JP5966405B2 - 光学フィルターデバイス、及び光学フィルターデバイスの製造方法 - Google Patents

光学フィルターデバイス、及び光学フィルターデバイスの製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、光学フィルターデバイス、及び光学フィルターデバイスの製造方法に関する。
従来、一対の基板の互いに対向する面に、それぞれ反射膜を所定のギャップを介して対向配置した干渉フィルターが知られている。また、このような干渉フィルターを筐体内に収納した光学フィルターデバイスが知られている(例えば、特許文献1、及び特許文献2参照)。
この特許文献1に記載の赤外線式ガス検出器(光学フィルターデバイス)は、板状の台座(ベース基板)、及び円筒状のキャップを有するパッケージ(筐体)を備えている。この筐体は、ベース基板の周縁部分と、キャップの円筒一端部とが溶接または接着されて接続されており、ベース基板とキャップとの間に、ファブリペローフィルタ(干渉フィルター)を収納する空間が設けられる。この光学フィルターデバイスにおいて、干渉フィルターは、検出部に接着固定され、この検出部が缶パッケージの台座上に接着固定されている。
特許文献2には、チューナブル光学フィルタ(干渉フィルター)がパッケージ(筐体)内部に、固定、及び収容された光学フィルターデバイス(光電子デバイス)が記載されている。この光学フィルターデバイスにおいて、干渉フィルターは、筐体のヘッダ(ベース基板)上面に装着された垂直スタック内に配置されている。
特開2008−70163号公報 特表2005−510756号公報
上述のように、特許文献1、及び特許文献2には、干渉フィルターを筐体内部に収容、及び固定する旨が記載されているが、具体的な方法が記載されていない。
例えば、干渉フィルターと、固定対象となるベース基板との熱膨張係数の差による影響によって反射膜が反ったり、接着剤で固定する場合には、接着剤が硬化する際の収縮による影響で反射膜が反ったりするおそれがある。干渉フィルターの反射膜が反ると、干渉フィルターの光学特性に影響が及ぶという課題がある。
本発明の目的は、干渉フィルターの反射膜の反りを抑制可能な光学フィルターデバイス、及び光学フィルターデバイスの製造方法を提供することである。
本発明の光学フィルターデバイスは、第一基板、前記第一基板に対向して配置されて前記第一基板と接合された第二基板、前記第一基板に設けられた第一反射膜、及び前記第二基板に設けられて前記第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向する第二反射膜を備えた干渉フィルターと、前記干渉フィルターを収納する筐体と、を具備し、前記筐体は、前記干渉フィルターを配置可能なベース基板を備え、前記第二基板と前記ベース基板との間には、前記第二基板を前記ベース基板に固定する固定部材が配置され、前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第二反射膜が設けられた領域を除く一箇所のみにおいて前記固定部材によって固定されていることを特徴とする。
本発明によれば、干渉フィルターと、当該干渉フィルターを収納する筐体とを備える。この筐体は、前記干渉フィルターを配置可能なベース基板を備える。干渉フィルターの第二基板は、第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、第二反射膜が設けられた領域を除く一箇所において、固定部材によってベース基板に固定されている。本発明において、固定部材による固定箇所が一箇所という場合は、固定部材を第二基板とベース基板との間の全面にわたって配置して固定する場合や、互いに離散した複数箇所で固定する場合を除くものとする。例えば、上記平面視で、第二反射膜を挟んで対向する位置に配置された場合には、互いに離散した複数箇所での固定となる。また、本発明において、固定部材による固定箇所が一箇所という場合は、複数点の固定部材が、一箇所に集中的に配置されて、固定する場合を含む。
固定部材を第二基板とベース基板との間の全面にわたって配置したり、離散した複数箇所に配置したりした光学フィルターデバイスでは、第二基板とベース基板との熱膨張係数の差による応力が第二基板全体にわたって作用し易い。また、固定部材の一例として接着剤を用いた場合、硬化させた際の収縮による応力が、第二基板に作用し易い。さらに、第二基板は、第一基板に対して接合されているため、第一基板へも応力が作用し易い。このように応力が作用すると、第二基板の第二反射膜や第一基板の第一反射膜が反ってしまい、干渉フィルターの光学特性が影響を受ける。
一方、本発明の光学フィルターデバイスによれば、上述のとおり、第二基板とベース基板とが、固定部材によって一箇所で固定されている。そのため、熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、第二基板や第一基板に作用し難くなる。その結果、光学フィルターデバイスは、第二反射膜や第一反射膜の反りを抑制できる。
本発明の光学フィルターデバイスにおいて、前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記ベース基板に対向する面の外周部において固定されていることが好ましい。
本発明では、第二基板は、第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、ベース基板に対向する面の外周部において固定されている。
そのため、固定部材による固定箇所が第二反射膜や第一反射膜から離れた位置とすることができる。したがって、上述のような部材間(第二基板とベース基板)の熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、第二反射膜や第一反射膜の反りをさらに抑制できる。
本発明の光学フィルターデバイスにおいて、前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記ベース基板に対向する面の角部において固定されていることが好ましい。
本発明では、第二基板は、第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、ベース基板に対向する面の角部において固定されている。
そのため、固定部材による固定箇所が第二反射膜や第一反射膜から、さらに離れた位置とすることができる。したがって、上述のような部材間(第二基板とベース基板)の熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、第二反射膜や第一反射膜の反りをさらに抑制できる。
本発明の光学フィルターデバイスは、第一基板、前記第一基板に対向して配置されて前記第一基板と接合された第二基板、前記第一基板に設けられた第一反射膜、及び前記第二基板に設けられて前記第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向する第二反射膜を備えた干渉フィルターと、前記干渉フィルターを収納する筐体と、を具備し、前記筐体は、前記干渉フィルターを配置可能なベース基板を備え、前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第一基板と接合されない非接合部と、前記第一基板に接合される接合部と、を有し、前記非接合部と前記ベース基板との間に、前記第二基板を前記ベース基板に固定する固定部材が配置され、前記接合部と前記ベース基板との間に、前記固定部材が配置されず、前記第二基板は、前記非接合部の一箇所において前記固定部材によって固定されていることを特徴とする。
本発明によれば、第二基板の非接合部が、固定部材によってベース基板に固定されている。つまり、固定部材は、第一基板と第二基板とが接合される領域(基板接合領域)から離れた位置で、第二基板の非接合部とベース基板とを固定する。
この基板接合領域と対応する位置において、固定部材で固定すると、上述のような部材間の熱膨張係数差による応力や、固定部材として用いられる接着剤硬化時の収縮応力が、第一基板に対しても作用し易くなる。この基板接合領域と対応する位置とは、例えば、第二基板を厚み方向から見る平面視で、第一基板と第二基板とが接合される領域と重なる位置をいう。
本発明によれば、非接合部とベース基板との固定箇所が、第一基板と第二基板とが接合される領域から離れている。そのため、上述と同様に部材間の熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、特に、第一基板に作用し難くなる。また、本発明によれば、非接合部とベース基板との固定箇所が、第一反射膜、及び第二反射膜が設けられた位置から離れている。その結果、本発明の光学フィルターデバイスによれば、第一反射膜や第二反射膜の反りを抑制できる。なお、本発明においては、第二基板の非接合部とベース基板とを固定する箇所は、複数箇所でも良い。固定部材による固定箇所を基板接合領域から離れた位置とすることができ、基板接合領域において複数箇所で固定する場合に比べて応力の影響を低減できるからである。ただし、後述するように、非接合部とベース基板とを固定する場合であっても、固定箇所は、一箇所とすることが好ましい。
本発明の光学フィルターデバイスにおいて、前記第二基板は、前記非接合部の一箇所において前記固定部材によって固定されていることが好ましい。
本発明では、第二基板が、非接合部の一箇所においてベース基板に固定されている。つまり、固定箇所が最小の一箇所であり、かつ固定箇所が基板接合領域から離れている。
そのため、上述と同様に熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、第二基板や第一基板に対してさらに作用し難くなる。ゆえに、本発明の光学フィルターデバイスによれば、第一反射膜や第二反射膜の反りをより確実に抑制できる。
本発明の光学フィルターデバイスにおいて、前記非接合部は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第二基板が前記第一基板よりも外側に突出して配置された突出部分であることが好ましい。
本発明では、第二基板の突出部分が非接合部とされる。
そのため、非接合部の位置を、第一基板と第二基板とが接合される領域から、より確実に離れた位置とすることができる。それゆえ、上述と同様に熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、第二基板や第一基板に対してさらに作用し難くなる。したがって、本発明の光学フィルターデバイスによれば、第一反射膜や第二反射膜の反りをより確実に抑制できる。
本発明の光学フィルターデバイスでは、電圧印加により前記第二基板を撓ませて前記反射膜間ギャップのギャップ量を変更するアクチュエーターを備え、前記アクチュエーターは、前記第一基板に設けられた第一電極と、前記第二基板に設けられて前記第一電極に対向する第二電極とを備え、前記第二電極と接続された第二端子取出部が、前記突出部分に形成されていることが好ましい。
本発明では、上述の光学フィルターデバイスがさらにアクチュエーターを備えるため、光学フィルターデバイスは、波長可変干渉フィルターを具備した構成となる。このような波長可変干渉フィルターを具備した光学フィルターデバイスにおいても、上述と同様に、第一反射膜や第二反射膜の反りを抑制できる。
また、アクチュエーターを構成する第二電極は、第二端子取出部と接続され、この第二端子取出部は、非接合部である突出部分に形成されている。
そのため、第二端子取出部を形成するための部位を、第二基板に別途形成する必要が無く、第二基板(非接合部)とベース基板との固定箇所と、第二端子取出部の形成箇所とが兼用可能である。よって、第二基板のサイズ増加を抑制し、波長可変干渉フィルターの小型化を図ることができる。したがって、このような波長可変干渉フィルターを収納した光学フィルターデバイスにおいても、第一反射膜や第二反射膜の反りを抑制しつつ、小型化を図ることができる。
本発明の光学フィルターデバイスでは、前記第二基板の前記ベース基板と対向する面の前記固定部材に対応する位置に基板凹部が形成されていることが好ましい。
本発明では、第二基板のベース基板と対向する面であって、固定部材が配置される箇所に対応する位置に基板凹部が形成されている。そのため、固定部材の位置が基板凹部によって規制され、第二基板とベース基板とを所望の箇所でより確実に固定できる。例えば、固定部材として、流動性のある素材(例えば、接着剤)を用いる場合、基板凹部によって固定部材が塗布位置からはみ出すことを抑制できる。
ゆえに、本発明の光学フィルターデバイスによれば、固定部材を所望の箇所に確実に配置できるので、品質、及び歩留まりを向上させることができる。
本発明の光学フィルターデバイスでは、前記ベース基板の前記第二基板に対向する面の前記固定部材に対応する位置にベース凹部が形成されていることが好ましい。
本発明では、ベース基板の第二基板に対向する面であって、固定部材が配置される箇所に対応する位置にベース凹部が形成されている。そのため、固定部材の位置がベース凹部によって規制され、第二基板とベース基板とを所望の箇所でより確実に固定できる。例えば、第二基板をベース基板に固定する際に、固定部材をまずベース基板側に配置する際は、ベース凹部を目安に固定部材を配置すればよいので、固定部材の位置決めが容易になる。また、例えば、固定部材として流動性のある部材(例えば、接着剤)を用いる場合、ベース凹部によって固定部材が塗布位置からはみ出すことを抑制できる。
ゆえに、本発明の光学フィルターデバイスによれば、固定部材を所望の箇所に確実に配置できるので、品質、及び歩留まりを向上させることができる。
