JP6024372B2 - 基板処理装置および基板処理チャンバモジュール - Google Patents

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Description

本発明は、基板処理装置および基板処理チャンバモジュールに関し、特に、半導体デバイスや磁性デバイスを製造する基板処理装置および基板処理チャンバモジュールに関する。
半導体デバイスや磁性デバイスを製造するためのプロセス工程数は、デバイスの高性能化や製造歩留まり向上等の要求により、ますます増加している。そのため、例えば、基板を処理するチャンバがより多く用いられるようになってきている。その結果、基板処理装置の占有床面積も増大している。
特開2000−119848号公報 特開2011−138859号公報 特開2002−58985号公報
従って、占有床面積の小さい基板処理装置が望まれている。
本発明の主な目的は、占有床面積の小さい基板処理装置および基板処理チャンバモジュールを提供することにある。
本発明の一態様よれば、
(a)上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第1および第2のチャンバと、
前記第1のチャンバの前記第2のチャンバに対面する第1の壁に設けられ、基板が通過可能な第1の開口と、
記第1の壁と交差する前記第1のチャンバの第2の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第2の開口と、
前記第2のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第3の壁に、前記第1の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第3の開口と、
前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第1の開口を開閉する第1の開閉手段と、
前記第1の開閉手段よりも前記第2のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と、前記第2のチャンバ内とで移動可能な第1の基板搭載手段と、
前記第2のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第1の基板処理手段と、
前記第1のチャンバに対して前記第2のチャンバとは反対側に前記第1のチャンバと上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第3のチャンバと、
前記第1のチャンバの前記第3のチャンバに対面する第4の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第4の開口と、
前記第3のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第5の壁に、前記第4の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第5の開口と、
前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第4の開口を開閉する第2の開閉手段と、
前記第2の開閉手段よりも前記第3のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と前記第3のチャンバ内とで移動可能な第2の基板搭載手段と、
前記第3のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第2の基板処理手段と、
前記第1、第2および第3のチャンバにそれぞれ接続された第1、第2および第3の高真空ポンプと、
前記第2の壁において前記第2の開口と異なる位置に設けられた第6の開口と、
前記第1のチャンバの前記第2の壁に第1のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第6の開口と前記第1のゲートバルブを介して連通する第7の開口が設けられた第6の壁を有する搬送チャンバと、
前記第6の壁において前記第7の開口と異なる位置に設けられた第8の開口と、
前記第6の壁に第2のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第8の開口と前記第2のゲートバルブを介して連通する第9の開口が設けられた第7の壁を有する第4のチャンバと、
前記第4のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第3の基板処理手段と、
前記搬送チャンバ内に設けられ、前記第4のチャンバと前記第1のチャンバとの間で前記基板を搬送する第1の基板搬送手段と、
を有する基板処理チャンバモジュールと、
(b)前記第2の壁に第3のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第2の開口と前記第3のゲートバルブを介して連通する第10の開口が設けられた第8の壁を有する搬送コアチャンバと、
(c)前記搬送コアチャンバ内に設けられ、前記搬送コアチャンバと前記第1のチャンバとの間で前記基板を搬送する第2の基板搬送手段と、
(d)前記搬送コアチャンバの前記第8の壁に取り付けられたロードロックチャンバと、
を備える基板処理装置が提供される。
本発明の他の態様よれば、
上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第1および第2のチャンバと、
前記第1のチャンバの前記第2のチャンバに対面する第1の壁に設けられ、基板が通過可能な第1の開口と、
記第1の壁と交差する前記第1のチャンバの第2の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第2の開口と、
前記第2のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第3の壁に、前記第1の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第3の開口と、
前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第1の開口を開閉する第1の開閉手段と、
前記第1の開閉手段よりも前記第2のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と、前記第2のチャンバ内とで移動可能な第1の基板搭載手段と、
前記第2のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第1の基板処理手段と、
前記第1のチャンバに対して前記第2のチャンバとは反対側に前記第1のチャンバと上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第3のチャンバと、
前記第1のチャンバの前記第3のチャンバに対面する第4の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第4の開口と、
前記第3のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第5の壁に、前記第4の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第5の開口と、
前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第4の開口を開閉する第2の開閉手段と、
前記第2の開閉手段よりも前記第3のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と前記第3のチャンバ内とで移動可能な第2の基板搭載手段と、
前記第3のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第2の基板処理手段と、
前記第2の壁において前記第2の開口と異なる位置に設けられた第6の開口と、
