JP5995660B2 - 現像剤担持体及びその製造方法、並びに現像装置 - Google Patents
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Description
該アゾ系金属錯体化合物は下記式(1)で示される化合物である現像剤担持体が提供される。
即ち、本発明に係る現像剤担持体は、画出し初期から繰り返し・耐久の使用においても、また、多様な環境下においても、現像剤に安定して適正な摩擦帯電を付与することができる。また、高い摩擦帯電特性を持った現像剤を用いた場合に現れやすい、チャージアップ現象、摩擦帯電の不安定化、それに伴う現像剤担持量の増大を制御でき、長期にわたって良好な現像特性を得ることができる。
本発明に係る現像剤担持体は、少なくとも基体と表面層とを有し、この他に、例えば、基体と表面層との間に中間層(例えば、弾性層)を有することができる。本発明の現像剤担持体は、電子写真装置に用いる現像剤担持体(電子写真装置用現像剤担持体)として使用することができる。また、前記表面層は、基体表面に形成することができる。以下に、本発明の現像剤担持体を詳しく説明する。
本発明に使用される基体は、現像剤担持体の分野で公知の基体を用いることができ、その形状は、中空円筒状、中実円柱状及びベルト形状等から適宜選択できる。この基体としては、例えばアルミニウム、ステンレス鋼、及び真鍮等の非磁性の金属、又はこれらの合金を、中空円筒状または中実円柱状に成型し、研磨、研削を施したものを用いることができる。
本発明に用いる表面層は、バインダー樹脂、導電性粒子、第4級アンモニウム塩及び前記式(1)に示されるアゾ系金属錯体化合物を含む樹脂組成物の硬化物である。なお、このバインダー樹脂は、その分子構造中に、−NH2基、=NH基および−NH−結合からなる群から選ばれる少なくとも1つの構造(結合)を有する。また、上記樹脂組成物は、後述する凹凸付与粒子等の他の添加剤を含むことができる。
・バインダー樹脂
本発明で使用できるバインダー樹脂は、分子構造中に−NH2基、=NH基および−NH−結合からなる群から選ばれる少なくとも1つの構造(以下、NHn構造と称することもある)を有すれば、公知の樹脂を使用することができる。NHn構造を分子構造中に有することによって、現像剤の過剰摩擦帯電に起因すると考えられるブロッチやゴースト等の発生を抑制することができる。このバインダー樹脂の具体例として、以下のものが挙げられる。ポリウレタン樹脂、ポリアミド樹脂、メラミン樹脂、グアナミン樹脂、ポリアミドを硬化剤として用いたエポキシ樹脂、その製造工程において触媒としてアンモニア等の含窒素化合物を用いて製造されたNHn構造を有するフェノール樹脂、および、ウレタン変性エポキシ樹脂等のNHn構造を主鎖以外に有する樹脂。
本発明では、第4級アンモニウム塩を前記アゾ系金属錯体化合物と組みわせて上記樹脂組成物中、即ち表面層中に含有させることが、現像剤に対して良好な摩擦帯電付与性を向上させるために必要である。この中でも、過剰な摩擦帯電付与抑制の観点から、例えば特開平10−326040号公報に記載されているような、鉄粉に対して正帯電性である第4級アンモニウム塩化合物を樹脂層中に含有させることが好ましい。ここでいう鉄粉は、30μm以上、200μm以下の体積分布基準の50%粒径(D50)を有し、樹脂で被覆されていない鉄粉キヤリアを指す。この鉄粉の具体例としては、商品名:EFV200/300(パウダーテック社製)、商品名:DSP138(同和鉄粉工業社製)を挙げることができる。なお、鉄粉キヤリアの体積分布基準の50%粒径(D50)は、以下の測定方法により特定することができる。レーザー回折・散乱方式の粒度分布測定装置「マイクロトラックMT3300EX」(商品名、日機装社製)に、乾式測定用の試料供給機「ワンショットドライ型サンプルコンディショナーTurbotrac」(商品名、日機装社製)を装着して行う。Turbotracの供給条件として、真空源として集塵機を用い、風量33リットル/秒、圧力17kPaとし、制御及び解析は、付属ソフト(バージョン10.3.3−202D)を用いて自動的に行い、体積分布基準の50%粒径(D50)を求める。
