JP6110191B2 - 検査装置および検査処理装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 255
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 160
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 379
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 231
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 231
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 110
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 25
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 19
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 26
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Description
また、請求項9記載の検査処理装置は、検査対象についての同一の物理量を測定する測定処理を実行する2つの測定装置と、前記2つの測定装置によって異なるタイミングで測定された同一の前記検査対象についての前記物理量の測定値に基づいて当該同一の検査対象の良否を判別する処理装置とを備え、前記2つの測定装置のうちの一方の測定装置は、自ら測定した前記物理量の測定値を当該2つの測定装置のうちの他方の測定装置に送信する送信処理を実行可能に構成され、前記他方の測定装置は、前記一方の測定装置から送信された前記測定値を受信する受信処理、前記測定処理で自ら測定した一の前記検査対象の前記物理量についての測定値と当該受信処理で受信した前記一方の測定装置での当該一の検査対象についての前記測定値との間の差分値を算出する差分値算出処理、および当該算出した差分値と予め規定された基準差分範囲とを比較して当該基準差分範囲に当該差分値が含まれているか否かを判別して前記処理装置に送信する差分値比較処理を実行可能に構成され、前記処理装置は、前記他方の測定装置から受信した前記差分値比較処理での判別結果が、前記基準差分範囲に前記差分値が含まれているとの判別結果のときには前記検査対象を良品として判別し、当該基準差分範囲に当該差分値が含まれていないとの判別結果のときには当該検査対象を不良品として判別する判別処理を実行する。
また、請求項10記載の検査処理装置は、検査対象についての同一の物理量を測定する測定処理を実行する2つの測定装置と、前記2つの測定装置によって異なるタイミングで測定された同一の前記検査対象についての前記物理量の測定値に基づいて当該同一の検査対象の良否を判別する処理装置とを備え、前記2つの測定装置のうちの一方の測定装置は、自ら測定した一の前記検査対象の前記物理量の測定値と当該測定値に対して予め規定された基準範囲とを比較して当該基準範囲に当該測定値が含まれているか否かを判別すると共に判別の結果を前記処理装置に送信する測定値比較処理、および当該測定値を前記2つの測定装置のうちの他方の測定装置に送信する送信処理を実行可能に構成され、前記他方の測定装置は、自ら測定した前記一の検査対象の前記物理量の測定値と当該測定値に対して予め規定された基準範囲とを比較して当該基準範囲に当該測定値が含まれているか否かを判別すると共に判別の結果を前記処理装置に送信する測定値比較処理、前記一方の測定装置から送信された前記測定値を受信する受信処理、前記自ら測定した前記一の検査対象の前記物理量についての測定値と当該受信処理で受信した前記一方の測定装置での当該一の検査対象についての前記測定値との間の差分値を算出する差分値算出処理、および当該算出した差分値と予め規定された基準差分範囲とを比較して当該基準差分範囲に当該差分値が含まれているか否かを判別して前記処理装置に送信する差分値比較処理を実行可能に構成され、前記処理装置は、前記一方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれているとの判別結果であり、かつ前記他方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれているとの判別結果であり、かつ前記他方の測定装置から受信した前記差分値比較処理での判別結果が、前記基準差分範囲に前記差分値が含まれているとの判別結果であるときには、前記一の検査対象を良品として判別し、これ以外のときには当該一の検査対象を不良品として判別する判別処理を実行する。
また、請求項11記載の検査処理装置は、請求項10記載の検査処理装置において、前記処理装置は、前記判別処理において予め規定された個数以上連続して前記検査対象を不良品と判別したとき、および前記判別処理において不良品と判別する比率が予め規定された比率以上のときの少なくとも一方のときには、この後の予め規定された個数の前記一の検査対象に対して、前記判別処理に代えて、前記一方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれていないとの判別結果であるとき、および前記他方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれていないとの判別結果であるときの少なくとも一方のときには、当該一の検査対象を不良品として判別し、これ以外のときには当該一の検査対象の良否を判別しない判別処理を実行する。
また、請求項12記載の検査処理装置は、請求項9から11のいずれかに記載の検査処理装置において、前記他方の測定装置は、前記受信処理で測定した前記測定値を記憶させるFIFOメモリを備えると共に、前記差分値算出処理において当該FIFOメモリに記憶されている前記一方の測定装置での複数の前記測定値のうちから前記一の検査対象についての前記測定値を読み出して前記差分値を算出する。