本発明の光学フィルターデバイスでは、前記ベース基板に接合され、前記ベース基板との間に前記干渉フィルターを収納可能な内部空間を形成するリッドを備えることが好ましい。
本発明では、干渉フィルターは、ベース基板とリッドとで形成された筐体の内部空間に収納される。そのため、光学フィルターデバイスの筐体内部を真空にし、反射膜の変位に対する空気抵抗を低減したり、空気中に舞う帯電粒子の反射膜への付着を抑制したりすることができる。
本発明の光学フィルターデバイスの製造方法は、第一基板に第一反射膜を成膜する工程と、第二基板に第二反射膜を成膜する工程と、前記第一反射膜と前記第二反射膜とが反射膜間ギャップを介して対向して配置されるように前記第一基板と前記第二基板とを接合して干渉フィルターを製造する工程と、ベース基板に固定部材を配置する工程と、前記干渉フィルターの前記第二基板側を前記ベース基板に向け、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第二反射膜が成膜された領域を除く一箇所のみにおいて、前記第二基板を前記固定部材によって前記ベース基板に固定する工程と、前記ベース基板との間に前記干渉フィルターを収納可能な内部空間を形成するリッドを前記ベース基板に接合する工程と、を実施することを特徴とする。
本発明によって製造される光学フィルターデバイスによれば、ベース基板と第二基板とが、固定部材が配置された一箇所で固定されている。そして、このような光学フィルターデバイスによれば、上述のような部材間の熱膨張係数の差による応力や、固定部材として用いられる接着剤硬化時の収縮応力が、第二基板や第一基板に作用し難くなる。したがって、本発明の製造方法によって製造された光学フィルターデバイスは、第二反射膜や第一反射膜の反りを抑制できる。
本発明の光学フィルターデバイスの製造方法は、第一基板に第一反射膜を成膜する工程と、第二基板に第二反射膜を成膜する工程と、前記第一反射膜と前記第二反射膜とが反射膜間ギャップを介して対向して配置されるように前記第一基板と前記第二基板とを接合して干渉フィルターを製造する工程と、ベース基板に固定部材を配置する工程と、前記干渉フィルターの前記第二基板側を前記ベース基板に向け、前記第二基板を前記固定部材によって前記ベース基板に固定する工程と、前記ベース基板との間に前記干渉フィルターを収納可能な内部空間を形成するリッドを前記ベース基板に接合する工程と、を実施し、前記第一基板と前記第二基板とを接合して干渉フィルターを製造する工程において、前記第一基板と前記第二基板とを接合する際に、前記第一基板と接合されない非接合部と、前記第一基板と接合される接合部と、を前記第二基板に形成し、前記第二基板を前記ベース基板に固定する工程において、前記接合部にて前記第二基板を固定せず、前記非接合部の一箇所おい前記固定部材によって前記第二基板を固定することを特徴とする。
本発明によって製造される光学フィルターデバイスによれば、第二基板の非接合部が固定部材によってベース基板に固定されている。すなわち、固定部材は、第一基板と第二基板とが接合される領域(基板接合領域)から離れた位置で、第二基板の非接合部とベース基板とを固定する。
そのため、上述と同様に部材間の熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、特に、第一基板に作用し難くなる。また、非接合部とベース基板との固定箇所が、第一反射膜、及び第二反射膜が設けられた位置から離れている。したがって、本発明の製造方法によって製造された光学フィルターデバイスは、第二反射膜や第一反射膜の反りを抑制できる。
本発明に係る第一実施形態の光学フィルターデバイスの概略構成を示す斜視図。 第一実施形態の光学フィルターデバイスの概略構成を示す断面図。 第一実施形態の光学フィルターデバイスに収納された干渉フィルターの概略構成を示す平面図であり、さらに干渉フィルターと固定部材との位置関係を説明する図。 第一実施形態の干渉フィルターの概略構成を示す断面図。 第一実施形態の光学フィルターデバイスの製造工程を示す工程図。 第二実施形態の光学フィルターデバイスに収納された干渉フィルターの概略構成を示す平面図であり、さらに干渉フィルターと固定部材との位置関係を説明する図。 第二実施形態の光学フィルターデバイスの概略構成を示す断面図。 第三実施形態の光学フィルターデバイスの概略構成を示す断面図。 第三実施形態の光学フィルターデバイスに収納された干渉フィルターの概略構成を示す平面図であり、さらに干渉フィルターと固定部材との位置関係を説明する図。 第四実施形態の光学フィルターデバイスの概略構成を示す断面図。 第五実施形態の光学フィルターデバイスに収納された干渉フィルターの概略構成を示す平面図であり、さらに干渉フィルターと固定部材との位置関係を説明する図。 第六実施形態における測色装置の概略構成を示すブロック図。 本発明の光学フィルターデバイスを備えたガス検出装置を示す概略図。 図13のガス検出装置の制御系の構成を示すブロック図。 本発明の光学フィルターデバイスを備えた食物分析装置の概略構成を示す図。 本発明の光学フィルターデバイスを備えた分光カメラの概略構成を示す模式図。 光学フィルターデバイスに収納される干渉フィルターの概略構成を示す平面図であり、さらに干渉フィルターと固定部材との位置関係を説明する図。
[第一実施形態]
以下、本発明に係る第一実施形態を図面に基づいて説明する。
[1.光学フィルターデバイスの構成]
図1は、本発明に係る第一実施形態の光学フィルターデバイス600の概略構成を示す斜視図である。図2は、光学フィルターデバイス600の断面図である。
光学フィルターデバイス600は、入射した検査対象光から、所定の目的波長の光を取り出して射出させる装置であり、筐体601と、筐体601の内部に収納される波長可変干渉フィルター5(図2、及び3参照)を備えている。このような光学フィルターデバイス600は、例えば測色センサー等の光学モジュールや、測色装置やガス分析装置等の電子機器に組み込むことができる。なお、光学フィルターデバイス600を備えた光学モジュールや電子機器の構成については、後述の第六実施形態において説明する。
[2.波長可変干渉フィルターの構成]
波長可変干渉フィルター5は、本発明の干渉フィルターを構成する。図3は、光学フィルターデバイス600に設けられた波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図であり、図4は、図3におけるIV−IV線で断面にした際の波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す断面図である。
波長可変干渉フィルター5は、図3に示すように、例えば矩形板状の光学部材である。この波長可変干渉フィルター5は、本発明の第一基板である固定基板51、及び本発明の第二基板である可動基板52を備えている。これらの固定基板51、及び可動基板52は、それぞれ例えば、ソーダガラス、結晶性ガラス、石英ガラス、鉛ガラス、カリウムガラス、ホウケイ酸ガラス、無アルカリガラスなどの各種ガラスや、水晶などにより形成されている。そして、これらの固定基板51、及び可動基板52は、固定基板51の第一接合部513、及び可動基板の第二接合部523が、例えばシロキサンを主成分とするプラズマ重合膜などにより構成された接合膜53(第一接合膜531、及び第二接合膜532)により接合されることで、一体的に構成されている。
なお、以降の説明に当たり、固定基板51または可動基板52の基板厚み方向から見た平面視、つまり、固定基板51、接合膜53、及び可動基板52の積層方向から波長可変干渉フィルター5を見た平面視を、フィルター平面視と称する。
固定基板51には、図4に示すように、本発明の第一反射膜を構成する固定反射膜54が設けられている。可動基板52には、図4に示すように、本発明の第二反射膜を構成する可動反射膜55が設けられている。これらの固定反射膜54、及び可動反射膜55は、反射膜間ギャップG1を介して対向配置されている。そして、波長可変干渉フィルター5には、本発明のアクチュエーターである静電アクチュエーター56が設けられている。この静電アクチュエーター56は、反射膜間ギャップG1の距離(寸法)を調整するのに用いられる。この静電アクチュエーター56は、固定基板51に設けられた固定電極561と、可動基板52に設けられた可動電極562とにより構成されている。これらの固定電極561,可動電極562は、電極間ギャップG2(G2>G1)を介して対向する。ここで、これらの電極561,562は、それぞれ固定基板51、及び可動基板52の基板表面に直接設けられる構成であってもよく、他の膜部材を介して設けられる構成であってもよい。
なお、本実施形態では、反射膜間ギャップG1が電極間ギャップG2よりも小さく形成される構成を例示するが、例えば波長可変干渉フィルター5により透過させる波長域によっては、反射膜間ギャップG1を電極間ギャップG2よりも大きく形成してもよい。
フィルター平面視において、固定基板51の一辺側(例えば、図3における頂点C1−頂点C2間の辺)は、可動基板52よりも外側に突出する。この固定基板51の突出部分は、可動基板52と接合されない非接合部516である。この固定基板51の非接合部516のうち、波長可変干渉フィルター5を可動基板52側から見た際に露出する面は、第一電装面514を構成する。
また、フィルター平面視において、可動基板52の辺のうち、第一電装面514に対向する一辺側(頂点C3−頂点C4間の辺)は、固定基板51よりも外側に突出する。この可動基板52の突出部分は、固定基板51と接合されない非接合部526である。この可動基板52の非接合部526のうち、波長可変干渉フィルター5を固定基板51側から見た際に露出する面は、第二電装面524を構成する。
(2−1.固定基板の構成)
固定基板51は、厚みが例えば500μmに形成されたガラス基材を加工することで形成される。具体的には、図4に示すように、固定基板51には、エッチングにより電極配置溝511、及び反射膜設置部512が形成されている。この固定基板51は、可動基板52に対して厚み寸法が大きく形成されており、固定電極561、及び可動電極562間に電圧を印加した際の静電引力や、固定電極561の内部応力による固定基板51の撓みはない。
電極配置溝511は、フィルター平面視で、波長可変干渉フィルター5の平面中心点Oを中心とした環状に形成されている。反射膜設置部512は、前記平面視における電極配置溝511の中心部から、図4に示すように可動基板52側に突出して形成されている。ここで、電極配置溝511の溝底面は、固定電極561が配置される電極設置面511Aとなる。また、反射膜設置部512の突出先端面は、反射膜設置面512Aとなる。
また、固定基板51には、電極配置溝511から、第一電装面514、及び第二電装面524に向かって延出する電極引出溝511Bが設けられている。
電極配置溝511の電極設置面511Aには、固定電極561が設けられている。この固定電極561は、電極設置面511Aのうち、後述する可動部521の可動電極562に対向する領域に設けられている。また、固定電極561上に、固定電極561、及び可動電極562の間の絶縁性を確保するための絶縁膜が積層される構成としてもよい。
そして、固定基板51には、固定電極561の外周縁から、電極引出溝511Bを通り、第一電装面514まで延出する固定引出電極563が設けられている。この固定引出電極563の延出先端部(固定基板51の頂点C1に位置する部分)は、第一電装面514において固定電極パッド563Pを構成する。固定電極パッド563Pが、第一端子取出部とされる。
なお、本実施形態では、電極設置面511Aに1つの固定電極561が設けられる構成を示すが、例えば、平面中心点Oを中心とした同心円となる2つの電極が設けられる構成(二重電極構成)などとしてもよい。
反射膜設置部512は、上述したように、電極配置溝511と同軸上で、電極配置溝511よりも小さい径寸法となる略円柱状に形成され、当該反射膜設置部512の可動基板52に対向する反射膜設置面512Aを備えている。
この反射膜設置部512には、図4に示すように、固定反射膜54が設置されている。この固定反射膜54としては、例えばAg等の金属膜や、Ag合金等の合金膜を用いることができる。また、例えば高屈折層をTiO、低屈折層をSiOとした誘電体多層膜を用いてもよい。さらに、誘電体多層膜上に金属膜(又は合金膜)を積層した反射膜や、金属膜(又は合金膜)上に誘電体多層膜を積層した反射膜、単層の屈折層(TiOやSiO等)と金属膜(又は合金膜)とを積層した反射膜などを用いてもよい。
また、固定基板51の固定反射膜54が設けられない面は、図4に示すように、光入射面51Aである。光入射面51Aには、固定反射膜54に対応する位置に反射防止膜を形成してもよい。この反射防止膜は、低屈折率膜、及び高屈折率膜を交互に積層することで形成することができ、固定基板51の表面での可視光の反射率を低下させ、透過率を増大させる。
更に、固定基板51の光入射面51Aには、図4に示すように、例えばCr等により形成される非透光性部材515が設けられる(なお、図3においては、非透光性部材515の図示が省略されている。)。この非透光性部材515は、環状に形成され、好ましくは円環状に形成される。そして、非透光性部材515の環内周径は、固定反射膜54、及び可動反射膜55により光干渉させるための有効径に設定されている。これにより、非透光性部材515は、光学フィルターデバイス600に入射した入射光を絞るアパーチャーとして機能する。