前記第1のチャンバの前記第2の壁に第1のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第6の開口と前記第1のゲートバルブを介して連通する第7の開口が設けられた第6の壁を有する搬送チャンバと、
前記第6の壁において前記第7の開口と異なる位置に設けられた第8の開口と、
前記第6の壁に第2のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第8の開口と前記第2のゲートバルブを介して連通する第9の開口が設けられた第7の壁を有する第4のチャンバと、
前記第4のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第3の基板処理手段と、
前記搬送チャンバ内に設けられ、前記第4のチャンバと前記第1のチャンバとの間で前記基板を搬送する第1の基板搬送手段と、
を備える基板処理チャンバモジュールが提供される。
本発明によれば、占有床面積の小さい基板処理装置および基板処理チャンバモジュールが提供される。
図1は、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置を説明するための概略平面図である。 図2は、図1のAA線概略縦断面図である。 図3は、図1のBB線概略縦断面図である。 図4は、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置のエレベータバルブおよび基板受取部材の駆動機構を説明するための概略縦断面図である。 図5は、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置のエレベータバルブの駆動機構を説明するための概略縦断面図である。 図6は、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置のエレベータバルブおよび基板受取部材の平面的な配置を説明するための概略横断面図である。 図7は、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置の基板受取部材を説明するための概略縦断面図である。 図8は、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置の基板受取部材を説明するための概略横断面図である。 図9は、本発明の好ましい第2の実施の形態の基板処理装置を説明するための概略縦断面図である。 図10は、本発明の好ましい第3の実施の形態の基板処理装置を説明するための概略縦断面図である。 図11は、本発明の好ましい第4の実施の形態の基板処理装置を説明するための概略縦断面図である。 図12は、本発明の好ましい第5の実施の形態の基板処理装置を説明するための概略縦断面図である。 図13は、比較のための基板処理装置を説明するための概略平面図である。 図14は、比較のための他の基板処理装置を説明するための概略縦断面図である。
次に、本発明の好ましい実施の形態を図面を参照して説明する。
(第1の実施の形態)
図1を参照すれば、本発明の好ましい第1の実施の形態の基板処理装置1として、基板を真空処理するための、典型的なクラスタ型装置が示されている。基板22としては、例えば、シリコンウエハやAlTiC(Al−TiC)ウエハが好適に使用される。
基板処理装置1は、搬送コアチャンバ70と、搬送コアチャンバ70の側壁に取り付けられたチャンバアセンブリ100、プロセスチャンバ73a、73b、73c、ロードロックチャンバ71aおよびアンロードロックチャンバ71bと、ロードロックチャンバ71aおよびアンロードロックチャンバ71bに取り付けられたフロントエンドモジュール72と、フロントエンドモジュール72に取り付けられ、基板処理装置1に基板を出し入れするためのFOUP(Front Opening Universal Pod)ユニット72a、72bと、を備えている。
搬送コアチャンバ70と、チャンバアセンブリ100、プロセスチャンバ73a、73b、73c、ロードロックチャンバ71aおよびアンロードロックチャンバ71bとの間には、ゲートバルブ61、74a、74b、74cおよびスリットバルブ74d、74eがそれぞれ取り付けられている。ロードロックチャンバ71aおよびアンロードロックチャンバ71bとフロントエンドモジュール72との間には、ゲートバルブ74fおよび74gがそれぞれ取り付けられている。
搬送コアチャンバ70には、チャンバアセンブリ100、プロセスチャンバ73a、73b、73c、ロードロックチャンバ71aおよびアンロードロックチャンバ71bと、ロードロックチャンバ71aおよびアンロードロックチャンバ71b間で基板を搬送可能な基板搬送ロボット90が設けられている。フロントエンドモジュール72には、ロードロックチャンバ71a、アンロードロックチャンバ71bおよびFOUPユニット72a、72b間で基板を搬送可能な基板搬送ロボット92が設けられている。
図2、図3を参照すれば、チャンバアセンブリ100は、搬送チャンバ10と、プロセスチャンバ30と、プロセスチャンバ50とを備えている。プロセスチャンバ30は搬送チャンバ10上に垂直に積み重ねられ、搬送チャンバ10は、プロセスチャンバ50上に垂直に積み重ねられている。
搬送チャンバ10は、側壁11と、上壁11aと、下壁11bとを備えている。側壁11のうち、搬送コアチャンバ70側の側壁11cには、開口12cが設けられている。側壁11cには開口12cに合わせてゲートバルブ61が取り付けられている。ゲートバルブ61を開けて、開口12cを介して、基板22を搬送コアチャンバ70と搬送チャンバ10との間で搬送する。
搬送チャンバ10には、垂直移動エレベータバルブ14と、垂直移動エレベータバルブ17と、基板搭載部材15と、基板搭載部材18と、基板マスク19とが設けられている。搬送チャンバ10は、側壁11のうち、側壁11cと反対側の側壁11dには、開口12dが設けられている。側壁11dには、開口12dを介して高真空ポンプ13が取り付けられている。高真空ポンプ13には、粗引きポンプ(図示せず)と接続された粗引き配管13aが接続されている。
上壁11aには開口12aが設けられている。開口12aは、基板22より大きい。垂直移動エレベータバルブ14の上面にはOリング14aが設けられている。垂直移動エレベータバルブ14が上昇してOリング14aを介して上壁11aと結合して開口12aをシールする(図2参照)。基板搭載部材15は垂直移動エレベータバルブ14上に設けられている。なお、開口12aは、基板搭載部材15より大きい。
下壁11bには開口12bが設けられている。開口12bは、基板22より大きい。下壁11bの上面にはOリング14bが設けられている。垂直移動エレベータバルブ17が下降してOリング14bを介して下壁11bと結合して開口12bをシールする(図3参照)。基板搭載部材18は垂直移動エレベータバルブ17の下に、垂直移動エレベータバルブ17とは独立して設けられている。なお、開口12bは、基板搭載部材18より大きい。
プロセスチャンバ30は、側壁31と、上壁31bと、下壁31aとを備えている。
下壁31aには開口36aが設けられている。開口36aは上壁11aの開口12aと連通している。開口36aは、搬送チャンバ10の上壁11aの開口12aと水平方向で同じ位置に設けられている。開口36aは、基板22より大きい。側壁31には、プロセスチャンバ30内にガスを導入するガス導入口32が設けられている。ガス導入口32からは、例えば、酸素ガスが導入される。
上壁31bには開口36bおよび開口36cが設けられている。開口36bには石英からなる透明窓34が取り付けられている。透明窓34上にはランプヒータユニット35が設けられている。上壁31bには、開口36cを介して高真空ポンプ33が取り付けられている。高真空ポンプ33には、粗引きポンプ(図示せず)と接続された粗引き配管33aが接続されている。
プロセスチャンバ50は、側壁51と、上壁51bと、下壁51aとを備えている。