また、請求項13記載の検査処理装置は、請求項9から12のいずれかに記載の検査処理装置において、前記処理装置は、前記判別処理において前記検査対象を良品として判別したときには、前記2つの測定値のうちの一方を最終的な測定値として出力する出力処理を実行する。
2 抵抗
3 搬送装置
4,5 測定装置
7 処理装置
8 出力装置
R 抵抗値
RA1 基準範囲
RA2 基準差分範囲
Claims (13)
- 検査対象を搬送する搬送装置と、
前記搬送装置による前記検査対象の搬送方向に沿って規定された2つの測定ステージにそれぞれ配設されて、当該測定ステージに搬送された前記検査対象についての同一の物理量を測定する測定処理を実行する2つの測定装置と、
前記2つの測定装置によって異なるタイミングで測定された同一の前記検査対象についての前記物理量の測定値に基づいて当該同一の検査対象の良否を判別する処理装置とを備え、
前記2つの測定装置のうちの一方の測定装置は、自ら測定した前記物理量の測定値を当該2つの測定装置のうちの他方の測定装置に送信する送信処理を実行可能に構成され、
前記他方の測定装置は、前記一方の測定装置から送信された前記測定値を受信する受信処理、前記測定処理で自ら測定した一の前記検査対象の前記物理量についての測定値と当該受信処理で受信した前記一方の測定装置での当該一の検査対象についての前記測定値との間の差分値を算出する差分値算出処理、および当該算出した差分値と予め規定された基準差分範囲とを比較して当該基準差分範囲に当該差分値が含まれているか否かを判別して前記処理装置に送信する差分値比較処理を実行可能に構成され、
前記処理装置は、前記他方の測定装置から受信した前記差分値比較処理での判別結果が、前記基準差分範囲に前記差分値が含まれているとの判別結果のときには前記検査対象を良品として判別し、当該基準差分範囲に当該差分値が含まれていないとの判別結果のときには当該検査対象を不良品として判別する判別処理を実行する検査装置。 - 検査対象を搬送する搬送装置と、
前記搬送装置による前記検査対象の搬送方向に沿って規定された2つの測定ステージにそれぞれ配設されて、当該測定ステージに搬送された前記検査対象についての同一の物理量を測定する測定処理を実行する2つの測定装置と、
前記2つの測定装置によって異なるタイミングで測定された同一の前記検査対象についての前記物理量の測定値に基づいて当該同一の検査対象の良否を判別する処理装置とを備え、
前記2つの測定装置のうちの一方の測定装置は、自ら測定した一の前記検査対象の前記物理量の測定値と当該測定値に対して予め規定された基準範囲とを比較して当該基準範囲に当該測定値が含まれているか否かを判別すると共に判別の結果を前記処理装置に送信する測定値比較処理、および当該測定値を前記2つの測定装置のうちの他方の測定装置に送信する送信処理を実行可能に構成され、
前記他方の測定装置は、自ら測定した前記一の検査対象の前記物理量の測定値と当該測定値に対して予め規定された基準範囲とを比較して当該基準範囲に当該測定値が含まれているか否かを判別すると共に判別の結果を前記処理装置に送信する測定値比較処理、前記一方の測定装置から送信された前記測定値を受信する受信処理、前記自ら測定した前記一の検査対象の前記物理量についての測定値と当該受信処理で受信した前記一方の測定装置での当該一の検査対象についての前記測定値との間の差分値を算出する差分値算出処理、および当該算出した差分値と予め規定された基準差分範囲とを比較して当該基準差分範囲に当該差分値が含まれているか否かを判別して前記処理装置に送信する差分値比較処理を実行可能に構成され、
前記処理装置は、前記一方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれているとの判別結果であり、かつ前記他方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれているとの判別結果であり、かつ前記他方の測定装置から受信した前記差分値比較処理での判別結果が、前記基準差分範囲に前記差分値が含まれているとの判別結果であるときには、前記一の検査対象を良品として判別し、これ以外のときには当該一の検査対象を不良品として判別する判別処理を実行する検査装置。 - 前記処理装置は、前記判別処理において予め規定された個数以上連続して前記検査対象を不良品と判別したとき、および前記判別処理において不良品と判別する比率が予め規定された比率以上のときの少なくとも一方のときには、この後の予め規定された個数の前記一の検査対象に対して、前記判別処理に代えて、前記一方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれていないとの判別結果であるとき、および前記他方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれていないとの判別結果であるときの少なくとも一方のときには、当該一の検査対象を不良品として判別し、これ以外のときには当該一の検査対象の良否を判別しない判別処理を実行する請求項2記載の検査装置。
- 前記他方の測定装置は、前記受信処理で測定した前記測定値を記憶させるFIFOメモリを備えると共に、前記差分値算出処理において当該FIFOメモリに記憶されている前記一方の測定装置での複数の前記測定値のうちから前記一の検査対象についての前記測定値を読み出して前記差分値を算出する請求項1から3のいずれかに記載の検査装置。
- 前記搬送方向に沿った前記2つの測定ステージ間に規定された電圧印加ステージに配設されて、前記検査対象に対して試験電圧を印加する電圧印加装置を備えている請求項1から4のいずれかに記載の検査装置。
- 前記一方の測定装置は、前記搬送方向に沿って前記他方の測定装置の上流側に配設されると共に、前記測定処理の実行後の前記検査対象に対して試験電圧を印加する電圧印加処理を実行する請求項1から4のいずれかに記載の検査装置。
- 前記他方の測定装置は、前記搬送方向に沿って前記一方の測定装置の下流側に配設されると共に、自らの前記測定処理の実行前の前記検査対象に対して試験電圧を印加する電圧印加処理を実行する請求項1から4のいずれかに記載の検査装置。