本発明では、下記式(1)で示されるアゾ系金属錯体化合物を表面層中に含有させることが、現像剤に対して適切な摩擦帯電付与をするために必要である。
前記フェニレン基、前記ナフチレン基および前記ピラゾレン基が各々独立に有していてもよい置換基としては、炭素数1以上18以下のアルキル基、ニトロ基、ハロゲン原子、置換基を有していてもよいアニリド基、および置換基を有していてもよいフェニル基からなる群から選ばれる少なくとも1つである。前記アニリド基および前記フェニル基が各々独立に有していてもよい置換基は、炭素数1以上18以下のアルキル基およびハロゲン原子からなる群から選ばれる少なくとも1つである。
まず4−クロロ−2−アミノフェノール等のアミン成分に、塩酸や硫酸等の鉱酸を加え、液温が5℃以下になったら、水に溶解させた亜硝酸ナトリウムを液温10℃以下に維持しながら滴下する。10℃以下で30分以上、3時間以下撹拌し反応させることにより、このアミン成分をジアゾ化して、ジアゾ化合物を得る。そして、反応液にスルファミン酸を加え、ヨウ化カリウムでんぷん紙により反応系中に過剰に亜硝酸が残存していないことを確認する。
表面層の抵抗値を調整するために、導電性粒子を樹脂組成物中(表面層中)に含有させる。この導電性粒子は、現像剤担持体の分野で公知の導電性粒子を適宜選択して用いることができる。この導電性粒子の例を以下に示す。金属(アルミニウム、銅、ニッケル、銀等)の微粉末、導電性金属酸化物(酸化アンチモン、酸化インジウム、酸化スズ、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化モリブデン、チタン酸カリウム等)の粒子、結晶性グラファイト、各種カーボンファイバー、導電性カーボンブラック。これらのうち、分散性に優れ、電気伝導性に優れることから、特に導電性カーボンブラック、結晶性グラファイトが好ましい。上記導電性粒子は、1種を単独で使用しても良いし、2種以上を混合して使用しても良い。
表面層形成用樹脂組成物、即ち表面層は、表面粗さを均一にし、且つ適切な表面粗さを維持する観点から、凹凸形成のための凹凸付与粒子を含むことが好ましい。凹凸付与粒子は導電性を有する必要はなく、樹脂組成物表面に凹凸形状作製を目的として添加される。この凹凸付与粒子の体積平均粒径は、凹凸付与の観点から1μm以上、樹脂組成物の耐久性維持の観点から30μm以下が好ましい。また、表面層形成用樹脂組成物中の凹凸付与粒子の添加量は、バインダー樹脂100質量部に対して、添加による効果発揮の観点から5質量部以上、耐摩耗性維持の観点から100質量部以下が好ましい。
表面層の表面粗さとして、算術平均粗さRa(JIS B0601−2001)が0.3μm以上2.5μm以下、特には、0.4μm以上2.0μm以下であることが好ましい。樹脂層表面(表面層)のRaを0.3μm以上2.5μm以下とすることで、現像剤担持体による現像剤の搬送量がより安定化する。また、耐摩耗性及び耐現像剤汚染性の良好な表面層を容易に得ることができる。
本発明に係る現像剤担持体の製造方法では、上述した、バインダー樹脂、導電性粒子、第4級アンモニウム塩及びアゾ系金属錯体化合物を少なくとも含む塗料の塗膜を前記基体表面に形成し、その塗膜を硬化(乾燥固化でも良い)させて表面層を形成する。なお、表面層を形成するための材料を混合する際は、溶媒中にこれらの材料を分散混合して塗料化し、前記基体表面上に塗布塗工することが好ましい。表面層作製には、前記バインダー樹脂、前記導電性粒子、前記第4級アンモニウム塩及び前記アゾ系金属錯体化合物を、前記バインダー樹脂が溶解する溶剤(例えば、メタノールやイソプロピルアルコール等)に混合した塗料を用いることが好ましい。上記材料を分散混合するためには、ボールミル、サンドミル、アトライター、ビーズミル等の公知のメディア分散装置や、衝突型微粒化法や薄膜旋回法を利用した公知のメディアレス分散装置が好適に利用可能である。また得られた塗料の塗工方法としては、ディッピング法、スプレー法、ロールコート法、静電塗布工法、リング塗工法等の公知の方法が挙げられる。硬化方法としては、例えば加熱硬化法を挙げることができる。
