JP6025450B2 - 光学走査装置 - Google Patents

Description

本発明は、光学走査装置及びそれを有する画像形成装置に関する。

近年、カラープリンタのような画像形成装置では、４個の感光体に、各々、イエロー、マゼンタ、シアン、ブラックの画像を形成し、中間転写体や記録材上にて順に重ね合わせてカラー画像を形成するタンデム方式が多く用いられている。タンデム方式を用いた画像形成装置では、装置本体の小型化や低価格化のために、偏向走査装置が次のように構成されたものが知られている。すなわち、複数の波長の異なる光線（光ビーム）を発生させる発光点を副走査方向に同一軸に合成し、各光源からの光線をそれぞれポリゴンミラーにより偏向して走査レンズに照射する。そして走査レンズを通過した光線を、ダイクロイックミラーと偏光ビームスプリッタを用いて分離し、複数の感光体（複数の被走査面）に夫々に照射する。このような構成の光学系を、ポリゴンミラーを中心として対称に配置した偏向走査装置が、例えば、特許文献１に記載されている。

特開２００９−６３７３９号公報

しかしながら、ポリゴンミラーの両側に対称に光線を照射する場合、一方の光学系の走査レンズのレンズ表面等で反射することより発生した迷光が、ポリゴンミラーの脇をすり抜け、反対側の光学系に入射する虞がある。この場合、迷光が反対側の光学系の像面（感光体）に達すると画像不良となる。このような迷光のすり抜けを防ぐため、ポリゴンミラー近傍に遮光板を設けて、一方の光学系で発生した光線が他方の光学系に入射しないようにすることが考えられる。しかし、ポリゴンミラーは高速で回転しているため、遮光板をポリゴンミラーに近接して配置すると遮光板とポリゴンミラーの間で風切り音が発生してしまうため、遮光板とポリゴンミラーの間はある程度間隔を空ける必要がある。したがって、遮光板とポリゴンミラーの隙間を完全に埋めることは出来ないため、反射光の一部は、遮光板とポリゴンミラーの間をすり抜けてしまい、画像不良を十分に防止できないことがある。

本発明の目的は、一方の光学系が照射する被走査面に、ポリゴンミラー挟んで反対側に配置された光学系で発生した迷光が照射されることを抑制することである。

上記目的を達成するために本発明は、第１、第２レーザ光をそれぞれ出射する第１、第２光源と、前記第１、第２レーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、各々が前記偏向走査手段の光路下流側に配置された走査レンズ、及び、前記走査レンズの光路下流側に配置された偏光ビームスプリッタを備え、前記偏向走査手段を挟んで対向して配置された第１、第２走査光学系と、を有し、前記偏向走査手段によって偏向走査された第１、第２レーザ光を、前記第１、第２走査光学系によってそれぞれ対応する被走査面に導く光学走査装置において、前記第１走査光学系は、前記走査レンズの光路下流側で前記偏光ビームスプリッタの光路上流側に配置された１／２波長板を備え、前記第１、第２走査光学系に入射する前の前記第１レーザ光と、前記第２レーザ光は偏光方向が互いにπ／２異なることを特徴とする。
また、上記目的を達成するために本発明は、第１、第２レーザ光をそれぞれ出射する第１、第２光源と、前記第１、第２レーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、前記偏向走査手段の光路下流側に配置された走査レンズを備え、前記偏向走査手段を挟んで対向して配置された第１、第２走査光学系とを有し、前記偏向走査手段によって偏向走査された第１、第２レーザ光を、前記第１、第２走査光学系によってそれぞれ対応する被走査面に導く光学走査装置において、前記第１走査光学系は、前記走査レンズの光路下流側に配置された１／２波長板と、前記１／２波長板の光路下流側に配置された偏光ビームスプリッタと、を備え、前記第１、第２走査光学系に入射する前の前記第１レーザ光と、前記第２レーザ光は偏光方向が互いにπ／２異なることを特徴とする。
また、上記目的を達成するために本発明は、第１、第２レーザ光をそれぞれ出射する第１、第２光源と、前記第１、第２レーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、前記偏向走査手段の光路下流側に配置された走査レンズを備え、前記偏向走査手段を挟んで対向して配置された第１、第２走査光学系とを有し、前記偏向走査手段によって偏向走査された第１、第２レーザ光を、前記第１、第２走査光学系によってそれぞれ対応する被走査面に導く光学走査装置において、前記第２走査光学系は、前記走査レンズの光路下流側に配置された偏光ビームスプリッタを備え、前記第１、第２走査光学系に入射する前の前記第１レーザ光と、前記第２レーザ光は偏光方向が互いにπ／２異なることを特徴とする。
また、上記目的を達成するために本発明は、上記光学走査装置と、前記被走査面としての複数の感光体と、を有し、前記第１、第２レーザ光で異なる前記感光体を走査することで記録材に画像を形成することを特徴とする。

