JP5993470B2 - スタックされた電子コンポーネントを含む電子アセンブリ - Google Patents

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Description

本明細書で説明される複数の実施形態は、概して電子アセンブリに関し、より具体的にはスタックされた電子コンポーネントを含む電子アセンブリに関する。
複数のモバイル製品(例えば、携帯電話、スマートフォン、タブレットコンピュータ、など)は、利用可能なスペースが非常に制限される。なぜなら一般的に、チップ及びパッケージの面積及び高さに厳しい制約があるからである。(他の複数の物理的及び電気的パラメータの中でも)。よって、システムボード(例えば、プリント回路板PCB)上の複数の電子コンポーネント(例えば、パッケージングされたチップまたはディスクリートデバイス、集積受動デバイス(IPD)、表面実装デバイス(SMD)、など)のサイズを縮小させることが極めて重要である。
一般的に、電子チップ、集積回路(IC)、または集積受動デバイス(IPD)は、それら各々の基板の一面(例えば、表面)のみにそれらの複数の機能要素または複数の機能デバイスを有する。一例外としては、基板の裏面を共通のグランド(例えば、電気的な管理)として用いることがある。別の例外には、基板の裏面をヒートシンク(例えば、熱的な管理)として用いることがある。
図1に例として、従来技術による電子コンポーネント1を示す。本明細書で用いるように、電子コンポーネントは(複数の他のデバイスの中でも)複数の集積回路(IC)または複数の集積受動デバイス(IPD)を含む。図2に別の例として、複数のスルーシリコンビアすなわちスルーサブストレートビア(TSV)3を含む従来技術による電子コンポーネント2を示す。図2に示す従来技術による電子コンポーネント2の例においては、チップの裏面またはシリコンインターポーザを用いて、TSV3を再配線層(RDL)4及び複数の指定されたI/Oパッドに接続されてよい。一例として、複数のI/Oパッドは様々な既知の製造技術(例えば、フリップチップ(FC)、複数のマイクロフリップチップ(μ−FC)パッド、または複数のCuピラー、など)によって形成されてよい。
複数の従来の電子コンポーネントにおける各基板の片面使用は、複数のシステムボード(例えば、PCB)上で大量のスペースを消費させることとなる。 加えて,複数の従来の電子コンポーネントは一般的にかなりの高さを必要とし、その高さはIPDまたはSMD等の複数のチップが、1つが別のチップの上部に組み立てられる、及び/またはスタックされる必要がある場合は特に、モバイル製品の筐体内に複数の電子コンポーネントをはめ込むのをより困難にする。
例示的な、従来技術による電子コンポーネントを示す。 別の例示的な、従来技術によるスルーシリコンビアすなわちスルーサブストレートビア(TSV)を含む電子コンポーネントを示す。 例示的な電子アセンブリを示す。 別の例示的な電子アセンブリを示す。 図3に示す電子アセンブリを含む例示的な電子パッケージを示す。 図3に示す電子アセンブリを含む例示的な電子パッケージを示す。 他の例示的な電子パッケージ、及び図3に示す電子アセンブリを含む電子パッケージを製造するプロセスフローを示す。 他の例示的な電子パッケージ、及び図3に示す電子アセンブリを含む電子パッケージを製造するプロセスフローを示す。 他の例示的な電子パッケージ、及び図3に示す電子アセンブリを含む電子パッケージを製造するプロセスフローを示す。 他の例示的な電子パッケージ、及び図3に示す電子アセンブリを含む電子パッケージを製造するプロセスフローを示す。 図3に示す電子アセンブリを含む例示的な電子システムを示す。 電子アセンブリを形成すべく複数の電子コンポーネントをスタックする方法を例示するフロー図である。 本明細書で説明する複数の電子アセンブリ及び/または複数の電子パッケージを含む電子機器のブロック図である。
以下の説明及び複数の図面は、複数の具体的な実施形態を、当業者がそれらを実行可能なほど十分に示してある。他の複数の実施形態は、構造的、論理的、電気的、プロセス的、及び他の複数の変更が組み込まれてよい。いくつかの実施形態の複数の部分及び複数の機能が、他の複数の実施形態に含まれてもよいし、または、他の複数の実施形態に代えて置き換えられてもよい。特許請求の範囲で説明される複数の実施形態はそれら特許請求の範囲の、全ての利用可能な等価物を包含する。
本願で用いられるような、「水平」などの向きを表す用語は、ウェハまたは基板の向きに関わらず、ウェハまたは基板の従来の平面または表面に平行な平面に対して定義される。「垂直」という用語は、上で定義したような水平に対し垂直な方向を示す。「上」、「側」(「側壁」などにおけるような)、「高方」、「下方」、「上方」、及び「下」等の前置詞は、ウェハ及び基板の向きに関わらず、ウェハまたは基板の上面にある従来の平面または表面に対して定義される。
本明細書で説明される複数の電子アセンブリは、ラミネート(または他のタイプのパッケージング層)へ複数のダイを埋め込む段階より前の、2またはそれより多い電子コンポーネント(例えば、複数のダイ)の背中合わせの取り付けを含む。この2またはそれより多い電子コンポーネントの背中合わせの取り付けは、複数の電子コンポーネントを含む複数の電子アセンブリのパッケージングオプションを最適化するのに役立ちうる。
加えて、2またはそれより多い電子コンポーネントの背中合わせの取り付けは、それぞれの電子コンポーネントの各々の裏面上の、以前ならば「使用しないエリア」を使用する。よって、単位電子アセンブリ面積当たりの機能デバイスまたは回路の量は、基板の片側だけを用いる複数の従来の電子アセンブリと比較して2倍になりうる。
加えて、システムボード上の貴重なエリアを節約でき、及び/または、本明細書で説明する複数の電子アセンブリを含む複数の電子パッケージの高さを、従来の複数のスタッキング技術(例えば、パッケージオンパッケージ(PoP))と比較して低減できる。本明細書で説明される複数の電子アセンブリは、複数の異なるダイを互いにより近づけることもでき、そのことによって、複数の電子アセンブリ(及び複数の電子アセンブリを含む複数の電子パッケージ)を形成する複数の電子コンポーネント間の寄生を低減しうる。
本明細書で説明される複数の電子アセンブリは、複数の背中合わせに取り付けられた電子コンポーネントの各々の表面上に複数の機能デバイスを含んでよい。よって、複数の機能デバイスは実際に電子アセンブリの表面及び裏面上に取り付けられる。
複数の機能デバイスの複数の例としては、限定されるものではないが、CMOS技術、バイポーラ技術、BiCMOS技術、アナログミックスドシグナル技術、RF技術、電力半導体技術、DRAM技術、SRAM技術、またはNVMメモリ技術による、トランジスタ、ダイオード、電子回路要素が含まれる。加えてオプションで受動デバイスが、本明細書で説明される複数の電子アセンブリの各々の表面及び裏面上に取り付けられてもよい。複数のオプションの受動デバイスの例としては、限定されるものではないが、FEOLまたはBEOLプロセス中の抵抗、キャパシタ(MOSキャパシタ、MIMキャパシタ、インターメタルキャパシタ)及びインダクタ(コイル)が含まれる。
上述したように、電子アセンブリの表面及び裏面上に複数の機能デバイスを取り付ける1つの潜在的な利点は、電子パッケージ内の与えられた面積及び/または体積内に、比較的より多くの機能デバイスを含めうる点である。電子アセンブリの表面及び裏面上に複数の機能デバイスを取り付ける別の潜在的な利点は、複数のそのような電子アセンブリは、電子パッケージ内に、異なる技術世代(例えば、20nm、40nm、65nm等のCMOS)の混合を含めることがより容易にできうる点である。加えて、電子アセンブリの表面及び裏面上に複数の機能デバイスを取り付けると、電子アセンブリを含む電子パッケージ内に、異なる製造技術(例えば、CMOSロジック技術、DRAM技術、NVMメモリ技術、バイポーラ技術、アナログミックスドシグナル技術、RF技術、電力半導体技術等、及び様々な受動デバイス)の混合を含めることがより容易にできうる。
電子アセンブリの表面及び裏面上に複数の機能デバイスを取り付けると、電子アセンブリを形成する様々な電子コンポーネントの製造可能性も改善しうる。様々な電子コンポーネントの製造可能性が改善される1つの考えられる理由は、電子アセンブリを形成する複数の個々の電子コンポーネント(例えば、複数のダイ)を組み立てるべく、指定された最適な製造条件が用いられるからである。