次に、本発明の現像剤担持体を使用する現像装置について実施形態の例を挙げて説明する。なお、特に以下の実施形態に限定するものではない。本発明の現像装置は、負帯電性現像剤、現像容器、現像剤担持体、及び現像剤層厚規制部材を少なくとも備えており、この現像剤担持体として、上述した本発明の現像剤担持体を用いる。
この弾性ブレード516は、例えば、ウレタンゴム及びシリコーンゴム等のゴム弾性を有する材料、又はリン青銅及びステンレス鋼等の金属弾性を有する材料を用いた弾性板からなることができる。
本発明の現像剤担持体を使用する現像装置に用いることのできる現像剤(トナー)は、負帯電性である。また、この負帯電性現像剤は、従来公知の材料(例えば、結着樹脂、荷電制御剤、磁性材料、着色剤、離型剤、及び無機微粉体等の成分)を用い、従来公知の製造方法によって得ることが可能であり、特に限定はない。
(1)現像剤担持体表面の算術平均粗さ(Ra)の測定;
現像剤担持体表面の算術平均粗さ(Ra)は、以下の方法により測定することができる。即ち、JIS B0601(2001)の表面粗さに基づき、小坂研究所製サーフコーダーSE−3500(商品名)を用い、測定条件を、カットオフ0.8mm、評価長さ8mm、送り速度0.5mm/sとする。測定位置は、現像剤担持体の軸方向の中央部(1箇所)及び現像剤担持体の軸方向の中央部と両端部との各中間地点(2箇所)の計3箇所、更に90°現像剤担持体を周方向に回転した後同様に3箇所、更に90°現像剤担持体を回転した後同様に3箇所とする。そして、この計9点について各々測定し、その平均値を現像剤担持体表面の算術平均粗さとする。
100μmの厚さのポリエチレンテレフタレート(PET)シート上に、7μm以上20μm以下の被覆層(表面層)を形成し、抵抗率計ロレスタAP(商品名、三菱化学社製)にて4端子プローブを用いて体積抵抗値を測定する。測定環境は、温度20℃以上25℃以下、湿度50%RH(相対湿度)以上60%RH以下である。
レーザー光にて円筒の外径を測定する株式会社キーエンス製の寸法測定器「LS5000シリーズ」(商品名)を用い、表面層形成前の現像剤担持体の外径(S0)、表面層形成後の外径(S1)及び耐久使用後(耐久使用条件については適宜設定する)の外径(S2)をそれぞれ測定する。それらの値から、表面層の厚み(S1−S0)及び表面層の削れ量(膜削れ)(S1−S2)を算出する。
表面層の形成に用いる導電性粒子及び塗工液中の粒子(例えば凹凸付与粒子)の粒径はレーザー回折型粒度分布計のコールターLS−230型粒度分布計(商品名、ベックマン・コールター社製)を用いて測定することができる。測定方法としては、少量モジュールを用い、測定溶媒としてはイソプロピルアルコール(IPA)を使用する。IPAにて粒度分布計の測定系内を約5分間洗浄し、洗浄後バックグラウンドファンクションを実行する。次にIPA50ml中に測定試料を1mg加えて、得られる懸濁液を超音波分散機で約1分間分散処理を行い試料液を得る。そして、前記測定装置の測定系内にこの試料液を徐々に加えて、装置の画面上のPIDS(偏光散乱強度差)が45%以上55%以下になるように測定系内の試料濃度を調整して測定を行い、体積分布から算術した体積平均粒径を求める。
アゾ系金属錯体化合物約20mgを、活性剤である商品名:スコアロール100(花王(株)製)2mLと水20mLとからなる溶液に加え混合液を調製する。続いて、粒度分布測定器である商品名:LA−910((株)堀場製作所製)内の分散水約120mLに、この混合液を約1mL加え、1分間超音波振動させた後、粒度分布を測定する。