上壁51bには開口57aが設けられている。開口57aは下壁11bの開口12bと連通している。開口57aは、搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bと水平方向で同じ位置に設けられている。開口57aは、基板22より大きい。側壁51には、プロセスチャンバ50内にガスを導入するガス導入口52が設けられている。
下壁51aを貫通してクライオポンプ56が設けられている。クライオポンプ56上には、基板ホルダ55が設けられている。基板ホルダ55内には、ヒータ54が設けられている。基板ホルダ55は、クライオポンプ56およびヒータ54と熱的に結合している。
下壁51aには、開口57bを介して高真空ポンプ53が取り付けられている。高真空ポンプ53には、粗引きポンプ(図示せず)と接続された粗引き配管53aが接続されている。
搬送チャンバ10内の空間10a、プロセスチャンバ30内の空間30a、プロセスチャンバ50内の空間50aは、開口36a、開口12aの周囲に設けられたOリング16aおよび開口12b、開口57aの周囲に設けられたOリング16bにより、外部環境100aから真空シールされている。Oリング16aおよびOリング16bは、エラストマーまたは金属製である。
垂直移動エレベータバルブ14、17の位置によって、チャンバ空間10a、30a、50aは、連通したり、分離されたりする。垂直移動エレベータバルブ14が上昇して、垂直移動エレベータバルブ14によって搬送チャンバ10の上壁11aの開口12aが閉じられると、チャンバ空間10aとチャンバ空間30aは分離される(図2参照)。垂直移動エレベータバルブ14が下降して、開口12aが開放されると、チャンバ空間10aとチャンバ空間30aは連通する(図3参照)。垂直移動エレベータバルブ17が下降して、垂直移動エレベータバルブ17によって搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bが閉じられると、チャンバ空間10aとチャンバ空間50aは分離される(図3参照)。垂直移動エレベータバルブ17が上昇して、開口12bが開放されると、チャンバ空間10aとチャンバ空間30aは連通する(図2参照)。
図4を参照すれば、垂直移動エレベータバルブ17の両端には、2本のロッド21b、21bの一端が取り付けられている。ロッド21b、21bの他端は、エアーシリンダー21a、21aのピストン21e、21eに取り付けられている。エアーシリンダー21aは、複動型シリンダーである。エアーシリンダー21aはシリンダー21dとシリンダー21d内に設けられたピストン21eと、シリンダー21dの一端にエアーを送気、排気するエアー送排気ポート21hと、シリンダー21dの他端にエアーを送気、排気するエアー送排気ポート21iとを備えている。
エアー送排気ポート21hにエアーを送り、エアー送排気ポート21iからエアーを排気することによりピストン21eを下側に移動させ、その結果、ピストン21eに取り付けられたロッド21bを下側に移動させて垂直移動エレベータバルブ17を下側に移動させる。エアー送排気ポート21iにエアーを送り、エアー送排気ポート21hからエアーを排気することによりピストン21eを上側に移動させ、その結果、ピストン21eに取り付けられたロッド21bを上側に移動させて垂直移動エレベータバルブ17を上側に移動させる。このようにして、垂直移動エレベータバルブ17をエアーシリンダー21aによって矢印21cの方向に上下させる。
ロッド21bは、搬送チャンバ10の下壁11bの開口11dと、プロセスチャンバ50の上壁51bの開口51cを貫通して設けられている。ロッド21bの途中には、プレート21gが取り付けられている。プレート21gは上壁51bよりも下側に設けられている。プレート21gにはベローズ21fの一端が取り付けられ、ベローズ21fの他端は上壁51bに取り付けられている。ベローズ21fの内側は搬送チャンバ10内の空間10aであり、ベローズ21fの外側は外部環境100aであり、ベローズ21fによって、搬送チャンバ10内の空間10aは外部環境100aから気密にシールされている。また、ベローズ21fによって、プレート21gの上下方向の移動が確保され、その結果、プレート21gに取り付けられたロッド21bの上下方向の移動が確保されている。
再び図4を参照すれば、基板搭載部材18の上プレート18dには、ロッド23bの一端が取り付けられている。ロッド23bの他端は、プレート23hに取り付けられている。プレート23hは、支柱23iを介してボールネジ23gのナット23eに取り付けられている。ボールネジ23gのねじ軸23dの下端はモータ23aに取り付けられている。モータ23aを回転すると、ねじ軸23dも回転し、その回転方向に応じてナット23eが上下し、ナット23eに取り付けられているプレート23h、ロッド23bおよび基板搭載部材18が上下する。このようにして、基板搭載部材18をモータ23aによって矢印23cの方向に上下させる。
ロッド23bは、プロセスチャンバ50の下壁51aの開口51dを貫通して設けられている。プレート23hにはベローズ23fの一端が取り付けられ、ベローズ23fの他端は下壁51aに取り付けられている。ベローズ23fの内側はプロセスチャンバ50の空間50aであり、ベローズ23fの外側は外部環境100aであり、ベローズ23fによって、プロセスチャンバ50内の空間50aは外部環境100aから気密にシールされている。また、ベローズ23fによって、プレート23hの上下方向の移動が確保され、その結果、プレート23hに取り付けられたロッド23bの上下方向の移動が確保されている。
図5を参照すれば、垂直移動エレベータバルブ14の両端には、2本のロッド20b、20bの一端が取り付けられている。ロッド20b、20bの他端は、プレート20hに取り付けられている。プレート20hは、支柱20iを介してボールネジ20gのナット20eに取り付けられている。ボールねじ20gのねじ軸20dの下端はモータ20aに取り付けられている。モータ20aを回転すると、ねじ軸20dも回転し、その回転方向に応じてナット20eが上下し、ナット20eに取り付けられているプレート20h、ロッド20bおよび垂直移動エレベータバルブ14が上下する。このようにして、垂直移動エレベータバルブ14をモータ20aによって矢印20cの方向に上下させる。
ロッド20bは、搬送チャンバ10の下壁11bの開口11eと、プロセスチャンバ50の上壁51bの開口51eを貫通して設けられている。プレート20hにはベローズ20fの一端が取り付けられ、ベローズ20fの他端は上壁51bに取り付けられている。ベローズ20fの内側は搬送チャンバ10の空間10aであり、ベローズ20fの外側は外部環境100aであり、ベローズ20fによって、搬送チャンバ10の空間10aは外部環境100aから気密にシールされている。また、ベローズ20fによって、プレート20hの上下方向の移動が確保され、その結果、プレート20hに取り付けられたロッド20bの上下方向の移動が確保されている。
図6を参照すれば、基板22の両側に垂直移動エレベータバルブ14を上下方向に駆動するモータ20a、20aが配置されている。基板22の両側であって、モータ20a、20aを結ぶ直線とは所定の角度傾いて、垂直移動エレベータバルブ17を上下方向に駆動するエアーシリンダー21a、21aが配置されている。モータ20aとエアーシリンダー21aとの間に基板搭載部材18を上下方向に駆動するモータ23aが配置されている。
基板搭載部材15は、複数のピンを備えている。基板22は複数のピンの上に搭載される。基板搭載部材15は垂直移動エレベータバルブ14上に設けられているので、垂直移動エレベータバルブ14が上昇すると、基板搭載部材15も上昇し、垂直移動エレベータバルブ14が上壁11aと結合して開口12aをシールした際には、基板搭載部材15および基板22はプロセスチャンバ30内の空間30a内に位置している(図2参照)。この状態で、プロセスチャンバ30内で基板22の処理が行われる。垂直移動エレベータバルブ14が下降すると、基板搭載部材15も下降し、基板搭載部材15および基板22はプロセスチャンバ10内の空間10a内に位置する(図3参照)。基板搭載部材15および基板22がプロセスチャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置した状態で、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90によって、基板22が搬送コアチャンバ70から基板搭載部材15上に搭載され、または基板搭載部材15上に搭載された基板22が搬送コアチャンバ70に搬出される。