図3に例示的な電子アセンブリ10を示す。電子アセンブリ10は、表面13及び裏面14を有する第1の基板12と、第1の基板12の表面13上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス15と、を含む第1の電子コンポーネント11を含む。
電子アセンブリ10は、表面23及び裏面24を有する第2の基板22と、第2の基板22の表面23上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス25とを含む第2の電子コンポーネント21をさらに含む。
第1の基板12の裏面14は、第2の基板22の裏面24に直接取り付けられる。幾つかの形態においては、第1の基板12の裏面14は、第2の基板22の裏面24に直接接着される(例えば、接着剤、直接的なシリコンツーシリコンボンディング(silicon−to−silicon bonding)、陰イオンボンディング(anionic bonding)等によって)。
第1の基板12の裏面14は、現在既知の、または将来発見される任意の方法で、第2の基板22の裏面24に直接取り付けられてもよいことに留意するべきである。第1の基板12の裏面14を第2の基板22の裏面24に直接取り付ける方法は、(他の要素の中でもとりわけ)電子アセンブリにおいて用いられる電子コンポーネント11、21のタイプに部分的に依存するであろう。
電子アセンブリ10の幾つかの例示的形態において、第1の基板12及び第2の基板22のうちの少なくとも1つはシリコン基板である。電子アセンブリ10のさらなる他の複数の例示的形態において、第1の基板12及び第2の基板22のうちの少なくとも1つはガラス基板である。 第1の基板12及び第2の基板22の他の複数の例示的材料は、限定されるものではないが、シリコン、ガラス、絶縁体上のシリコン、シリコンカーバイド(SiC)、ヒ化ガリウム、有機基板及びラミネート、等を含む。第1の基板12及び第2の基板22は同一の材料であってよいし、または異なる材料であってもよいことに留意するべきである。
上で部分的に議論したように、第1の基板12の裏面14を第2の基板22の裏面24に直接取り付けると、電子アセンブリ10が占有する与えられた面積に対して2倍の電子コンポーネント密度を、電子アセンブリ10が本来的に有することを可能にしうる。与えられた面積に対する電子コンポーネント密度を潜在的に2倍にすれば、電子アセンブリ10を含む、より小さく、より速く、より強い複数の電子パッケージを、電子アセンブリ10は作成できうる。
加えて、電子アセンブリ10において使用されうる複数の個々の電子コンポーネント(例えば、ロジックダイ、メモリ、RF、アナログミックスドシグナルダイ、受動デバイス、集積受動デバイス(IPD)、センサ、光データ伝送のコンポーネント等)は、複数の最適化されたプロセス技術(例えば、先端CMOS技術、BICMOS技術、バイポーラ技術、RF技術、アナログミックスドシグナル技術、DRAMメモリ技術、SRAMメモリ技術、不揮発性(NVM)メモリ技術、センサ技術、等)で製造されうる。複数の個々の電子コンポーネントは、電子アセンブリ10の一部である各電子コンポーネントに対し、複数の最適化された基板(例えば、標準の、または高抵抗のSi基板、GaAs、III/V族基板、II/VI族基板、誘電体基板、等)も使用しうる。
図4に電子アセンブリ10の別の例示的形態を示す。図4に示すように、電子アセンブリ10は、表面33及び裏面34を有する第3の基板32と、第3の基板32の表面33上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス35とを含む第3の電子コンポーネント31をさらに含む。図4に示す電子アセンブリ10の例示的形態において、第3の基板32の裏面34は第1の基板12の裏面14に直接取り付けられてよい。
図4に示す電子アセンブリ10の複数の他の例示的形態においては、第3の基板32の裏面34は第2の基板22の裏面24に直接取り付けられてよい。加えて、図4は第2及び第3の電子コンポーネント21、31のみを示しているが、電子アセンブリ10の全体構成に応じて、複数の電子コンポーネントが追加で第1の基板12の裏面14に直接取り付けられてよいし、または第2の基板22の裏面24に直接取り付けられてよい。
上で部分的に議論したように、第1、第2、及び第3の電子コンポーネント11、21、31の各々は、同一の基板材料、または複数の異なる基板材料から作られてもよい(例えば、標準のSi、高抵抗のSi、誘電体基板、GaAs、III/V族、またはII/VI族基板、等)。加えて、電子コンポーネント11、21、31のうちの幾つか、または全ては異なるサイズであってよい。
図5A−図5Bに、図3に示す電子アセンブリ10を含む、例示的な複数の電子パッケージ50を示す。電子パッケージ50はパッケージング層56をさらに含む。電子アセンブリ10はパッケージング層56内に埋め込まれて、電子パッケージ50を形成する。現在既知の、または将来発見される任意の技術が用いられて、複数の積層パッケージに複数のダイを埋め込み、電子アセンブリ10とパッケージング層56との間に電気な接続を形成しうることに留意するべきである。
図5A−図5Bに示す電子パッケージ50の例示的形態において、電子アセンブリ10はパッケージング層56内に完全に埋め込まれる。しかし、電子アセンブリ10の一部分のみがパッケージング層56内に埋め込まれる、電子パッケージ50の他の複数の形態も考えられる。
図5Aに示す電子パッケージ50の例示的形態において、パッケージング層56はボールグリッドアレイラミネートである。電子アセンブリ10は複数の他のタイプのパッケージング層(例えば、組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイ、PCBラミネート、等)内に埋め込まれてよいことに留意するべきである。加えて、パッケージング層56は複数の異なるタイプのパッケージング層の組み合わせであってよく、複数の同一タイプのパッケージング層を含む可能性があってよい。
それぞれのパッケージ内に設けた複数の配線レベル及び複数のビア(例えば、複数の積層パッケージ内の複数の相互接続配線及び複数のスルービア、複数の埋め込まれたウェハレベルパッケージ内の複数の再配線層(RDL)配線及び複数のスルーモールドビア(TMV))を使用して、図5及び図6に示すような電子アセンブリ10内で背中合わせに取り付けられた複数の異なる電子コンポーネントの複数の機能デバイスと複数の回路との間に複数の電気的な接続を実現させることを可能にしうる。加えて、それぞれのパッケージの存在する複数の相互接続及び複数のビアの存在を使用して、図2に示すような従来技術の複数のスルーシリコンビア(TSV)の幾分高価な使用及び製造を避けることを可能にしうる。
図5A−図5Bに、パッケージング層56に取り付けられた第3の電子コンポーネント51を含む例示的な電子パッケージ50を示す。図5A−図5Bは、パッケージング層56の上部に取り付けられる第3の電子コンポーネント51を示しているが、第3の電子コンポーネント51がパッケージング層56の底部に取り付けられる他の複数の形態が考えられることに留意するべきである。加えて、複数の電子コンポーネントがパッケージング層56の上部及び底部に取り付けられてよい。
パッケージング層56に取り付けられた第3の電子コンポーネント51のタイプは、電子パッケージ50の全体構成に部分的に依存するであろう。例として、図5Aの第3の電子コンポーネント51はパッケージング層56に取り付けられた表面実装デバイスであってよく、図5Bにおいては第3の電子コンポーネント51はパッケージング層56にフリップチップ接合されたダイであってよい。
図6A−図6Dに、他の複数の例示的な電子パッケージ60、及び様々な電子パッケージ50の複数の可能なパッケージングプロセス(すなわち、アセンブリ)フローを示す。
図6Aに例示的な電子パッケージ60のアセンブリ工程の開始を示す。その工程は、(i)キャリアまたは接着性ホイル上に電子アセンブリ10(複数のCuパッドまたは複数のCuポスト/Cuピラーを既に適切な場所に有する)の配置;(ii)再構成ウェハ/パネルを構築するための電子アセンブリ10のオーバーモールド;(iii)再構成ウェハ/パネルからのキャリアまたは接着性テープの除去;(iv)再構成ウェハのファンアウト領域における複数のスルーモールドビア(TMV)62の部分的なドリルまたはエッチング;(v)複数のTMV62の金属充填;(vi)複数のTMV62及び第2の(「底部」)電子コンポーネントの複数のCuパッドまたは複数のCuポストに複数の電気的接続(例えば、複数のRDL相互接続)を提供し、複数のはんだボールまたは複数のバンプ用の複数のI/Oパッドを提供する、次の(単一またはマルチレベルの)RDL層61の形成、を含む。