以上説明したように、本発明によれば、一方の光学系が照射する被走査面に、ポリゴンミラー挟んで反対側に配置された光学系で発生した迷光が被走査面に照射されることを抑制することができる。

本発明の実施例１に係る光学走査装置の構成を示す斜視図。 第１の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図。 第２の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図。 第３の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図。 第４の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図。 本発明の実施例２に係る偏向走査装置の構成を示す斜視図。

以下に図面を参照して、この発明を実施するための形態を、実施例に基づいて例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状それらの相対配置などは、発明が適用される装置の構成や各種条件により適宜変更されるべきものである。すなわち、この発明の範囲を以下の実施の形態に限定する趣旨のものではない。

図１は、本発明の実施例１に係る偏向走査装置（光学走査装置）の構成を示す斜視図である。
偏向走査装置は、レーザービームプリンタやデジタル複写機等の画像形成装置に用いられるものであり、画像情報に基づいて光変調された光線を偏向走査して被走査面としての感光体（感光体ドラム）の表面に照射するように構成されている。帯電された感光体の表面に偏向走査装置から光線が照射されることにより、感光体の表面に静電潜像が形成される。静電潜像に現像装置から各色のトナーが付与されることにより、感光体表面上の静電潜像がトナー像として可視化される。各色のトナー像は、中間転写体上又は転写材上に一括で転写されて単一の画像に合成される。これにより、カラー画像が形成される。

本実施例に係る偏向走査装置では、イエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｂｋ）の４色の画像情報にそれぞれ対応した光線が、光源としての半導体レーザ１Ｙ，１Ｍ，１Ｃ，１Ｂｋから出射される。半導体レーザ１Ｙ，１Ｍ，１Ｃ，１Ｂｋより出射された光線はコリメートレンズ（不図示）により略平行光に変換され、シリンドリカルレンズ２により、偏向器（偏向走査手段）としてのポリゴンミラー３の反射面（偏向面）上で線状に照射される。

半導体レーザ１Ｙ，１Ｍ，１Ｃ，１Ｂｋは、ポリゴンミラー３の回転軸に垂直な略同一平面上に配置されている。それぞれの半導体レーザから出射される光線の波長及び偏光状態は次の通りである。すなわち、半導体レーザ１Ｙは、波長が６５０ｎｍのＰ偏光、半導体レーザ１Ｍは、波長が７８０ｎｍのＰ偏光、半導体レーザ１Ｃは、波長が７８０ｎｍのＳ偏光、半導体レーザ１Ｂｋは、波長が６５０ｎｍのＳ偏光となっている。つまり、半導体レーザ１Ｙ、１Ｍと半導体レーザ１Ｃ、１Ｂｋとは偏光方向がπ／２異なる。

シリンドリカルレンズ２は、樹脂により一体成型されており、レンズによる戻り光の影響を避けるため、各レンズの光軸は各光線に対して若干傾けて配置されている。

半導体レーザ１Ｙ，１Ｍ，１Ｃ，１Ｂｋからは、それぞれ光線ＬＹ，ＬＭ，ＬＣ，ＬＢｋが出射され、光線ＬＭと光線ＬＹ、光線ＬＢｋと光線ＬＣがそれぞれポリゴンミラーの同一反射面に入射して互いに反対方向へと偏向反射されている。ここで、光線ＬＭと光線ＬＹが偏向走査される側を第１の光学系（第１走査光学系）と呼び、光線ＬＢｋと光線ＬＣが偏向走査される側を第２の光学系（第２走査光学系）と呼ぶこととする。各光線ＬＹ，ＬＭ，ＬＣ，ＬＢは互いに異なる光路を辿って対応する被走査面に照射される。このように、第１の光学系、第２の光学系は、夫々ポリゴンミラー３の光路下流側に配置されている。