図4、図7、図8を参照すれば、基板搭載部材18は、上プレート18dと、上プレート18dに垂直下方に向かって取り付けられた4本のピン18eと、ピン18eの先端にピン18eから内側に向かって水平に設けられた基板受け部18aと、ピン18eの途中にピン18eから外側に水平に設けられたバネ固定部材18bと、バネ固定部材18bに上端が取り付けられたバネ部材18cとを備えている。バネ部材18cの下端には基板マスク19が取り付けられている。基板マスク19はリング状である。
図4を参照すれば、基板搭載部材18の上プレート18dは、ロッド23bに取り付けられているので、モータ23aを回転してロッド23bを上昇させると、基板搭載部材18も上昇し、基板搭載部材18および基板22はプロセスチャンバ10内の空間10a内に位置する(図2、図4参照)。なお、垂直移動エレベータバルブ17によって搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bが閉じられていて、チャンバ空間10aとチャンバ空間50aとが分離されている場合(図3参照)には、エアーシリンダー21aを駆動して、予め垂直移動エレベータバルブ17を上昇させておく。
基板搭載部材18を上昇させると、基板22は基板ホルダ55上に搭載されておらず、基板受け部18a上に搭載された状態となる。また、基板マスク19はバネ部材18cによって吊り上げられた状態となるので、基板マスク19は基板22とは離間した状態となる。基板搭載部材18および基板22がプロセスチャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置した状態で、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90によって、基板22が搬送コアチャンバ70から基板搭載部材18の基板受け部18a上に搭載され、または基板搭載部材15の基板受け部18a上に搭載された基板22が搬送コアチャンバ70に搬出される。
図3、図7を参照すれば、基板搭載部材18を下降させると、基板ホルダ55の凸部55bは、4つの基板受け部18a内に挿入され、凸部55bの表面55aの位置が基板受け部18aの位置よりも高くなると、基板22は4つの基板受け部18a上に搭載された状態から基板ホルダ55上に搭載された状態となる。その後、さらに基板搭載部材18を下降させると、基板22の周囲が基板マスク19と4つの基板受け部18aに挟まれた状態となる。この際には、バネ部材18cに取り付けられた基板マスク19によって、基板22は下向きに押圧される。この状態で、エアーシリンダー21aを駆動して、垂直移動エレベータバルブ17を下降させて、垂直移動エレベータバルブ17によって搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bを閉じて、チャンバ空間10aとチャンバ空間50aとを分離して、プロセスチャンバ50内で基板22の処理を行う。
なお、本実施の形態では、基板搭載部材18を、垂直移動エレベータバルブ17の下部に設けたが、これに限定されず、例えば、基板ホルダ55の内部に、基板を支持するための、上下動可能な複数のピン(例えば、3本のピン)を設けるようにしてもよい。
本実施の形態では、プロセスチャンバ30の上壁31bに透明窓34とランプヒータユニット35を設けたが、透明窓34とランプヒータユニット35に代えて、上壁31bに、基板22に対して平行に配置されたスパッタリングカソードとターゲットを設けてもよく、プラズマエッチング誘導コイルと誘電体窓を設けてもよく、金属膜酸化用のガスシャワーヘッドを設けてもよく、急速冷却用に、基板に近接して配置された極低温冷却プレートを設けてもよく、上壁31bに設けるものによってプロセスチャンバ30によって種々の処理を行うことができる。なお、プラズマエッチングでは、垂直移動エレベータバルブ17上の基板搭載部材15は、基板温度を維持するためのフラット面を有するステージに置き換えることが好ましい。
本実施の形態では、プロセスチャンバ50の下壁51aにクライオポンプ56を設けて極低温冷却をできるようにし、基板ホルダ55内にヒータ54を設けて、冷却温度を調整できるようにしたが、クライオポンプ56やヒータ54とは別に、基板ホルダ55の下方に、電極と加熱防止用水路を設けることで、チャンバ50内で逆スパッタエッチングを実施することができる。また、垂直移動エレベータバルブ17は、エッチングや酸化処理を行うための反応性ガスを導入するためのシャワーヘッドとして構成することもできる。
次に、本実施の形態の基板処理装置1を使用して、基板22を処理する方法について説明する。典型的な基板処理工程は、以下の工程を含んでいる。
図1を参照すれば、まず、複数の基板22を搭載したカセット(図示せず)が、FOUPユニット72aに投入される。フロントエンドモジュール72の基板搬送ロボット92は基板22を、FOUPユニット72aからロードロックチャンバ71aに搬送する。
その後、フロントエンドモジュール72とロードロックチャンバ71aの間にあるゲートバルブ74fは閉じられ、ロードロックチャンバ71aは排気される。
その後、ロードロックチャンバ71aと搬送コアチャンバ70との間のスリットバルブ74dは開かれ、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90は、ロードロックチャンバ71aから基板22を取り、ゲートバルブ74aは開かれ、プロセスチャンバ73aに基板22を搬入する。ゲートバルブ74aは閉じられ、プロセスチャンバ73aで基板22の処理行う。
プロセスチャンバ73aでの基板22の処理が終わると、ゲートバルブ74aは開かれ、基板搬送ロボット90は、プロセスチャンバ73aから基板22を搬出し、ゲートバルブ74aは開かれ、プロセスチャンバ73bに基板22を搬入する。ゲートバルブ74bは閉じられ、プロセスチャンバ73bで基板22の処理行う。
プロセスチャンバ73bでの基板22の処理が終わると、ゲートバルブ74bは開かれ、基板搬送ロボット90は、プロセスチャンバ73bから基板22を搬出し、ゲートバルブ61は開かれ、チャンバアセンブリ100の搬送チャンバ10に基板22を搬入する。
図3を参照すれば、プロセスチャンバ30内で基板22の処理を行う場合には、予め垂直移動エレベータバルブ17を下降させて、垂直移動エレベータバルブ17によって搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bを閉じて、チャンバ空間10aとチャンバ空間50aとを分離しておく。搬送チャンバ10に基板22を搬入する際には、垂直移動エレベータバルブ14を下降させて、基板搭載部材15がプロセスチャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置した状態で、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90のエンドエフェクタ90b(図2参照)によって、基板22が基板搭載部材15上に搭載される。この際には、エンドエフェクタ90b上に基板22を搭載して基板搭載部材15の少し上に基板22を搬送し、その後、垂直移動エレベータバルブ14を上昇させて基板搭載部材15を上昇させ、またはエンドエフェクタ90bを下降させて、エンドエフェクタ90b上に搭載された基板22を基板搭載部材15上に移し替え、その後、エンドエフェクタ90bが搬送コアチャンバ70内に戻る。その後、ゲートバルブ61は閉じられる。
その後、垂直移動エレベータバルブ14を上昇させて、垂直移動エレベータバルブ14を上壁11aに結合させて開口12aをシールする。この際には、基板搭載部材15および基板22はプロセスチャンバ30内の空間30a内に位置している(図2参照)。この状態で、プロセスチャンバ30内で基板22の処理が行われる。本実施の形態では、例えば、ランプヒータユニット35による基板22の加熱処理が行われる。
