
トの計算を行う（ステップＳＴ１）。これは、原画像を
空間微分することで達成される。
トの計算を行う（ステップＳＴ１）。これは、原画像を
空間微分することで達成される。
【００２１】まず、グラジエントは、回路基板の画像に
おいて、その明暗の変化する境界線（これは、正常な画
像においては部品又はスルーホールの輪郭を表わすもの
であり、そのような輪郭はエッジと称される。）上にあ
る画素の濃淡を表わす変数に微分を施すことで得られ
る。例えば、図５（ａ）に示すように、画像中の所定の
方向をｘ方向、それに垂直な方向をｙ方向としたｘｙ平
面において、グラジエントは暗から明に向かう所定の大
きさと方向を持つベクトルとして定義される。そして、
そのｘ方向成分をｄｘ、ｙ方向成分をｄｙで表わすと、
グラジエントの向きは、次式で定義される。
おいて、その明暗の変化する境界線（これは、正常な画
像においては部品又はスルーホールの輪郭を表わすもの
であり、そのような輪郭はエッジと称される。）上にあ
る画素の濃淡を表わす変数に微分を施すことで得られ
る。例えば、図５（ａ）に示すように、画像中の所定の
方向をｘ方向、それに垂直な方向をｙ方向としたｘｙ平
面において、グラジエントは暗から明に向かう所定の大
きさと方向を持つベクトルとして定義される。そして、
そのｘ方向成分をｄｘ、ｙ方向成分をｄｙで表わすと、
グラジエントの向きは、次式で定義される。
【００２２】θ＝ tan-1（ｄｙ／ｄｘ） …(1) 。
【００２３】ここで、図６に示すように、ｘｙ平面上に
おいて、微分を施す注目画素の輝度をｇ(x, y)とし、隣
接する８つの画素ｇ(x+i, y+j)（ただしｉ，ｊは−１≦
ｉ，ｊ≦＋１を満たす整数で、ｉ＝ｊ＝０の場合を除
く。）とすると、ｄｘを算出する場合は、隣接する画素
について図６（ａ）に示すように重みを付け、ｄｙを算
出する場合は、隣接する画素について図６（ｂ）に示す
ように重みを付ける。そして、次式によりｄｘ、ｄｙを
算出する（空間微分）。
おいて、微分を施す注目画素の輝度をｇ(x, y)とし、隣
接する８つの画素ｇ(x+i, y+j)（ただしｉ，ｊは−１≦
ｉ，ｊ≦＋１を満たす整数で、ｉ＝ｊ＝０の場合を除
く。）とすると、ｄｘを算出する場合は、隣接する画素
について図６（ａ）に示すように重みを付け、ｄｙを算
出する場合は、隣接する画素について図６（ｂ）に示す
ように重みを付ける。そして、次式によりｄｘ、ｄｙを
算出する（空間微分）。
【００２４】 ｄｘ＝ｇ(x+1, y-1)＋２ｇ(x+1, y)＋ｇ(x+1, y+1) −｛ｇ(x-1, y-1)＋２ｇ(x-1, y)＋ｇ(x-1, y+1)｝ …(2) ｄｙ＝ｇ(x-1, y+1)＋２ｇ(x, y+1)＋ｇ(x+1, y+1) −｛ｇ(x-1, y-1)＋２ｇ(x, y-1)＋ｇ(x+1, y-1)｝ …(3) 。
【００２５】ここで、上記グラジエントの向きθは、図
５（ｂ）に示すように分けられる。すなわち、 ｜ｄｘ｜≧｜ｄｙ｜のとき −π≦θ≦−３π／４，−π／４≦θ≦π／４，３π／
４≦θ≦π ｜ｄｘ｜＜｜ｄｙ｜のとき −３π／４＜θ＜−π／４， π／４＜θ＜３π／４。
５（ｂ）に示すように分けられる。すなわち、 ｜ｄｘ｜≧｜ｄｙ｜のとき −π≦θ≦−３π／４，−π／４≦θ≦π／４，３π／
４≦θ≦π ｜ｄｘ｜＜｜ｄｙ｜のとき −３π／４＜θ＜−π／４， π／４＜θ＜３π／４。
【００２６】次に２値化を行う（ＳＴ２）。上記のよう
に、原画像では金属表面が最も明るく、スルーホール部
が最も暗いため、上記ＳＴ１で求めたグラジエントの大
きさは、スルーホールの輪郭である円周上の画素で最も
大きくなる。そこで、グラジエントの大きさが大きいも
のから円周２πｒ（ｒはスルーホールの半径で、既知と
する。）に相当する画素（実際には、スルーホールの輪
郭が画素間にある場合があり、２πｒ×α（α＞１）と
する。）を１、それ以外を０とする。この２値化によ
り、スルーホールの輪郭円周上の画素の多くと金属表面
上の暗い部分の一部が１になり、他はほぼ０となる。
に、原画像では金属表面が最も明るく、スルーホール部
が最も暗いため、上記ＳＴ１で求めたグラジエントの大
きさは、スルーホールの輪郭である円周上の画素で最も
大きくなる。そこで、グラジエントの大きさが大きいも
のから円周２πｒ（ｒはスルーホールの半径で、既知と
する。）に相当する画素（実際には、スルーホールの輪
郭が画素間にある場合があり、２πｒ×α（α＞１）と
する。）を１、それ以外を０とする。この２値化によ
り、スルーホールの輪郭円周上の画素の多くと金属表面
上の暗い部分の一部が１になり、他はほぼ０となる。
【００２７】この２値化画像に、ハフ変換を円に応用し