ポリゴンミラー３はモータ（不図示）により等速回転しており、各光線を偏向走査している。走査レンズ４Ａ，４Ｂは、ポリゴンミラー３を中心に対称に配置されており、ポリゴンミラー３にて偏向走査された光線を被走査面としての感光体ドラム１１Ｙ，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｂｋ上で結像させ、等速走査させている。

第１の光学系には、第１の走査レンズとしての走査レンズ４Ａの後（光路下流側）に、光線の出射方向に沿って（光路上流から下流に向って）、偏光ビームスプリッタ５Ａ、１／４波長板６Ａ、ダイクロイックミラー７Ａ、折返しミラー８Ａが配置されている。第２の光学系には、第２の走査レンズとしての走査レンズ４Ｂの後（光路下流側）に、１／２波長板９、偏光ビームスプリッタ５Ｂ、１／４波長板６Ｂ、ダイクロイックミラー７Ｂ、折返しミラー８Ｂが光路上流から下流に向って順に配置されている。

ここで、偏光ビームスプリッタ５Ａ，５Ｂは、入射する光線の偏光状態により該光線を
透過又は反射させる第１の光学素子であり、本実施例では、Ｐ偏光は透過し、Ｓ偏光は反射するように構成されている。また、Ｓ偏光を反射する際、光線の入射方向によって反射方向が異なるように構成されている。入射する光線の偏光状態を変化させる第２の光学素子としての１／４波長板６Ａ、６Ｂは、入射した光線の偏光方向をπ／２（９０度）だけ回転させて通過させる。ダイクロイックミラー７Ａ，７Ｂは、ある波長帯域の光線は透過させ、ある波長帯域の光線は反射させる第３の光学素子であり、本実施例では、波長６５０ｎｍの光線は透過し、７８０ｎｍの光線は反射するミラーとなっている。１／２波長板９は、入射した光線の偏光方向をπ／２だけ回転させて通過させる第４の光学素子である。第１の光学系と第２の光学系の違いは、１／２波長板９の有無である。

また、光線ＬＢｋのうち走査レンズ４Ｂを通過しない光線を書き出し位置基準とするため、光線ＬＢＤが同期レンズ１２を通過して同期検知センサ１３へ入射する構造となっている。この同期検知センサ１３に入射する光線ＬＢＤを基準として、各光線の書き出し位置を決定している。本実施例では、同期レンズ１２と同期検知センサ１３を第２の光学系と同じ側に設けているが、第１の光学系と同じ側に設けても良い。

図２〜図５を参照して、偏向走査装置の動作原理を説明する。図２は、第１の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図である。図３は、第２の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図である。図４は、第３の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図である。図５は、第４の迷光を除去する動作原理を示す模式的断面図である。

図２は光線ＬＹのうち、走査レンズ４Ａのレンズ面にて反射された第１の迷光ＬＹＳが偏光ビームスプリッタ５Ｂにより除去される様子を示している。光線ＬＹは破線、迷光ＬＹＳは二点鎖線で示している。

まず、ポリゴンミラー３に入射した光線ＬＹは、波長６５０ｎｍのＰ偏光であるので、走査レンズ４Ａを透過し、偏光ビームスプリッタ５Ａもそのまま透過する。

１／４波長板６ＡにてＰ偏光だったものが、円偏光に変換される。円偏光に変換された光線は、波長６５０ｎｍを透過するダイクロイックミラー７Ａを透過し、折返しミラー８Ａにより感光体ドラム１１Ｙへ照射される。

一方、迷光ＬＹＳは、走査レンズ４Ａのレンズ表面で反射される。この図では、光線ＬＹと迷光ＬＹＳは、異なる高さを通るかのように記載しているが、これは説明のために記載しているものであり、実際には同一高さを通る。走査レンズ４Ａにより反射された迷光ＬＹＳは、ポリゴンミラー３の脇を通り、走査レンズ４Ｂを透過し、１／２波長板９により、Ｓ偏光へ変換される。Ｓ偏光は、偏光ビームスプリッタ５Ｂで反射される。偏光ビースプリッタ５Ｂは、１／２波長板９側から入射するＳ偏光を、第２の光学系から外れる方向であり、かつ第１の光学系に再び入射することがない方向に反射する。なお、１／４波長板６Ｂ側から入射するＳ偏光については、後述するように、感光体ドラム１１Ｃに入射する方向に反射する（図４参照）。したがって、迷光ＬＹＳが、感光体ドラム１１Ｃや感光体ドラム１１Ｂｋの表面に照射されることは無い。