プロセスチャンバ30内で基板22の処理が終わると、垂直移動エレベータバルブ14を下降させて、基板搭載部材15を下降させ、基板搭載部材15および基板22を搬送チャンバ10内の空間10a内の所定の基板受け渡し位置に位置させる。その後、ゲートバルブ61が開けられ、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90のエンドエフェクタ90b(図2参照)によって、基板搭載部材15上の基板22は、プロセスチャンバ30から搬出される。この際には、基板搭載部材15上の基板22の底部をエンドエフェクタ90bよりも高い位置に位置させておき、エンドエフェクタ90bを基板22の下側に位置させた状態で、垂直移動エレベータバルブ14を下降させて基板搭載部材15を下降させ、またはエンドエフェクタ90bを上昇させて、基板搭載部材15上に搭載された基板22をエンドエフェクタ90b上に移し替える。その後、基板22を搭載したエンドエフェクタ90bは、搬送コアチャンバ70内に戻る。その後、ゲートバルブ61は閉じられる。
図2を参照すれば、プロセスチャンバ50内で基板22の処理を行う場合には、予め、垂直移動エレベータバルブ14を上昇させて、垂直移動エレベータバルブ14によって搬送チャンバ10の上壁11aの開口12aを閉じて、チャンバ空間10aとチャンバ空間30aとを分離しておく。搬送チャンバ10に基板22を搬入する際には、垂直移動エレベータバルブ17を上昇させ、基板搭載部材18も上昇させて、基板搭載部材18をプロセスチャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置した状態で、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90のエンドエフェクタ90bによって、基板22が基板搭載部材18に搭載される。
図4を参照すれば、この際には、エンドエフェクタ90b上に基板22を搭載して基板搭載部材18の基板受け部18aの少し上であって、基板マスク19よりも下側に基板22を搬送し、その後、基板搭載部材18を上昇させて基板受け部18aを上昇させ、またはエンドエフェクタ90bを下降させ、エンドエフェクタ90b上に搭載された基板22を基板受け部18a上に移し替え、その後、エンドエフェクタ90bが搬送コアチャンバ70内に戻る。その後、ゲートバルブ61は閉じられる。
図3、図7を参照すれば、その後、基板搭載部材18を下降させると、基板ホルダ55の凸部55bは、4つの基板受け部18a内に挿入され、凸部55bの表面55aの位置が基板受け部18aの位置よりも高くなると、基板22は4つの基板受け部18a上に搭載された状態から基板ホルダ55上に搭載された状態となる。その後、さらに基板搭載部材18を下降させると、基板22の周囲が基板マスク19と4つの基板受け部18aに挟まれた状態となる。この際には、バネ部材18cに取り付けられた基板マスク19によって、基板22は下向きに押圧される。この状態で、垂直移動エレベータバルブ17を下降させて、垂直移動エレベータバルブ17によって搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bを閉じて、チャンバ空間10aとチャンバ空間50aとを分離して、プロセスチャンバ50内で基板22の処理を行う。
プロセスチャンバ50内で基板22の処理が終わると、垂直移動エレベータバルブ17を上昇させ、基板搭載部材18を上昇させる。図2、図4を参照すれば、基板搭載部材18を上昇させると、基板22は基板ホルダ55上に搭載されておらず、基板受け部18a上に搭載された状態となる。また、基板マスク19はバネ部材18cによって吊り上げられた状態となるので、基板マスク19は基板22とは離間した状態となる。基板搭載部材18および基板22が搬送チャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置した状態で、ゲートバルブ61が開けられ、搬送コアチャンバ70内の基板搬送ロボット90のエンドエフェクタ90b(図2参照)によって、基板搭載部材18に搭載された基板22は、搬送チャンバ10から搬出される。図4を参照すれば、この際には、基板搭載部材18に搭載された基板22の底部をエンドエフェクタ90bよりも高い位置に位置させておき、エンドエフェクタ90bを基板22の下側に位置させた状態で、基板搭載部材18を下降させて、またはエンドエフェクタ90bを上昇させて、基板搭載部材18に搭載された基板22をエンドエフェクタ90b上に移し替える。その後、基板22を搭載したエンドエフェクタ90bは、搬送コアチャンバ70内に戻る。その後、ゲートバルブ61は閉じられる。
本実施の形態では、垂直移動エレベータバルブ14、17は、プロセスチャンバ30、50を搬送チャンバ10から分離するので、プロセスチャンバ30、50の一方又は両方で反応性ガスが使用されるときには、コンタミネーションを防止することができる。低真空の場合や反応性ガスを使用しない場合は、搬送チャンバ10の開口12a、12bから垂直移動エレベータバルブ14、17をそれぞれ少し後退させることにより、搬送チャンバ10の高真空ポンプ13によってプロセスチャンバ30、50の一方又は両方を排気することができる。
再び、図1を参照すれば、ゲートバルブ61が開かれて、基板搬送ロボット90がチャンバアセンブリ100の搬送チャンバ10から基板22を受け取り、ゲートバルブ74cは開かれ、プロセスチャンバ73cに基板22を搬入する。ゲートバルブ74cは閉じられ、プロセスチャンバ73cで基板22の処理行う。
プロセスチャンバ73cでの基板22の処理が終わると、ゲートバルブ74cは開かれ、基板搬送ロボット90は、プロセスチャンバ73cから基板22を搬出し、搬送コアチャンバ70とアンロードロックチャンバ71bとの間のスリットバルブ74eは開かれ、アンロードロックチャンバ71bに基板22を搬入する。
その後、スリットバルブ74eは閉じられ、アンロードロックチャンバ71bは大気圧に戻される。その後、アンロードロックチャンバ71bとフロントエンドモジュール72との間にあるゲートバルブ74gは開かれ、フロントエンドモジュール72の基板搬送ロボット92は、基板22を、アンロードロックチャンバ71bからFOUPユニット72aに搬送する。
上述した基板処理方法は、説明のため、簡略化されている。実際には、複数の基板22は、基板処理装置1の真空領域内に搭載され、スループットを最大化するため、基板搬送順序、搬送タイミング、時間等を制御したり、レシピを管理するスケジュール手段が使用される。
(第2の実施の形態)
図9を参照すれば、上述した第1の実施の形態では、基板搭載部材15は垂直移動エレベータバルブ14上に設けられており、基板搭載部材15は垂直移動エレベータバルブ14と一緒に上下する。これに対して、本実施の形態では、基板搭載部材15を垂直移動エレベータバルブ14の上側に垂直移動エレベータバルブ14とは独立して設け、基板搭載部材15の駆動部材を垂直移動エレベータバルブ14の駆動部材とは別に設け、基板搭載部材15の上下動と、垂直移動エレベータバルブ14の上下動とを独立させている点が第1の実施の形態と異なる。すなわち、基板搭載部材15は、プレート15bとプレート15b上に設けられた複数のピン15aとを備えている。基板22は複数のピン15a上に搭載される。プレート15bは、プロセスチャンバ30の上壁31bを貫通して設けられる駆動部材(図示せず)によって上下駆動される。この駆動部材は、第1の実施の形態における基板搭載部材18の上プレート18dを上下に駆動した駆動部材と同様なので、説明は省略する。
また、上述した第1の実施の形態では、基板搭載部材18は垂直移動エレベータバルブ17の下側に、垂直移動エレベータバルブ17とは独立して設け、基板搭載部材15の駆動部材を垂直移動エレベータバルブ14の駆動部材とは別に設けている。これに対して、本実施の形態では、基板搭載部材18は垂直移動エレベータバルブ17の下側に、垂直移動エレベータバルブ17と一体化して設けている。すなわち、第1の実施の形態では、ピン18eを上プレート18dに取り付けていた(図4、図7参照)が、本実施の形態の基板搭載部材18では、上プレート18dを用いることなく、ピン18eを垂直移動エレベータバルブ17に取り付けている。垂直移動エレベータバルブ17の上下動に伴って、基板搭載部材18も上下する。
