JP6063776B2 - 基板搬送経路の決定方法、基板搬送装置、基板処理装置及びプログラム - Google Patents

基板搬送経路の決定方法、基板搬送装置、基板処理装置及びプログラム Download PDF

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Description

本発明は、半導体ウエハ等の基板に対して所定の加工処理を施す基板処理装置における基板搬送経路の決定方法、基板搬送装置、基板処理装置及びプログラムに関する。
例えば、半導体ウエハにプラズマ処理等の処理を行うプラズマ処理装置では、搬送ロボットを用いて容器に収容された基板を真空雰囲気に維持されたプラズマ処理室へ搬送している。一般的に、プラズマ処理装置は、複数のプラズマ処理室を備え、1台の搬送ロボットが各プラズマ処理室に対してアクセス自在な構成となっている。
ここで、複数のプラズマ処理室を省スペースに配置し、1台の搬送ロボットにより各プラズマ処理室へのアクセスを可能とし、また、半導体ウエハの搬送距離や搬送時間を短縮してスループットを向上させるために、半導体ウエハの搬送中に進行方向を変えることが必要となってきており、その際に、半導体ウエハが滑らかな曲線軌跡を描くように搬送ロボットの動作を制御することが必要となってきている。
半導体ウエハ等の基板の搬送経路を算出する方法としては、所謂、円弧補間方法が用いられる。例えば、始点と中心点との距離を半径として終点までの間を円弧補間する方法として、終点と中心との距離と半径との差を算出し、始点から終点までの円弧補間を行って円弧上の点を得る場合に、算出した差を補間して各補間点における半径を補正し、補正した半径に基づいて各補間点の座標を得る方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、進行方向を示す2つの直線の交点から一定距離(パス強度)で接する円弧を算出する円弧補間方法が知られており、この円弧補間方法により基板を搬送する搬送経路の決定方法を模式的に図3に示す。
図3(a)は、従来の基板搬送経路の決定方法を模式的に示す図である。基板Sの搬送開始点を始点O、基板Sの搬送終了点を終点P2、2つの進行方向を示す直線aと直線bとの交点を仮の経由点P1とし、これらは予め定められている。なお、「仮の経由点」との表現を用いるのは、基板Sは実際には、後述の通りに算出された円弧a上を通り、仮の経由点P1上を通過することはないからである。
仮の経由点P1から距離Cで直線aに接すると共に、直線bと接する円弧aを算出することにより、始点Oから位置P3(直線aと円弧aとの接点)、算出した円弧a、位置P4(直線bと円弧aとの接点)を経由して、位置P2へ到達する搬送経路が定められる。
図3(b)は、図3(a)の基板搬送経路の決定方法を、搬送ロボットが基板を載置室へ搬入する際の搬送経路の決定方法へ適用した例を示している。搬送ロボットのアーム(不図示)の先端部に設けられたフォーク93が基板Sを保持し、保持した基板Sを載置室92へ搬入する。ここで、基板Sの中心はフォーク93の中心と合致しており、載置室92の基板搬入出口には、基板搬入出口を開閉するゲートバルブ91が設けられているものとする。
図3(b)に示す直線a、直線b、円弧a、仮の経由点P1、位置P2はそれぞれ、図3(a)と対応している。ゲートバルブ91の中心を仮の経由点P1とし、載置室92の中心を位置P2とする。仮の経由点P1と位置P2を通る直線bは、載置室92に対して真っ直ぐに基板Sを搬入する搬送方向であり、直線aは、搬送ロボットと載置室92の配設位置により定められる基板Sの搬送方向である。
フォーク93の中心が、直線a、円弧a、直線bを通るように搬送ロボットの動作を制御することにより、短い経路でスムーズに基板Sを搬送することができる。また、直線aと直線bにしたがって仮の経由点P1を通過させて基板Sを搬送した場合には、仮の経由点P1において急に搬送方向が変わることによって、フォーク93に保持された基板Sに慣性力によって位置ずれが生じるおそれがある。しかし、基板Sは、仮の経由点P1を通過することなく、円弧aを通るように搬送されるため、フォーク93に対する基板Sの位置ずれ発生を防止することができる。
特開平4−123204号公報
しかしながら、フォーク93に保持された基板Sの中心が常にフォーク93の中心と合致するとは限らない。そこで、例えば、図3(b)に示すように、基板Sの位置ずれを検知してフォーク93の載置室92への進入経路を変更するために、ゲートバルブ91の近傍には、基板Sの位置ずれを検知する位置検知センサ94が配置されており、フォーク93に保持された基板Sに位置ずれが生じている場合、位置検知センサ94の検知信号に基づいて、基板Sの中心を載置室92の中心である位置P2に合わせるために、フォーク93の搬送経路が変更される。