図３は光線ＬＭのうち、走査レンズ４Ａのレンズ面にて反射された第２の迷光ＬＭＳが偏光ビームスプリッタ５Ｂにより除去される様子を示している。光線ＬＭは破線、光線ＬＭＳは二点鎖線で示している。

まず、ポリゴンミラー３に入射した光線ＬＭは、波長７８０ｎｍのＰ偏光であるので、走査レンズ４Ａを透過し、偏光ビームスプリッタ５Ａもそのまま透過する。

１／４波長板６ＡにてＰ偏光だったものが、円偏光に変換される。円偏光に変換された光線は、波長７８０ｎｍを反射するダイクロイックミラー７Ａにて反射され、再度１／４波長板６Ａに入射し、Ｓ偏光に変換される。Ｓ偏光は、偏光ビームスプリッタ５Ａで反射され、感光体ドラム１１Ｍへ照射される。

一方、迷光ＬＭＳは、走査レンズ４Ａのレンズ表面で反射され、走査レンズ４Ｂを透過し、１／２波長板９により、Ｓ偏光へ変換される。Ｓ偏光は偏光ビームスプリッタ５Ｂで第１の光学系及び第２の光学系から外れる方向に反射されるため、感光体ドラム１１Ｃや感光体ドラム１１Ｂｋに照射されることは無い。この図においても、図２と同様に、光線
ＬＭと迷光ＬＭＳを異なる高さを通るように記載しているが、これは説明のために記載しているものであり、実際には同一高さを通る。

図４は光線ＬＣのうち、走査レンズ４Ｂのレンズ面にて反射された第３の迷光ＬＣＳが偏光ビームスプリッタ５Ａにより除去される様子を示している。光線ＬＣは破線、光線ＬＣＳは二点鎖線で示している。

まず、ポリゴンミラー３に入射した光線ＬＭは、波長７８０ｎｍのＳ偏光であるので、走査レンズ４Ｂを透過し、１／２波長板９によりＰ偏光に変換され、偏光ビームスプリッタ５Ｂを透過する。

１／４波長板６ＢにてＰ偏光だった光線が、円偏光に変換される。円偏光に変換された光線は、波長７８０ｎｍを反射するダイクロイックミラー７Ｂにて反射され、再度１／４波長板６Ｂに入射し、Ｓ偏光に変換される。Ｓ偏光は、偏光ビームスプリッタ５Ｂで反射され、感光体ドラム１１Ｃへ照射される。

一方、迷光ＬＣＳは、走査レンズ４Ｂのレンズ表面で反射され、走査レンズ４Ａを透過する。走査レンズ４Ａ側から入射するＳ偏光は、偏光ビームスプリッタ５Ａで第１の光学系及び第２の光学系から外れる方向に反射されるため、感光体ドラム１１Ｙや感光体ドラム１１Ｍに照射されることは無い。この図においても、図２と同様に、光線ＬＣと迷光ＬＣＳを異なる高さを通るように記載しているが、これは説明のために記載しているものであり、実際には同一高さを通る。

図５は光線ＬＢｋのうち、走査レンズ４Ｂのレンズ面にて反射された第４の迷光ＬＢｋＳが偏光ビームスプリッタ５Ａにより除去される様子を示している。光線ＬＢｋは破線、光線ＬＢｋＳは二点鎖線で示している。

まず、ポリゴンミラー３に入射した光線ＬＢｋは、波長６５０ｎｍのＳ偏光であるので、走査レンズ４Ｂを透過し、１／２波長板９によりＰ偏光に変換され、偏光ビームスプリッタ５Ｂを透過する。

１／４波長板６ＢにてＰ偏光だった光線が、円偏光に変換される。円偏光に変換された光線は、波長６５０ｎｍを透過するダイクロイックミラー７Ｂを透過し、折返しミラー８Ｂで反射され、感光体ドラム１１Ｂｋへ照射される。

一方、迷光ＬＢｋＳは、走査レンズ４Ｂのレンズ表面で反射され、走査レンズ４Ａを透過する。Ｓ偏光は、偏光ビームスプリッタ５Ａで第１の光学系及び第２の光学系から外れる方向に反射されるため、感光体ドラム１１Ｙや感光体ドラム１１Ｍに照射されることは無い。この図においても、図２と同様に、光線ＬＢｋと迷光ＬＢｋＳを異なる高さを通るように記載しているが、これは説明のために記載しているものであり、実際には同一高さを通る。

