JP6059000B2 - ウェハ欠陥検査装置 - Google Patents
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Description
これにより、連続して検査されるウェハごとに有効な検査条件が変化してしまう場合でも、照明装置の照度を調整することによって検査対象のウェハの輝度が安定するので、ウェハの欠陥部の検出漏れが減少し、検査精度を向上させることができる。
また、ウェハの欠陥部の検出漏れが減少することから、欠陥ウェハをより確実に取り除くことができるので、欠陥ウェハの流出が低減され、製品となるウェハの品質向上にもつながる。
図1は、本発明の実施形態に係るウェハ欠陥検査装置1を示す概略構成図である。ウェハ欠陥検査装置1は、ソーラーウェハ(ウェハ)2の内部に存在するクラックや混入した異物等の欠陥部を検出する装置である。ウェハ欠陥検査装置1は、赤外光源(照明装置)10と、増幅器(照明装置)12と、赤外線カメラ(撮像装置)14と、搬送装置16と、モニタ18と、演算装置(制御装置、検査装置)20とを備える。
ステップS4では、ソーラーウェハ2の合計枚数iが規定枚数N(Nは1以上の整数)以上になったか否かを判定する。ここで述べる規定枚数Nとは、後述するステップS6で求める判定輝度が適切な輝度となるために十分な枚数のことである。当該判定結果が真(Yes)の場合、ソーラーウェハ2の合計枚数iが規定枚数N以上であるとしてステップS5に進み、当該判定結果が偽(No)の場合、ソーラーウェハ2の合計枚数が規定枚数N未満であるとして本フローチャートを終了する。
ステップS6では、i番目のソーラーウェハ2からi−N+1番目のソーラーウェハ2までの判定輝度として、上記ステップS5で求めた輝度の合計から平均輝度を算出する。詳しくは、上記ステップS5で求めた輝度の合計を規定枚数Nで割り、透過光の平均輝度を求める。
ステップS9では、上記ステップS6で求めた判定輝度が、最適輝度から許容輝度を引いた輝度、即ち最適な範囲の下限輝度より低いか否かを判定する。なお、本ステップの許容輝度は、上記ステップS7の許容輝度と同じ値でもよいし、異なる値でもよい。当該判定結果が真(Yes)の場合には、判定輝度が最適な範囲の下限輝度よりも低い、即ちソーラーウェハ2の欠陥検査に適さない輝度になりつつあるとしてステップS10に進む。一方、当該判定結果が偽(No)と判定された場合には、判定輝度はソーラーウェハ2の欠陥検査において有効な結果を得るための最適な輝度の範囲内にあるとして本フローチャートを終了する。
これにより、ソーラーウェハ2の表面状態が徐々に変化して透過光の輝度が徐々に高くなっていく場合でも、赤外線画像の輝度、即ちソーラーウェハ2の透過光の輝度が検査に適した輝度となるように赤外光源10の照度を調整する。従って固定砥粒式ワイヤソー装置で切断加工されたソーラーウェハ2の検査を行う場合でも、その透過光の輝度に応じて照度を調整するのでソーラーウェハ2に存在する欠陥部分の検出漏れを低減することができ、検査精度を向上させることができる。また、検査精度が向上することにより欠陥部分が存在するソーラーウェハ2の流出も低減するので、ソーラーウェハ2の品質をより向上させることが可能となる。
例えば、上記実施形態では、赤外光源10はソーラーウェハ2の下側から、ソーラーウェハ2の面に対して垂直に配置しているが、ソーラーウェハ2の面に対して斜めに配置して赤外光を照射するようにしてもよい。
2 ソーラーウェハ(ウェハ)
10 赤外光源(照明装置)
12 増幅器(照明装置)
14 赤外線カメラ(撮像装置)
20 演算装置(制御装置、検査装置)
22 輝度検出部(輝度検出手段)
24 照度制御部(照度制御手段)
26 欠陥検査部
Claims (4)
- ウェハに光を照射する照明装置と、
前記光が照射されたウェハの透過光及び反射光の少なくともいずれか一方を撮像する撮像装置と、
撮像されたウェハの画像に基づいて前記ウェハの欠陥を検査する検査装置と、
前記照明装置の照度を調整する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記撮像装置で撮像したウェハの画像から輝度を検出する輝度検出手段と、
前記輝度検出手段により検出された輝度に基づいて算出された判定輝度と、検査において基準の輝度となる最適輝度を含む所定の範囲とを比較し、前記判定輝度が前記所定の範囲内にない場合、前記判定輝度が前記所定の範囲内となるように前記照明装置の照度を調整する照度制御手段と、を備え、
前記判定輝度は、撮像されたウェハの画像のうち、最新の画像から検出された輝度と、前記最新の画像から連続する複数の画像から検出された輝度との平均値であることを特徴とするウェハ欠陥検査装置。 - 前記照明装置は、前記ウェハに赤外光を照射する赤外線照明装置であり、
前記撮像装置は、前記赤外光を照射されたウェハを透過した赤外線の透過光を撮像する
ことを特徴とする請求項1に記載のウェハ欠陥検査装置。 - 前記判定輝度は、複数のウェハ画像から検出された輝度に基づいて算出されることを特徴とする請求項1または2に記載のウェハ欠陥検査装置。
- 前記照度制御手段は、前記判定輝度が前記所定の範囲内にないと判定された場合、前記判定輝度と、前記最適輝度との差分に応じて前記照明装置の照度を調整することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のウェハ欠陥検査装置。
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