図3(c),(d)は、基板Sに位置ずれが生じている場合の搬送経路の変更方向を模式的に示す図である。基板Sの中心を終点P2に合わせるために、図3(c)ではフォーク93の中心を位置P2aへ到達させ、図3(d)ではフォーク93の中心を位置P2bへ到達させる。直線aと仮の経由点P1は予め決定されているため、図3(c)の場合、フォーク93の中心を位置P2aに到達させるためには、経由点P1と位置P2aを通る直線b1を算出し、更に、位置P3で直線aに接すると共に直線b1と接する円弧a1を再計算する必要がある。図3(d)の場合も同様に、経由点P1と位置P2bを通る直線b2を算出し、更に、位置P3で直線aに接すると共に直線b2と接する円弧a2を再計算する必要がある。
このように、搬送経路の1方向である直線の傾きが変化し、算出する円弧の軌道も変化してしまうと、搬送ロボットの動作制御を行うための計算負荷が大きくなってしまう。また、搬送ロボットは、基板搬送時にフォーク93に保持した基板Sが位置ずれしないように、基板Sに掛かる慣性力や遠心力等の力に制限を設けている。そのため、再計算した円弧a1,a2の半径が円弧aの半径から変化してしまうと、その変化に応じて基板搬送時に基板Sに掛かる力が変化し、これに伴って基板Sの位置ずれを防止するために基板搬送速度を変化させる等して基板Sに掛かる力を管理する必要が生じる。即ち、基板搬送時に基板Sに掛かる力を管理するために基板搬送制御が複雑化し、これにより、計算負荷がより大きくなってしまう。
更に、基板サイズの大型化に伴い、載置室92の面積増加を最小限に抑えるために載置室92の基板搬入出口と基板Sとのクリアランスを小さくする必要が生じる。ここで、基板Sの進行方向は、仮の経由点P1の近傍、つまり、載置室92の基板搬入出口の近傍で大きく変化するため、基板Sが載置室92の基板搬入出口と干渉(衝突、接触等)する危険性が高くなる。
本発明の目的は、基板搬送経路を変更する必要が生じた場合に、基板搬送経路を再計算する負荷を軽減することができると共に、基板搬送時に基板に掛かる慣性力や遠心力等の力の管理を容易にし、さらに基板搬入出口に対する基板の干渉を抑制することができる基板搬送経路の決定方法、基板搬送装置、基板処理装置及びプログラムを提供することにある。
上記目的を達成するために、請求項1記載の基板搬送経路の決定方法は、基板搬送ロボットの基板保持部に保持された基板を搬送するために前記基板保持部を所定の始点から終点へと移動させる際の基板搬送経路の決定方法であって、前記基板搬送経路は、前記始点を通る第1の直線の軌道を定め、前記第1の直線と接する円弧の軌道を算出し、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線を算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線を前記第2の直線として再算出し、前記基板保持部の中心を、前記第1の直線上を移動させた後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動させ、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動させて前記終点へ到達させるように決定されることを特徴とする。
請求項2記載の基板搬送経路の決定方法は、請求項1記載の基板搬送経路の決定方法において、前記基板は直径が450mmの円板状の半導体ウエハであることを特徴とする。
上記目的を達成するために、請求項3記載の基板搬送装置は、基板を保持する基板保持部と、前記基板保持部に保持された基板を搬送するために前記基板保持部を所定の始点から終点へと移動させる際の基板搬送経路を決定する制御部と、前記制御部により決定された基板搬送経路にしたがって前記基板保持部を駆動する駆動部とを備える基板搬送装置であって、前記制御部は、前記基板搬送経路としての前記始点を通る第1の直線の軌道と、前記第1の直線と接する円弧の軌道と、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線の軌道とを算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線を前記第2の直線として再算出し、前記駆動部は、前記基板保持部の中心が、前記第1の直線上を移動した後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動し、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動して前記終点へ到達するように前記基板保持部を駆動することにより前記基板を前記始点側から前記終点側へと搬送することを特徴とする。
請求項4記載の基板搬送装置は、請求項3記載の基板搬送装置において、前記基板は直径が450mmの円板状の半導体ウエハであることを特徴とする。