以上説明したように、本実施例によれば、第１の光学系の走査レンズ４Ａにより反射されて第２の光学系に入射した迷光は、第２の光学系の偏光ビームスプリッタ５Ｂにより、被走査面とは反対方向に反射される。また、第２の光学系の走査レンズ４Ｂにより反射されて第１の光学系に入射した迷光は、第１の光学系の偏光ビームスプリッタ５Ａにより、被走査面とは反対方向に反射される。したがって、ポリゴンミラーを中心として対に配置された走査レンズのうち一方の走査レンズのレンズ面で反射された迷光が、他方の走査レンズに入射して像面に達することを防止することができる。このように、走査レンズのレンズ表面で反射した光線が被走査面に導光されることが抑制されることにより、例えば、カラー画像形成装置に用いられる偏向走査装置においては、迷光の影響による画像不良を抑制することができ、良好な画像を得ることが可能となる。

また、本実施例によれば、第１の光学素子として偏光ビームスプリッタを用いることで、偏光状態の異なる光線を適正に分離することができる。また、第２の光学素子として１／４波長板を用い、第４の光学素子として１／２波長板を用いることで、光線の偏光状態を適正に変更することができる。また、第３の光学素子としてダイクロイックミラーを用いることで、波長の異なる光線を適正に分離することができる。

また、本実施例によれば、第１の光学系に入射する光線と前記第２の光学系に入射する光線の偏光状態は、共に直線偏光であり、一方がＰ偏光であり、他方がＳ偏光である。したがって、第１の光学系の走査レンズ４Ａで反射されて第２の光学系に入射した迷光と、光源から直接、第２の光学系に入射した光線の分離を適正に行うことができる。同様に、第２の光学系の走査レンズ４Ｂで反射されて第１の光学系に入射した迷光と、光源から直接、第１の光学系に入射した光線の分離も適正に行なうことができる。
なお、本実施例では、第１の迷光ＬＹＳ、第２の迷光ＬＭＳが、光線ＬＹ、ＬＭの夫々の一部が走査レンズ４Ａで反射したことにより発生したものとして説明した。しかし、第１の迷光ＬＹＳ、第２の迷光ＬＭＳが第１の光学系の走査レンズ４Ａ以外のその他部分で反射されることによって発生するものであっても同様の効果を得ることができる。
なお、本実施例では、第３の迷光ＬＣＳ、第４の迷光ＬＢｋＳが、光線ＬＣ、ＬＢｋの夫々の一部が走査レンズ４Ｂで反射したことにより発生したものとして説明した。しかし、第３の迷光ＬＣＳ、第４の迷光ＬＢｋＳが第１の光学系の走査レンズ４Ｂ以外のその他部分で反射されることによって発生するものであっても同様の効果を得ることができる。また、本実施例では、第１の光学系、第２の光学系の双方が偏光ビームスプリッタを用いて光線を被走査面上へ導く光学系であった。しかし、ポリゴンミラー３を挟んで反対方向に走査される光線同士の偏光方向（回転角）がπ／２異なっていれば、どちらか一方の光学系のみが本実施例に記載したように偏光ビームスプリッタで光線を被走査面上へ導く光学系であればよい。つまり、少なくとも一方側が偏光ビームスプリッタ５Ａを用いた光学
系、もしくは、偏光ビームスプリッタ５Ｂと１／２波長板９を用いた光学系であればよい。このように、少なくとも一方側が上記のような光学系であれば、ポリゴンミラー３を挟んで反対側にある他方の光学系からの迷光が、上記のような光学系に入射して被走査面上に入射してしまうことを抑える効果がある。

（実施例２）
図６は、実施例２に係る偏向走査装置の構成を示す斜視図である。

光源からポリゴンミラーまでの構成が実施例１と異なり、ポリゴンミラーから感光体ドラムまでの構成は実施例１と同じである。つまり、ポリゴンミラーを挟んで対向する第１の光学系、第２の光学系を有する。

光源である半導体レーザ１ＹＭ，１ＣＢｋは、それぞれ２種類の異なる波長の半導体レーザを１つのパッケージより照射できる半導体レーザであり、それぞれの一方は、波長６５０ｎｍ、もう一方は波長７８０ｎｍのレーザ光線を照射する。波長６５０ｎｍと波長７８０ｎｍのレーザ光線は、ともに直線偏光で、偏光方向が一致している。