測定装置としては、コールターマルチサイザーII(商品名、べックマン・コールター社製)を用いる。電解液は、1級塩化ナトリウムを用いて、約1質量%NaCl水溶液を調製する。前記電解水溶液100ml中に分散剤として、界面活性剤、好ましくはアルキルベンゼンスルホン酸塩を、0.5ml加え、更に測定試料(現像剤)を10mg加える。試料を懸濁した電解液は、超音波分散器で約1分間分散処理を行い、前記測定装置により、アパーチャーとして100μmアパーチャー或いは30μmアパーチャーを用いて、測定試料の体積、個数を測定して体積分布と個数分布とを算出する。この結果より、体積分布から求めた重量基準の重量平均粒径(D4)(各チャンネルの中央値をチャンネル毎の代表値とする)を求める。
現像剤粒子の平均円形度は、フロー式粒子像分析装置「FPIA−3000」(商品名、シスメックス社製)によって、校正作業時の測定及び解析条件で測定する。
ワックスおよびトナーの最大吸熱ピークのピーク温度は、示差走査熱量分析装置、商品名:「Q1000」(TA Instruments社製)を用いてASTM D3418−82に準じて測定する。
振動試料型磁力計(商品名:VSM−P7、東英工業製)を使用し、試料温度25℃、外部磁場795.8kA/mにて、磁性酸化鉄粒子の磁気特性を測定する。
これらの粒子の平均一次粒子径は、それぞれの粒子を走査型電子顕微鏡(倍率40000倍)で観察し、200個の各粒子のフェレ径を計測して個数平均粒子径を求めることにより特定できる。後述する実施例においては、走査型電子顕微鏡として、S−4700(商品名、日立製作所製)を用いた。
現像剤担持体の表面層に用いるアゾ系金属錯体化合物やその他の錯体として、以下の錯体A−1〜A−8及びa−1を用いた。
4−クロロ−2−アミノフェノール10質量部を、水76.5質量部、及び35質量%塩酸15.2質量部の混合物中に加えて撹拌し、アミン水溶液を調製した。0℃以上5℃以下に維持したこのアミン水溶液に、水24.6質量部に溶解させた亜硝酸ナトリウム13.6質量部を滴下し、その後、2時間撹拌して、ジアゾ化した。これにスルファミン酸を加え、過剰の亜硝酸を消失させた後、濾過を行ってジアゾ溶液を得た。
また表3において、A1、A2の結合部位は式(2)に示すフェニル基からそれぞれの置換基の結合位置を、A3の結合部位は式(2)に示すフェニレン基からの結合位置をIUPAC命名法に準じて記載した。
錯体A−1の作製方法から、3−メチル−1−(3,4−ジクロロフェニル)−5−ピラゾロンを3−メチル−1−フェニル−5−ピラゾロンに変更し、金属化に用いた塩化第二鉄水溶液を硫酸クロム水溶液に変更した。それら以外は、錯体A−1と同様にして、錯体A−2を得た。
錯体A−3として、下記式(5)で表される鉄アゾ錯体(保土谷化学工業社製、商品名:T−77)を用いた。下記式中、a+b+cは1である。また、錯体A−3の体積平均粒径を表3に示す。
錯体A−4として、下記式(6)で表されるクロムアゾ錯体(保土谷化学工業社製、商品名:T−95)を用いた。また、錯体A−4の体積平均粒径を表3に示す。
錯体A−1の作製方法から、3−メチル−1−(3,4−ジクロロフェニル)−5−ピラゾロンを3−メチル−1−フェニル−5−ピラゾロンに変更し、金属化に用いた塩化第二鉄水溶液を塩化アルミニウム水溶液に変更した。それら以外は、錯体A−1と同様にして、錯体A−5を得た。
錯体A−1の作製方法から、3−メチル−1−(3,4−ジクロロフェニル)−5−ピラゾロンを3−メチル−1−(3,4−ジニトロフェニル)−5−ピラゾロンに変更する以外は、錯体A−1と同様にして、錯体A−6を得た。
錯体A−1と同様の方法でカップリング反応を行い、カップリング反応終了後の油相に、水42.2質量部、サリチル酸5.9質量部、n−ブタノール24.6質量部および15質量%炭酸ナトリウム水溶液48.5質量部の混合物を加えて撹拌し、さらに、38質量%塩化第二鉄水溶液15.1質量部および15質量%炭酸ナトリウム水溶液48.5質量部を加え、液温を30℃に調整して8時間攪拌して、錯体化反応を行った。攪拌停止後、静置し下層の水相を除去した。
