JP5947406B2 - 変形計測装置並びにシート処理装置 - Google Patents

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Description

本発明は、シート状もしくは平面状の測定対象の変形を計測する変形計測方法及び装置に関する。更には、変形計測の測定結果を用いて、シートもしくは平面状の測定対象上に、パターン形成などの処理を行うシート処理方法及び装置に関する。
平面状基材、特に厚さの薄いシート部材上において、高精度な位置決めが必要なプロセスでは、平面状基材やシート部材(以下これらを総称して単にシートという)の変形形状を正確に計測することが必須となる。
更には、シート状部材は、張力などによって容易に形状変形を生じることから、変形を正確に計測し、それに合わせた処理位置の補正を行うことが必要である。特に、微細な電子回路などをシート上に形成するためには、シートの微小変形(歪量で10−4クラス)を正確に計測し、それに合わせた処理位置制御が必須となる。
特許文献1から特許文献4は、これらのシートを取り扱う上での測定技術の一例を開示している。
特開2003−200413号公報 特開2011−143390号公報 特開2005−116611号公報 特開2005−62165号公報
平面状基材、特に厚さの薄いシート部材は、微小な張力差や変化、さらには前段プロセスによっても、変形を生じる。
特に、微細な電子回路などをシート上に形成する装置類においては、10cm〜1m程度のパターン内で、1μmオーダの位置合わせが問題となるために、歪量として10−4〜10−5程度の変形を計測する必要がある。
このレベルの変形は、処理領域に対して均一ではなく、シートに与えられる張力の左右差や前段プロセス(インクジェットなどによる部分液塗布による膨潤変形など)によって、処理領域内部でも差が生じており、これを計測することが、昨今非常に重要となってきている。
これ等の課題に対して前述の特許文献1は、処理領域全体の伸びや歪を測定するものであり、局部的(2次元的)シート変形を観測できない。特許文献2は、インクジェットヘッド1つと1つのカメラを1つの移動筺体に固定し移動するものであるが、ヘッド処理領域内部でシートの局所変形は勘案されていない。特許文献3は、特許文献1と同様に処理領域全体の伸びや歪を測定するものであり、局部的(2次元的)シート変形を観測できない。特許文献4は、目的は異なるが幅方向に複数のカメラを配置した特許である。シート全域の変形を計測するためには、特許文献4のように、多数のカメラが必要となるが、装置構成を複雑とし、コストアップにつながる懸念がある。
簡単な装置構成でシート全域の変形を計測するためには、特許文献2のように、測定領域内で、カメラを移動させる方式が有効である。しかしながら、この方式では、移動ステージのガイドレールなどの微妙な歪みなどにより、カメラの測定箇所がずれてしまうという問題点を持ち、シート全域での、高精度なシート変形計測を実現することができない。
以上のことから本発明では、シートの変形量を簡単、正確に計測し、さらにはシートの変形処理を行うことが可能な変形計測装置並びにシート処理装置を提供することを目的とする。
また本発明では、複数のパターンを記したシート状の測定対象の変形量を計測する変形計測装置であって、シート状の測定対象の表面を撮影する複数のカメラを固定配置しているカメラ保持筺体と、カメラ保持筺体をシート状の測定対象の表面に平行な面上で移動させるカメラ保持筺体移動手段と、カメラ保持筺体移動手段をシート状の測定対象の表面に平行な面上で位置制御するカメラ保持筺体位置制御手段と、カメラ保持筺体位置制御手段が定めた位置の情報とカメラの撮影した撮影情報を用いてシート状の測定対象の変形量を算出する変形状態解析手段とを備えていることを特徴とする。