そして、固定基板51の可動基板52に対向する面のうち、エッチングにより、電極配置溝511、反射膜設置部512、及び電極引出溝511Bが形成されない面は、第一接合部513を構成する。この第一接合部513には、第一接合膜531が設けられ、この第一接合膜531が、可動基板52に設けられた第二接合膜532に接合されることで、上述したように、固定基板51、及び可動基板52が接合される。
(2−2.可動基板の構成)
可動基板52は、厚みが例えば200μmに形成されるガラス基材を加工することで形成されている。
具体的には、可動基板52は、図3に示すようなフィルター平面視において、平面中心点Oを中心とした円形状の可動部521と、可動部521の外側に設けられ、可動部521を保持する保持部522と、保持部522の外側に設けられた基板外周部525と、を備えている。
可動部521は、保持部522よりも厚み寸法が大きく形成され、例えば、本実施形態では、可動基板52の厚み寸法と同一寸法に形成されている。この可動部521は、フィルター平面視において、少なくとも反射膜設置面512Aの外周縁の径寸法よりも大きい径寸法に形成されている。そして、この可動部521には、可動電極562、及び可動反射膜55が設けられている。
なお、固定基板51と同様に、可動部521の固定基板51とは反対側の面には、反射防止膜が形成されていてもよい。このような反射防止膜は、低屈折率膜、及び高屈折率膜を交互に積層することで形成することができ、可動基板52の表面での可視光の反射率を低下させ、透過率を増大させることができる。また、本実施形態では、可動部521の固定基板51と対向する面が、可動面521Aである。
可動電極562は、電極間ギャップG2を介して固定電極561に対向し、固定電極561と同一形状となる環状に形成されている。また、可動基板52には、可動電極562の外周縁から第二電装面524に向かって延出する可動引出電極564を備えている。この可動引出電極564の延出先端部(可動基板52の頂点C3に位置する部分)は、第二電装面524において可動電極パッド564Pを構成する。この可動電極パッド564Pが、本発明の第二端子取出部とされる。
可動反射膜55は、可動部521の可動面521Aの中心部に、固定反射膜54と反射膜間ギャップG1を介して対向して設けられる。この可動反射膜55としては、上述した固定反射膜54と同一の構成の反射膜が用いられる。
保持部522は、可動部521の周囲を囲うダイアフラムであり、可動部521よりも厚み寸法が小さく形成されている。
このような保持部522は、可動部521よりも撓みやすく、僅かな静電引力により、可動部521を固定基板51側に変位させることが可能となる。この際、可動部521の厚み寸法は、保持部522の厚み寸法よりも大きく、剛性が大きくなる。そのため、保持部522が静電引力により固定基板51側に引っ張られた場合でも、可動部521の形状変化が起こらない。したがって、可動部521に設けられた可動反射膜55の撓みも生じず、固定反射膜54、及び可動反射膜55を常に平行状態に維持することが可能となる。
なお、本実施形態では、ダイアフラム状の保持部522を例示するが、これに限定されず、例えば、平面中心点Oを中心として、等角度間隔で配置された梁状の保持部が設けられる構成などとしてもよい。
基板外周部525は、上述したように、フィルター平面視において保持部522の外側に設けられている。この基板外周部525の固定基板51に対向する面は、第一接合部513に対向する第二接合部523を備えている。そして、この第二接合部523には、第二接合膜532が設けられ、上述したように、第二接合膜532が第一接合膜531に接合されることで、固定基板51、及び可動基板52が接合されている。
[3.筐体の構成]
図1、及び図2に戻り、筐体601は、ベース基板610と、リッド620と、ベース側ガラス基板630(透光基板)と、リッド側ガラス基板640(透光基板)と、を備える。
ベース基板610は、例えば単層セラミック基板により構成される。このベース基板610には、波長可変干渉フィルター5の可動基板52が設置される。
本実施形態において、固定部材7は、可動基板52とベース基板610との間に配置される。そして、可動基板52は、可動基板52を基板厚み方向から見る平面視で、可動反射膜55が設けられた領域を除く一箇所において固定部材7によってベース基板610に固定される。
図2に示すように、固定部材7は、可動基板52の突出部分(非接合部526)よりも内側(平面中心点O寄り)であって、第一接合部513、及び第二接合部523に対応した位置に配置される。さらに、固定部材7の可動基板52に対する相対的な位置が、図3のフィルター平面視において二点鎖線で示されている。図3に示すとおり、固定部材7は、第一接合部513、及び第二接合部523と重なる位置であって、頂点C1と頂点C4とを結ぶ辺側(可動基板52の外周部)に配置されている。このように、固定部材7は、ベース基板610と可動基板52との間の全面にわたって配置されているのではなく、上述の所定の一箇所に配置されている。
固定部材7による固定箇所は、一箇所であり、その形状(設置面積や高さ等)は、可動基板52とベース基板610との固定強度や、部材間の熱膨張係数差による応力伝達の程度を考慮して適宜設定することが好ましい。
固定部材7としては、可動基板52とベース基板610とを固定できる部材であれば限定されない。例えば、エポキシ系やシリコーン系の接着剤が挙げられる。固定部材7として接着剤を用いる場合、硬化時の収縮が小さい接着剤を用いることが好ましい。また、この場合、ベース基板610に対して、ディスペンサー等の塗布装置で接着剤を一点だけ塗布し、可動基板52を当該一点で固定することが好ましい。
固定部材7としては、その他、例えば、可動基板52とベース基板610とを物理的に係合や嵌合する部材であってもよい。
ベース基板610には、波長可変干渉フィルター5の反射膜(固定反射膜54,可動反射膜55)に対向する領域に、光通過孔611が開口形成されている。
このベース基板610のリッド620に対向するベース内側面612(リッド対向面)には、波長可変干渉フィルター5の第一電装面514、第二電装面524上の各電極パッド563P,564Pと接続される内側端子部615が設けられている。なお、各電極パッド563P,564Pと内側端子部615との接続は、例えばFPC(Flexible Printed Circuits)615Aを用いることができ、例えばAgペースト、ACF(Anisotropic Conductive Film)、ACP(Anisotropic Conductive Paste)等により接合する。なお、内部空間650を真空状態に維持するためにデガス(ガスの放出)が少ないAgペーストを用いることが好ましい。なお、FPC615Aによる接続に限られず、例えばワイヤーボンディング等による配線接続を実施してもよい。
また、ベース基板610は、各内側端子部615が設けられる位置に対応して、貫通孔614が形成されている。各内側端子部615は、貫通孔614を介して、ベース基板610のベース内側面612とは反対側のベース外側面613に設けられた外側端子部616に接続されている。ここで、貫通孔614には、内側端子部615、及び外側端子部616を接続する金属部材(例えばAgペースト等)が充填され、筐体601の内部空間650の気密性が維持される。
そして、ベース基板610の外周部には、リッド620に接合されるベース接合部617が設けられている。
リッド620は、図1、及び図2に示すように、ベース基板610のベース接合部617に接合されるリッド接合部624と、リッド接合部624から連続し、ベース基板610から離れる方向に立ち上がる側壁部625と、側壁部625から連続し、波長可変干渉フィルター5の固定基板51側を覆う天面部626とを備えている。このリッド620は、例えばコバール等の合金または金属により形成することができる。
このリッド620は、リッド接合部624と、ベース基板610のベース接合部617とが、接合されることで、ベース基板610に密着接合されている。
この接合方法としては、例えば、レーザー溶着の他、銀ロウ等を用いた半田付け、共晶合金層を用いた封着、低融点ガラスを用いた溶着、ガラス付着、ガラスフリット接合、エポキシ樹脂による接着等が挙げられる。これらの接合方法は、ベース基板610、及びリッド620の素材や、接合環境等により、適宜選択することができる。
本実施形態では、ベース基板610のベース接合部617上に、例えば、NiやAu等により構成された接合用パターン617Aを形成する。そして、この形成した接合用パターン617A、及びリッド接合部624に対して、高出力レーザー(例えばYAGレーザー等)を照射してレーザー接合する。
リッド620の天面部626は、ベース基板610に対して平行となる。この天面部626には、波長可変干渉フィルター5の各反射膜54,55に対向する領域に、光通過孔621が開口形成されている。
ここで、本実施形態では、リッド620の光通過孔621から光が入射し、波長可変干渉フィルター5により取り出された光はベース基板610の光通過孔611からか射出される。このような構成では、光通過孔621から入射された光のうち、波長可変干渉フィルター5の光入射面51Aに設けられた非透光性部材515の有効径の光のみが固定反射膜54、可動反射膜55に入射する。特に、波長可変干渉フィルター5の各基板51,52は、エッチングによる形状形成が行われ、エッチング部分はサイドエッチングの影響により曲面部が形成される。このような曲面部に光が入射すると、当該光が迷光となって光通過孔611から射出される場合がある。これに対して、本実施形態では、非透光性部材515によりこのような迷光の発生を防止することができ、所望の目的波長の光を取り出すことが可能となる。
ベース側ガラス基板630は、ベース基板610のベース外側面613側に、光通過孔611を覆って接合されるガラス基板である。ベース側ガラス基板630は、光通過孔611よりも大きいサイズに形成されている。当該ベース側ガラス基板630の平面中心点Oが光通過孔611の平面中心点Oと一致するように配置される。なお、この平面中心点Oは、波長可変干渉フィルター5の平面中心点Oと一致し、固定反射膜54、及び可動反射膜55、非透光性部材515の環内周縁の平面中心点Oと一致する。そして、ベース側ガラス基板630は、光学フィルターデバイス600をベース基板610(ベース側ガラス基板630)の厚み方向から見た平面視において、光通過孔611の外周縁611Aより外側の領域(外周縁611Aからベース側ガラス基板630の基板端縁631までの領域)がベース基板610に接合される。
リッド側ガラス基板640は、リッド620のベース基板610に対向する光通過孔621とは反対側のリッド内側面622側に、光通過孔621を覆って接合されるガラス基板である。リッド側ガラス基板640は、光通過孔621よりも大きいサイズに形成されている。当該リッド側ガラス基板640の平面中心点Oが光通過孔621の平面中心点Oと一致するように配置される。そして、リッド側ガラス基板640は、光学フィルターデバイス600をベース基板610(リッド側ガラス基板640)の厚み方向から見た平面視において、光通過孔621の外周縁621Aより外側の領域(外周縁621Aからリッド側ガラス基板640の基板端縁641までの領域)がリッド620に接合される。
ベース基板610、及びベース側ガラス基板630の接合、リッド620、及びリッド側ガラス基板640の接合としては、例えば、ガラス原料を高温で熔解し、急冷したガラスのかけらであるガラスフリットを用いたガラスフリット接合を用いることができる。このようなガラスフリット接合では、接合部分に隙間が生じることがなく、また、デガス(ガス放出)の少ないガラスフリットを用いることで、内部空間650を真空状態に維持することができる。なお、ガラスフリット接合に限られず、低融点ガラスを用いた溶着、ガラス封着などによる接合を行ってもよい。また、内部空間650の真空状態の維持には適さないが、例えば内部空間650への異物の侵入を抑制する目的のみであれば、エポキシ樹脂等による接着を行ってもよい。
以上のように、本実施形態の光学フィルターデバイス600では、筐体601は、ベース基板610、及びリッド620の接合、ベース基板610、及びベース側ガラス基板630の接合、リッド620、及びリッド側ガラス基板640の接合により、筐体601の内部空間650が気密に維持されている。そして、本実施形態では、内部空間650は、真空状態に維持されている。
このように、内部空間650を真空状態に維持することで、波長可変干渉フィルター5の可動部521を移動させる際に、空気抵抗が発生せず、応答性を良好にすることができる。
[光学フィルターデバイスの製造方法]
次に、上述したような光学フィルターデバイス600の製造方法について図面に基づいて説明する。
図5は、光学フィルターデバイス600を製造する製造工程を示す工程図である。
光学フィルターデバイス600の製造では、まず、光学フィルターデバイス600を構成する波長可変干渉フィルター5を製造するフィルター準備工程(S1)、ベース基板準備工程(S2)、リッド準備工程(S3)をそれぞれ実施する。
(フィルター準備工程)
S1のフィルター準備工程では、まず、波長可変干渉フィルター5を製造するフィルター形成工程を実施する(S11)。
このS11では、固定基板51、及び可動基板52を適宜エッチング処理等により形成する。そして、固定基板51に対しては、固定電極561、及び固定引出電極563を成膜した後、非透光性部材515を成膜し、その後、固定反射膜54を成膜する。また、可動基板52に対しては、可動電極562を成膜した後、可動反射膜55を成膜する。
この後、固定基板51、及び可動基板52を、接合膜53を介して接合することで波長可変干渉フィルター5が得られる。本実施形態では、このフィルター形成工程(S11)において、非接合部516、及び非接合部526が形成されるように固定基板51、及び可動基板52を接合する。