半導体レーザ１ＹＭからは、光線ＬＹと光線ＬＭが出射され、光線ＬＹは、波長６５０ｎｍでＰ偏光の光線であり、光線ＬＭは、波長７８０ｎｍでＰ偏光の光線である。また、半導体レーザ１ＣＢｋからは、光線ＬＣと光線ＬＢｋが出射され、光線ＬＣは、波長７８０ｎｍでＳ偏光の光線であり、光線ＬＢｋは、波長６５０ｎｍでＳ偏光の光線である。

半導体レーザ１ＹＭと１ＣＢｋはポリゴンミラー３の回転軸に垂直な略同一平面上に配置されており、光線ＬＹ，ＬＭ，ＬＣ，ＬＢｋも略同一平面上を通過する。

半導体レーザ１ＹＭと１ＣＢｋより出射された光線は、コリメートレンズ（不図示）により略平行光に変換され、シリンドリカルレンズ２によりポリゴンミラー３の反射面上で線状になるように照射される。光線ＬＭと光線ＬＹ，光線ＬＢｋと光線ＬＣがそれぞれポリゴンミラーの同一反射面に入射して互いに反対方向へと反射されている。

走査レンズ４Ａ，４Ｂは、ポリゴンミラー３にて偏向走査された光線を感光体ドラム１１Ｙ上，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｂｋで結像させ、等速走査させている。

光線ＬＭと光線ＬＹが走査される側は、走査レンズ４Ａの後に、偏光ビームスプリッタ５Ａ、１／４波長板６Ａ、ダイクロイックミラー７Ａ、折返しミラー８Ａが配置されている。光線ＬＢｋと光線ＬＣが走査される側は、走査レンズ４Ｂの後に、１／２波長板９、偏光ビームスプリッタ５Ｂ、１／４波長板６Ｂ、ダイクロイックミラー７Ｂ、折返しミラー８Ｂが配置されている。

ここで、偏光ビームスプリッタ５Ａ，５Ｂは、Ｐ偏光は透過し、Ｓ偏光は反射するようになっており、ダイクロイックミラー７Ａ，７Ｂは、波長６５０ｎｍの光線は透過し、７８０ｎｍの光線は反射するようなミラーとなっている。

また、光線ＬＢｋのうち走査レンズ４Ｂを通過しない光線を書き出し位置基準とするため、光線ＬＢＤが同期レンズ１２を通過して同期検知センサ１３へ入射する構造となっている。

各光線ＬＹ，ＬＭ，ＬＣ，ＬＢｋが走査レンズ４Ａ，４Ｂにより反射されて迷光が生じるが、この迷光は実施例１と同様の原理により除去される（図２〜図５参照）。

以上説明したように、本実施例によれば、第１実施例と同様に、第１の光学系の走査レンズ４Ａで反射されて第２の光学系に入射した迷光と、光源から直接、第２の光学系に入射した光線の分離を適正に行うことができる。同様に、第２の光学系の走査レンズ４Ｂで反射されて第１の光学系に入射した迷光と、光源から直接、第１の光学系に入射した光線の分離も適正に行なうことができる。
また本実施例では、第１実施例と比べ、半導体レーザの構成に特徴がある。本実施例の半導体レーザは半導体レーザの複合化によって、更なるコンパクト化に適したものである。偏光方向は、半導体レーザの内部のチップ（不図示）の実装方向で決定され、波長は、チップの組成で決定される。これらにより、半導体レーザにおける複合化は波長の異なるものを一つのパッケージで同じ偏光方向とする方が、波長が同じで偏光方向が異なるものを一つのパッケージとするよりも製造しやすいといえる。

すなわち、本発明の偏向走査装置においては、第１の光学系と第２の光学系の各光学系がそれぞれ偏向走査する複数の光線は、偏光状態が互いに同一で、波長が互いに異なるように構成されている。したがって、本実施例のように、各光学系における光源、すなわち、半導体レーザを上述のように複合化しやすくなり、偏向走査装置の更なるコンパクト化等を図りやすくすることができる。

１Ｙ，１Ｍ，１Ｃ，１Ｂｋ，１ＹＭ，１ＣＢｋ…半導体レーザ、２…シリンドリカルレンズ、３…ポリゴンミラー、４Ａ，４Ｂ…走査レンズ、５Ａ，５Ｂ…偏光ビームスプリッタ、６Ａ，６Ｂ…１／４波長板、７Ａ，７Ｂ…ダイクロイックミラー、９…１／２波長板
、１１Ｙ，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｂｋ…感光体ドラム