図6Bに、図6Aに示す電子パッケージ60のアセンブリ工程の続きを示す。その工程は、(i)複数の銅ポスト64及び複数のTMV62を露出させるためのモールド63の研磨をさらに含む。
電子パッケージ60のアセンブリ工程中のこの時点においては、工程は多様な方法で継続することに留意するべきである。例示的な電子パッケージ60のアセンブリ工程が継続する方法は、電子パッケージ60の所望の構成及び機能に部分的に依存するであろう。
図6Cに、図6A−図6Bに示す電子パッケージ60のアセンブリ工程を継続する一例示的方法を示す。その工程は、(i)既にある電子パッケージ60の上面側へのRDL66の作成;及び(ii)RDL66上へのモールド67の形成;及び(iii)電子パッケージ60の底面側のRDL層61に設けられた複数のI/Oパッド場へのはんだボールまたははんだバンプの取り付け、をさらに含んでよい。
図6Dに、図6A−図6Bに示す電子パッケージ60のアセンブリ工程を継続する別の例示的方法を示す。その工程は、(i)電子パッケージ60の上面側へのマルチレベルの上面側RDL68A、68Bの形成、及び(ii)任意で、最も外側のRDL68BへのSMD69(またはあるタイプのチップ)の組み立て、をさらに含んでよい。
図7に、図3に示す電子アセンブリ10と同様な電子アセンブリ10A、10Bの2つのアセンブリを含む例示的電子システム70を示す。電子システム70を形成すべく、任意の数の電子アセンブリが、1つが別のアセンブリの上部にスタックされてよいことに留意するべきである。
図7に示す例示的な電子システム70は第1の電子パッケージ50Aを含む。第1の電子パッケージ50Aは、(i)表面13A及び裏面14Aを有する第1の基板12Aと、第1の基板12Aの表面13A上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス15Aと、を含む第1の電子コンポーネント11Aを含む。第1の電子パッケージ50Aは、表面23A及び裏面24Aを有する第2の基板22Aと、第2の基板22Aの表面23A上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス25Aと、を含む第2の電子コンポーネント21Aをさらに含む。
第1の基板12Aの裏面14Aは、第2の基板24Bの裏面24Aに直接取り付けられて、電子アセンブリ10Aを形成する。第1の電子パッケージ50Aは第1のパッケージング層56Aをさらに含む。電子アセンブリ10Aは第1のパッケージング層56A内に埋め込まれて、第1の電子パッケージ50Aを形成する。
例示的電子システム70は、少なくとも1つの電子コンポーネントを含む第2の電子パッケージ50Bをさらに含む。第2の電子パッケージ50Bは第1の電子パッケージ50A上にスタックされる(または他の複数の形態では下に配置される)。
図7に示す例示的形態において、第2の電子パッケージ50Bは、表面13B及び裏面14Bを有する第3の基板12Bと、第3の基板12Bの表面13B上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス15Bと、を含む第3の電子コンポーネント11Bを含む。第2の電子パッケージ50Bは、表面23B及び裏面24Bを有する第4の基板22Bと、第4の基板22Bの表面23B上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス25Bと、を含む第4の電子コンポーネント21Bをさらに含む。
第4の基板22Bの裏面24Bは第3の基板12Bの裏面14Bに直接取り付けられて、第2の電子アセンブリ10Bを形成する。第2の電子パッケージ50Bは第2のパッケージング層56Bをさらに含む。第2の電子アセンブリ10Bは第2のパッケージング層56B内に埋め込まれて、第2の電子パッケージ50Bを形成する。
第1のパッケージング層56A及び第2のパッケージング層56Bは、電子システム70の全体構成に応じて、複数の異なるタイプのパッケージング層であってよく、または同一タイプのパッケージング層であってよいことに留意するべきである。加えて、第1のパッケージング層56A及び第2のパッケージング層56Bは、上述した、または将来発見される任意のタイプのパッケージング層であってよい。
図8は、電子アセンブリ10を形成するための電子コンポーネント11、21をスタックする方法[800]を示すフロー図である(例えば、図3を参照)。方法[800]は、表面13及び裏面14を有する第1の基板12と、第1の基板12の表面13上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス15と、を含む第1の電子コンポーネント11を用意する段階[810]を含む。方法[800]は、表面23及び裏面24を有する第2の基板22と、第2の基板22の表面23上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス25と、を含む第2の電子コンポーネント21を用意する段階[820]をさらに含む。方法[800]は、電子アセンブリ10を形成すべく、第1の基板12の裏面14を第2の基板22の裏面24に直接取り付ける段階[830]をさらに含む。
方法[800]の幾つかの形態において、方法[800]は、表面33及び裏面34を有する第3の基板32と、第3の基板32の表面33上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイス35と、を含む第3の電子コンポーネント31を用意する段階[840]をさらに含んでよい(例えば、図4を参照)。方法800は、電子アセンブリ10を形成すべく、第3の基板32の裏面34を第1の基板12の裏面14に直接取り付ける段階[850]をさらに含んでよい。他の複数の形態においては、電子アセンブリ10を形成すべく、第3の基板32の裏面34は第2の基板22の裏面24に直接取り付けられてよい。
図9は、本明細書で説明する少なくとも1つの電子アセンブリ10、電子パッケージ50、60、及び/または電子システム70を組み込む電子機器900のブロック図である。電子機器900は、本明細書で説明する電子アセンブリ10、電子パッケージ50、60、及び/または電子システム70の複数の形態が用いられてよい電子機器の単なる1つの例である。電子機器900の複数の例としては、限定されるものではないが、パーソナルコンピュータ、タブレットコンピュータ、携帯電話、ゲームデバイス、MP3、または他のデジタルミュージックプレーヤ、等を含む。この例において、電子デバイス900は電子機器900の様々なコンポーネントを連結するシステムバス902を含むデータプロセッシングシステムを備える。システムバス902は、電子機器900の様々なコンポーネント間に複数の通信リンクを与え、単一バスとして、複数のバスの組み合わせとして、または任意の他の適した方法で実装されてよい。
本明細書で説明する電子アセンブリ910は、システムバス902に連結されてよい。電子アセンブリ910は、任意の回路、または複数の回路の組み合わせを含んでよい。一実施形態において、電子アセンブリ910はいかなるタイプでもありうるプロセッサ912を含む。本明細書で用いるように、「プロセッサ」は、限定されるものではないが、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、複合命令セットコンピュータ(CISC)マイクロプロセッサ、縮小命令セットコンピュータ(RISC)マイクロプロセッサ、超長命令語(VLIW)マイクロプロセッサ、グラフィックスプロセッサ、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)、マルチコアプロセッサ、または任意の他のタイプのプロセッサまたは処理回路などの、任意のタイプの計算回路を意味する。
電子アセンブリ910に含まれうる複数の他のタイプの回路は、例えば、携帯電話、タブレットコンピュータ、ラップトップコンピュータ、双方向無線機、及び同様の電子システム等の無線デバイスで用いる1または複数の回路(通信回路914のような)などの、カスタム回路、特定用途向け集積回路(ASIC)、などである。ICは、任意の他のタイプの機能を実行可能である。