また本発明では、複数のパターンを記したシート状の測定対象を搬送して、変形量を計測して、シート処理を実行するために、張力制御部と、変形計測部と、シート処理部を備えたシート処理装置であって、張力制御部は、複数のパターンを記したシート状の測定対象の搬送方向の張力を制御する張力調整手段を備え、変形計測部は、シート状の測定対象の表面を撮影する複数のカメラを固定配置しているカメラ保持筺体と、カメラ保持筺体をシート状の測定対象の表面に平行な面上で移動させるカメラ保持筺体移動手段と、カメラ保持筺体移動手段をシート状の測定対象の表面に平行な面上で位置制御するカメラ保持筺体位置制御手段と、カメラ保持筺体位置制御手段が定めた位置の情報とカメラの撮影した撮影情報を用いてシート状の測定対象の変形量を算出する変形状態解析手段と、変形状態解析手段で求めた変形量に応じてシート張力を定め張力調整手段に与えるシート張力演算部と、変形状態解析手段で求めた変形量に応じてシート位置を修正する修正位置情報をシート処理部に与えるシート位置修正演算部を備え、シート処理部は、変形状態解析手段のシート位置修正演算部が求めたシート上の処理位置を定めて所定の処理を実行する処理手段を備えている。
上記構成によれば、同一筺体内の一組のカメラは、測定カメラ移動時に生ずるガイドレールの微妙な歪みなどによる測定位置ずれは、一組のカメラ間で同一となる。これによって、各カメラの測定位置誤差を、ほぼ打消すことが可能となる。
このため、測定領域内で、カメラを動かす場合においても、各部の変形を高精度に計測可能とならしめることを可能とするものである。
本発明の第1実施例に係るシートの変形計測装置2の配置構成例を示す図。 変形計測装置2が備えるべき手段や機能の全体構成を示した図。 変形計測装置2を用いて変形を計測する過程を示したフロー図。 測定対象7上のパターン8の配置関係の一例を示す図。 複数の位置検出カメラ3の配置関係の一例を示す図。 4台の位置検出カメラにより撮像したパターンの模式例を示した図。 カメラ保持筐体4が傾斜した時のパターン8の計測位置を示す図。 変形計測装置2を含むシート搬送機構101の構成例を示す図。 シート搬送機構101によるシートSへの描画パターン形成の手順を示す図。 シート搬送機構101による処理の過程を示したフロー図。
以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
図1は、本発明の第1実施例に係るシートの変形計測装置2の配置構成図例である。図1に示すように測定対象であるシート7の上部には、変形計測装置2が配置されている。シートの変形を計測する変形計測装置2には、2台以上の位置検出カメラ3と、これらを一体に保持するカメラ保持筐体4が備えられている。また複数台の位置検出カメラ3は、同一のカメラ保持筺体4により、格子状に規定の距離L離れた状態を保つように配置されている。なお本実施例では、カメラ保持筐体4に4台の位置検出カメラ3a、3b、3c、3dが格子状に等間隔で設置されているが、位置検出カメラ3は位置が固定されていれば設置位置は任意であってよい。
さらに変形計測装置2には、カメラ保持筐体4を移動するカメラ保持筺体稼動手段5と、カメラ保持筐体4の絶対位置を記録し制御するカメラ保持筐体位置制御手段6(図1には図示せず)が備えられている。カメラ保持筐体稼動手段5とカメラ保持筐体位置制御手段6により、カメラ保持筐体4を所望の位置まで移動制御できる。カメラ保持筺体稼動手段5は、図1のX方向に移動させるための稼動手段5Xと、X方向に直行するY方向に移動させるための稼動手段5Yとで構成され、必要であれば高さ方向の稼動手段5Z(図1には図示せず)を備えてもよい。但し、X、Y方向で定まるXY平面は、測定対象であるシート7の表面に対する水平面とされる。
これに対し変形計測装置2の計測対象であるシートまたは面状体の測定対象7の表面には、測定対象7の位置情報を判別できる複数個のパターン8が形成されている。本実施例では、パターン8の形状が円形状となっているが、三角形状、四角形状、十字形状、文字形状などと形状は任意で、かつ複数個のパターン8間で形状が異なっていても構わない。
図2は、変形計測装置2が備えるべき手段や機能の全体構成を示している。この手段や機能は、カメラ3を備えたカメラ保持筺体4、カメラ保持筺体稼働手段5、カメラ保持筺体位置制御手段6、変形状態解析手段80で構成される。なお、変形計測装置2のこれ等機能は、支持枠などにより測定対象7の表面に対向する上部空間に配置される必要があるが、例えば変形状態解析手段80は上部空間とは別の個所に配置されていてもよい。