Claims (9)

1. 第１、第２レーザ光をそれぞれ出射する第１、第２光源と、前記第１、第２レーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、各々が前記偏向走査手段の光路下流側に配置された走査レンズ、及び、前記走査レンズの光路下流側に配置された偏光ビームスプリッタを備え、前記偏向走査手段を挟んで対向して配置された第１、第２走査光学系と、を有し、前記偏向走査手段によって偏向走査された第１、第２レーザ光を、前記第１、第２走査光学系によってそれぞれ対応する被走査面に導く光学走査装置において、
   前記第１走査光学系は、前記走査レンズの光路下流側で前記偏光ビームスプリッタの光路上流側に配置された１／２波長板を備え、前記第１、第２走査光学系に入射する前の前記第１レーザ光と、前記第２レーザ光は偏光方向が互いにπ／２異なることを特徴とする光学走査装置。
2. 第３レーザ光を出射する第３光源を有し、前記第３レーザ光は前記偏向走査手段によって偏向走査され、前記第１走査光学系によって対応する被走査面上で走査させられ、
   前記第１走査光学系は前記偏光ビームスプリッタよりも光路下流側にダイクロイックミラーを備え、前記第１レーザ光と前記第３レーザ光は波長が異なり、前記第１レーザ光と前記第３レーザ光は、前記ダイクロイックミラーによってそれぞれ対応する被走査面上へ導かれることを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
3. 前記第１走査光学系は、前記偏光ビームスプリッタよりも光路下流側に１／４波長板を備え、前記第１レーザ光は前記１／４波長板を通過した後、前記ダイクロイックミラーによって反射され、再び前記１／４波長板を通過し、前記偏光ビームスプリッタを通って対応する被走査面に導かれ、前記第３レーザ光は前記１／４波長板を通過した後、前記ダイクロイックミラーを透過し、再び、前記１／４波長板、及び、前記偏光ビームスプリッタを通過することなく対応する被走査面に導かれることを特徴とする請求項２に記載の光学走査装置。
4. 請求項２又は３に記載の光学走査装置と、前記被走査面としての複数の感光体とを有し、前記第１、第３レーザ光は異なる前記感光体を走査することで記録材に画像を形成することを特徴とする画像形成装置。
5. 第１、第２レーザ光をそれぞれ出射する第１、第２光源と、前記第１、第２レーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、前記偏向走査手段の光路下流側に配置された走査レンズを備え、前記偏向走査手段を挟んで対向して配置された第１、第２走査光学系とを有し、前記偏向走査手段によって偏向走査された第１、第２レーザ光を、前記第１、第２走査光学系によってそれぞれ対応する被走査面に導く光学走査装置において、
   前記第１走査光学系は、前記走査レンズの光路下流側に配置された１／２波長板と、前記１／２波長板の光路下流側に配置された偏光ビームスプリッタと、を備え、前記第１、第２走査光学系に入射する前の前記第１レーザ光と、前記第２レーザ光は偏光方向が互いにπ／２異なることを特徴とする光学走査装置。
6. 第１、第２レーザ光をそれぞれ出射する第１、第２光源と、前記第１、第２レーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、前記偏向走査手段の光路下流側に配置された走査レンズを備え、前記偏向走査手段を挟んで対向して配置された第１、第２走査光学系とを有し、前記偏向走査手段によって偏向走査された第１、第２レーザ光を、前記第１、第２走査光学系によってそれぞれ対応する被走査面に導く光学走査装置において、
   前記第２走査光学系は、前記走査レンズの光路下流側に配置された偏光ビームスプリッタを備え、前記第１、第２走査光学系に入射する前の前記第１レーザ光と、前記第２レーザ光は偏光方向が互いにπ／２異なることを特徴とする光学走査装置。
7. 請求項１乃至３、５、６のいずれか一項に記載の光学走査装置と、前記被走査面としての複数の感光体と、を有し、前記第１、第２レーザ光で異なる前記感光体を走査することで記録材に画像を形成する画像形成装置。
8. 前記複数の感光体上に異なる色の像を形成し、複数色の画像を前記記録材に形成することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
9. 前記偏向走査手段は回転多面鏡であることを特徴とする請求項１乃至３、５、６いずれか一項に記載の光学走査装置。

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