本実施の形態は、以上の2点で第1の実施の形態の基板処理装置と異なるが、他の点では、第1の実施の形態の基板処理装置と同様であり、同一のものには同一の符号を付し、説明は省略する。
(第3の実施の形態)
本発明の好ましい第3の実施の形態に係る基板処理装置は、基本的な構成は、第1の実施の形態の基板処理装置と同様であり、同一のものには同一の符号を付し、説明は省略する。図10を参照すれば、本発明の好ましい第3の実施の形態では、チャンバアセンブリ100は、搬送チャンバ10、プロセスチャンバ30、プロセスチャンバ50を備えている。チャンバアセンブリ100は、搬送チャンバ10とゲートバルブ61によって連結された搬送チャンバ57と、ゲートバルブ62によって搬送チャンバ57と連結されたプロセスチャンバ63をさらに有している。
搬送チャンバ10は、側壁11に開口12とほぼ同じ高さにある開口12eを有している。ゲートバルブ61は開口12eに合わせて側壁11に取り付けられている。
搬送チャンバ57は、真空容器58、ロボットアーム60aとエンドエフェクタ60bを有する基板搬送ロボット60、及び真空容器58内のガスを排気するための真空ポンプを有している。
プロセスチャンバ63は、真空容器64、ガス導入口66、真空ポンプ65、ターゲット67aを有するスパッタリングカソード67、ターゲット67aの裏面側に配置されたマグネットアセンブリ(図示せず)、及び基板22を保持するとともに、ステージ表面に垂直な回転軸に対して回転可能なステージ68を備えたスパッタリングチャンバである。
なお、プロセスチャンバ63は、上述した形態に限定されず、複数カソードを備えたスパッタリングモジュールでも、プラズマエッチングモジュールであってもよい。
基板22は、搬送チャンバ10からプロセスチャンバ63へ搬送される。
また、搬送コアチャンバ70の搬送ロボット90のエンドエフェクタ90bから、基板22を搬送チャンバ10内で基板搬送ロボット60のエンドエフェクタ60bに直接受け渡すことによって、チャンバ63へ直線的に搬送される。従って、補助的な開口部12aを設けることにより、搬送チャンバ10は、パスチャンバとしても機能する。
(第4の実施の形態)
本発明の好ましい第4の実施の形態に係る基板処理装置は、基本的な構成は、第3の実施の形態の基板処理装置と同様であり、同一のものには同一の符号を付し、説明は省略する。図11を参照すれば、本実施の形態に係る基板処理装置の搬送チャンバ10には、図10で示した基板処理装置とは異なり、基板22を支持するための、複数のピンを有する基板搭載部材23bを備えている。本実施の形態に係る基板処理装置では、垂直移動エレベータバルブ14、17を閉めることで、プロセスチャンバ30、プロセスチャンバ50でそれぞれ独立して、基板22の処理を実行しながら、搬送チャンバ10は、パスチャンバとして機能する。
基板搭載部材23bは、基板アームステージ23の一端に設けられている。基板アームステージ23の他端には、基板アームステージ23を回転可能に軸支した回転棒23aを有する。回転棒23aは、搬送チャンバ10の外部に設けられた回転機構24に連結されている。回転機構24を作動させることで、垂直移動エレベータバルブ14または垂直移動エレベータバルブ17が上下動してもぶつからない位置に、基板アームステージ23を退避することができる。
(第5の実施の形態)
本発明の好ましい第5の実施の形態に係る基板処理装置は、基本的な構成は、第3の実施の形態の基板処理装置と同様であり、同一のものには同一の符号を付し、説明は省略する。図12を参照すれば、本実施の形態に係る基板処理装置の搬送チャンバ10には、図10で示した基板処理装置とは異なり、基板22を支持するための、複数のピンを有する基板搭載部材25aを備えた回転可能な基板ステージ25が設けられている。ピンまたはステージ25は上下動可能になっている。さらに、基板ステージ25の上方には、基板の向きを検出するための、基板向き検出手段26が設けられている。基板向き検出手段26としては、CCDカメラが用いられ、基板22のノッチやオリエンテーションフラットを検出することで、基板22の向きを認識することができる。基板向き検出手段26は、基板の向きを知らせる信号を基板ステージ25の回転モータに送信し、基板を180°反転させることができる。
本実施の形態に係る搬送チャンバ10は、パスチャンバだけでなく、アライナーチャンバとしても機能する。通常、ロボットからロボットへ基板22を受け渡す場合、基板22の向きは反転してしまう。そのため、基板22の向きをそろえて、基板22を受け渡すために、基板を180°回転させるステージ25を用いることができる。
(変形例)
搬送チャンバ10にパスチャンバとしての機能を持たせるため、垂直移動エレベータバルブ17の上部に、基板搬送ロボット90、60により受け渡し可能に基板を支持するための複数のピンからなる基板搭載部材を設けてもよい。
上述した実施の形態では、搬送チャンバ10と、ロボットを有するチャンバ58を別々に構成したが、同一のチャンバとして構成してもよい。
上述した実施の形態では、搬送チャンバ10がプロセスチャンバ73bとプロセスチャンバ73cとの間に位置しているが、これに限定されず、ロードロックチャンバ71aの位置に位置するようにしてもよい。
(比較例1)
図13を参照すれば、比較例1の基板処理装置は、本発明の好ましい実施の形態のチャンバアセンブリ100に代えて、搬送コアチャンバ70にゲートバルブ74hを介して取り付けられたパスチャンバ76と、パスチャンバ76にゲートバルブ74hを介して取り付けられた補助搬送コアチャンバ75と、補助搬送コアチャンバ75にゲートバルブ74j、74kをそれぞれ介して取り付けられたプロセスチャンバ77a、77bを備えている。補助搬送コアチャンバ75には基板搬送ロボット94が設けられている。パスチャンバ76は、特に基板処理を行うことないが、基板22を支持するための複数のピン(図示せず)が設けられている。このように一時的に基板22が支持されることで、基板搬送ロボット90から基板搬送ロボット94へ基板22を間接的に受け渡す。なお、パスチャンバ76に、このような複数のピンがない場合、基板搬送ロボット90から基板搬送ロボット94へ直接基板22を受け渡すようにしてもよい。
このように、限られたポートしか持たない搬送コアチャンバ70に、プロセスチャンバ77a、77bを追加すると、かなり複雑な構造になり、補助的なパスチャンバ76や補助搬送コアチャンバ75が必要となり、全体の占有床面積はさらに増加する。また、搬送コアチャンバ70のポートを増加すると、その分搬送コアチャンバ70の占有床面積も増大すると共に、プロセスチャンバ77a、77bを並置するので、占有床面積も増大する。また、搬送コアチャンバ7が大型化し、それに合わせた大型の真空ポンプを用意するためコストの増加にもつながってしまう。
これに対して、本発明の好ましい実施の形態では、搬送コアチャンバ70にチャンバアセンブリ100を取り付けているのみである。チャンバアセンブリ100は、搬送チャンバ10と、プロセスチャンバ30と、プロセスチャンバ50とを備えている。プロセスチャンバ30は搬送チャンバ10上に垂直に積み重ねられ、搬送チャンバ10は、プロセスチャンバ50上に垂直に積み重ねられている。すなわち、チャンバアセンブリ100は、搬送チャンバ10とその上下に積み重ねられたプロセスチャンバ30とプロセスチャンバ50とを備えている。従って、限られたポートしか持たない搬送コアチャンバ70に、プロセスチャンバ30とプロセスチャンバ50を追加しても、占有床面積は、プロセスチャンバ1個分しか増大しない。従って、本発明の好ましい実施の形態のチャンバアセンブリ100は、この比較例1のパスチャンバ76、補助搬送コアチャンバ75、及びプロセスチャンバ77a、77bの代わりをし、占有床面積を大幅に減少することができる。
(比較例2)