これらの構成によれば、カメラ3を搭載するカメラ保持筺体4をカメラ保持筺体稼働手段5により、XY平面上の任意位置に移動させる。移動位置はカメラ保持筺体位置制御手段6により決定される。
変形状態解析手段80では、当該位置で撮影した複数の位置検出カメラ3の情報を用いて、測定対象7の変形を計測する。この計測のために、変形状態解析手段80は81から89の機能、手段を備えている。
具体的に述べると、変形状態解析手段80は、測定対象7上に予め形成したパターン8の形状の情報をパターン形状記憶手段81に記憶しており、他方で位置検出カメラ3により撮像した画像をカメラ3から取り込んで撮像画像記録手段82に記録する。ここで、予め形成したパターン8の形状の情報は、歪みや、ひずみを持たないシート7の理想的な状態を反映したものであり、かつ既知の情報である。従ってカメラ3から取り込んだ撮像画像との対比により、歪みや、ひずみを識別可能とする。この識別は以下のように実行される。
変形状態解析手段80では、パターン形状記憶手段81に記憶したパターン形状をもとに、同一形状のパターン8の中心位置を撮像画像記録手段82に撮像した画像から検出し、撮像した画像の中心位置からのパターン8への距離を画像内パターン位置特定手段83により算出する。
さらに変形状態解析手段80は、画像内パターン位置特定手段83により算出した画像中心位置からのパターン8の中心位置への距離と、複数台の位置検出カメラ3間の既知の設置距離から、パターン8間の相対位置をパターン位置同定手段84により同定し、撮像時のパターン8の相対位置情報をパターン検出位置記録手段85に記録する。
パターン検出位置記録手段85に記録されたパターン検出位置の情報を用いて変形量演算手段87では変形量を求め、これを変形量記録手段88に記録する。なお、パターン一記録手段86は、カメラ保持筺体位置制御手段6がカメラ保持筺体稼働手段5の位置制御を実行する時の位置情報を入力しており、この位置情報はパターン検出位置記録手段85や変形量記録手段88の記録情報を測定対象7状の位置情報に関連付けて記録するのに利用している。
また変形状態解析手段80は、変形量記録手段88に記録された、測定対象7の複数箇所での変形情報をもとに、測定対象7の観測面全体の変形データを生成する測定対象変形解析手段89を備えている。測定対象変形解析手段89より生成された変形データをもとに、測定対象7の局所的な歪みも考慮した測定対象7の高精度な位置決めを可能とする。
上記構成により、パターン8の位置情報を同定することが可能である。なお本実施例では、パターン8の検出位置は、パターン8の中心位置としているが、パターン8の特定位置を検出できれば任意の場所でよい。また本実施例では、撮像画像内で撮像画像の中心位置を基準に、撮像画像の中心からのパターン8の中心位置の距離を算出することで、パターン8の画像内の位置を検出しているが、基準となる位置は撮像画像の中心位置でなく任意の位置でよい。
図3は、図2の変形計測装置2を用いて変形を計測する過程を示したフロー図である。図3の変形計測方法は、計算機の周期的な処理により実行されるものであり、これにより本発明の変形計測方法の一連の手順を説明する。
図3の最初の処理ステップS1では、カメラ保持筺体4をカメラ保持筺体稼動手段5により所望の位置まで移動させる。ここで所望の位置の意味する事柄について説明しておく。そのためには、その前提としてあらかじめ固定に定められている測定対象7上のパターン8の配置関係と、複数の位置検出カメラ3の配置関係を例示し、理解しておく必要がある。
このうち測定対象7上のパターン8の配置関係の一例を図4に示している。測定対象7上には予め円形状パターン8a、8b、8c、8dが刻印されている。また、パターン形成時における4つの円形状パターン8a、8b、8c、8dの相対形成位置は、4台の位置検出カメラ3a、3b、3c、3dを測定対象7の面方向へ平行方向に、カメラ保持筺体稼動手段5によりパターン8上に移動させた時に、撮像範囲内に4つのパターン8a、8b、8c、8d全てが同時に収まるような相対位置間隔で形成されている。パターン8の数及びパターン8間の相対位置は上記条件を満たす限り任意である。但し、X軸方向とY軸方向は、それぞれ図1に示すように、測定対象面に平行でかつ互いに直行していることとする。