この後、S11により得られた波長可変干渉フィルター5の固定電極パッド563P,可動電極パッド564Pに対して、FPC615Aを接続するFPC接続工程を実施する(S12)。FPC615Aと各電極パッド563P,564Pとの接続では、デガスが少ないAgペーストを用いる。
(ベース基板準備工程)
S2のベース基板準備工程では、まず、ベース外形形成工程を実施する(S21)。このS21では、セラミック基板の形成素材であるシートを積層した焼成前基板を適宜切削等し、光通過孔611を有するベース基板610の形状を成形する。そして、焼成前基板を焼成することで、ベース基板610を形成する。
なお、焼成形成されたベース基板610に対して、例えばYAGレーザー等の高出力レーザーを利用した加工により、光通過孔611を形成してもよい。
次に、ベース基板610に貫通孔614を形成する貫通孔形成工程を実施する(S22)。このS22では、微細な貫通孔614を形成するために、例えばYAGレーザー等を用いたレーザー加工を実施する。また、形成した貫通孔614には、ベース基板610に対する密着性が高い導電性部材を充填する。
この後、ベース基板610に内側端子部615,外側端子部616を形成する配線形成工程を実施する(S23)。
このS23では、例えば、Ni/Au等の金属を用いためっき加工を実施して、内側端子部615、及び外側端子部616を形成する。また、ベース接合部617、及びリッド接合部624を、レーザー溶接により接合する場合では、ベース接合部617にNi等のめっきを施し、接合用パターン617Aを形成する。
この後、ベース基板610に、光通過孔611を覆うベース側ガラス基板630を接合する光学窓接合工程を実施する(S24)。
S24では、ベース側ガラス基板630の平面中心と、光通過孔611の平面中心とが一致するようにアライメント調整を実施し、フリットガラスを用いたフリットガラス接合によりベース側ガラス基板630をベース基板610に接合する。
(リッド準備工程)
S3のリッド準備工程では、まず、リッド620を形成するリッド形成工程を実施する(S31)。このS31では、コバール等により構成された金属基板をプレス加工して、光通過孔621を有するリッド620を形成する。
この後、リッド620に、光通過孔621を覆うリッド側ガラス基板640を接合する光学窓接合工程を実施する(S32)。
S32では、リッド側ガラス基板640の平面中心と、光通過孔621の平面中心とが一致するようにアライメント調整を実施し、フリットガラスを用いたフリットガラス接合によりリッド側ガラス基板640をリッド620に接合する。
(デバイス組み立て工程)
次に、上記S1〜S3により得られた波長可変干渉フィルター5,ベース基板610,リッド620を接合して光学フィルターデバイス600を形成するデバイス組み立て工程を実施する(S4)。
このS4では、まず、ベース基板610に対して波長可変干渉フィルター5を固定部材7により固定するフィルター固定工程を実施する(S41)。本実施形態では、上述のとおり図2、及び図3に示す位置で、可動基板52の基板外周部525を、固定部材7を用いてベース基板610に固定する。固定部材7としては、本実施形態では、接着剤を用いる。まず、このS41では、ベース基板610の所定位置に一点で接着剤を塗布する。そして、固定反射膜54,可動反射膜55の平面中心点Oが、光通過孔611の平面中心点Oに一致するようにアライメント調整を実施する。このアライメント調整後、可動基板52をベース基板610に貼り合わせ、接着剤を硬化させる。このようにして、波長可変干渉フィルター5をベース基板610に固定される。
この後、配線接続工程を実施する(S42)。このS42では、S12により波長可変干渉フィルター5に接続されたFPC615Aの他端部を、ベース基板610の内側端子部615に貼り付ける。このようにすることで、内側端子部615と、固定電極パッド563P、及び可動電極パッド564Pとを接続する。この接続においても、デガスの少ないAgペーストを用いることが好ましい。
この後、ベース基板610、及びリッド620を接合する接合工程を実施する(S43)。このS43では、例えば真空チャンバー装置等において、真空雰囲気に設定された環境下でベース基板610、及びリッド620を重ね合わせ、ベース基板610、及びリッド620を例えばYAGレーザー等を用いたレーザー接合により接合する。このようなレーザー接合では、接合部のみを局所的に高温化して接合するため、内部空間650の温度上昇を抑制できる。したがって、波長可変干渉フィルター5の各反射膜54,55が高温により劣化する不都合を防止することができる。
以上により、光学フィルターデバイス600が製造される。
〔実施形態の作用効果〕
本実施形態では、光学フィルターデバイス600は、波長可変干渉フィルター5と、当該波長可変干渉フィルター5を収納する筐体601とを備える。この筐体601は、ベース基板610と、ベース基板610に接合されるリッド620とを備える。波長可変干渉フィルター5の可動基板52とベース基板610とが、固定部材7によって一箇所で固定されている。
可動基板52とベース基板610との間の全面にわたって固定部材7を配置したり、2点以上で配置したりした光学フィルターデバイスでは、可動基板52と固定部材7との熱膨張係数の差やベース基板610と固定部材7との熱膨張係数の差による応力が可動基板52全体にわたって作用し易い。また、固定部材7として接着剤を用いた場合にも、硬化させた際の収縮による応力が、可動基板52全体にわたって作用し易い。また、可動基板52は、固定基板51に対して接合されているため、固定基板51へも応力が作用し易い。応力が作用すると、固定基板51の固定反射膜54や可動基板52の可動反射膜55が反ってしまい、波長可変干渉フィルター5の光学特性が影響を受ける。
一方、光学フィルターデバイス600によれば、上述のとおり、可動基板52とベース基板610とが、固定部材7によって一箇所で固定されている。そのため、熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、可動基板52や固定基板51に作用し難くなる。その結果、光学フィルターデバイス600は、固定基板51の固定反射膜54や可動基板52の可動反射膜55の反りを抑制できる。
[第二実施形態]
次に、本発明の第二実施形態について、図面に基づいて説明する。
上述した第一実施形態の光学フィルターデバイス600では、可動基板52が、ベース基板610に対して固定部材7によって一箇所で固定されている。
これに対して、第二実施形態の光学フィルターデバイス600A(図7参照)では、波長可変干渉フィルター5がベース基板610に対して2箇所(図6参照)で固定部材7によって固定されている。以下、このような光学フィルターデバイス600Aの構成について詳述する。
図6は、第二実施形態の光学フィルターデバイスに収納された波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図であり、さらに波長可変干渉フィルター5と固定部材7との位置関係を説明する図である。
図7は、第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aの概略構成を示す断面図である。
なお、上記第一実施形態と同一の構成については同符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
光学フィルターデバイス600Aにおいて、固定部材7は、図7に示されているように、非接合部526とベース基板610との間に配置されている。また、固定部材7は、可動基板52を基板厚み方向から見る平面視で、可動基板52の角部で可動基板52をベース基板610に固定する。
図6に示されているように、固定部材7は、波長可変干渉フィルター5の頂点C3近傍、及び頂点C4近傍の計2箇所に配置されている。このように、本実施形態では、固定部材7は、可動基板52の非接合部526とベース基板610とを2箇所で固定する。なお、可動基板52が矩形状である場合、2箇所の固定部材7は、可動基板52の外周部の短辺に沿って配置されることが好ましい。固定箇所同士の間隔を短くすることができるためである。
本実施形態の光学フィルターデバイス600Aについても、固定部材7の配置箇所が上述のとおり異なる以外は、第一実施形態の製造方法と同様にして製造することができる。
例えば、上記第一実施形態のS41において、固定部材7としての接着剤をベース基板610表面の2箇所に塗布する。具体的には、接着剤の塗布箇所は、アライメント調整後、可動基板52をベース基板610に固定する際に、接着剤が非接合部526に接触する箇所とする。
〔実施形態の作用効果〕
光学フィルターデバイス600Aによれば、可動基板52とベース基板610とが、2箇所に配置された固定部材7によって固定されている。そのため、可動基板52とベース基板610との間の全面にわたって固定部材7を配置した場合と比べて、第一実施形態の場合と同様、部材間の熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、可動基板52や固定基板51に作用し難くなる。その結果、光学フィルターデバイス600Aによれば、固定反射膜54や可動反射膜55の反りを抑制できる。
光学フィルターデバイス600Aでは、可動基板52の非接合部526とベース基板とが固定部材7によって2箇所で固定される。このように、光学フィルターデバイス600Aでは、固定箇所が第一実施形態と比べて増えるものの、当該固定箇所は、非接合部526である。つまり、当該固定箇所が第一接合部513、及び第二接合部523から離れた位置である。そのため、上述と同様に熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、可動基板52だけでなく、特に固定基板51に対して作用し難くなる。また、光学フィルターデバイス600Aでは、当該固定箇所が、固定反射膜54、及び可動反射膜55が設けられた位置から離れている。
したがって、光学フィルターデバイス600Aによれば、固定反射膜54や可動反射膜55の反りを抑制できる。
光学フィルターデバイス600Aでは、可動基板52とベース基板610とが固定部材7によって2箇所で固定されている。そのため、2箇所での固定によるモーメントの影響が可動基板52、及び固定基板51へ及ぶおそれがある。例えば、固定部材7の配置箇所が、頂点C1、及び頂点C3の近傍の2箇所であると、当該2箇所間の距離が長くなり、上述のモーメントの影響が大きく、反射膜54,55の反りが発生し易くなる。また、当該2箇所間には、保持部522が形成されているため、上述のモーメントの影響によって保持部522が撓み、反射膜間ギャップG1を精度良く制御できなくおそれがある。
しかしながら、光学フィルターデバイス600Aでは、固定部材7が、波長可変干渉フィルター5の固定部材の頂点C3、及び頂点C4近傍に配置されている。波長可変干渉フィルター5は、図6に示すように、例えば矩形板状の光学部材であるから、固定部材7は、頂点C3と頂点C4とで結ばれる一辺の両端側に配置されていることになる。そのため、上述のモーメントの影響を小さくすることができる。
[第三実施形態]
次に、本発明の第三実施形態について、図面に基づいて説明する。
上述した第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aでは、波長可変干渉フィルター5が、ベース基板610に対して2箇所で固定部材7によって固定されている。
第三実施形態の光学フィルターデバイス600B(図8参照)も、第二実施形態と同様に波長可変干渉フィルター5が、ベース基板610に対して2箇所で固定部材7によって固定されている。ただし、光学フィルターデバイス600Bにおいては、図8に示されているように、可動基板52のベース基板610に対向する面に基板凹部527が形成されている点で、光学フィルターデバイス600Aと異なる。
以下、このような光学フィルターデバイス600Bの構成について詳述する。
図8は、第三実施形態の光学フィルターデバイス600Bの概略構成を示す断面図である。
図9は、第三実施形態の光学フィルターデバイスに収納された波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図であり、さらに波長可変干渉フィルター5と固定部材7との位置関係を説明する図である。
なお、上記第一実施形態や第二実施形態と同一の構成については同符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
本実施形態において、基板凹部527は、図8に示されているように、非接合部526のベース基板610に対向する面に形成されている。基板凹部527は、可動基板52の厚さ方向に所定寸法分、窪んでいる。基板凹部527は、保持部522の形成と同様にエッチング等によって形成することができる。
また、この基板凹部527は、非接合部526に形成されている。具体的には、図9に示されているように、波長可変干渉フィルター5の頂点C3近傍、及び頂点C4近傍の計2箇所に形成されている。
本実施形態において、固定部材7は、上述の基板凹部527が形成された2箇所に対応して配置される。そのため、固定部材7は、第二実施形態と略同様の位置で、可動基板52とベース基板610とを固定する。
本実施形態の光学フィルターデバイス600Bについても、基板凹部527の形成が必要な点、及び固定部材7の配置箇所が上述のとおり異なる点以外は、第一実施形態の製造方法と同様にして製造することができる。