上記目的を達成するために、請求項5記載の基板処理装置は、基板を載置する載置部を有し、前記載置部に載置された基板に対して所定の処理を施す基板処理部と、基板を保持する基板保持部を有し、前記基板保持部に保持した基板を前記載置部へ搬送する基板搬送装置と、前記基板搬送装置による基板搬送経路を決定する制御部と、前記制御部により決定された基板搬送経路にしたがって前記基板保持部を駆動する駆動部とを備える基板処理装置であって、前記制御部は、前記載置部の中心を終点とし、前記基板保持部に保持された基板を所定の始点から前記載置部へ搬送するために、前記基板搬送経路としての前記始点を通る第1の直線の軌道と、前記第1の直線と接する円弧の軌道と、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線の軌道とを算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線を前記第2の直線として再算出し、前記駆動部は、前記基板保持部の中心が、前記第1の直線上を移動した後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動し、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動して前記終点へ到達するように、前記基板保持部を駆動することを特徴とする。
請求項6記載の基板処理装置は、請求項5記載の基板処理装置において、前記制御部は、前記基板の中心が前記基板保持部の中心との間にずれが生じている場合に前記基板の中心と前記載置部の中心とが一致するように前記終点の位置を変更することを特徴とする。
請求項7記載の基板処理装置は、請求項5又は6記載の基板処理装置において、前記基板は直径が450mmの円板状の半導体ウエハであることを特徴とする。
請求項8記載の基板処理装置は、請求項5乃至7のいずれか1項に記載の基板処理装置において、前記基板処理部は、基板処理室を有し、前記基板処理室は、大気雰囲気と真空雰囲気との間で切り換えを行う基板載置室、又は、基板に対してプラズマ処理を施すプラズマ処理室であることを特徴とする。
上記目的を達成するために、請求項9記載のプログラムは、基板搬送ロボットの基板保持部に保持された基板を搬送するために前記基板保持部を所定の始点から終点へと移動させる際の基板搬送経路の決定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記基板搬送経路は、前記始点を通る第1の直線の軌道を定め、前記第1の直線と接する円弧の軌道を算出し、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線を算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線が前記第2の直線として再算出し、前記基板保持部の中心を、前記第1の直線上を移動させた後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動させ、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動させて前記終点へ到達させるように決定されることを特徴とする。
本発明によれば、基板を保持する基板保持部の中心が通過する基板搬送経路として、始点を通る第1の直線の軌道を定め、この第1の直線と接する円弧の軌道を算出し、この円弧に接すると共に終点を通る第2の直線を算出する。そして、その後に終点の位置が変更された場合には、円弧の半径を変えることなく、変更された終点を通ると共に、既に算出した円弧と接する直線を第2の直線として再算出する。
よって、終点の位置が変更されたために第2の直線が変更された場合には、第2の直線と円弧との接点が変更され、変更後の接点で円弧から第2の直線へ抜けるように基板搬送経路が変更される。そのため、基板を目的位置へ搬送するために基板保持部の軌道を変更する必要が生じた場合でも、円弧の軌道の再計算を行うことなく、円弧の軌道から抜けるタイミングを変えるだけで基板を目的位置(変更後の終点)へ搬送することができるので、搬送経路を計算するための計算負荷を軽減することができる。その際、円弧の軌道の再計算は行われず、つまり、円弧の半径は変化せずに常に一定のため、基板搬送時に基板に掛かる力も常に一定となる。これにより、基板搬送時に基板に掛かる力の管理(例えば、基板搬送速度の制御)が容易となる。
その際に、基板搬入出口と基板保持部とのクリアランスがほぼ変化しないため、基板が基板搬入出口に干渉(衝突、接触)することを確実に防止することができる。また、基板の基板搬入出口に対する干渉を回避できないとの判断も容易となり、この場合には、干渉が発生する前に基板搬送を停止する等の対処を行うことが可能になる。