図4に示す本事例におけるパターン形成時のパターン8の位置座標は、パターン8aの位置をX−Y座標上の(X8a、Y8a)とし、他の3つのパターン8b、8c、8dは格子状に、X軸方向及びY軸方向に距離M離れた位置(X8a+M、Y8a)、(X8a、Y8a+M)、(X8a+M、Y8a+M)に形成されているとする。
他方、複数の位置検出カメラ3の配置関係の一例を図5に示している。本事例では、測定対象7上に位置検出カメラ3がそれぞれ平行に配置している時の位置検出カメラ3の座標が示されている。位置検出カメラ3aの位置座標をX−Y座標上の(X3a、Y3a)とした時、他の3台の位置検出カメラ3b、3c、3dは、(X3a+L、Y3a)、(X3a、Y3a+L)、(X3a+L、Y3a+L)の位置に配置されているとする。
また図4において、位置検出カメラ3によりシート7の表面を撮影したときの位置検出カメラ3a、3b、3c、3dの視野は、夫々14a、14b、14c、14dの範囲であるとする。
パターン8と位置検出カメラ3の上記の配置関係を前提とするときに、複数の位置検出カメラ3の夫々の視野の中にパターン8が入ってくるように位置検出カメラ3を移動させたときの位置状態が、先に述べた所望の位置に移動させたことを意味している。
この所望の位置において、図3の処理ステップS2では複数台の位置検出カメラ3により複数個のパターン8を撮像する。撮像されたパターン8は、図2の変形形状解析手段80に取り込まれる。
図6は、4台の位置検出カメラ3a、3b、3c、3dにより撮像した円形状パターン8a、8b、8c、8dを示した模式図例である。図6で、14a、14b、14c、14dは、4台の位置検出カメラ3a、3b、3c、3dの視野(画像)であり、15a、15b、15c、15dは視野の中心位置である。また図6の視野14a、14b、14c、14dの中心15a、15b、15c、15d間の距離は、図5の距離Lであり、例えば円形の視野14a、14b、14c、14dの中にそれぞれ円形状パターン8a、8b、8c、8dが視認されている。
写真撮影後の円形状パターン8a、8b、8c、8d間の距離は、図4の配置関係を理想とし距離Mを保つべきであるが、図6の例では明らかに距離Mが保たれていない。以後の処理では、撮像情報から歪みやひずみを検知していく。
このための画像処理の最初の処理ステップS3では、画像内パターン位置特定手段83により、撮像した画像内の複数個のパターン8の中心位置を検出する。なおこの前提として図6の場合には、撮像した視野14a、14b、14c、14dの中心15a、15b、15c、15dの位置と、中心位置間の距離Lが図5のように知られている。位置検出カメラ3をカメラ保持筺体4に取り付けたときに、この位置関係が成立するようにされている。
撮像した視野14a、14b、14c、14d内の各パターン8a、8b、8c、8dの中心15a、15b、15c、15dの位置は、例えば図6の左下の位置検出カメラの視野14aで例示したように視野の中心15a位置を原点(0、0)とするX−Y座標の位置として把握される。視野14a、14b、14c、14dの中心15a、15b、15c、15dの位置を夫々の原点(0、0)とするときの、パターン8a、8b、8c、8dの中心位置座標を、それぞれ(dX、dY)、(dX、dY)、(dX、dY)、(dX、dY)とする。
処理ステップS4ではパターン位置同定手段84によりパターン8間の相対位置座標を演算する。処理ステップS5では、求めた相対位置座標をパターン検出位置記録手段85に記録する。この処理は、図4のパターン8a、8b、8c、8dの相互の距離を相対的に把握したものである。
この相対的位置把握では、例えば視野3aの中心位置をX−Y座標の原点(0、0)として把握されるので、パターン8aの相対位置は(dX、dY)である。これに対し、