4−クロロ−2−アミノフェノール10質量部を、水76.5質量部および35質量%塩酸15.2質量部の混合物中に加えて撹拌し、アミン水溶液を調製した。0℃以上5℃以下に維持したこのアミン水溶液に、水24.6質量部に溶解させた亜硝酸ナトリウム13.6質量部を滴下し、その後、2時間撹拌してジアゾ化した。これにスルファミン酸を加えて、過剰の亜硝酸を消失させた後、濾過してジアゾ溶液を得た。
六塩化イリジウム二アンモニウム(三津和化学薬品株式会社製)を錯体a−1として用いた。
現像剤担持体の表面層に用いる導電性粒子としては、以下の導電性粒子1及び2を用いた。
黒鉛粒子(日本黒鉛製、HOP(商品名)、体積平均粒径4.0μm)を導電性粒子1として用いた。
カーボンブラック(商品名:トーカブラック#5500、東海カーボン株式会社製)を導電性粒子2として用いた。
現像剤担持体の表面層に用いるバインダー樹脂としては、以下の樹脂B−1〜B−3、b−1及びb−2を用いた。
アンモニア触媒使用レゾール型フェノール樹脂(商品名:J−325CA、DIC株式会社製)を樹脂B−1として用いた。
ポリオール(商品名:ニッポラン5037、日本ポリウレタン工業株式会社製)と、硬化剤(商品名:コロネートL、日本ポリウレタン工業製)とを質量比10:1で配合したものを樹脂B−2として用いた。
6/66/610共重合ナイロン(商品名:エルバマイド8023、デュポン社製)を樹脂B−3として用いた。
NaOH触媒使用レゾ−ル型フェノール樹脂GF9000(商品名、大日本インキ化学工業社製)を樹脂b−1として用いた。
シリコーン樹脂SH804(商品名、東レ・ダウコーニング社製)を樹脂b−2として用いた。
現像剤担持体の表面層に用いる第4級アンモニウム塩としては、以下の第4級アンモニウム塩C−1〜C−3を用いた。
第4級アンモニウム塩C−1として、表1の例示No.1の化合物である第4級アンモニウム塩(商品名:ボントロンP−51、オリエント化学社製)を用いた。
第4級アンモニウム塩C−2として、表2の例示No.16の化合物である第4級アンモニウム塩(商品名:TP−415、保土谷化学工業社製)を用いた。
第4級アンモニウム塩C−3として、下記式(8)で表される第4級アンモニウム塩(商品名:アーカード 22−80、ライオンアクゾ社製)を用いた。
現像剤担持体の表面層に用いる凹凸付与粒子として、球状炭素粒子(商品名:ニカビーズICB0520、日本カーボン株式会社製)を用いた。
評価に用いる現像剤は、以下のものを用いた。
還流管、撹拌機、温度計、窒素導入管、滴下装置及び減圧装置を備えた加圧可能な反応容器に、以下の表7に示す材料を添加して撹拌しながら還流温度まで加熱した。
下記の手順によって重合現像剤を作製した。
以下の表11に示す材料にメタノールを加え固形分40質量%に調整し、これをサンドミル(商品名:サンドグラインダーLSG−4U−08、アイメックス株式会社製)(直径1mmのガラスビーズをメディア粒子として使用)で2時間分散した。続いて、篩を用いてガラスビーズを分離した後、固形分濃度が33質量%になるようにメタノールを添加して、塗料を得た。
<1>画像濃度
印字比率5.5%のテストチャートを画像出力して得られたコピー上のφ5mmベタ黒丸部のコピー画像濃度を、反射濃度計(商品名:RD918、マクベス社製)により反射濃度測定を行い、その任意の10点の平均値を画像濃度とした。また、H/H、N/N及びN/Lの各環境下における初期及び耐久後での評価の他に、耐久(100万枚の連続プリント)終了後評価機をH/H環境に10日放置した後の画像濃度も、上記と同様の手法にて出力し評価した。その際、耐久前後の濃度低下率(%)も同時に記載し、耐久により濃度が上昇した場合は、負の値で表記した。
プリンタの出力画像として、画像先端の現像剤担持体1周分に相当する領域を白地にベタ黒の四角や丸の象形画像を等間隔で配置し、それ以外の部分をハーフトーンとしたものを用いた。ハーフトーン上に象形画像のゴーストがどのように出現するかにより、以下の基準に従いランク付けを行った。なお、この画像出力は、直前に画像が形成されず現像剤が消費されない画像を3枚プリントした後に行った。