本発明の実施の形態に係る基板処理システムの概略構成を示す平面図である。 本発明の実施の形態に係る基板搬送経路の決定方法を模式的に示す図である。 従来の円弧補間方法により基板を搬送する例を模式的に示す図である。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。ここでは、基板として直径が450mm(φ450mm)の半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)を取り上げ、ウエハに対してプラズマ処理を施す基板処理システム(プラズマ処理システム)を取り上げることとする。
図1は、本発明の実施の形態に係る基板処理システム10の概略構成を示す平面図である。基板処理システム10は、ウエハWを枚葉で(1枚ずつ)プラズマ処理を施すように構成されている。具体的には、基板処理システム10は、平面視略五角形状のトランスファモジュール11(基板搬送室)と、トランスファモジュール11の周りに放射状に配置されてトランスファモジュール11に接続された6つのプロセスモジュール12(基板処理室)と、トランスファモジュール11に対向して配置されたローダーモジュール13と、トランスファモジュール11とローダーモジュール13との間に介在する2つのロードロックモジュール14(大気/真空切替室)とを備える。
プロセスモジュール12は真空チャンバを有し、真空チャンバ内にはウエハWを載置する載置台としての円柱状のステージ15が設けられている。プロセスモジュール12では、ステージ15にウエハWが載置された後に真空チャンバ内を所定の真空度とし、処理ガスを導入すると共に真空チャンバ内に高周波電力を印加してプラズマを生成させ、生成したプラズマによってウエハWにエッチング処理等のプラズマ処理を施す。プロセスモジュール12とトランスファモジュール11とは、開閉自在なゲートバルブ16で仕切られている。
プロセスモジュール12が備えるステージ15には、ステージ15の上面から突出自在に、複数(例えば、3本)の細棒状のリフトピンが設けられている。これらのリフトピンは、平面視において同一円周上に配置されており、ステージ15の上面から突出することによってステージ15に載置されたウエハWを支持して持ち上げ、ステージ15内へ退出することによって支持したウエハWをステージ15へ載置する。
トランスファモジュール11は、真空(減圧)雰囲気に維持されており、その内部には、2つのスカラアームタイプの2本の搬送アーム17aと、内部に配置された不図示のガイドレールとを有する第1搬送装置17が配置されている。2本の搬送アーム17aはそれぞれ、旋回自在かつ伸縮自在に構成されており、その先端にはウエハWを載置して保持するフォーク(エンドエフェクタ)17bが取り付けられている。第1搬送装置17は、ガイドレールに沿って移動自在であり、各プロセスモジュール12及び各ロードロックモジュール14の間でウエハWを搬送する。
ロードロックモジュール14は、真空雰囲気と大気圧雰囲気とに切り換え可能な内圧可変室として構成されている。ロードロックモジュール14とトランスファモジュール11とは開閉自在なゲートバルブ19aで仕切られており、ロードロックモジュール14とローダーモジュール13とは開閉自在なゲートバルブ19bで仕切られている。ロードロックモジュール14の内部には、ウエハWを載置する載置台としての円柱状のステージ18が配置されており、ステージ18には、プロセスモジュール12のステージ15と同様に、リフトピンがステージ18の上面から突出自在に設けられている。
ロードロックモジュール14は、ウエハWをローダーモジュール13からトランスファモジュール11へ搬送する際には、先ず、内部を大気圧に維持してローダーモジュール13からウエハWを受け取り、次いで、内部を真空まで減圧してトランスファモジュール11へウエハWを受け渡す。逆に、ウエハWをトランスファモジュール11からローダーモジュール13へ搬送する際には、先ず、内部を真空に維持してトランスファモジュール11からウエハWを受け取り、次いで、内部を大気圧へと昇圧してローダーモジュール13へウエハWを受け渡す。
ローダーモジュール13は、直方体状の大気搬送室として構成されており、長手方向の一方の側面にロードロックモジュール14が接続され、長手方向の他方の側面には、複数のウエハWを収容する容器である不図示のフープを載置するための複数(ここでは3つ)のフープ載置台21が接続されている。
ローダーモジュール13の内部には、ウエハWを搬送する第2搬送装置20が配置されており、第2搬送装置20は、不図示のガイドレールと、スカラアームタイプの搬送アーム20aとを有している。搬送アーム20aは、ガイドレールに沿って移動自在であり、また、旋回自在かつ伸縮自在に構成されている。第1搬送装置17と同様に、搬送アーム20aの先端にはウエハWを載置して保持するフォーク20bが取り付けられている。ローダーモジュール13では、第2搬送装置20が、フープ載置台21に載置されたフープと各ロードロックモジュール14との間でウエハWを搬送する。