電子機器900は外部メモリ920も含んでよい。次にこの外部メモリは、ランダムアクセスメモリ(RAM)の形のメインメモリ922、1または複数のハードドライブ924、及び/または、コンパクトディスク(CD)、フラッシュメモリカード、デジタルビデオディスク(DVD)、及び同種のものなどの取り外し可能な媒体926を処理する1または複数のドライブなどの、特定の用途に適した1または複数のメモリ素子を含んでよい。
電子機器900は、マウス、トラックボール、タッチスクリーン、音声認識デバイス、またはシステムユーザが電子機器900に情報を入力、及び電子機器900から情報を受信できるようにする任意の他のデバイスを含むことができる、ディスプレイデバイス916、1または複数のスピーカ918、及びキーボード及び/またはコントローラ930も含んでよい。
本明細書で開示する方法及び複数の装置をより良く説明すべく、複数の実施形態を非限定的な列挙をここに提供する。
例1は、表面及び裏面を有する第1の基板と、第1の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネントと、表面及び裏面を有する第2の基板と、第2の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネントと、を含む電子アセンブリを含む。第1の基板の裏面は第2の基板の裏面に直接取り付けられる。
例2は、例1の電子アセンブリを含み、第1の基板の裏面は、第2の基板の裏面に直接接着される。
例3は例1―2のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、その1つの電子デバイスは、第1の基板の表面上、または第2の基板の表面上にある能動電子デバイスである。
例4は例1―3のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、その1つの電子デバイスは、第1の基板の表面上、または第2の基板の表面上にある受動電子デバイスである。
例5は例1―4のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、第1の基板及び第2の基板のうちの少なくとも1つはシリコン基板である。
例6は例1―5のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、第1の基板及び第2の基板のうちの少なくとも1つはガラス基板である。
例7は、例1―6のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、表面及び裏面を有する第3の基板と、第3の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネントをさらに含み、第3の基板の裏面は、第1の基板の裏面に直接取り付けられる。
例8は例1―7のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、第1の基板、第2の基板、及び第3の基板のうちの少なくとも1つは、第1、第2、及び第3の基板のうちの残りとは異なる材料でできている。
例9は例1―8のうちの任意の1つの電子アセンブリを含み、第1の電子コンポーネント及び第2の電子コンポーネントのうちの少なくとも1つはダイである。
例10は、表面及び裏面を有する第1の基板と、第1の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネントと、表面及び裏面を有する第2の基板と、第2の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネントと、パッケージング層と、を含む電子パッケージを含み、第1の基板の裏面は第2の基板の裏面に直接取り付けられて電子アセンブリを形成し、電子アセンブリはパッケージング層内に埋め込まれて電子パッケージを形成する。
例11は例10の電子パッケージを含み、電子アセンブリの一部分はパッケージング層から露出している。
例12は例10―11のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、電子アセンブリはパッケージング層内に完全に埋め込まれる。
例13は例10―12のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、パッケージング層はボールグリッドアレイラミネートである。
例14は例10―13のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、パッケージング層は組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイである。
例15は例10―14のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、パッケージング層は複数の組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイを含む。
例16は、例10―15のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、パッケージング層に取り付けられた第3の電子コンポーネントをさらに含む。
例17は例10―16のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、第3の電子コンポーネントは、パッケージング層に取り付けられた表面実装電子デバイスである。
例18は例10―17のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、第3の電子コンポーネントはパッケージング層にワイヤボンディングされる。
例19は例10―18のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、第3の電子コンポーネントは複数のフリップチップ電子バンプを用いてパッケージング層に取り付けられる。
例20は、第1の電子パッケージ及び第2の電子パッケージを含む電子システムを含み、第1の電子パッケージは、(i)表面及び裏面を有する第1の基板と、第1の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネント、(ii)表面及び裏面を有する第2の基板と、第2の基板の表面に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネント、及び(iii)第1のパッケージング層を含み、第2の電子パッケージは、少なくとも1つの電子コンポーネントを含み、第1の基板の裏面は第2の基板の裏面に直接取り付けられて電子アセンブリを形成し、電子アセンブリは第1のパッケージング層内に埋め込まれて第1の電子パッケージを形成し、第2の電子パッケージは第1の電子パッケージの上にスタックされるか、または第1の電子パッケージの下に配置される。
例21は例20の電子システムを含む。第2の電子パッケージは第2のパッケージング層を含み、第2の電子アセンブリは第2のパッケージング層内に埋め込まれて、第1の電子パッケージの上にスタックされる、または第1の電子パッケージの下に配置される第2の電子パッケージを形成する。
例22は例20―21のうちの任意の1つの電子システムを含み、第2の電子パッケージは、(i)表面及び裏面を有する第3の基板と、第3の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネント、(ii)表面及び裏面を有する第4の基板と、第4の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第4の電子コンポーネント、及び(iii)第2のパッケージング層を含み、第4の基板の裏面は第3の基板の裏面に直接取り付けられて第2の電子アセンブリを形成し、第2の電子アセンブリは第2のパッケージング層内に埋め込まれて、第1の電子パッケージ上にスタックされる、または第1の電子パッケージの下に配置される第2の電子パッケージを形成する。
例23は例20―22のうちの任意の1つの電子システムを含み、第1のパッケージング層及び第2のパッケージング層は、複数の異なるタイプのパッケージング層である。