各視野の中心位置間距離は図5に示した距離Lであるので、8bの相対位置は(dX+L、dY)、8cの相対位置は(dX、dY+L)、8dの相対位置は(dX+L、dY+L)で表される。このようにして算出された相対位置情報がパターン8の位置情報を記録するパターン位置記録手段86に記録される。
次いで処理ステップS6では変形量演算手段87により測定箇所の変形状態を演算し、変形量記録手段88に変形状態を記録する。ここで、シートに変形が存在しない理想的な状態では、撮影されたパターン8間の距離は図4の距離Mを保つことになる。簡便に図4の距離と図5の距離Lが等しいとして考えると、図6のパターン8間の距離はLであるはずが、この例では明らかに距離Lを保ってはいない。この場合に、距離Lとの偏差が変形量を意味する。
このことから、測定対象7の変形量は、パターン8a、8b間では、X軸方向とY軸方向、それぞれδabx、δabyとすると、変形量演算手段87により、(1)式により算出することができる。なお(1)式では距離Mと距離Lが等しくない一般的な式で表している。
[数1]
δabx=dX+dX+M−L
δaby=dY+dY (1)
同様にして、パターン8aと8cの間の変形量δacx、δacy、8cと8dの間の変形量δcdx、δcdy、8dと8bの間の変形量δdbx、δdbyを算出することができる。
処理ステップS7では複数の計測箇所についての計測が終了するまで上記の処理を繰り返し実行し、終了後に処理ステップS8において、変形量記録手段88に記録された複数観測箇所の変形状態から、測定対象7の計測エリア全面の変形データを生成する。
また、測定箇所の変形量から、さらに歪み率を算出して変形量記録手段88に記録する。例えばパターン8a、8b間のX軸方向とY軸方向の歪み率、Δabx、Δabyを算出すると、変形量δabx、δabyを用いて(2)式により算出できる。
[数2]
Δabx=(dX+dX+M−L)/M
Δaby=(dY+dY)/M
同様にして、パターン8aと8cの間の変形量Δacx、Δacy、8cと8dの間の変形量Δcdx、Δcdy、8dと8bの間の変形量Δdbx、Δdbyを算出することができる。
このようにして、4つのパターン8間の変形量もしくは、歪み率から測定対象7の歪み形状も求めることができる。算出した変形量、歪み率、歪み形状などの情報は変形量記録手段88に記録される。
ところで図1の変形計測装置2において、カメラ保持筐体4を移動させると、カメラ保持筺体稼動手段5上のガイドレールなどの歪みなどにより、カメラ保持筐体4は測定対象7の面に対して傾斜することが想定される。カメラ保持筐体4の位置検出カメラ3が傾斜することで、位置検出カメラ3によるパターン8の位置検出結果に誤差が生じる。この問題とその対策を、図7を用いて説明する。
図7は、カメラ保持筐体4が傾斜した時のパターン8a、8b、8c、8dの計測位置を示す図である。4台の位置検出カメラ3a、3b、3c、3dは、X軸方向及びY軸方向に格子状にそれぞれ距離L離れ配置されている。カメラ保持筐体4と測定対象7との距離をHとし、カメラ保持筐体4はX軸方向にθx、Y軸方向にθ傾斜しているとする。図7はこのうち、位置検出カメラ3a、3bがパターン8a、8bを観測するときの、Y軸方向の傾斜θの様子を示している。
この場合、カメラ保持筐体4の傾斜により生じる、位置検出カメラ3aのパターン8aのX方向における検出位置の誤差δaxとY方向における検出位置の誤差δayは、(3)式で示される。
[数3]
δax=((H+L/2(sinθx+sinθy))tanθ
+L/2(1−cosθy)
δay=((H+L/2(sinθx+sinθy))tanθ
+L/2(1−cosθ) (3)
同様に、パターン8bのX軸方向とY軸方向の検出位置の誤差δbx、δbyは、(4)式で示される。
[数4]
δbx=((H+L/2(sinθx−sinθy))tanθ
−L/2(1−cosθy)
δby=((H+L/2(sinθx−sinθy))tanθ
+L/2(1−cosθ) (4)
となる。