A:濃淡差が全く見られない。
B:軽微な濃淡差が見られる。
C:濃淡差がやや見られるが、象形画像の形状ははっきり認識できない。
D:濃淡差がスリーブ1周分出る。
E:濃淡差がスリーブ2周分以上出る。
各現像剤担持体の画像評価の際に、現像剤担持体表面層の表面観察を行い、現像剤への摩擦帯電付与不良に起因する斑点画像や波模様画像(ブロッチ)の有無を目視で観察した。ブロッチが存在した場合は、表中の評価結果の欄に×と表記し、存在しない場合は、○と表記した。ブロッチが存在した場合は、画像にも現れ正確な評価ができないため、その他の評価も停止した。なお、評価は温度23℃、湿度5%RH常温低湿環境(N/L)にて実施した。
現像剤担持体の外径を測定し、使用前の値から耐久後の値を引いて、表面層の削れ量とし、その平均値を全体の削れ量とした。なお、耐久後の測定に当たっては現像剤担持体の表面をイソプロパノールで洗浄した。なお、耐久後の測定には温度23℃、湿度50%RHの常温常湿(N/N)で耐久した現像剤担持体を使用した。
使用前と耐久後に現像剤担持体表面の算術平均粗さRaを測定した。なお、耐久後の測定には温度23℃、湿度50%RHの常温常湿(N/N)で耐久した現像剤担持体を使用した。
現像剤担持体の構成を表12に示すように変更した以外は、実施例1と同様にして現像剤担持体T2〜T16及びH1〜H6を作製した。但し実施例6においては、表面層の形成に用いる塗料の固形分を15質量%で行った。得られた現像剤担持体T2〜T16、及びH1〜H6に対して、現像剤Z−1を使用し実施例1と同様の方法で画像評価を行った。得られた評価結果を表13及び14に示す。
実施例1と同様に表15に示す配合の固形分33質量%の塗料を使用し、基体として、上下端部にマスキングを施した外径14.0mmφ、算術平均粗さRa0.2μmの研削加工したアルミニウム製円筒管を準備した。この基体を垂直に立てて、一定速度で回転させ、前記塗料を、スプレーガンを一定速度で下降させながら塗布した。なお、塗工条件は温度30℃/湿度35%RHの環境下にて、塗工液の温度は恒温槽で温度28℃に制御した状態で塗工を実施した。続いて熱風乾燥炉中で温度150℃、30分間加熱して塗布層を乾燥し硬化して基体上に表面層を形成し現像剤担持体T17を作製した。現像剤担持体T17の表面層の層厚は7μmでRaは0.99μmであった。表15に現像剤担持体T17の表面層の添加材料、物性を示す。
現像剤担持体の構成を表15に示すように変更した以外は、実施例17と同様にして現像剤担持体T18〜T22及びH7、H8を作製し、実施例17と同様の方法で画像評価を行った。評価結果を表16に示す。
実施例1と同様に表17に示す配合の固形分33質量%の塗料を使用し、基体として、上下端部にマスキングを施した外径12.0mmφ、算術平均粗さRa0.2μmの研削加工したアルミニウム製円筒管を準備した。この基体を垂直に立てて、一定速度で回転させ、前記塗料を、スプレーガンを一定速度で下降させながら塗布した。なお、塗工条件は温度30℃/湿度35%RHの環境下にて、塗工液の温度は恒温槽で温度28℃に制御した状態で塗工を実施した。続いて、熱風乾燥炉中で温度150℃、30分間加熱して塗布層を硬化・乾燥することで、層厚7μmで、Raが0.51μmである現像剤担持体T23を作製した。表17に現像剤担持体T23の表面層の、添加材料、物性を示す。
ベタ白画像を20枚連続出力した後に、ハーフトーン画像を出力し、現像剤の過剰帯電により発生しやすい濃度ムラ(もや状の濃淡差)画像発生の有無を目視で観察した。なお、この評価は、10枚目印刷時(初期)及び5000枚目印刷時(耐久後)で実施した。もや画像が存在した場合は、表中の評価結果の欄に×と表記し、存在しない場合は、○と表記した。なお、評価は温度15℃、湿度10%RHの低温低湿環境(L/L)にて実施した。