- 前記処理装置は、前記判別処理において前記検査対象を良品として判別したときには、前記2つの測定値のうちの一方を最終的な測定値として出力する出力処理を実行する請求項1から7のいずれかに記載の検査装置。
- 検査対象についての同一の物理量を測定する測定処理を実行する2つの測定装置と、
前記2つの測定装置によって異なるタイミングで測定された同一の前記検査対象についての前記物理量の測定値に基づいて当該同一の検査対象の良否を判別する処理装置とを備え、
前記2つの測定装置のうちの一方の測定装置は、自ら測定した前記物理量の測定値を当該2つの測定装置のうちの他方の測定装置に送信する送信処理を実行可能に構成され、
前記他方の測定装置は、前記一方の測定装置から送信された前記測定値を受信する受信処理、前記測定処理で自ら測定した一の前記検査対象の前記物理量についての測定値と当該受信処理で受信した前記一方の測定装置での当該一の検査対象についての前記測定値との間の差分値を算出する差分値算出処理、および当該算出した差分値と予め規定された基準差分範囲とを比較して当該基準差分範囲に当該差分値が含まれているか否かを判別して前記処理装置に送信する差分値比較処理を実行可能に構成され、
前記処理装置は、前記他方の測定装置から受信した前記差分値比較処理での判別結果が、前記基準差分範囲に前記差分値が含まれているとの判別結果のときには前記検査対象を良品として判別し、当該基準差分範囲に当該差分値が含まれていないとの判別結果のときには当該検査対象を不良品として判別する判別処理を実行する検査処理装置。 - 検査対象についての同一の物理量を測定する測定処理を実行する2つの測定装置と、
前記2つの測定装置によって異なるタイミングで測定された同一の前記検査対象についての前記物理量の測定値に基づいて当該同一の検査対象の良否を判別する処理装置とを備え、
前記2つの測定装置のうちの一方の測定装置は、自ら測定した一の前記検査対象の前記物理量の測定値と当該測定値に対して予め規定された基準範囲とを比較して当該基準範囲に当該測定値が含まれているか否かを判別すると共に判別の結果を前記処理装置に送信する測定値比較処理、および当該測定値を前記2つの測定装置のうちの他方の測定装置に送信する送信処理を実行可能に構成され、
前記他方の測定装置は、自ら測定した前記一の検査対象の前記物理量の測定値と当該測定値に対して予め規定された基準範囲とを比較して当該基準範囲に当該測定値が含まれているか否かを判別すると共に判別の結果を前記処理装置に送信する測定値比較処理、前記一方の測定装置から送信された前記測定値を受信する受信処理、前記自ら測定した前記一の検査対象の前記物理量についての測定値と当該受信処理で受信した前記一方の測定装置での当該一の検査対象についての前記測定値との間の差分値を算出する差分値算出処理、および当該算出した差分値と予め規定された基準差分範囲とを比較して当該基準差分範囲に当該差分値が含まれているか否かを判別して前記処理装置に送信する差分値比較処理を実行可能に構成され、
前記処理装置は、前記一方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれているとの判別結果であり、かつ前記他方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれているとの判別結果であり、かつ前記他方の測定装置から受信した前記差分値比較処理での判別結果が、前記基準差分範囲に前記差分値が含まれているとの判別結果であるときには、前記一の検査対象を良品として判別し、これ以外のときには当該一の検査対象を不良品として判別する判別処理を実行する検査処理装置。 - 前記処理装置は、前記判別処理において予め規定された個数以上連続して前記検査対象を不良品と判別したとき、および前記判別処理において不良品と判別する比率が予め規定された比率以上のときの少なくとも一方のときには、この後の予め規定された個数の前記一の検査対象に対して、前記判別処理に代えて、前記一方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれていないとの判別結果であるとき、および前記他方の測定装置から受信した前記測定値比較処理での判別結果が、前記基準範囲に前記測定値が含まれていないとの判別結果であるときの少なくとも一方のときには、当該一の検査対象を不良品として判別し、これ以外のときには当該一の検査対象の良否を判別しない判別処理を実行する請求項10記載の検査処理装置。
- 前記他方の測定装置は、前記受信処理で測定した前記測定値を記憶させるFIFOメモリを備えると共に、前記差分値算出処理において当該FIFOメモリに記憶されている前記一方の測定装置での複数の前記測定値のうちから前記一の検査対象についての前記測定値を読み出して前記差分値を算出する請求項9から11のいずれかに記載の検査処理装置。
- 前記処理装置は、前記判別処理において前記検査対象を良品として判別したときには、前記2つの測定値のうちの一方を最終的な測定値として出力する出力処理を実行する請求項9から12のいずれかに記載の検査処理装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013080347A JP6110191B2 (ja) | 2013-04-08 | 2013-04-08 | 検査装置および検査処理装置 |
TW103107587A TWI609186B (zh) | 2013-04-08 | 2014-03-06 | Inspection device and inspection processing device |
CN201410138336.4A CN104101797A (zh) | 2013-04-08 | 2014-04-08 | 检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013080347A JP6110191B2 (ja) | 2013-04-08 | 2013-04-08 | 検査装置および検査処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014202668A JP2014202668A (ja) | 2014-10-27 |
JP6110191B2 true JP6110191B2 (ja) | 2017-04-05 |