図14を参照すれば、基板搬送ロボットを使用して占有床面積を小さくした基板処理装置が示されている。上部ロードロックチャンバ80a、下部ロードロックチャンバ80bを有するロードロックチャンバ80は、スリットバルブ83b、83dをそれぞれ介して基板搬送ロボット85を有する搬送コアチャンバ81に取り付けられている。搬送コアチャンバ81は、ゲートバルブ84を介して、プロセスチャンバ82に連結されている。上部ロードロックチャンバ80aのロードロックスペース72a、下部ロードロックチャンバ80bのロードロックスペース72bは外部環境87から、搬入口ゲートバルブ83a、83bによって、個別に分離されており、さらに、搬送コアチャンバ81の真空空間88とスリットバルブ83b、83dによって個別に分離されている。
アーム84aとエンドエフェクタ84bを有する外部の第2ロボット84は、基板86をロードロックチャンバ80bへ搬入または搬出する。基板86は、アーム85aとエンドエフェクタ85bを備えた搬送ロボット85によってロードロックチャンバ80a、80b間およびロードロックチャンバ80a、80bとプロセスチャンバ82との間を搬送される。ロードロックチャンバ80aのスペース72aで、基板加熱が行われ、ロードロックチャンバ80bのスペース72bでは基板冷却が行われる。
このように、2つのロードロックチャンバ80a、80bを垂直に積層させたロードロックチャンバ80を用いることで、基板搬送ロボット85を垂直方向に移動可能とするだけで、ほとんどフットプリントを増やすことなく、2つの処理を行うことができる。これにより、図13に示すように、搬送コアチャンバのポートを専有する2つの分離されたプロセスチャンバを搬送コアチャンバの2つのポートに平面的に2つ並べて設ける必要がなくなる。
しかしながら、通常、基板搬送ロボットは、上下動できる範囲が限定されている(約35cm)ので、それに合わせて設計された上部ロードロックチャンバ80aのロードロックスペース72aおよび下部ロードロックチャンバ80b内での基板の上下移動範囲も制約されるので、上部ロードロックチャンバ80aおよび下部ロードロックチャンバ80bでは、基板加熱、冷却、位置調整のような処理に限定される。
これに対して、本発明の好ましい実施の形態では、チャンバアセンブリ100は、搬送チャンバ10と、プロセスチャンバ30と、プロセスチャンバ50とを備え。プロセスチャンバ30は搬送チャンバ10上に垂直に積み重ねられ、搬送チャンバ10は、プロセスチャンバ50上に垂直に積み重ねられている。搬送チャンバ10には、垂直移動エレベータバルブ14と、垂直移動エレベータバルブ17とが設けられている。垂直移動エレベータバルブ14の上側には基板搭載部材15が設けられている。垂直移動エレベータバルブ17の下側には基板搭載部材18が設けられている。
搬送チャンバ10の上壁11aの開口12aとプロセスチャンバ30の下壁31aの開口36aは連通している。垂直移動エレベータバルブ14が上昇して上壁11aと結合して開口12aをシールする。このとき、基板搭載部材15に搭載された基板22は、プロセスチャンバ30内にあり、プロセスチャンバ30内で基板22の処理を行うことができる。垂直移動エレベータバルブ14が下降し、基板搭載部材15も下降すると、搬送チャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置することができ、搬送コアチャンバ70から基板22を受け取り、または搬送コアチャンバ70に基板22を搬送することができる。
また、搬送チャンバ10の下壁11bの開口12bとプロセスチャンバ50の上壁51bの開口57aは連通している。垂直移動エレベータバルブ17が下降して下壁11bと結合して開口12bをシールする。このとき、基板搭載部材18に搭載された基板22は、プロセスチャンバ50内にあり、プロセスチャンバ50内で基板22の処理を行うことができる。垂直移動エレベータバルブ17が上昇し、基板搭載部材18も上昇すると、搬送チャンバ10内の所定の基板受け渡し位置に位置することができ、搬送コアチャンバ70から基板22を受け取り、または搬送コアチャンバ70に基板22を搬送することができる。
このように、本発明の好ましい実施の形態では、上下動できる範囲が限定される基板搬送ロボットを使用せず、垂直移動エレベータバルブ14と、垂直移動エレベータバルブ14と一緒に、または独立して上下できる基板搭載部材15と、垂直移動エレベータバルブ17と、垂直移動エレベータバルブ17と一緒に、または独立して上下できる基板搭載部材18とを使用しているので、上下動できる範囲を基板搬送ロボットを使用する場合よりも大きくでき、その結果、搬送チャンバ10の上下のプロセスチャンバ30、プロセスチャンバ50で行える基板処理も、基板加熱、冷却、位置調整のような処理に限定されず、これらの処理よりも幅広い処理を行えるようになる。
また、搬送コアチャンバ70との基板22の受け渡しは、搬送チャンバ10と搬送コアチャンバ70との間で行うので、プロセスチャンバ30、50の垂直範囲を増加しても、搬送コアチャンバ70の大きさは変更する必要がないので、コストの増加につながらない。
以上、本発明の種々の典型的な実施の形態を説明してきたが、本発明はそれらの実施の形態に限定されない。従って、本発明の範囲は、次の特許請求の範囲によってのみ限定されるものである。
10 搬送チャンバ
11 側壁
11a 上壁
11b 下壁
12a 開口
12b 開口
12c 開口
14 垂直移動エレベータバルブ
15 基板受取部材
17 垂直移動エレベータバルブ
18 基板受取部材
22 基板
30 プロセスチャンバ
31 側壁
31a 下壁
31b 上壁
35 ランプヒータユニット
36a 開口
50 プロセスチャンバ
51 側壁
51b 上壁
51a 下壁
57a 開口

Claims (12)

  1. (a)上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第1および第2のチャンバと、
    前記第1のチャンバの前記第2のチャンバに対面する第1の壁に設けられ、基板が通過可能な第1の開口と、
    記第1の壁と交差する前記第1のチャンバの第2の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第2の開口と、
    前記第2のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第3の壁に、前記第1の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第3の開口と、
    前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第1の開口を開閉する第1の開閉手段と、
    前記第1の開閉手段よりも前記第2のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と、前記第2のチャンバ内とで移動可能な第1の基板搭載手段と、
    前記第2のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第1の基板処理手段と、
    前記第1のチャンバに対して前記第2のチャンバとは反対側に前記第1のチャンバと上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第3のチャンバと、
    前記第1のチャンバの前記第3のチャンバに対面する第4の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第4の開口と、
    前記第3のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第5の壁に、前記第4の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第5の開口と、
    前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第4の開口を開閉する第2の開閉手段と、