基板凹部527は、例えば、上記第一実施形態のS11のフィルター形成工程で形成することができる。可動基板52のエッチング処理の際に、合わせて基板凹部527を形成してもよい。
〔実施形態の作用効果〕
光学フィルターデバイス600Bによれば、第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aと同様の作用効果を奏する他に、次のような作用効果を奏する。
光学フィルターデバイス600Bによれば、可動基板52に基板凹部527が形成されている。そのため、固定部材7の位置が基板凹部527によって規制されるので、可動基板52とベース基板610とを所望の箇所でより確実に固定できる。例えば、固定部材7として、流動性のある素材(例えば、接着剤)を用いる場合、基板凹部527によって固定部材7が塗布位置からはみ出すことを抑制できる。
ゆえに、光学フィルターデバイス600Bによれば、固定部材7を所望の箇所に確実に配置できるので、品質、及び歩留まりを向上させることができる。
[第四実施形態]
次に、本発明の第四実施形態について、図面に基づいて説明する。
上述した第三実施形態の光学フィルターデバイス600Bでは、可動基板52のベース基板610に対向する面に基板凹部527が形成されている。
一方、本実施形態の光学フィルターデバイス600C(図10参照)では、当該基板凹部527は形成されていないが、ベース基板610のベース内側面612に、ベース凹部618が形成されている。
以下、このような光学フィルターデバイス600Bの構成について詳述する。
図10は、第四実施形態の光学フィルターデバイス600Bの概略構成を示す断面図である。
なお、上記第一実施形態から第三実施形態までと同一の構成については同符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
光学フィルターデバイス600Cにおける固定部材7の配置箇所は、第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aと同様である。つまり、固定部材7は、非接合部526とベース基板610との間に配置される。また、固定部材7は、2箇所(波長可変干渉フィルター5の頂点C3近傍、及び頂点C4近傍に対応する位置)に配置されている。
光学フィルターデバイス600Cでは、このような固定部材7の配置箇所に対応して、ベース凹部618が形成されている。ベース凹部618は、ベース基板610のベース内側面612に、ベース基板610の厚さ方向に所定寸法分、窪んでいる。ベース凹部618は、固定部材7の配置箇所ごとに形成されている。本実施形態では、ベース凹部618は、2箇所の固定部材7の配置箇所それぞれに対応して形成されている。ベース凹部618は、本実施形態では、固定部材7を囲むように形成された溝である。
本実施形態の光学フィルターデバイス600Cについても、ベース凹部618の形成が必要な点、及び固定部材7の配置箇所が上述のとおり異なる点以外は、第一実施形態の製造方法と同様にして製造することができる。
ベース凹部618は、例えば、上記第一実施形態のS2のベース基板準備工程で形成することができる。焼成形成されたベース基板610に対して、例えばYAGレーザー等の高出力レーザーを利用した加工により、光通過孔611を形成する際に、合わせてベース凹部618を形成してもよい。また、貫通孔614を形成する際に、合わせてベース凹部618を形成してもよい。
〔実施形態の作用効果〕
光学フィルターデバイス600Cによれば、第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aと同様の作用効果を奏する他に、次のような作用効果を奏する。
光学フィルターデバイス600Cによれば、溝状のベース凹部618が、固定部材7を囲むようにベース基板610に形成されている。そのため、固定部材7として、流動性のある素材(例えば、接着剤)を用いる場合、基板凹部527によって固定部材7が塗布位置からはみ出すことを抑制できる。
ゆえに、光学フィルターデバイス600Cによれば、固定部材7を所望の箇所に確実に配置できるので、品質、及び歩留まりを向上させることができる。
[第五実施形態]
次に、本発明の第五実施形態について、図面に基づいて説明する。
上述した第二実施形態の光学フィルターデバイス600Aでは、可動基板52の非接合部526とベース基板610が、固定部材7によって2箇所で固定されている。
一方、本実施形態の光学フィルターデバイスでは、可動基板52の非接合部526とベース基板610が、固定部材7によって一箇所で固定されている。
図11は、第五実施形態の光学フィルターデバイスに収納された波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図であり、さらに波長可変干渉フィルター5と固定部材7との位置関係を説明する図である。
なお、上記第一実施形態から第四実施形態までと同一の構成については同符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
本実施形態では、図11に示されているように、固定部材7は、波長可変干渉フィルター5の非接合部526に対して、頂点C4近傍に一箇所配置され、第二端子取出部である可動電極パッド564P部分には配置されない。このように、本実施形態では、可動基板52は、角部の一箇所でベース基板に固定されている。
〔実施形態の作用効果〕
本実施形態の光学フィルターデバイスによれば、次のような作用効果を奏する。
本実施形態の光学フィルターデバイスでは、可動基板52の非接合部526とベース基板610とが固定部材7によって一箇所で固定される。このように、固定箇所が、第一接合部513、及び第二接合部523から離れた一箇所だけである。そのため、上述のような熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、可動基板52や固定基板51に対して、さらに作用し難くなる。したがって、本実施形態の光学フィルターデバイスによれば、固定反射膜54や可動反射膜55の反りをより確実に抑制できる。
[第六実施形態]
次に、本発明の第六実施形態について、図面に基づいて説明する。
第六実施形態では、上記第一実施形態の光学フィルターデバイス600が組み込まれた光学モジュールである測色センサー3、及び光学フィルターデバイス600が組み込まれた電子機器である測色装置1を説明する。
〔1.測色装置の概略構成〕
図12は、第一実施形態の測色装置1の概略構成を示すブロック図である。
測色装置1は、本発明の電子機器である。この測色装置1は、図12に示すように、検査対象Xに光を射出する光源装置2と、測色センサー3と、測色装置1の全体動作を制御する制御装置4とを備える。そして、この測色装置1は、光源装置2から射出される光を検査対象Xにて反射させ、反射された検査対象光を測色センサー3にて受光し、測色センサー3から出力される検出信号に基づいて、検査対象光の色度、すなわち検査対象Xの色を分析して測定する装置である。
〔2.光源装置の構成〕
光源装置2は、光源21、複数のレンズ22(図12には1つのみ記載)を備え、検査対象Xに対して白色光を射出する。また、複数のレンズ22には、コリメーターレンズが含まれてもよく、この場合、光源装置2は、光源21から射出された白色光をコリメーターレンズにより平行光とし、図示しない投射レンズから検査対象Xに向かって射出する。なお、本実施形態では、光源装置2を備える測色装置1を例示するが、例えば検査対象Xが液晶パネルなどの発光部材である場合、光源装置2が設けられない構成としてもよい。
〔3.測色センサーの構成〕
測色センサー3は、本発明の光学モジュールを構成し、上記第一実施形態の光学フィルターデバイス600を備えている。この測色センサー3は、図12に示すように、光学フィルターデバイス600と、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5を透過した光を受光する検出部31と、波長可変干渉フィルター5で透過させる光の波長を可変する電圧制御部32とを備える。
また、測色センサー3は、波長可変干渉フィルター5に対向する位置に、検査対象Xで反射された反射光(検査対象光)を、内部に導光する図示しない入射光学レンズを備えている。そして、この測色センサー3は、光学フィルターデバイス600内の波長可変干渉フィルター5により、入射光学レンズから入射した検査対象光のうち、所定波長の光を分光し、分光した光を検出部31にて受光する。
検出部31は、複数の光電交換素子により構成されており、受光量に応じた電気信号を生成する。ここで、検出部31は、例えば回路基板311を介して、制御装置4に接続されており、生成した電気信号を受光信号として制御装置4に出力する。
また、この回路基板311には、ベース基板610のベース外側面613に形成された外側端子部616が接続されており、回路基板311に形成された回路を介して、電圧制御部32に接続されている。
このような構成では、回路基板311を介して、光学フィルターデバイス600、及び検出部31を一体的に構成でき、測色センサー3の構成を簡略化することができる。
電圧制御部32は、回路基板311を介して光学フィルターデバイス600の外側端子部616に接続される。そして、電圧制御部32は、制御装置4から入力される制御信号に基づいて、固定電極パッド563P、及び可動電極パッド564P間に所定のステップ電圧を印加することで、静電アクチュエーター56を駆動させる。これにより、電極間ギャップG2に静電引力が発生し、保持部522が撓むことで、可動部521が固定基板51側に変位し、反射膜間ギャップG1を所望の寸法に設定することが可能となる。
〔4.制御装置の構成〕
制御装置4は、測色装置1の全体動作を制御する。
この制御装置4としては、例えば汎用パーソナルコンピューターや、携帯情報端末、その他、測色専用コンピューターなどを用いることができる。
そして、制御装置4は、図12に示すように、光源制御部41、測色センサー制御部42、及び測色処理部43などを備えて構成されている。
光源制御部41は、光源装置2に接続されている。そして、光源制御部41は、例えば利用者の設定入力に基づいて、光源装置2に所定の制御信号を出力し、光源装置2から所定の明るさの白色光を射出させる。
測色センサー制御部42は、測色センサー3に接続されている。そして、測色センサー制御部42は、例えば利用者の設定入力に基づいて、測色センサー3にて受光させる光の波長を設定し、この波長の光の受光量を検出する旨の制御信号を測色センサー3に出力する。これにより、測色センサー3の電圧制御部32は、制御信号に基づいて、利用者が所望する光の波長のみを透過させるよう、静電アクチュエーター56への印加電圧を設定する。
測色処理部43は、検出部31により検出された受光量から、検査対象Xの色度を分析する。
〔5.実施形態の作用効果〕
本実施形態の測色装置1は、上記第一実施形態のような光学フィルターデバイス600を備えている。上述したように、光学フィルターデバイス600によれば、固定部材7を用いた可動基板52とベース基板610とを固定しても、熱膨張係数の差による応力等が、可動基板52や固定基板51に作用し難くなる。そのため、固定基板51の固定反射膜54や可動基板52の可動反射膜55の反りを抑制できる。そのため、これらの反射膜54,55の反りによる波長可変干渉フィルター5の光学特性の変化を防止することができる。また、光学フィルターデバイス600は、内部空間650の気密性が高く、水粒子等の異物の侵入がないため、これらの異物による波長可変干渉フィルター5の光学特性の変化も防止することができる。したがって、測色センサー3においても、高分解能で取り出された目的波長の光を検出部31により検出することができ、所望の目的波長の光に対する正確な光量を検出することができる。これにより、測色装置1は、検査対象Xの正確な色分析を実施することができる。
また、検出部31は、ベース基板610に対向して設けられ、当該検出部31、及びベース基板610のベース外側面613に設けられた外側端子部616は、1つの回路基板311に接続されている。すなわち、光学フィルターデバイス600のベース基板610は光射出側に配置されているため、光学フィルターデバイス600から射出された光を検出する検出部31と近接して配置することができる。したがって、上述のように、1つの回路基板311に配線することで、配線構造を簡略化でき、基板数も削減することができる。
また、電圧制御部32を回路基板311上に配置してもよく、この場合、更なる構成の簡略化を図ることができる。
[変形例]
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上記第一実施形態では、真空中でベース基板610、及びリッド620を接合することで、内部空間650が真空状態に維持された光学フィルターデバイス600を製造したがこれに限定されない。例えば、リッドやベース基板に、内部空間と外部とを連通する孔部を形成しておく。大気圧下でリッドとベース基板とを接合した後に、内部空間から空気を抜いて真空状態にし、当該孔部を封止部材にて封止することができる。封止部材としては、例えば、金属球が挙げられる。金属球による封止では、金属球を孔部内に嵌入させた後、孔部内で高温化させて金属球を孔部の内壁に溶着させることが好ましい。
また、光学フィルターデバイス600に収納される波長可変干渉フィルター5としては、上記実施形態で示した例に限定されない。上記実施形態において、波長可変干渉フィルター5は、固定電極561、及び可動電極562に電圧を印加することで、静電引力により反射膜間ギャップG1の大きさを変更可能なタイプを示した。このようなタイプの他、例えば、反射膜間ギャップG1を変更するアクチュエーターとして、固定電極561の代わりに、第一誘電コイルを配置し、可動電極562の代わりに第二誘電コイルまたは永久磁石を配置した誘電アクチュエーターを用いる構成としてもよい。