この場合に、変形量及び歪み率は、特定位置の2点間の距離及び距離の変化より求められる。位置検出カメラ3a、3bはカメラ保持筐体4に固定されているため、位置検出カメラ3a、3bの傾斜角は等しくなる。そのため、位置検出カメラ3a、3bの傾斜によるパターン8a、8b間の検出位置の誤差は、同じ方向にほぼ等しい量現れる。そのため、パターン8a、8b間の距離を求める場合、パターン8a、8b間の検出位置座標の差分から求めるため、検出位置の誤差はほぼ相殺される。カメラ保持筐体4の傾斜によるX軸方向とY軸方向の変形量の計測誤差δabx及びδabyは、(5)式で示される。
[数5]
δabx=Lsinθytanθy+L(1−cosθy)
δaby=Lsinθytanθ (5)
一方、1台の位置検出カメラ3により、パターン8a、8b間の変形を計測する場合を考える。パターン8aの計測時におけるX軸方向のカメラ傾斜角をθ1ax、Y軸方向のカメラ傾斜角をθ1ayとすると、パターン8aのX軸方向の検出位置の誤差δ1axとY軸方向の検出位置の誤差δ1ayは、(6)式で示される。
[数6]
δ1ax=Hsinθ1ay
δ1ay=Hsinθ1ax (6)
パターン8aの計測後、パターン8bを計測するため、位置検出カメラ3はパターン8b上に移動するため、移動により位置検出カメラ3傾斜角が変化する。パターン8b計測時のX軸方向のカメラ傾斜角をθ1bx、Y軸方向のカメラ傾斜角をθ1byとするとし、パターン8bのX軸方向の検出位置の誤差δ1bxとY軸方向の検出位置の誤差δ1byは、(7)式で示される。
[数7]
δ1bx=Hsinθ1by
δ1by=Hsinθ1bx (7)
よって、1台の位置検出カメラ3により求めたパターン8a、8b間の変形量の計測誤差δ1abxとδ1abyは、(8)式で示される。
[数8]
δ1abx=Hsinθ1ay+Hsinθ1by
δ1acx=Hsinθ1ax+Hsinθ1bx (8)
ここで、カメラ保持筐体4及び位置検出カメラ3の傾斜角が、例えば1度以下と微小な場合を考える。角度θが微小の場合、sinθ、cosθ、tanθは、(9)式で示される。
[数9]
sinθ≒θ
cosθ≒1−θθ/2
tanθ≒θ (9)
よって、パターン8a、8bの距離、つまり変形量の計測誤差は、(10)式で示される。
[数10]
δabx≒3Lθyθy/2
δaby≒ Lθyθ (10)
一方、1台の位置検出カメラ3により測定した時に生じるパターン8a、8b間の距離、つまり変形量の計測誤差は、(11)式で示される。
[数11]
δ1abx≒H(θ1ay+θ1by)
δ1acx≒H(θ1ax+θ1bx) (11)
ここで、変形量もしくは歪み率の計測誤差を定量的に考えてみる。位置検出カメラ3と測定対象7との距離Hとパターン形成時におけるパターン8a、8b間の距離Mが仮に等しいとする。複数台の位置検出カメラ3をカメラ保持筐体4に固定保持した状態で計測すると、カメラ保持筐体4の傾斜角θxとθを約0.003rad以下、つまり、約0.17度以下に抑えることにより、カメラ保持筐体4が傾斜したことによる測定対象7の変形量もしくは歪み率の計測誤差を比率にして10−5レベル以下に抑えることができる。
一方、1台の位置検出カメラ3により歪み計測をした場合を考える。位置検出カメラ3の移動量はパターン8a、8b間の距離Mとほぼ等しいと考えられるので、それをもとに計測誤差を計算する。この場合、測定対象7の変形量または歪み率の計測誤差を、比率にして10−5レベル以下に抑えるためには、カメラ傾斜角(θ1bx、θ1by)をそれぞれ、約10−5rad以下に、つまり、約5.7×10−4度以下とオーダにして3、4桁小さな値に抑える必要がある。
ここから、カメラ保持筐体4に複数台の位置検出カメラ3を固定保持することで、複数の観測点で、位置検出カメラ3を移動させ計測したときの変形量または歪み率の計測誤差を小さくできることがわかる。また、位置検出カメラ3の傾斜により生じる変形量と歪み率の計測誤差は、カメラ保持筐体4に位置検出カメラ3を固定保持することで、位置検出カメラ3と測定対象7間の距離Hの影響を受けなくなり、位置検出カメラ3と測定対象7間との距離が離れた場合においても変形量及び歪み率の計測誤差に影響しない、または少ないことがわかる。