    前記第2の開閉手段よりも前記第3のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と前記第3のチャンバ内とで移動可能な第2の基板搭載手段と、
    前記第3のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第2の基板処理手段と、
    前記第1、第2および第3のチャンバにそれぞれ接続された第1、第2および第3の高真空ポンプと、
    前記第2の壁において前記第2の開口と異なる位置に設けられた第6の開口と、
    前記第1のチャンバの前記第2の壁に第1のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第6の開口と前記第1のゲートバルブを介して連通する第7の開口が設けられた第6の壁を有する搬送チャンバと、
    前記第6の壁において前記第7の開口と異なる位置に設けられた第8の開口と、
    前記第6の壁に第2のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第8の開口と前記第2のゲートバルブを介して連通する第9の開口が設けられた第7の壁を有する第4のチャンバと、
    前記第4のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第3の基板処理手段と、
    前記搬送チャンバ内に設けられ、前記第4のチャンバと前記第1のチャンバとの間で前記基板を搬送する第1の基板搬送手段と、
    を有する基板処理チャンバモジュールと、
    (b)前記第2の壁に第3のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第2の開口と前記第3のゲートバルブを介して連通する第10の開口が設けられた第8の壁を有する搬送コアチャンバと、
    (c)前記搬送コアチャンバ内に設けられ、前記搬送コアチャンバと前記第1のチャンバとの間で前記基板を搬送する第2の基板搬送手段と、
    (d)前記搬送コアチャンバの前記第8の壁に取り付けられたロードロックチャンバと、
    を備える基板処理装置。
  2. 前記第1、第2又は第3の基板処理手段は、ランプヒータユニットによる加熱、スパッタリング、エッチング、酸化および急速冷却のうちのいずれかの処理を行う請求項1に記載の基板処理装置。
  3. 前記搬送コアチャンバの前記第8の壁において、前記第10の開口と異なる位置にプロセスチャンバが取り付けられている請求項1または2に記載の基板処理装置。
  4. 前記第1の開閉手段を上下動させる第1の駆動源を前記第1のチャンバの外側にさらに備える請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  5. 前記第2のチャンバは前記第1のチャンバ上に設けられ、
    前記第1の基板搭載手段は、前記第1の開閉手段上に設けられ、前記第1の駆動源によって前記第1の開閉手段を上下動させることによって、前記第1の基板搭載手段に搭載された前記基板を前記第1のチャンバ内と、前記第2のチャンバ内とで移動させる請求項4に記載の基板処理装置。
  6. 前記第1のチャンバは前記第3のチャンバ上に設けられ、
    前記第2の基板搭載手段は、前記第2の開閉手段の下側に前記第2の開閉手段と独立して設けられ、かつ、前記第2の開閉手段と独立に上下動可能である請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  7. 前記第2の開閉手段を上下動させる第2の駆動源を前記第1のチャンバの外側にさらに備え、
    前記第2の基板搭載手段を上下動させる第3の駆動源を前記第1のチャンバおよび前記第3のチャンバの外側にさらに備える請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  8. 前記第1の基板搭載手段は、前記基板を複数のピンにより支持する請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  9. 前記第1のチャンバ内に設けられ、前記基板を回転する基板回転手段と、前記基板の向きを検出する基板向き検出手段をさらに備える請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  10. 上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第1および第2のチャンバと、
    前記第1のチャンバの前記第2のチャンバに対面する第1の壁に設けられ、基板が通過可能な第1の開口と、
    前記第1の壁と交差する前記第1のチャンバの第2の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第2の開口と、
    前記第2のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第3の壁に、前記第1の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第3の開口と、
    前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第1の開口を開閉する第1の開閉手段と、
    前記第1の開閉手段よりも前記第2のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と、前記第2のチャンバ内とで移動可能な第1の基板搭載手段と、
    前記第2のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第1の基板処理手段と、
    前記第1のチャンバに対して前記第2のチャンバとは反対側に前記第1のチャンバと上下に積み重ねられて気密封止部材を介して互いに直接取り付けられた第3のチャンバと、
    前記第1のチャンバの前記第3のチャンバに対面する第4の壁に設けられ、前記基板が通過可能な第4の開口と、
    前記第3のチャンバの前記第1のチャンバに対面する第5の壁に、前記第4の開口と連通して設けられ、前記基板が通過可能な第5の開口と、
    前記第1のチャンバ内に上下動可能に設けられ、前記第4の開口を開閉する第2の開閉手段と、
    前記第2の開閉手段よりも前記第3のチャンバ側に設けられ、前記基板を搭載し、前記基板を前記第1のチャンバ内と前記第3のチャンバ内とで移動可能な第2の基板搭載手段と、
    前記第3のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第2の基板処理手段と、
    前記第2の壁において前記第2の開口と異なる位置に設けられた第6の開口と、
    前記第2の壁に第1のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第6の開口と前記第1のゲートバルブを介して連通する第7の開口が設けられた第6の壁を有する搬送チャンバと、
    前記第6の壁において前記第7の開口と異なる位置に設けられた第8の開口と、
    前記第6の壁に第2のゲートバルブを介して取り付けられ、前記第8の開口と前記第2のゲートバルブを介して連通する第9の開口が設けられた第7の壁を有する第4のチャンバと、
    前記第4のチャンバに設けられ、前記基板を処理する第3の基板処理手段と、
    前記搬送チャンバ内に設けられ、前記第4のチャンバと前記第1のチャンバとの間で前記基板を搬送する第1の基板搬送手段と、
    を備えた基板処理チャンバモジュール。
  11. 前記第1の基板搭載手段は、前記基板を複数のピンにより支持する請求項10に記載の基板処理チャンバモジュール
  12. 前記第1のチャンバ内に設けられ、前記基板を回転する基板回転手段と、前記基板の向きを検出する基板向き検出手段をさらに備える請求項10または11に記載の基板処理チャンバモジュール。
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