基板処理システム10は、コンピュータからなる制御装置22を有する。制御装置22は、基板処理システム10全体の動作制御を行う上位制御部であり、その下位に、各種の動作要素の駆動制御を行う下位制御部を備える。図1には、下位制御部の一例として、第1搬送装置17の駆動を制御する第1搬送コントローラ23と、第2搬送装置20の駆動を制御する第2搬送コントローラ24を示している。但し、下位制御部はこれらに限定されるものではない。
なお、トランスファモジュール11には、プロセスモジュール12に対して設けられたゲートバルブ16の近傍及びロードロックモジュール14に対して設けられたゲートバルブ19aの近傍に、フォーク17bに保持されたウエハWの位置ずれを検出するための位置検出センサ(図1に不図示、図2(a)参照)が設けられている。位置検出センサがウエハWの中心とフォーク17bの中心との位置ずれを検出した場合には、以下に図2を参照して説明する通り、第1搬送コントローラ23は、ウエハWをステージ15又はステージ18に位置ずれを補正して載置するように、フォーク17bの搬送経路を変更する。
次に、第1搬送装置17を例に、ウエハWの搬送経路の決定方法について説明する。ここでは、第1搬送装置17がロードロックモジュール14にウエハWを搬入する場合の搬送経路の決定方法を取り上げることとするが、第1搬送装置17がプロセスモジュール12に対してウエハWを搬入する動作や、第2搬送装置20がロードロックモジュール14にウエハWを搬入するための搬送経路の決定方法として用いることもできる。
図2(a)は、第1搬送装置17のフォーク17bが保持したウエハWがロードロックモジュール14へ搬送されるときの搬送経路を示した図である。図2(a)において、ゲートバルブ19aの中心を経由点P1とし、ロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心を終点P2として、経由点P1と終点P2とを結ぶ直線Bと平行な方向をy軸方向とする。また、y軸と直交するx軸を図2(b)に示すように定める。なお、図2(a),(b)で設定したx軸及びy軸は、後述する図2(c),(d)にも同様に適用される。
図2(a)には、ウエハWを保持したフォーク17bが、ウエハWをロードロックモジュール14へ搬入するための動作を開始する点が始点Oとして示されている。y軸と角度αで交差する直線Aは、ウエハWの搬送方向の1つを示しており、角度α及び直線Aは、第1搬送装置17とロードロックモジュール14の位置関係に基づいて定めることができる。逆に言えば、基板処理システム10を省スペース化すべく、第1搬送装置17とロードロックモジュール14とは配設されており、その配置によれば、第1搬送装置17はフォーク17bをロードロックモジュール14に対して単純な一方向(=直線B方向)の移動によってはアクセスさせることができないことを前提とする。
フォーク17bの中心を、始点O側から直線A上を移動させて位置P3に到達させた後に、後述する円弧補間方法により求めた円弧A上を移動させて経由点P1へ到達させ、その後、ウエハWの搬送方向の1つである直線B上を経由点P1から終点P2へと移動させる。
ここで、図2(a)に示すように、フォーク17bが直線A上を移動しているときに、搬送経路に設けられた位置検出センサ25によりウエハWの中心が検知される。ここでは、位置検出センサ25から出力信号に基づいて、第1搬送コントローラ23は、ウエハWの中心がフォーク17bの中心と一致していると判定したものとする。つまり、ウエハWがフォーク17bに対して位置ずれすることなく保持されているものとすると、フォーク17bの中心とウエハWの中心とは一致するため、フォーク17bの中心が、始点O→直線A→位置P3→円弧A→経由点P1→直線B→終点P2の搬送経路を通るようにフォーク17bを駆動することにより、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するようにウエハWを搬送することができる。
図2(b)は、図2(a)に示す搬送経路の決定方法を模式的に示す図である。図2(b)に示すウエハWの搬送経路は、第1搬送コントローラ23が、搬送経路を決定するための所定のプログラムを実行することにより行われる。
図2(a)について説明した通りに、予め、第1の搬送方向を示す直線A、第2の搬送方向を示す直線B、始点O、経由点P1及び終点P2が定められる。そのため、円弧Aの軌道を算出する必要があり、円弧Aの軌道を、(1)直線Aと接する(直線Aが接線となる)、(2)経由点P1を通り、円弧Aの中心が経由点P1を通るx軸上にある(経由点P1のy軸座標と円弧Aの中心のy軸座標とが同じ)、という2条件を満足するように算出する。これにより、直線Aと円弧Aとの接点である位置P3も定まるため、位置P3から円弧A上を通って経由点P1に至る搬送経路が定まり、よって、始点Oから終点P2に至る、図2(a)と同じ搬送経路が決定される。