さらに、静電アクチュエーター56の代わりに圧電アクチュエーターを用いる構成としてもよい。この場合、例えば保持部522に下部電極層、圧電膜、及び上部電極層を積層配置させ、下部電極層、及び上部電極層の間に印加する電圧を入力値として可変させることで、圧電膜を伸縮させて保持部522を撓ませることができる。
また、内部空間650に収納する干渉フィルターとして波長可変干渉フィルター5を例示したが、例えば、反射膜間ギャップG1の大きさが固定された干渉フィルターであってもよい。この場合、可動部521を撓ませるための保持部522や、固定電極561を設けるための電極配置溝511等をエッチングにより形成する必要がなく、干渉フィルターの構成を簡略化できる。また、反射膜間ギャップG1の大きさが固定であるため、応答性の問題がなく、内部空間650を真空に維持する必要がなく、構成の簡略化、製造性の向上を図ることができる。ただし、この場合でも、例えば温度変化が大きい場所で光学フィルターデバイス600を使用する場合、内部空間650内の空気の膨張等により、ベース側ガラス基板630やリッド側ガラス基板640が応力を受けて撓む恐れがある。したがって、このような干渉フィルターを用いる場合であっても、内部空間650を真空、または減圧状態に維持することが好ましい。
また、リッド620は、リッド接合部624、側壁部625、及び天面部626を備え、天面部626がベース基板610に対して平行となる構成を示したがこれに限定されない。リッド620の形状としては、ベース基板610との間に波長可変干渉フィルター5を収納可能な内部空間650を形成できれば、いかなる形状であってもよく、例えば天面部626が曲面形状に形成されていてもよい。ただし、この場合、製造が煩雑になることが考えらえる。例えば、内部空間650の気密性を維持するために、リッド620に接合するリッド側ガラス基板640をリッド620に合わせて曲面状に形成し、かつ、光通過孔621を閉塞する部分のみ、屈折等が生じないように平面状に形成する必要があるからである。したがって、上記第一実施形態のように天面部626がベース基板610と平行となるリッド620を用いることが好ましい。
上記実施形態では、ベース側ガラス基板630、及びリッド側ガラス基板640が、筐体601の外面、すなわち、ベース基板610のベース外側面613、及びリッド620のリッド外側面623に接合される例を示したが、これに限らない。例えば、筐体601の内部空間650側に接合される構成としてもよい。
また、干渉フィルターとして、第一反射膜、及び第二反射膜により多重干渉された光を反射させる反射型フィルターを内部空間650に収納する場合では、光通過孔611、及びベース側ガラス基板630が設けられない構成であってもよい。
この場合、光学フィルターデバイス600の光通過孔621に対向して、例えばビームスプリッター等を設けることで、光学フィルターデバイス600への入射光と、光学フィルターデバイス600から射出された射出光とを分離する構成とすることで、分離した射出光を検出部で検出させることができる。
上記実施形態では、内側端子部615、及び外側端子部616を、ベース基板610に設けられた貫通孔614内に導電性部材を介して接続する構成を例示したが、これに限定されない。例えば、ベース基板610の貫通孔614に棒状の端子を圧入し、端子の先端部と、固定電極パッド563Pや可動電極パッド564P等と、を接続する構成としてもよい。
上記実施形態では、波長可変干渉フィルター5に設けられる本発明の電極部として、静電アクチュエーターを構成する固定電極561、及び可動電極562(、及びこれらの電極561,562に接続された電極パッド563P,564P)を例示したが、これに限定されない。
本発明の電極の他の例としては、例えば、固定反射膜54、及び可動反射膜55の電荷保持量の変化から反射膜間ギャップG1の大きさを測定するための静電容量検出電極や、各基板51,52や、固定反射膜54,可動反射膜55に保持された電荷を逃がし、基板間のクーロン力を除去するための帯電除去電極等が挙げられる。この場合、第一電装面514、及び第二電装面524に、上記静電容量検出電極や帯電除去電極等から引き出された引出電極を配置する。そして、このような複数の電極が配置された場合でも、例えばFPC615Aを第一電装面514に貼り付けることで、例えば図5のS12において、各電極に対して個別に接続作業を実施することなく、容易に配線接続を実施することができる。
上記実施形態において、固定基板51の光入射面に非透光性部材515を設ける構成としたが、例えば、入射側の透光基板であるリッド側ガラス基板640に非透光性部材515を設ける構成などとしてもよい。
また、上記実施形態では、リッド620側から入射された光を波長可変干渉フィルター5に多重干渉させ、波長可変干渉フィルター5を透過した光をベース側ガラス基板630から射出する光学フィルターデバイス600を例示したが、例えばベース基板610側から光を入射させる構成としてもよい。この場合、可動基板52にアパーチャーとして機能させる非透光性部材を設けてもよく、あるいは、非透光性部材が設けられた固定基板51をベース基板610に固定する構成等としてもよい。
また、本発明の電子機器として、第六実施形態において測色装置1を例示したが、その他、様々な分野により本発明の光学フィルターデバイス、光学モジュール、電子機器を用いることができる。
例えば、特定物質の存在を検出するための光ベースのシステムとして用いることができる。このようなシステムとしては、例えば、本発明の光学フィルターデバイスが備える波長可変干渉フィルターを用いた分光計測方式を採用して特定ガスを高感度検出する車載用ガス漏れ検出器や、呼気検査用の光音響希ガス検出器等のガス検出装置を例示できる。
このようなガス検出装置の一例を以下に図面に基づいて説明する。
図13は、波長可変干渉フィルターを備えたガス検出装置の一例を示す概略図である。
図14は、図13のガス検出装置の制御系の構成を示すブロック図である。
このガス検出装置100は、図13に示すように、センサーチップ110と、吸引口120A、吸引流路120B、排出流路120C、及び排出口120Dを備えた流路120と、本体部130と、を備えて構成されている。
本体部130は、流路120を着脱可能な開口を有するセンサー部カバー131、排出手段133、筐体134、光学部135、フィルター136、光学フィルターデバイス600、及び受光素子137(検出部)等を含む検出装置と、検出された信号を処理し、検出部を制御する制御部138、電力を供給する電力供給部139等から構成されている。また、光学部135は、光を射出する光源135Aと、光源135Aから入射された光をセンサーチップ110側に反射し、センサーチップ側から入射された光を受光素子137側に透過するビームスプリッター135Bと、レンズ135C,レンズ135D,レンズ135Eと、により構成されている。
また、図14に示すように、ガス検出装置100の表面には、操作パネル140、表示部141、外部とのインターフェイスのための接続部142、電力供給部139が設けられている。電力供給部139が二次電池の場合には、充電のための接続部143を備えてもよい。
さらに、ガス検出装置100の制御部138は、図14に示すように、CPU等により構成された信号処理部144、光源135Aを制御するための光源ドライバー回路145、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5を制御するための電圧制御部146、受光素子137からの信号を受信する受光回路147、センサーチップ110のコードを読み取り、センサーチップ110の有無を検出するセンサーチップ検出器148からの信号を受信するセンサーチップ検出回路149、及び排出手段133を制御する排出ドライバー回路150などを備えている。
次に、上記のようなガス検出装置100の動作について、以下に説明する。
本体部130の上部のセンサー部カバー131の内部には、センサーチップ検出器148が設けられており、このセンサーチップ検出器148でセンサーチップ110の有無が検出される。信号処理部144は、センサーチップ検出器148からの検出信号を検出すると、センサーチップ110が装着された状態であると判断し、表示部141へ検出動作を実施可能な旨を表示させる表示信号を出す。
そして、例えば利用者により操作パネル140が操作され、操作パネル140から検出処理を開始する旨の指示信号が信号処理部144へ出力されると、まず、信号処理部144は、光源ドライバー回路145に光源作動の信号を出力して光源135Aを作動させる。光源135Aが駆動されると、光源135Aから単一波長で直線偏光の安定したレーザー光が射出される。また、光源135Aには、温度センサーや光量センサーが内蔵されており、その情報が信号処理部144へ出力される。そして、信号処理部144は、光源135Aから入力された温度や光量に基づいて、光源135Aが安定動作していると判断すると、排出ドライバー回路150を制御して排出手段133を作動させる。これにより、検出すべき標的物質(ガス分子)を含んだ気体試料が、吸引口120Aから、吸引流路120B、センサーチップ110内、排出流路120C、排出口120Dへと誘導される。なお、吸引口120Aには、除塵フィルター120A1が設けられ、比較的大きい粉塵や一部の水蒸気などが除去される。
また、センサーチップ110は、金属ナノ構造体が複数組み込まれ、局在表面プラズモン共鳴を利用したセンサーである。このようなセンサーチップ110では、レーザー光により金属ナノ構造体間で増強電場が形成され、この増強電場内にガス分子が入り込むと、分子振動の情報を含んだラマン散乱光、及びレイリー散乱光が発生する。
これらのレイリー散乱光やラマン散乱光は、光学部135を通ってフィルター136に入射し、フィルター136によりレイリー散乱光が分離され、ラマン散乱光が光学フィルターデバイス600に入射する。そして、信号処理部144は、電圧制御部146を制御し、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5に印加する電圧を調整し、検出対象となるガス分子に対応したラマン散乱光を光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5で分光させる。この後、分光した光が受光素子137で受光されると、受光量に応じた受光信号が受光回路147を介して信号処理部144に出力される。
信号処理部144は、上記のようにして得られた検出対象となるガス分子に対応したラマン散乱光のスペクトルデータと、ROMに格納されているデータとを比較し、目的のガス分子か否かを判定し、物質の特定をする。また、信号処理部144は、表示部141にその結果情報を表示させたり、接続部142から外部へ出力したりする。
なお、上記図13、及び図14において、ラマン散乱光を光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5により分光して分光されたラマン散乱光からガス検出を行うガス検出装置100を例示した。この他、ガス検出装置として、ガス固有の吸光度を検出することでガス種別を特定するガス検出装置として用いてもよい。この場合、センサー内部にガスを流入させ、入射光のうちガスにて吸収された光を検出するガスセンサーを本発明の光学モジュールとして用いる。そして、このようなガスセンサーによりセンサー内に流入されたガスを分析、判別するガス検出装置を本発明の電子機器とする。このような構成でも、波長可変干渉フィルターを用いてガスの成分を検出することができる。
また、特定物質の存在を検出するためのシステムとして、上記のようなガスの検出に限られず、近赤外線分光による糖類の非侵襲的測定装置や、食物や生体、鉱物等の情報の非侵襲的測定装置等の、物質成分分析装置を例示できる。
以下に、上記物質成分分析装置の一例として、食物分析装置を説明する。
図15は、光学フィルターデバイス600を利用した電子機器の一例である食物分析装置の概略構成を示す図である。
この食物分析装置200は、図15に示すように、検出器210(光学モジュール)と、制御部220と、表示部230と、を備えている。検出器210は、光を射出する光源211と、測定対象物からの光が導入される撮像レンズ212と、撮像レンズ212から導入された光を分光する光学フィルターデバイス600と、分光された光を検出する撮像部213(検出部)と、を備えている。
また、制御部220は、光源211の点灯・消灯制御、点灯時の明るさ制御を実施する光源制御部221と、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5を制御する電圧制御部222と、撮像部213を制御し、撮像部213で撮像された分光画像を取得する検出制御部223と、信号処理部224と、記憶部225と、を備えている。
この食物分析装置200は、システムを駆動させると、光源制御部221により光源211が制御されて、光源211から測定対象物に光が照射される。そして、測定対象物で反射された光は、撮像レンズ212を通って光学フィルターデバイス600に入射する。光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5は電圧制御部222の制御により所望の波長を分光可能な電圧が印加されており、分光された光が、例えばCCDカメラ等により構成される撮像部213で撮像される。また、撮像された光は分光画像として、記憶部225に蓄積される。また、信号処理部224は、電圧制御部222を制御して波長可変干渉フィルター5に印加する電圧値を変化させ、各波長に対する分光画像を取得する。