例24は例20―23のうちの任意の1つの電子システムを含む。第1のパッケージング層及び第2のパッケージング層のうちの少なくとも1つはボールグリッドアレイラミネートである。
例25は、表面及び裏面を有する第1の基板と、第1の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネントを用意する段階と、表面及び裏面を有する第2の基板と、第2の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネントを用意する段階と、電子アセンブリを形成すべく、第1の基板の裏面を第2の基板の裏面に直接取り付ける段階と、を含む方法を含む。
例26は例25の方法を含み、電子アセンブリを形成すべく、第1の基板の裏面を第2の基板の裏面に直接取り付ける段階は、第1の基板の裏面を第2の基板の裏面に直接接着する段階を含む。
例27は例25―26のうちの任意の1つの方法を含み、表面及び裏面を有する第3の基板と、第3の基板の表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネントを用意する段階と、電子アセンブリを形成すべく、第3の基板の裏面を第1の基板の裏面に直接取り付ける段階と、をさらに含む。
例28は例25―27のうちの任意の1つの電子パッケージを含み、第1の電子コンポーネントを用意する段階は第1のダイを用意する段階を含む。
本電子デバイス、はんだ組成物、及び関連する方法のこれらの、及び他の複数の例及び複数の特徴は詳細な説明において部分的に説明されるであろう。
この概要は本主題の複数の非限定的な例を提供することが意図される。排他的または包括的な説明を提供する意図はない。詳細な説明は、複数の方法に関する更なる情報を提供すべく含まれる。
上述した詳細な説明は、詳細な説明の一部を形成する添付の複数の図面の複数の参照を含む。複数の図面は、例示として、本発明を実施可能な複数の具体的実施形態を示す。これらの実施形態は、本明細書で、複数の「例」とも呼ばれる。そのような複数の例は、示し、または説明したものに加えて複数の要素を含む。しかし、本発明者らは、示し、または説明したそれらの要素のみが提供される複数の実施例を検討もする。さらに、本発明者らは、本明細書で示し、または説明した、特定の例(または、1または複数のそれらの態様)、または複数の他の例(または、1または複数のそれらの態様)、のいずれかに関して、示し、または説明したそれらの要素の任意の組み合わせまたは置き換え(または、1または複数のそれらの態様)を用いて複数の実施例を検討もする。
この文書内において、特許文献においては一般的であるように、「1つの」(「a」または「an」)という用語は、「少なくとも1つ」または「1または複数」の任意の他の複数の例または使用から独立して、1の、または1より大きいものを含むべく用いられる。この文書内において、「または」(「or」)という用語は非排他的なものを示すべく用いられ、別途示さない限り、「AまたはB」は、「AでありBでない」、「BでありAでない」及び「A及びB」を含むようにする。この文書において、「含む(including)」及び「ここで(in which)」という用語は、それぞれ「備える(comprising)」及び「ここで(wherein)」という用語の平易な英語による等価物として用いられる。またさらに、以下の特許請求の範囲においては、「含む(including)」及び「備える(comprising)」という用語は制限のないものである。すなわち、請求項における、そのような用語の後に挙げられるものに加えて、複数の要素を含むシステム、デバイス、物品、構成物、形成物、またはプロセスもまた、その特許請求の範囲内に含まれると見做される。さらに、以下の複数の特許請求の範囲において、「第1」、「第2」、及び「第3」、等という用語は、単なるラベルとして用いられるのであって、それらの対象に数的な要件を課すことは意図されない。
上記の説明は、例示なものであって、限定的なものであるとは意図されない。例えば、複数の上述の例(または、1または複数のそれらの態様)を、互いに組み合わせて用いてよい。当業者などが上記の説明を検討して、他の複数の実施形態を使用することが可能である。
要約は37C.F.R.1.72(b)に準拠して提供されて、読者は技術的開示の特質を迅速に理解できるようになっている。要約は、それを特許請求の範囲または意味を解釈または限定するためには用いないという理解のもとに提出される。
さらに、上記の詳細な説明においては、本開示を合理化すべく、様々な特徴がまとめられグループ化されていると考えられる。このことは、未請求の開示された特徴が、いずれの請求項にとっても不可欠であることを意図すると解釈されるべきではない。むしろ、本発明の主題は、特定の開示された実施形態の全ての特徴よりも少ないところにあってよい。したがって、以下の特許請求の範囲は、各々の請求項が別個の実施形態として独立して本明細書によって詳細な説明に組み込まれており、そのような複数の実施形態は、様々な組み合わせまたは置き換えにおいて互いに組み合わされることが可能であると考えられる。本発明の範囲は、そのような特許請求の範囲が権利を与えられる等価物の全範囲と共に、添付の特許請求の範囲を参照して決定されるべきである。
[項目1]
表面及び裏面を有する第1の基板と、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネントと、
表面及び裏面を有する第2の基板と、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネントと、を備え、
前記第1の基板の前記裏面は、前記第2の基板の前記裏面に直接取り付けられる
電子アセンブリ。
[項目2]
前記第1の基板の前記裏面は、前記第2の基板の前記裏面に直接接着される
項目1に記載の電子アセンブリ。
[項目3]
前記1つの電子デバイスは、前記第1の基板の前記表面上または前記第2の基板の前記表面上にある能動電子デバイスである
項目1または2に記載の電子アセンブリ。
[項目4]
前記1つの電子デバイスは、前記第1の基板の前記表面上または前記第2の基板の前記表面上にある受動電子デバイスである
項目1から3の何れか一項に記載の電子アセンブリ。
[項目5]
前記第1の基板及び前記第2の基板のうちの少なくとも1つはシリコン基板である
項目1から4の何れか一項に記載の電子アセンブリ。
[項目6]
前記第1の基板及び前記第2の基板のうちの少なくとも1つはガラス基板である
項目1から4の何れか一項に記載の電子アセンブリ。
[項目7]
表面及び裏面を有する第3の基板と、前記第3の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネントをさらに含み、
前記第3の基板の前記裏面は前記第1の基板の前記裏面に直接取り付けられる
項目1から6の何れか一項に記載の電子アセンブリ。
[項目8]
前記第1の基板、前記第2の基板、及び前記第3の基板のうちの少なくとも1つは、前記第1の基板、前記第2の基板、及び前記第3の基板のうちの残りとは異なる材料で作られる
項目7に記載の電子アセンブリ。
[項目9]
前記第1の電子コンポーネント及び前記第2の電子コンポーネントのうちの少なくとも1つはダイである
項目1から8の何れか一項に記載の電子アセンブリ。
[項目10]
電子パッケージであって、表面及び裏面を有する第1の基板と、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネントと、
表面及び裏面を有する第2の基板と、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネントと、
パッケージング層と、を備え、
前記第1の基板の前記裏面は前記第2の基板の前記裏面に直接取り付けられて電子アセンブリを形成し、
前記電子アセンブリは前記パッケージング層内に埋め込まれて前記電子パッケージを形成する
電子パッケージ。
[項目11]
前記電子アセンブリの一部分は前記パッケージング層から露出している
項目10に記載の電子パッケージ。
[項目12]
前記電子アセンブリは前記パッケージング層内に完全に埋め込まれる
項目10に記載の電子パッケージ。
[項目13]
前記パッケージング層はボールグリッドアレイラミネートである
項目10から12の何れか一項に記載の電子パッケージ。
[項目14]
前記パッケージング層は組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイである
項目10から12の何れか一項に記載の電子パッケージ。
[項目15]
前記パッケージング層は複数の組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイを含む
項目14に記載の電子パッケージ。
[項目16]
前記パッケージング層に取り付けられた第3の電子コンポーネントをさらに備える
項目10から12の何れか一項に記載の電子パッケージ。
[項目17]
前記第3の電子コンポーネントは前記パッケージング層に取り付けられた表面実装電子デバイスである
項目16に記載の電子パッケージ。
[項目18]
前記第3の電子コンポーネントは前記パッケージング層にワイヤボンディングされる
項目16に記載の電子パッケージ。
[項目19]
前記第3の電子コンポーネントは、複数のフリップチップ電子バンプを用いて前記パッケージング層に取り付けられる
項目16に記載の電子パッケージ。
[項目20]
第1の電子パッケージ及び第2の電子パッケージを備える電子システムであって、
前記第1の電子パッケージは、(i)表面及び裏面を有する第1の基板と、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネント、(ii)表面及び裏面を有する第2の基板と、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネント、及び(iii)第1のパッケージング層を含み、
前記第2の電子パッケージは少なくとも1つの電子コンポーネントを含み、
前記第1の基板の前記裏面は前記第2の基板の前記裏面に直接取り付けられて電子アセンブリを形成し、
前記電子アセンブリは前記第1のパッケージング層内に埋め込まれて前記第1の電子パッケージを形成し、
前記第2の電子パッケージは前記第1の電子パッケージ上にスタックされるか、または前記第1の電子パッケージの下に配置される
電子システム。
[項目21]
前記第2の電子パッケージは(i)表面及び裏面を有する第3の基板と、前記第3の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネント、(ii)表面及び裏面を有する第4の基板と、前記第4の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第4の電子コンポーネント、及び(iii)第2のパッケージング層を含み、
前記第4の基板の前記裏面は前記第3の基板の前記裏面に直接取り付けられて第2の電子アセンブリを形成し、
前記第2の電子アセンブリは前記第2のパッケージング層内に埋め込まれて、前記第1の電子パッケージ上にスタックされるか、または前記第1の電子パッケージの下に配置される前記第2の電子パッケージを形成する
項目20に記載の電子システム。
[項目22]
電子アセンブリを形成する方法であって、表面及び裏面を有する第1の基板と、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第1の電子コンポーネントを用意する段階と、
表面及び裏面を有する第2の基板と、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第2の電子コンポーネントを用意する段階と、
電子アセンブリを形成すべく、前記第1の基板の前記裏面を前記第2の基板の前記裏面に直接取り付ける段階と、を備える
方法。
[項目23]
電子アセンブリを形成すべく、前記第1の基板の前記裏面を前記第2の基板の前記裏面に直接取り付ける段階は、前記第1の基板の前記裏面を前記第2の基板の前記裏面に直接接着する段階を含む
項目22に記載の方法。
[項目24]
表面及び裏面を有する第3の基板と、前記第3の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネントを用意する段階と、
前記電子アセンブリを形成すべく、前記第3の基板の前記裏面を前記第1の基板の前記裏面に直接取り付ける段階と、をさらに備える
項目22または23に記載の方法。
[項目25]
第1の電子コンポーネントを用意する段階は第1のダイを用意する段階を含む
項目22から24の何れか一項に記載の方法。

Claims (16)

  1. 電子パッケージであって、
    表面及び裏面を有する第1の基板、及び前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの第1電子デバイスを含む第1の電子コンポーネント、並びに表面及び裏面を有する第2の基板、及び前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの第2電子デバイスを含む第2の電子コンポーネントを有し、前記第1の基板の前記裏面が前記第2の基板の前記裏面に直接取り付けられた電子アセンブリと、
    前記少なくとも1つの第1電子デバイスの、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた面とは反対側の面に配置された第1の銅ポストと、
    前記少なくとも1つの第2電子デバイスの、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた面とは反対側の面に配置された第2の銅ポストと、
    前記電子アセンブリ、前記第1の銅ポスト、及び第2の銅ポストが埋め込まれたパッケージング層と、を備え、
    前記パッケージング層は、
    前記電子アセンブリを覆い、前記第1の銅ポストの少なくとも一部及び第2の銅ポストの少なくとも一部を露出するモールドと、
    前記モールドの前記第1の銅ポストの少なくとも一部が露出する面に配置され、前記第1の銅ポストと電気的に接続される第1の再配線層と、
    前記モールドの前記第2の銅ポストの少なくとも一部が露出する面に配置され、前記第2の銅ポストと電気的に接続される第2の再配線層と、
    前記モールドを貫通し、前記第1の再配線層と前記第2の再配線層とを電気的に接続するスルーモールドビアと
    を有する、電子パッケージ。
  2. 前記電子アセンブリは前記パッケージング層内に完全に埋め込まれる
    請求項に記載の電子パッケージ。
  3. 前記パッケージング層はボールグリッドアレイラミネートである
    請求項1または2に記載の電子パッケージ。
  4. 前記パッケージング層は組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイである
    請求項1または2に記載の電子パッケージ。
  5. 前記パッケージング層は複数の組み込み型ウェハレベルボールグリッドアレイを含む
    請求項に記載の電子パッケージ。
  6. 前記パッケージング層に取り付けられた第3の電子コンポーネントをさらに備える
    請求項1または2に記載の電子パッケージ。
  7. 前記第3の電子コンポーネントは前記パッケージング層に取り付けられた表面実装電子デバイスである
    請求項6に記載の電子パッケージ。
  8. 前記第3の電子コンポーネントは前記パッケージング層にワイヤボンディングされる
    請求項に記載の電子パッケージ。
  9. 前記第3の電子コンポーネントは、複数のフリップチップ電子バンプを用いて前記パッケージング層に取り付けられる
    請求項に記載の電子パッケージ。
  10. 第1の電子パッケージ及び第2の電子パッケージを備える電子システムであって、
    前記第1の電子パッケージは、
    表面及び裏面を有する第1の基板、及び前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの第1電子デバイスを含む第1の電子コンポーネント、並びに表面及び裏面を有する第2の基板、及び前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの第2電子デバイスを含む第2の電子コンポーネントを有し、前記第1の基板の前記裏面が前記第2の基板の前記裏面に直接取り付けられた電子アセンブリと、
    前記少なくとも1つの第1電子デバイスの、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた面とは反対側の面に配置された第1の銅ポストと、