次に、ウエハWがフォーク17bに位置ずれが生じた状態で保持されている場合を考える。この場合、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するようにウエハWを搬送するためには、フォーク17bの搬送経路を変更する必要が生じる。本実施の形態では、円弧Aの軌道を再算出することなく、ウエハWの位置ずれ量に応じてフォーク17bの中心が円弧Aを抜けるタイミングを変化させることによって、この問題に対応する。以下、図2(c),(d)を参照して詳細に説明する。
図2(c),(d)はそれぞれ、ウエハWの中心とフォーク17bの中心とに位置ずれが生じている場合のフォーク17bの搬送経路の決定方法を模式的に示す図である。図2(c)は、フォーク17bの中心に対して、直線Aと直交する矢印Q方向に+Δ(以下「位置ずれ量+Δ」という)だけウエハWの中心がずれているために、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するように、フォーク17bの中心を−x側の変更後の終点P2aへ移動させる搬送経路を示している。
フォーク17bが直線A上を移動しているときに、第1搬送コントローラ23が位置検出センサ25の出力信号に基づいてウエハWの位置ずれ量+Δを検出すると、第1搬送コントローラ23は、位置ずれ量+Δに基づいて、フォーク17bの終点を終点P2から終点P2aへ変更する。そして、第1搬送コントローラ23は、変更後の終点P2aを通り、円弧Aに接する直線B1を計算し、円弧Aと直線B1との接点P4aを求め、フォーク17bを、円弧A上を移動させた後に位置P4aで円弧Aから直線B1へ抜けるように、搬送経路を決定する。
こうして決定された搬送経路にしたがって、フォーク17bの中心が、始点O→直線A→位置P3→円弧A→(経由点P1)→位置P4a→直線B1→終点P2aを通るようにフォーク17bを駆動することにより、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するようにウエハWを搬送することができる。
なお、フォーク17bの中心に対して直線Aと直交する矢印Qの向きにウエハWの中心がずれている場合には、変更後の終点P2aの位置と円弧Aとの関係から、位置P4aは、円弧A上で経由点P1を過ぎた後の点として求められ、その結果、フォーク17bの中心は必ず経由点P1を通過する。
ここで、図2(a)を参照して説明した通り、経由点P1はゲートバルブ19aのx軸方向中心と定められているため、フォーク17bの中心が経由点P1を通過するということは、ロードロックモジュール14のウエハ搬入出口のx方向幅に対するフォーク17bのクリアランスが一定であることを示している。一方、ウエハWの直径も既知であるので、位置検出センサ25によって検出された位置ずれ量+Δが、ウエハWをロードロックモジュール14のウエハ搬入出口に干渉することなくロードロックモジュール14の内部に搬入することができるクリアランスを超えている場合には、ウエハWのロードロックモジュール14への搬入を中止するという処理の実行が容易に可能になる。
図2(d)は、フォーク17bの中心に対して、直線Aと直交する矢印Qの向きの逆向きに位置ずれ量−ΔだけウエハWの中心がずれているために、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するように、フォーク17bの中心を+x側の変更後の終点P2bへ移動させる搬送経路を示している。この場合の搬送経路の決定方法は、図2(c)での搬送経路の決定方法に準ずる。
即ち、フォーク17bが直線A上を移動しているときに、第1搬送コントローラ23が位置検出センサ25の出力信号に基づいてウエハWの位置ずれ量−Δを検出すると、第1搬送コントローラ23は、位置ずれ量−Δからフォーク17bの終点を終点P2から終点P2bへ変更する。そして、第1搬送コントローラ23は、変更後の終点P2bを通り、円弧Aに接する直線B2を計算し、円弧Aと直線B2との接点P4bを求め、フォーク17bを、円弧A上を移動させた後に位置P4bで円弧Aから直線B2へ抜けるように、搬送経路を決定する。こうして決定された搬送経路にしたがって、フォーク17bの中心が、始点O→直線A→位置P3→円弧A→位置P4b→直線B2→終点P2bを通るようにフォーク17bを駆動することにより、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するようにウエハWを搬送することができる。
なお、フォーク17bの中心に対して直線Aと直交する矢印Qの向きとは反対の向きにウエハWの中心がずれている場合には、変更後の終点P2bの位置と円弧Aとの関係から、位置P4bは、円弧A上で経由点P1に到達する前の点として求められる。この場合でも、直線B2が計算された時点で、経由点P1を通るx軸上のどの座標点を直線B2が通るかを知ることができるため、この座標点、位置ずれ量−Δ、ウエハWの直径及びロードロックモジュール14のウエハ搬入出口のx方向幅とから、ウエハWをロードロックモジュール14のウエハ搬入出口に干渉することなくロードロックモジュール14の内部に搬入することができるか否かの判定は容易に可能である。