そして、信号処理部224は、記憶部225に蓄積された各画像における各画素のデータを演算処理し、各画素におけるスペクトルを求める。また、記憶部225には、例えばスペクトルに対する食物の成分に関する情報が記憶されており、信号処理部224は、求めたスペクトルのデータを、記憶部225に記憶された食物に関する情報を基に分析し、検出対象に含まれる食物成分、及びその含有量を求める。また、得られた食物成分、及び含有量から、食物カロリーや鮮度等をも算出することができる。さらに、画像内のスペクトル分布を分析することで、検査対象の食物の中で鮮度が低下している部分の抽出等をも実施することができ、さらには、食物内に含まれる異物等の検出をも実施することができる。
そして、信号処理部224は、上述のようにして得られた検査対象の食物の成分や含有量、カロリーや鮮度等の情報を表示部230に表示させる処理をする。
また、図15において、食物分析装置200の例を示すが、略同様の構成により、上述したようなその他の情報の非侵襲的測定装置としても利用することができる。例えば、血液等の体液成分の測定、分析等、生体成分を分析する生体分析装置として用いることができる。このような生体分析装置としては、例えば血液等の体液成分を測定する装置として、エチルアルコールを検知する装置とすれば、運転者の飲酒状態を検出する酒気帯び運転防止装置として用いることができる。また、このような生体分析装置を備えた電子内視鏡システムとしても用いることができる。
さらには、鉱物の成分分析を実施する鉱物分析装置としても用いることができる。
さらには、本発明の波長可変干渉フィルター、光学モジュール、電子機器としては、以下のような装置に適用することができる。
例えば、各波長の光の強度を経時的に変化させることで、各波長の光でデータを伝送させることも可能であり、この場合、光学モジュールに設けられた波長可変干渉フィルターにより特定波長の光を分光し、受光部で受光させることで、特定波長の光により伝送されるデータを抽出することができ、このようなデータ抽出用光学モジュールを備えた電子機器により、各波長の光のデータを処理することで、光通信を実施することもできる。
また、電子機器としては、本発明の光学フィルターデバイスが備える波長可変干渉フィルターにより光を分光することで、分光画像を撮像する分光カメラ、分光分析機などにも適用できる。このような分光カメラの一例として、波長可変干渉フィルターを内蔵した赤外線カメラが挙げられる。
図16は、分光カメラの概略構成を示す模式図である。分光カメラ300は、図16に示すように、カメラ本体310と、撮像レンズユニット320と、撮像部330(検出部)とを備えている。
カメラ本体310は、利用者により把持、操作される部分である。
撮像レンズユニット320は、カメラ本体310に設けられ、入射した画像光を撮像部330に導光する。また、この撮像レンズユニット320は、図16に示すように、対物レンズ321、結像レンズ322、及びこれらのレンズ間に設けられた光学フィルターデバイス600を備えて構成されている。
撮像部330は、受光素子により構成され、撮像レンズユニット320により導光された画像光を撮像する。
このような分光カメラ300では、光学フィルターデバイス600の波長可変干渉フィルター5により撮像対象となる波長の光を透過させることで、所望波長の光の分光画像を撮像することができる。
さらには、本発明の光学フィルターデバイスが備える波長可変干渉フィルターをバンドパスフィルターとして用いてもよく、例えば、発光素子が射出する所定波長域の光のうち、所定の波長を中心とした狭帯域の光のみを波長可変干渉フィルターで分光して透過させる光学式レーザー装置としても用いることができる。
また、本発明の光学フィルターデバイスが備える波長可変干渉フィルターを生体認証装置として用いてもよく、例えば、近赤外領域や可視領域の光を用いた、血管や指紋、網膜、虹彩などの認証装置にも適用できる。
さらには、光学モジュール、及び電子機器を、濃度検出装置として用いることができる。この場合、波長可変干渉フィルターにより、物質から射出された赤外エネルギー(赤外光)を分光して分析し、サンプル中の被検体濃度を測定する。
上記に示すように、本発明の光学フィルターデバイス、及び電子機器は、入射光から所定の光を分光するいかなる装置にも適用することができる。そして、本発明の光学フィルターデバイスは、上述のように、1デバイスで複数の波長を分光させることができるため、複数の波長のスペクトルの測定、複数の成分に対する検出を精度よく実施することができる。したがって、複数デバイスにより所望の波長を取り出す従来の装置に比べて、光学モジュールや電子機器の小型化を促進でき、例えば、携帯用や車載用の光学デバイスとして好適に用いることができる。
上述の測色装置1、ガス検出装置100、食物分析装置200、及び分光カメラ300の説明では、第一実施形態の光学フィルターデバイス600を適用した例を示したが、これに限定されない。もちろん、他の実施形態の光学フィルターデバイス、その他の本発明の光学フィルターデバイスも同様に測色装置1等に適用できる。
上記第三実施形態において、基板凹部527内に固定部材7が配置される態様を示したが、このような態様に限定されない。例えば、基板凹部527を、ベース凹部618のように溝状に形成してもよい。一方で、ベース凹部618も、基板凹部527のように形成、その内部に固定部材7が配置される態様としてもよい。
また、第一実施形態では、一点に配置された固定部材7によって、可動基板52とベース基板610とが一箇所で固定されている。第一実施形態のように一点で固定部材によって固定する場合は、一箇所での固定に含まれるが、本発明においては、一箇所で固定する場合は、このような態様に限定されない。
例えば、図17に示すような固定部材7の配置による固定も、一箇所で固定する場合に含まれる。図17は、波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図である。図17には、複数点に配置された固定部材7が示されている。複数点の固定部材7は、互いに離散的に配置されているのではなく、図17に示されているように、可動反射膜55よりも頂点C4近傍の領域7Aに集中的に配置されている。この領域7Aように、複数点の固定部材7が集中的に配置された箇所も、一箇所として含まれる。
このように複数点の固定部材が集中的に配置された一箇所で、第二基板とベース基板とを固定する場合も、熱膨張係数の差による応力や接着剤硬化時の収縮応力が、第二基板や第一基板に作用し難くなる。その結果、光学フィルターデバイスは、第二反射膜や第一反射膜の反りを抑制できる。
また、上記実施形態では、光学フィルターデバイスが、リッドを備えた形態を例に挙げて説明したが、このような形態に限定されない。リッドを有さず、ベース基板に対し、干渉フィルターを上記所定の箇所で固定した光学フィルターデバイスであってもよい。
その他、本発明の実施の際の具体的な構造は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造などに適宜変更できる。
5…波長可変干渉フィルター(干渉フィルター)、51…固定基板(第一基板)、52…可動基板(第二基板)、54…固定反射膜(第一反射膜)、55…可動反射膜(第二反射膜)、56…静電アクチュエーター(アクチュエーター)、526…非接合部、527…基板凹部、561…固定電極(第一電極)、562…可動電極(第二電極)、564P…可動電極パッド(第二端子取出部)、600,600A,600B,600C…光学フィルターデバイス、601…筐体、610…ベース基板、618…ベース凹部、650…内部空間、7…固定部材、G1…反射膜間ギャップ、G2…電極間ギャップ。

Claims (11)

  1. 第一基板、前記第一基板に対向して配置されて前記第一基板と接合された第二基板、前記第一基板に設けられた第一反射膜、及び前記第二基板に設けられて前記第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向する第二反射膜を備えた干渉フィルターと、
    前記干渉フィルターを収納する筐体と、
    を具備し、
    前記筐体は、前記干渉フィルターを配置可能なベース基板を備え、
    前記第二基板と前記ベース基板との間には、前記第二基板を前記ベース基板に固定する固定部材が配置され、
    前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第二反射膜が設けられた領域を除く一箇所のみにおいて前記固定部材によって固定されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  2. 請求項1に記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記ベース基板に対向する面の外周部において固定されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  3. 請求項1に記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記ベース基板に対向する面の角部において固定されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  4. 第一基板、前記第一基板に対向して配置されて前記第一基板と接合された第二基板、前記第一基板に設けられた第一反射膜、及び前記第二基板に設けられて前記第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向する第二反射膜を備えた干渉フィルターと、
    前記干渉フィルターを収納する筐体と、
    を具備し、
    前記筐体は、前記干渉フィルターを配置可能なベース基板を備え、
    前記第二基板は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第一基板と接合
    されない非接合部と、前記第一基板に接合される接合部と、を有し、
    前記非接合部と前記ベース基板との間に、前記第二基板を前記ベース基板に固定する固定部材が配置され、前記接合部と前記ベース基板との間に、前記固定部材が配置されず、
    前記第二基板は、前記非接合部の一箇所において前記固定部材によって固定されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  5. 請求項4に記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    前記非接合部は、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第二基板が前記第一基板よりも外側に突出して配置された突出部分である、
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  6. 請求項に記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    電圧印加により前記第二基板を撓ませて前記反射膜間ギャップのギャップ量を変更するアクチュエーターを備え、
    前記アクチュエーターは、前記第一基板に設けられた第一電極と、前記第二基板に設けられて前記第一電極に対向する第二電極とを備え、
    前記第二電極と接続された第二端子取出部が、前記突出部分に形成されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  7. 請求項1から請求項までのいずれかに記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    前記第二基板の前記ベース基板と対向する面の前記固定部材に対応する位置に基板凹部が形成されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  8. 請求項1から請求項までのいずれかに記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    前記ベース基板の前記第二基板に対向する面の前記固定部材に対応する位置にベース凹部が形成されている
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  9. 請求項1から請求項までのいずれかに記載の光学フィルターデバイスにおいて、
    前記ベース基板に接合され、前記ベース基板との間に前記干渉フィルターを収納可能な内部空間を形成するリッドを備える
    ことを特徴とする光学フィルターデバイス。
  10. 第一基板に第一反射膜を成膜する工程と、
    第二基板に第二反射膜を成膜する工程と、
    前記第一反射膜と前記第二反射膜とが反射膜間ギャップを介して対向して配置されるように前記第一基板と前記第二基板とを接合して干渉フィルターを製造する工程と、
    ベース基板に固定部材を配置する工程と、
    前記干渉フィルターの前記第二基板側を前記ベース基板に向け、前記第二基板を基板厚み方向から見る平面視で、前記第二反射膜が成膜された領域を除く一箇所のみにおいて、前記第二基板を前記固定部材によって前記ベース基板に固定する工程と、
    前記ベース基板との間に前記干渉フィルターを収納可能な内部空間を形成するリッドを前記ベース基板に接合する工程と、を実施する
    ことを特徴とする光学フィルターデバイスの製造方法。