    前記少なくとも1つの第2電子デバイスの、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた面とは反対側の面に配置された第2の銅ポストと、
    前記電子アセンブリ、前記第1の銅ポスト、及び第2の銅ポストが埋め込まれた第1のパッケージング層
    を含み、
    前記第2の電子パッケージは少なくとも1つの電子コンポーネントを含み
    前記第2の電子パッケージは前記第1の電子パッケージ上にスタックされるか、または前記第1の電子パッケージの下に配置され
    前記第1のパッケージング層は、
    前記電子アセンブリを覆い、前記第1の銅ポストの少なくとも一部及び前記第2の銅ポストの少なくとも一部を露出するモールドと、
    前記モールドの前記第1の銅ポストの少なくとも一部が露出する面に配置され、前記第1の銅ポストと電気的に接続される第1の再配線層と、
    前記モールドの前記第2の銅ポストの少なくとも一部が露出する面に配置され、前記少なくとも1つ第2の銅ポストと電気的に接続される第2の再配線層と、
    前記モールドを貫通し、前記第1の再配線層と前記第2の再配線層とを電気的に接続するスルーモールドビアと
    を有する、電子システム。
  11. 前記第2の電子パッケージは(i)表面及び裏面を有する第3の基板と、前記第3の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネント、(ii)表面及び裏面を有する第4の基板と、前記第4の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第4の電子コンポーネント、及び(iii)第2のパッケージング層を含み、
    前記第4の基板の前記裏面は前記第3の基板の前記裏面に直接取り付けられて第2の電子アセンブリを形成し、
    前記第2の電子アセンブリは前記第2のパッケージング層内に埋め込まれて、前記第1の電子パッケージ上にスタックされるか、または前記第1の電子パッケージの下に配置される前記第2の電子パッケージを形成する
    請求項10に記載の電子システム。
  12. 電子アセンブリを含む電子パッケージを形成する方法であって、
    表面及び裏面を有する第1の基板、及び前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの第1電子デバイスを含む第1の電子コンポーネント、並びに前記少なくとも1つの第1電子デバイスの、前記第1の基板の前記表面上に取り付けられた面とは反対側の面に配置された第1の銅ポストを用意する段階と、
    表面及び裏面を有する第2の基板、及び前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの第2電子デバイスを含む第2の電子コンポーネント、並びに前記少なくとも1つの第2電子デバイスの、前記第2の基板の前記表面上に取り付けられた面とは反対側の面に配置された第2の銅ポストを用意する段階と、
    電子アセンブリを形成すべく、前記第1の基板の前記裏面を前記第2の基板の前記裏面に直接取り付ける段階と、
    前記電子アセンブリをキャリア上に配置する段階と、
    前記電子アセンブリをオーバモールドしてモールドを形成する段階と、
    前記キャリアを除去する段階と、
    前記モールドをエッチングしてスルーモールドビアを形成する段階と、
    前記スルーモールドビアに金属を充填する段階と、
    前記第2の銅ポスト及び前記スルーモールドビアを電気的に接続するべく、前記モールドの前記第2の銅ポストが露出する面に、第1の再配線層を形成する段階と、
    前記第1の銅ポスト及び前記スルーモールドビアを露出させるべく、前記モールドを研磨する段階と、
    前記第1の銅ポスト及び前記スルーモールドビアを電気的に接続するべく、前記モールドの前記第1の銅ポストが露出する面に、第2の再配線層を形成する段階と
    を備える方法。
  13. 電子アセンブリを形成すべく、前記第1の基板の前記裏面を前記第2の基板の前記裏面に直接取り付ける段階は、前記第1の基板の前記裏面を前記第2の基板の前記裏面に直接接着する段階を含む
    請求項12に記載の方法。
  14. 表面及び裏面を有する第3の基板と、前記第3の基板の前記表面上に取り付けられた少なくとも1つの電子デバイスと、を含む第3の電子コンポーネントを用意する段階と、
    前記電子アセンブリを形成すべく、前記第3の基板の前記裏面を前記第1の基板の前記裏面に直接取り付ける段階と、をさらに備える
    請求項12または13に記載の方法。
  15. 第1の電子コンポーネントを用意する段階は第1のダイを用意する段階を含む
    請求項12から14の何れか一項に記載の方法。
  16. 前記第2の再配線層にモールドを形成する段階と、
    前記第1の再配線層に設けられた複数のI/Oパッドにはんだボールまたははんだバンプを取り付ける段階と
    を備える、請求項12から15の何れか一項に記載の方法。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10177032B2 (en) 2014-06-18 2019-01-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Devices, packaging devices, and methods of packaging semiconductor devices
US9831214B2 (en) * 2014-06-18 2017-11-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor device packages, packaging methods, and packaged semiconductor devices
US9659911B1 (en) * 2016-04-20 2017-05-23 Powertech Technology Inc. Package structure and manufacturing method thereof
US20170365567A1 (en) * 2016-06-20 2017-12-21 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Fan-out semiconductor package
US20180053665A1 (en) * 2016-08-19 2018-02-22 Mediatek Inc. Pre-bumped redistribution layer structure and semiconductor package incorporating such pre-bumped redistribution layer structure
US10304697B2 (en) * 2017-10-05 2019-05-28 Amkor Technology, Inc. Electronic device with top side pin array and manufacturing method thereof
US11735570B2 (en) * 2018-04-04 2023-08-22 Intel Corporation Fan out packaging pop mechanical attach method
US11011470B1 (en) * 2019-10-29 2021-05-18 Intel Corporation Microelectronic package with mold-integrated components
KR20220000753A (ko) * 2020-06-26 2022-01-04 삼성전자주식회사 반도체 패키지, 및 이를 가지는 적층 패키지 모듈
CN112908868A (zh) * 2021-01-18 2021-06-04 上海先方半导体有限公司 存储器三维封装方法及结构

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4223581B2 (ja) * 1997-04-18 2009-02-12 日立化成工業株式会社 マルチチップ実装法
JPH11177020A (ja) * 1997-12-11 1999-07-02 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体実装構造およびその実装方法