また、図2(c),(d)には、直線Aと直交する方向においてフォーク17bの中心に対してウエハWの中心がずれている場合の搬送経路の決定方法を示した。これに対して、直線A方向においてのみ、フォーク17bの中心に対してウエハWの中心がずれている場合には、図2(b)において、直線B上での搬送長さを調整すればよい。したがって、フォーク17bの中心に対するウエハWの中心の任意の方向における位置ずれは、図2(c),(d)を参照して説明したように直線B1,B2を求めると共に、その長さを補正することにより、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するようにウエハWを搬送することができる。
以上の説明の通り、本実施の形態では、ウエハWがフォーク17bに位置ずれが生じた状態で保持されており、ウエハWの中心がロードロックモジュール14に設けられたステージ18の中心と合致するようにウエハWを搬送する場合に、補正後の終点P2a,P2bを通り、円弧Aに接する直線B1,B2を求め、円弧Aと直線B1,B2との接点(位置P4a,P4b)でフォーク17bの中心が円弧Aを抜けるようにする。これにより、フォーク17bとロードロックモジュール14のウエハ搬入出口とのクリアランスをほぼ一定に保持することができ、ウエハWとロードロックモジュール14におけるウエハ搬入出口との干渉(衝突)を防止することができる。また、ウエハWのフォーク17bに対する位置ずれ量+Δ,−Δに応じて円弧Aの軌道を算出し直す必要がないため、第1搬送コントローラ23の計算負荷を小さく抑えることができ、第1搬送コントローラ23にかかるコストを抑えることもできる。同時に、円弧Aの軌道は再計算されず、よって、円弧Aの半径は変化せずに常に一定のため、ウエハWの搬送時にウエハWに掛かる慣性力や遠心力等の力も常に一定となる。これにより、ウエハWの搬送時にウエハWに掛かる力の管理(例えば、搬送速度の制御)が容易となる。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。上記説明では、ウエハWの搬送中に位置検出センサ25によりウエハWのフォーク17bに対するずれ量が検出された場合に、ウエハWの搬送経路を変更した。しかし、このような例に限定されず、例えば、ウエハWの搬送先に予めオフセットが設定されている場合にも、上述した基板搬送経路の決定方法を用いることができる。この場合も、一旦算出した円弧Aの軌道を再計算することないため、ウエハWの搬送経路を計算するための計算負荷を軽減することができる。また、円弧Aを抜けるタイミングを変えるだけで、ウエハWを目的位置へと正確に搬送することができる。更に、円弧Aの軌道は再計算されず、よって、円弧Aの半径は変化せずに常に一定のため、ウエハWの搬送時にウエハWに掛かる慣性力や遠心力等の力も常に一定となる。これにより、ウエハWの搬送時にウエハWに掛かる力の管理(例えば、搬送速度の制御)が容易となる。
また、上記説明では、ウエハWに対してプラズマ処理を行う基板処理システム10を取り上げたが、これに限定されず、ウエハWを枚葉で処理するその他の処理システム(例えば、洗浄システム、成膜システム等)におけるウエハWの搬送経路の決定方法にも、上述した基板搬送経路の決定方法を用いることができる。また、上記実施の形態では、第1搬送コントローラ23がウエハWの搬送経路を決定する演算処理を担うとしたが、上位制御部である制御装置22がウエハWの搬送経路を決定する演算処理を行い、第1搬送コントローラ23は、制御装置22から受信する搬送経路に関わる制御情報に基づいて第1搬送装置17の動作を制御する構成としてもよい。
更に、上記説明では、基板としてウエハWを取り上げたが、これに限定されるものではなく、例えば、液晶ディスプレイ(LCD)用ガラス基板を処理する処理装置におけるガラス基板の搬送等にも、上述した基板搬送経路の決定方法を用いることができる。
10 基板処理システム
12 プロセスモジュール12
17 第1搬送装置
19a,19b ゲートバルブ
20 第2搬送装置
22 制御装置
23 第1搬送コントローラ
24 第2搬送コントローラ
25 位置検出センサ

Claims (9)

  1. 基板搬送ロボットの基板保持部に保持された基板を搬送するために前記基板保持部を所定の始点から終点へと移動させる際の基板搬送経路の決定方法であって、
    前記基板搬送経路は、
    前記始点を通る第1の直線の軌道を定め、前記第1の直線と接する円弧の軌道を算出し、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線を算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線を前記第2の直線として再算出し、前記基板保持部の中心を、前記第1の直線上を移動させた後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動させ、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動させて前記終点へ到達させるように決定されことを特徴とする基板搬送経路の決定方法。