た「円ハフ変換」を適用し、スルーホールの中心を検出
する（ＳＴ３）。円ハフ変換は次のようにして行う。
た「円ハフ変換」を適用し、スルーホールの中心を検出
する（ＳＴ３）。円ハフ変換は次のようにして行う。
【００２８】図４に示すように、スルーホールの中心を
（Ｘ，Ｙ）、スルーホールの輪郭上の画素の位置を
（ｘ，ｙ）、スルーホールの半径をｒ、輪郭上の画素の
グラジエントの方向をθとすると、スルーホールの輪郭
は次の円方程式で記述できる。
（Ｘ，Ｙ）、スルーホールの輪郭上の画素の位置を
（ｘ，ｙ）、スルーホールの半径をｒ、輪郭上の画素の
グラジエントの方向をθとすると、スルーホールの輪郭
は次の円方程式で記述できる。
【００２９】ｘ＝Ｘ＋ｒ・cosθ …(4) ｙ＝Ｙ＋ｒ・sinθ …(5) 円ハフ変換は、上式をＸ，Ｙについて解いた式 Ｘ＝ｘ−ｒ・cosθ …(6) Ｙ＝ｙ−ｒ・sinθ …(7) に基づいて行う。すなわち、前段階の２値画像で１とな
っている画素の各々について、位置（ｘ，ｙ）及びグラ
ジエントの向きθを上記(6),(7) 式に代入して中心位置
（Ｘ，Ｙ）を算出し、その値をＸＹ平面上に投票する。
こうして得られるＸＹ平面内の最大投票位置をスルーホ
ールの中心位置として検出する。
っている画素の各々について、位置（ｘ，ｙ）及びグラ
ジエントの向きθを上記(6),(7) 式に代入して中心位置
（Ｘ，Ｙ）を算出し、その値をＸＹ平面上に投票する。
こうして得られるＸＹ平面内の最大投票位置をスルーホ
ールの中心位置として検出する。
【００３０】上記では、スルーホールの半径を用いて検
出したが、式(6),(7) においてｒをスルーホール周辺の
金属円（基板上の金属部分の円）の半径とすれば、符号
“−”を“＋”に変えるだけで、上記と全く同じ方法で
金属円の中心を求めることができる。この場合、符号を
逆にするのは、金属円の周囲のグラジエントがスルーホ
ールの周囲のグラジエントと反対の方向を向くからであ
る（明暗の関係が逆になっている）。かくして、孔でも
金属円でも、寸法精度の高い方を選ぶことができる。
出したが、式(6),(7) においてｒをスルーホール周辺の
金属円（基板上の金属部分の円）の半径とすれば、符号
“−”を“＋”に変えるだけで、上記と全く同じ方法で
金属円の中心を求めることができる。この場合、符号を
逆にするのは、金属円の周囲のグラジエントがスルーホ
ールの周囲のグラジエントと反対の方向を向くからであ
る（明暗の関係が逆になっている）。かくして、孔でも
金属円でも、寸法精度の高い方を選ぶことができる。
【００３１】また、円形であれば、リード線のハンダ付
け円のパッドや穴、或いは基板のテスト用パッドでも、
同様に利用できる。従って、本発明における「スルーホ
ール」には、上記の金属円やパッドも含まれる。
け円のパッドや穴、或いは基板のテスト用パッドでも、
同様に利用できる。従って、本発明における「スルーホ
ール」には、上記の金属円やパッドも含まれる。
【００３２】
【発明の効果】上記のように、本発明によれば、殆どの
基板にはスルーホールがあることを利用して、スルーホ
ールを含む基板画像から２値化画像を生成し、これに円
ハフ変換を適用することによりスルーホールの中心を基
板原点として検出するようにしたので、予め原点マーク
が印刷されていない基板についても、原点を正確に検出
し、それに基づいて正確な位置決めを達成できる。
基板にはスルーホールがあることを利用して、スルーホ
ールを含む基板画像から２値化画像を生成し、これに円
ハフ変換を適用することによりスルーホールの中心を基
板原点として検出するようにしたので、予め原点マーク
が印刷されていない基板についても、原点を正確に検出
し、それに基づいて正確な位置決めを達成できる。
【００３３】また、円ハフ変換により、撮像時に入って
くる種々のノイズに対して強い画像処理を行うので、ノ
イズの影響を受けにくく信頼性の高い原点検出が実現さ
れる。
くる種々のノイズに対して強い画像処理を行うので、ノ
イズの影響を受けにくく信頼性の高い原点検出が実現さ
れる。
【図１】本発明の方法を実施する装置の構成を示す図。
【図２】スルーホールを含む基板の理想的な画像と実際
の画像とを模式的に示す図。
の画像とを模式的に示す図。
【図３】本発明の方法による画像処理手順を示すフロー
チャート。
チャート。
【図４】円ハフ変換の基になるスルーホールの中心位置
とその輪郭上の画素の位置との関係を示す図。
とその輪郭上の画素の位置との関係を示す図。
【図５】画像の明暗部分でのグラジエントの定義を示す
図。
図。
【図６】空間微分を行う場合の画素の重み付けを示す
図。
図。
１…スルーホール、２…プリント基板、３…基板保持装
置、１１…照明器、１２…ＴＶカメラ、１３…フレーム