よって、変形計測装置2により、所望位置で測定対象7の変形量または歪み率を高精度に計測できる。
図8は、変形計測装置2を含むシート搬送機構101の構成図の例である。本発明で取り扱うシート状もしくは平面状の測定対象(以下シートSという)は、帯状に形成されており、ローラに挟まれて搬送され、加工部分に送られる。また加工部分に送られる前に本発明の変形計測装置2により変形を計測され、計測結果が加工部分での加工に反映される。このため、シート搬送機構101には、シートSを搬送する搬送モータ102及び
搬送モータ102によって駆動されるローラ(121、122、131、132)が複数台備え付けられている。図8のシート搬送機構101において、測定対象7であるシートSは、搬送モータ102によって、図8中の左から右へ搬送される。なお、本発明のシート搬送機構101の適用事例はこの例に限らない。要するに搬送の途中、加工の前段に変形計測装置2を含み、その検出した変形を後段の加工に反映させるものであれば何でもよい。
図示のシート搬送機構101は、シートSを固定保持し、シートSの変形を保持したままシートSの変形を計測し搬送するシート位置決め部110と、シート位置決め部110の後段に位置し絶縁膜や電気配線などの描画パターンを形成するパターン形成部180と、シートSの搬送に対し上流側と下流側の2箇所に配置されシートSの張力をその前後で遮断する張力遮断部120と、シートSの張力Tを制御する張力制御部130から構成されている。
シート位置決め部110は、シートまたは面状体の変形計測装置1を備える。シートまたは面状体の変形計測装置1は、シートSの変形を計測する変形計測装置2を有するとともに、シートSの変形計測前にシートSの変形状態を固定保持するシート固定保持部111を有する。
本実施例では、変形計測装置2は、カメラ保持筐体4とシートSとの距離を測定する距離センサ9を有するとともに、距離センサ9はカメラ保持筐体4に固定され、カメラ保持筐体4とともに移動できる。カメラ保持筐体4をカメラ保持筺体稼動手段5で動かすことで、任意の位置でシートSの面外方向の変形を計測できる。距離センサ9の計測結果を、変形状態解析手段80に取り込み演算させることで、シートSの面内変形のデータだけでなく、面外変形も含めた3次元の変形を計測することができる。
また、変形状態解析手段80は、シートSの変形状態からパターン形成部180で形成する描画パターンの形成位置の補正データを演算し、パターン形成部180のパターン形成位置制御手段184に送付するパターン形成位置演算部90と、シートSの変形状態から変形を所定範囲内に留めるよう変更する張力の値を演算し、張力制御部130の張力調整ローラ位置調整手段134に伝達するシート張力演算機構91を有する。
カメラ保持筐体稼動手段5は、シートS面に平行移動するだけでなく、シートS面に対し垂直移動せしめるカメラ保持筐体垂直稼動手段10を有するのが好都合である。カメラ保持筐体垂直稼動手段10によるカメラ保持筐体4の移動は、カメラ保持筐体位置制御手段6(図2に図示)によって制御される。垂直稼働手段10を備えることで、シート位置決め部110内のカメラ保持筐体4と干渉する位置に搬送ローラやパターン形成部180などの干渉物が存在または移動しても、カメラ保持筐体4との干渉をカメラ保持筐体垂直稼動手段10によってカメラ保持筐体4を垂直移動することで回避できる。また、シートSの搬送経路により、シートS面の高さが異なる場所が存在しても、カメラ保持筐体垂直稼動手段10により、カメラ保持筐体4を垂直移動させ、距離センサ9の面外方向の計測結果をもとに、カメラ保持筐体4とシートS面との距離Hを所定距離内に保ったままパターン8を計測することが可能となる。
シート固定保持部111は、シートSを固定保持した状態で、シートSとともにシート固定保持部111を搬送できるシート固定保持部駆動手段112を備えるのがよい。シート固定保持部駆動手段112によって、計測したシートSの変形状態を保ったまま、パターン形成部180などのシートSを処理するエリアへ搬送できる。