  11. 第一基板に第一反射膜を成膜する工程と、
    第二基板に第二反射膜を成膜する工程と、
    前記第一反射膜と前記第二反射膜とが反射膜間ギャップを介して対向して配置されるように前記第一基板と前記第二基板とを接合して干渉フィルターを製造する工程と、
    ベース基板に固定部材を配置する工程と、
    前記干渉フィルターの前記第二基板側を前記ベース基板に向け、前記第二基板を前記固定部材によって前記ベース基板に固定する工程と、
    前記ベース基板との間に前記干渉フィルターを収納可能な内部空間を形成するリッドを前記ベース基板に接合する工程と、を実施し、
    前記第一基板と前記第二基板とを接合して干渉フィルターを製造する工程において、前記第一基板と前記第二基板とを接合する際に、前記第一基板と接合されない非接合部と、前記第一基板と接合される接合部と、を前記第二基板に形成し、
    前記第二基板を前記ベース基板に固定する工程において、前記接合部にて前記第二基板を固定せず、前記非接合部の一箇所おい前記固定部材によって前記第二基板を固定する
    ことを特徴とする光学フィルターデバイスの製造方法。
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TW102105411A TW201333546A (zh) 2012-02-14 2013-02-08 光學濾光器裝置、及光學濾光器裝置之製造方法
US13/766,122 US9678259B2 (en) 2012-02-14 2013-02-13 Optical filter device and manufacturing method for the optical filter device
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8814804B2 (en) * 2010-12-13 2014-08-26 Iph, Llc Interactive blood-alcohol content tester
US9197796B2 (en) 2011-11-23 2015-11-24 Lg Innotek Co., Ltd. Camera module
JP6201484B2 (ja) 2013-07-26 2017-09-27 セイコーエプソン株式会社 光学フィルターデバイス、光学モジュール、電子機器、及びmemsデバイス
TWI502176B (zh) * 2013-09-23 2015-10-01 Ind Tech Res Inst 可調式濾光元件及其製作方法
JP2015068887A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 セイコーエプソン株式会社 光学フィルターデバイス、光学モジュール、電子機器、及びmemsデバイス
JP6264838B2 (ja) * 2013-10-29 2018-01-24 セイコーエプソン株式会社 光学素子
JP2015106106A (ja) * 2013-12-02 2015-06-08 セイコーエプソン株式会社 電子デバイスおよび電子機器
JP6543884B2 (ja) * 2014-01-27 2019-07-17 セイコーエプソン株式会社 アクチュエーター制御装置、光学モジュール、電子機器、及びアクチュエーター制御方法
JP6134662B2 (ja) * 2014-01-31 2017-05-24 株式会社 日立産業制御ソリューションズ 生体認証装置および生体認証方法
JP6395389B2 (ja) * 2014-02-05 2018-09-26 浜松ホトニクス株式会社 分光器
JP6390117B2 (ja) * 2014-02-26 2018-09-19 セイコーエプソン株式会社 光学モジュール、及び電子機器
JP2015161876A (ja) * 2014-02-28 2015-09-07 セイコーエプソン株式会社 光フィルター、光学モジュールおよび電子機器
JP2015161875A (ja) * 2014-02-28 2015-09-07 セイコーエプソン株式会社 光フィルター、光学モジュール、電子機器および光フィルターの製造方法
WO2015142353A1 (en) * 2014-03-21 2015-09-24 Halliburton Energy Services, Inc. Manufacturing process for integrated computational elements
JP6384239B2 (ja) * 2014-09-29 2018-09-05 セイコーエプソン株式会社 光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器
JP6613564B2 (ja) 2014-12-26 2019-12-04 セイコーエプソン株式会社 光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器
JP2016186526A (ja) * 2015-03-27 2016-10-27 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器
WO2017057372A1 (ja) 2015-10-02 2017-04-06 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
US10330835B2 (en) * 2015-11-03 2019-06-25 Materion Corporation Filter array with reduced stray focused light
EP3467567B1 (en) 2016-05-27 2024-02-07 Hamamatsu Photonics K.K. Production method for fabry-perot interference filter
US10724902B2 (en) * 2016-08-24 2020-07-28 Hamamatsu Photonics K.K. Fabry-Perot interference filter
JP7142419B2 (ja) * 2017-05-01 2022-09-27 浜松ホトニクス株式会社 光計測制御プログラム、光計測システム及び光計測方法
CN107132626A (zh) * 2017-05-18 2017-09-05 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 一种光模块
US10955336B2 (en) * 2017-08-26 2021-03-23 Innovative Micro Technology Gas sensor comprising a rotatable Fabry-Perot multilayer etalon
JP6517309B1 (ja) * 2017-11-24 2019-05-22 浜松ホトニクス株式会社 異物除去方法、及び光検出装置の製造方法
CN110596909A (zh) * 2018-06-13 2019-12-20 三赢科技(深圳)有限公司 光学投射装置
JP7388815B2 (ja) * 2018-10-31 2023-11-29 浜松ホトニクス株式会社 分光ユニット及び分光モジュール
US11048055B2 (en) 2018-11-16 2021-06-29 Panduit Corp. Fiber optic cassette
JP2021021607A (ja) * 2019-07-26 2021-02-18 セイコーエプソン株式会社 分光カメラ
US11703677B2 (en) * 2019-08-02 2023-07-18 Corning Incorporated Aperture structure for optical windows and devices
CN113296277A (zh) * 2020-02-24 2021-08-24 宁波激智科技股份有限公司 一种准直膜、及一种减干涉准直膜及其制备方法
WO2023058472A1 (ja) * 2021-10-06 2023-04-13 Agc株式会社 光学フィルタ及び光学製品

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62154680A (ja) 1985-12-27 1987-07-09 Toyo Soda Mfg Co Ltd アクチユエ−タ−用BaTiO↓3系磁器
US5035495A (en) 1987-02-27 1991-07-30 Ngk Insulators, Ltd. Optical unit including a substrate and optical element supported on the substrate such that thermal stresses are prevented from being exerted on the optical element
JPH0617928B2 (ja) * 1987-02-27 1994-03-09 日本碍子株式会社 光学素子複合体
JPH01312877A (ja) 1988-06-10 1989-12-18 Mitsubishi Electric Corp レーザ装置
JPH0766982B2 (ja) * 1989-03-29 1995-07-19 シャープ株式会社 波長選択性受光素子
JPH1090576A (ja) * 1996-09-17 1998-04-10 Fuji Photo Film Co Ltd 光学部材の固定構造
CA2271159A1 (en) * 1999-04-30 2000-10-30 Jds Fitel Inc. Optical hybrid device
JP4051654B2 (ja) 2000-02-08 2008-02-27 セイコーエプソン株式会社 圧電体素子、インクジェット式記録ヘッド及びこれらの製造方法並びにインクジェットプリンタ
WO2003012531A1 (en) 2001-08-02 2003-02-13 Aegis Semiconductor Tunable optical instruments
JP2005510756A (ja) 2001-11-28 2005-04-21 アイギス セミコンダクター インコーポレイテッド 電気光学構成部品用パッケージ
US20040041254A1 (en) * 2002-09-04 2004-03-04 Lewis Long Packaged microchip
JP4505189B2 (ja) * 2003-03-24 2010-07-21 富士フイルム株式会社 透過型光変調装置及びその実装方法
JP4783558B2 (ja) * 2003-07-22 2011-09-28 日本碍子株式会社 アクチュエータ装置
JP2005055670A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Seiko Epson Corp Memsデバイス及びその製造方法並びにmemsモジュール
TW593127B (en) * 2003-08-18 2004-06-21 Prime View Int Co Ltd Interference display plate and manufacturing method thereof
JP4166712B2 (ja) * 2004-01-29 2008-10-15 株式会社デンソー ファブリペローフィルタ
US7184202B2 (en) * 2004-09-27 2007-02-27 Idc, Llc Method and system for packaging a MEMS device
US7734131B2 (en) * 2006-04-18 2010-06-08 Xerox Corporation Fabry-Perot tunable filter using a bonded pair of transparent substrates
JP4432947B2 (ja) * 2006-09-12 2010-03-17 株式会社デンソー 赤外線式ガス検出器
JP2008183350A (ja) * 2007-01-31 2008-08-14 Olympus Corp 可変分光素子、分光装置および内視鏡システム
JP5293147B2 (ja) * 2008-03-19 2013-09-18 富士通株式会社 電子部品
US20120235038A1 (en) 2009-06-25 2012-09-20 Takayuki Nishikawa Infrared gas detector and infrared gas measuring device
JP2011037148A (ja) 2009-08-12 2011-02-24 Seiko Epson Corp 液体噴射ヘッド及びそれを用いた液体噴射装置
JP5428805B2 (ja) * 2009-11-30 2014-02-26 セイコーエプソン株式会社 干渉フィルター、光センサー、および光モジュール
JP2011191555A (ja) * 2010-03-15 2011-09-29 Seiko Epson Corp 光フィルターの製造方法、分析機器および光機器
JP2011232447A (ja) * 2010-04-26 2011-11-17 Seiko Epson Corp 光フィルター、光フィルターモジュール、および分析機器

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