US6538210B2 (en) * 1999-12-20 2003-03-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Circuit component built-in module, radio device having the same, and method for producing the same
US7298031B1 (en) * 2000-08-09 2007-11-20 Micron Technology, Inc. Multiple substrate microelectronic devices and methods of manufacture
JP2002368186A (ja) * 2001-06-05 2002-12-20 Toshiba Corp 半導体装置
JP4110992B2 (ja) * 2003-02-07 2008-07-02 セイコーエプソン株式会社 半導体装置、電子デバイス、電子機器、半導体装置の製造方法および電子デバイスの製造方法
JP4285339B2 (ja) * 2004-06-15 2009-06-24 パナソニック株式会社 回路モジュールおよび回路モジュールの製造方法
JP4433399B2 (ja) * 2004-12-07 2010-03-17 東芝ディーエムエス株式会社 半導体装置の製造方法及び三次元半導体装置
TWI260056B (en) * 2005-02-01 2006-08-11 Phoenix Prec Technology Corp Module structure having an embedded chip
US7445962B2 (en) * 2005-02-10 2008-11-04 Stats Chippac Ltd. Stacked integrated circuits package system with dense routability and high thermal conductivity
KR101172527B1 (ko) * 2005-03-31 2012-08-10 스태츠 칩팩, 엘티디. 상부면 및 하부면에서 노출된 기판 표면들을 갖는 반도체적층 패키지 어셈블리
US9147644B2 (en) * 2008-02-26 2015-09-29 International Rectifier Corporation Semiconductor device and passive component integration in a semiconductor package
KR100856209B1 (ko) * 2007-05-04 2008-09-03 삼성전자주식회사 집적회로가 내장된 인쇄회로기판 및 그 제조방법
US8084854B2 (en) * 2007-12-28 2011-12-27 Micron Technology, Inc. Pass-through 3D interconnect for microelectronic dies and associated systems and methods
US8049320B2 (en) * 2008-02-19 2011-11-01 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit stacked package precursors and stacked packaged devices and systems therefrom
KR101501739B1 (ko) * 2008-03-21 2015-03-11 삼성전자주식회사 반도체 패키지 제조 방법
JP2009260165A (ja) * 2008-04-21 2009-11-05 Casio Comput Co Ltd 半導体装置
US20100140750A1 (en) * 2008-12-10 2010-06-10 Qualcomm Incorporated Parallel Plane Memory and Processor Coupling in a 3-D Micro-Architectural System
US9293401B2 (en) * 2008-12-12 2016-03-22 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method for forming a low profile embedded wafer level ball grid array molded laser package (EWLP-MLP)
US8847375B2 (en) * 2010-01-28 2014-09-30 Qualcomm Incorporated Microelectromechanical systems embedded in a substrate
JP5549501B2 (ja) * 2010-09-24 2014-07-16 日本電気株式会社 半導体装置及びその製造方法
US8754514B2 (en) * 2011-08-10 2014-06-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Multi-chip wafer level package
US9209163B2 (en) * 2011-08-19 2015-12-08 Marvell World Trade Ltd. Package-on-package structures
US9478474B2 (en) * 2012-12-28 2016-10-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Methods and apparatus for forming package-on-packages
US9455218B2 (en) * 2013-03-28 2016-09-27 Intel Corporation Embedded die-down package-on-package device
US9856136B2 (en) * 2013-06-05 2018-01-02 Intel Deutschland Gmbh Chip arrangement and method for manufacturing a chip arrangement
US9024429B2 (en) * 2013-08-29 2015-05-05 Freescale Semiconductor Inc. Microelectronic packages containing opposing devices and methods for the fabrication thereof
US9111870B2 (en) * 2013-10-17 2015-08-18 Freescale Semiconductor Inc. Microelectronic packages containing stacked microelectronic devices and methods for the fabrication thereof
US9568940B2 (en) * 2013-12-05 2017-02-14 International Business Machines Corporation Multiple active vertically aligned cores for three-dimensional chip stack
US9190345B1 (en) * 2014-03-28 2015-11-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor devices and methods of manufacture thereof
WO2016007120A1 (en) * 2014-07-07 2016-01-14 Intel IP Corporation Package-on-package stacked microelectronic structures
US9601471B2 (en) * 2015-04-23 2017-03-21 Apple Inc. Three layer stack structure

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