メモリ、１４…コンピュータ。
置、１１…照明器、１２…ＴＶカメラ、１３…フレーム
メモリ、１４…コンピュータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 7/60 Ｈ０１Ｌ 21/66 Ｊ 7630−4Ｍ Ｈ０５Ｋ 13/04 Ｚ
Claims (2)
- 【請求項１】スルーホールを有する回路基板を撮像し、
得られた画像の明るさを微分することにより該画像を構
成する各画素のグラジエントを算出し、該グラジエント
の大きさによって前記画像を２値化し、２値化された画
像に対して円ハフ変換を行うことにより、前記回路基板
のスルーホールの中心を基板原点として検出することを
特徴とする、回路基板の原点検出方法。 - 【請求項２】スルーホールを有する回路基板を撮像する
ための撮像手段と、 該撮像手段で生成された画像信号をデータとして格納す
る記憶手段と、 該記憶手段に格納された画像データに対し空間微分を施
して当該画像を構成する各画素のグラジエントの大きさ
及び方向を算出し、該グラジエントの大きさによって当
該画像を２値化し、２値化された画像に対して円ハフ変
換を適用して前記スルーホールの中心を検出する画像処
理を行う処理手段とを備えたことを特徴とする、回路基
板の原点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5277349A JPH0791914A (ja) | 1993-10-12 | 1993-10-12 | 回路基板の原点検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5277349A JPH0791914A (ja) | 1993-10-12 | 1993-10-12 | 回路基板の原点検出方法及び装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25753193A Division JPH0791917A (ja) | 1993-09-22 | 1993-09-22 | 回路基板の位置ずれ計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0791914A true JPH0791914A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=17582294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5277349A Pending JPH0791914A (ja) | 1993-10-12 | 1993-10-12 | 回路基板の原点検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0791914A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003065729A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Seiko Instruments Inc | フェルール孔等の内径測定方法および装置 |
| US7577275B2 (en) | 2004-09-07 | 2009-08-18 | Fuji Jukogyo Kabushiki Kaisha | Image processing system |
| KR20130038176A (ko) | 2011-10-07 | 2013-04-17 | 쥬키 가부시키가이샤 | 전자부품 실장장치 및 전자부품 실장방법 |
| JP2013093536A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-16 | Juki Corp | 電子部品実装装置及び電子部品実装方法 |
| CN103389309A (zh) * | 2012-05-11 | 2013-11-13 | 三星泰科威株式会社 | 用于检查过孔的方法和设备 |
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| CN110288619A (zh) * | 2018-03-14 | 2019-09-27 | 浙江大学山东工业技术研究院 | 基于视觉的太阳花模组表面螺钉孔位置检测方法 |
-
1993
- 1993-10-12 JP JP5277349A patent/JPH0791914A/ja active Pending
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