  2. 前記基板は直径が450mmの円板状の半導体ウエハであることを特徴とする請求項1記載の基板搬送経路の決定方法。
  3. 基板を保持する基板保持部と、
    前記基板保持部に保持された基板を搬送するために前記基板保持部を所定の始点から終点へと移動させる際の基板搬送経路を決定する制御部と、
    前記制御部により決定された基板搬送経路にしたがって前記基板保持部を駆動する駆動部とを備える基板搬送装置であって、
    前記制御部は、前記基板搬送経路としての前記始点を通る第1の直線の軌道と、前記第1の直線と接する円弧の軌道と、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線の軌道とを算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線を前記第2の直線として再算出し、
    前記駆動部は、前記基板保持部の中心が、前記第1の直線上を移動した後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動し、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動して前記終点へ到達するように前記基板保持部を駆動することにより前記基板を前記始点側から前記終点側へと搬送することを特徴とする基板搬送装置。
  4. 前記基板は直径が450mmの円板状の半導体ウエハであることを特徴とする請求項3記載の基板搬送装置。
  5. 基板を載置する載置部を有し、前記載置部に載置された基板に対して所定の処理を施す基板処理部と、
    基板を保持する基板保持部を有し、前記基板保持部に保持した基板を前記載置部へ搬送する基板搬送装置と、
    前記基板搬送装置による基板搬送経路を決定する制御部と、
    前記制御部により決定された基板搬送経路にしたがって前記基板保持部を駆動する駆動部とを備える基板処理装置であって、
    前記制御部は、前記載置部の中心を終点とし、前記基板保持部に保持された基板を所定の始点から前記載置部へ搬送するために、前記基板搬送経路としての前記始点を通る第1の直線の軌道と、前記第1の直線と接する円弧の軌道と、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線の軌道とを算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線を前記第2の直線として再算出し、
    前記駆動部は、前記基板保持部の中心が、前記第1の直線上を移動した後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動し、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動して前記終点へ到達するように、前記基板保持部を駆動することを特徴とする基板処理装置。
  6. 前記制御部は、前記基板の中心が前記基板保持部の中心との間にずれが生じている場合に前記基板の中心と前記載置部の中心とが一致するように前記終点の位置を変更することを特徴とする請求項5記載の基板処理装置。
  7. 前記基板は直径が450mmの円板状の半導体ウエハであることを特徴とする請求項5又は6記載の基板処理装置。
  8. 前記基板処理部は、基板処理室を有し、
    前記基板処理室は、大気雰囲気と真空雰囲気との間で切り換えを行う基板載置室、又は、基板に対してプラズマ処理を施すプラズマ処理室であることを特徴とする請求項5乃至7のいずれか1項に記載の基板処理装置。
  9. 基板搬送ロボットの基板保持部に保持された基板を搬送するために前記基板保持部を所定の始点から終点へと移動させる際の基板搬送経路の決定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
    前記基板搬送経路は、
    前記始点を通る第1の直線の軌道を定め、前記第1の直線と接する円弧の軌道を算出し、前記円弧に接すると共に前記終点を通る第2の直線を算出し、その後に前記終点の位置が変更された場合には、前記円弧の半径を変化させずに前記変更された終点を通ると共に前記円弧と接する直線が前記第2の直線として再算出し、前記基板保持部の中心を、前記第1の直線上を移動させた後に前記第1の直線と前記円弧との接点からは前記円弧上を移動させ、続いて、前記円弧と前記第2の直線との接点からは前記第2の直線上を移動させて前記終点へ到達させるように決定されることを特徴とするプログラム。
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