現像剤担持体の構成をそれぞれ表17に示すように変更した以外は、実施例23と同様にして現像剤担持体T24〜T29及びH9、H10を作製した。ただし、実施例26は、表面層形成用塗料の固形分を15質量%で行った。得られた現像剤担持体T24〜T29及びH9、H10について、実施例23と同様に画像評価を行い、得られた評価結果を表18に示す。
502 現像剤層厚規制部材(磁性ブレード)
503 現像容器
504 仕切り部材
505 攪拌搬送部材
506 基体
507 表面層
508 現像剤担持体(現像スリーブ)
509 磁石(マグネットローラ)
511 攪拌搬送部材
512 現像剤供給部材
513 現像バイアス電源
514 第一室
515 第二室
516 現像剤層厚規制部材(弾性ブレード)
517 現像剤供給・剥ぎ取り部材(現像剤供給・剥ぎ取りローラ)
518 非磁性一成分現像剤
N1 磁極
N2 磁極
S1 磁極
S2 磁極
A 現像スリーブ回転方向
B 静電潜像担持体(感光ドラム)回転方向
C 現像領域
Claims (7)
- 基体と、表面層とを有する現像剤担持体であって、
該表面層は、バインダー樹脂、導電性粒子、第4級アンモニウム塩及びアゾ系金属錯体化合物を含む樹脂組成物の硬化物であり、
該バインダー樹脂は、分子構造中に、−NH2基、=NH基および−NH−結合からなる群から選ばれる少なくとも1つの構造を有しており、
該アゾ系金属錯体化合物は、下記式(1)で示される化合物であることを特徴とする現像剤担持体:
該フェニレン基、該ナフチレン基および該ピラゾレン基が各々独立に有していても良い置換基は、炭素数1以上18以下のアルキル基、ニトロ基、ハロゲン原子、置換基を有していても良いアニリド基、および置換基を有していても良いフェニル基からなる群から選ばれる少なくとも1つであり、該アニリド基および該フェニル基が各々独立に有していても良い置換基は、炭素数1以上18以下のアルキル基およびハロゲン原子からなる群から選ばれる少なくとも1つである。)。 - 負帯電性現像剤、該負帯電性現像剤が収容されている現像容器、該現像容器から供給された該負帯電性現像剤を表面に担持し且つ搬送する回転自在に保持された現像剤担持体、および該現像剤担持体上に形成される負帯電性現像剤層の層厚を規制するための現像剤層厚規制部材を少なくとも備えた現像装置であって、
該現像剤担持体は請求項1または2に記載の現像剤担持体であることを特徴とする現像装置。 - 前記現像剤が磁性一成分現像剤であり、
前記現像剤担持体の内部には磁石が配置されており、
前記現像剤層厚規制部材が、磁性ブレードである請求項3に記載の現像装置。 - 前記現像剤が、磁性一成分現像剤であり、
前記現像剤担持体の内部には磁石が配置されており、
前記現像剤層厚規制部材が、弾性ブレードである請求項3に記載の現像装置。 - 前記現像剤が非磁性一成分現像剤であり、
前記現像剤層厚規制部材が、弾性ブレードである請求項3に記載の現像装置。 - 基体と、表面層とを有する現像剤担持体の製造方法であって、
分子構造中に−NH2基、=NH基および−NH−結合からなる群から選ばれる少なくとも1つの構造を有するバインダー樹脂、導電性粒子、第4級アンモニウム塩及び下記式(1)で示されるアゾ系金属錯体化合物を少なくとも含む塗料の塗膜を該基体表面に形成し、該塗膜を硬化させて該表面層を形成する工程を有することを特徴とする現像剤担持体の製造方法:
該フェニレン基、該ナフチレン基および該ピラゾレン基が各々独立に有していても良い置換基は、炭素数1以上18以下のアルキル基、ニトロ基、ハロゲン原子、置換基を有していても良いアニリド基、および置換基を有していても良いフェニル基からなる群から選ばれる少なくとも1つであり、該アニリド基および該フェニル基が各々独立に有していても良い置換基は、炭素数1以上18以下のアルキル基およびハロゲン原子からなる群から選ばれる少なくとも1つである。)。
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