Family
ID=51670111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013080347A Active JP6110191B2 (ja) | 2013-04-08 | 2013-04-08 | 検査装置および検査処理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6110191B2 (ja) |
CN (1) | CN104101797A (ja) |
TW (1) | TWI609186B (ja) |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2578440B2 (ja) * | 1987-09-10 | 1997-02-05 | 株式会社東京ウェルズ | ワーク検査分類方法 |
US5589765A (en) * | 1995-01-04 | 1996-12-31 | Texas Instruments Incorporated | Method for final testing of semiconductor devices |
JP2003035747A (ja) * | 2001-07-19 | 2003-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体検査システムおよび半導体検査方法 |
US20040187049A1 (en) * | 2003-02-27 | 2004-09-23 | Nptest, Inc. | Very small pin count IC tester |
US7412345B2 (en) * | 2004-05-18 | 2008-08-12 | General Electric Company | System, method, and article of manufacture for obtaining data |
JP2005345239A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
US7190561B2 (en) * | 2004-09-09 | 2007-03-13 | Sensata Technologies, Inc. | Apparatus for detecting arc faults |
US20080203939A1 (en) * | 2004-10-19 | 2008-08-28 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Method and Arrangement for Monitoring a Gas Discharge Lamp |
US7788065B2 (en) * | 2007-07-02 | 2010-08-31 | Globalfoundries Inc. | Method and apparatus for correlating test equipment health and test results |
ATE523065T1 (de) * | 2007-10-02 | 2011-09-15 | Tridonic Gmbh & Co Kg | Verfahren zum bestimmen von betriebsparametern einer mit einem elektronischen vorschaltgerät zu betreibenden gasentladungslampe sowie ein entsprechendes vorschaltgerät |
DE102008022198A1 (de) * | 2008-03-04 | 2009-09-10 | Tridonicatco Gmbh & Co. Kg | Typerkennung einer mit einem elektronischen Vorschaltgerät zu betreibenden Gasentladungslampe |
JP4656169B2 (ja) * | 2008-03-11 | 2011-03-23 | 日産自動車株式会社 | エンジンの失火診断装置及び失火診断方法 |
JP5234079B2 (ja) * | 2010-10-01 | 2013-07-10 | オムロン株式会社 | センサ装置、センサ管理システム、センサ装置の制御方法、プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
CN103392127B (zh) * | 2011-05-10 | 2016-05-04 | 松下健康医疗控股株式会社 | 生物体样本测定装置和使用其的生物体样本测定方法 |
CN102523954B (zh) * | 2011-12-29 | 2014-04-09 | 北京农业智能装备技术研究中心 | 适用于温室环境的二氧化碳的测控与校对系统、方法 |
-
2013
- 2013-04-08 JP JP2013080347A patent/JP6110191B2/ja active Active
-
2014
- 2014-03-06 TW TW103107587A patent/TWI609186B/zh active
- 2014-04-08 CN CN201410138336.4A patent/CN104101797A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI609186B (zh) | 2017-12-21 |
CN104101797A (zh) | 2014-10-15 |
TW201506417A (zh) | 2015-02-16 |
JP2014202668A (ja) | 2014-10-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160226 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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