パターン形成部180は、シートSに描画パターンを形成するパターン形成手段181とパターン形成手段181を制御するパターン形成位置制御手段184を有する。なおパターン形成手段181には、パターン形成手段181を駆動するパターン形成手段移動機構と、パターン形成手段181からの描画パターンの形成位置を調整するパターン形成位置調整手段とが含まれる。パターン形成位置制御手段184は、所定の位置に描画パターンが形成されるように、パターン形成手段移動機構とパターン形成位置調整手段を制御する。
張力遮断部120は、表面が例えばゴム等の高摩擦部で成る高摩擦ローラ121と、高摩擦ローラ121に対抗した位置に配置されシートSを狭持する圧接ローラ122を有する。これら高摩擦ローラ121と圧接ローラ122による圧接部によって、シートS間に作用する張力Tが遮断される。図8のように、張力遮断部120をシート搬送機構101の上流側と下流側にそれぞれ備えることにより、2つの張力遮断部120間におけるシートSの張力Tは、更に上流側もしくは下流側の他の領域のシートSの張力の影響を受けなくさせることができる。
張力制御部130は、張力調整ローラ131と、ガイドローラ132と、張力調整ローラ駆動手段133と張力調整ローラ位置制御手段134を有する。隣接した張力遮断部120の圧接ローラ122とガイドローラ132間のシートSに、張力調整ローラ131が接触している。張力調整ローラ131を、張力調整ローラ位置制御手段134により、規定の張力Tがかかるよう張力調整ローラ駆動手段133により張力調整ローラ131を動かすことで、シートSに作用する張力Tを任意に調整することが可能となっている。
以下、本実施例におけるシート搬送機構101の動作の説明をする。図9は、シート搬送機構101によるシートSへの描画パターン形成の手順についてまとめた表である。図9の実線矢印の順に、シートSは各主要機構を通り搬送される。
シートSは、実線矢印のシートS搬送経路に示すように、まず上流側から張力遮断部120と、張力制御部130を通り、シート位置決め部110に搬送される。
シート位置決め部110に搬送されたシートSは、その内部のシート固定保持部111により固定保持される。そしてシートSを固定保持した状態で、シートSの変形を変形計測装置2により計測する。変形状態解析手段80では、この解析の結果を制御処理に反映させる。ここでの制御処理はパターン形成位置演算部90によるものと、シート張力演算機構91によるものとがある。
解析の結果、シートSにかかる張力TによってシートSが所定形状より大きく形状が異なると判断した場合は、シート張力演算機構91が働く。点線矢印の情報伝達経路200に示すように、シートSの固定保持を解除し、シート張力演算機構91により演算された適正張力の情報を、張力調整ローラ位置制御手段134に送ることで、張力制御手段部130で、適正な張力Tがかかるようを調整する。この場合、シートSを固定保持し変形を計測する手順を繰り返す。
シートSの変形計測かつ張力制御を終えた後、シートSは、シート固定保持部111に形状を固定されたまま、パターン形成部180に搬送される。またシートSの描画パターン形成前に、シートSの変形計測結果であるシートSの変形に合わせた描画パターンの形状を、パターン形成位置制御手段184に伝達する。このラインが図9点線矢印の情報伝達経路300に示されたパターン形成位置演算部90の出力である。このパターン形成位置演算部90の機能は、要するにシート上の加工処理すべき位置を、変形量に応じて修正した修正位置の情報として与えたものである。このため、パターン形成位置演算部90は、一般にはシート位置修正演算部と捉えることができる。
パターン形成位置制御手段184は、その描画パターン形成情報をもとに、パターン形成手段移動機構によりパターン形成手段181を移動させることで描画パターンの形成位置を調整、あるいは、パターン形成位置調整手段で描画パターンの形成位置を調整する。
描画パターン形成後、シートSのシート固定保持部111の固定保持を解除し、シートSの描画パターンを形成した部分を下流側の張力遮断部120を介し、シートSを搬送しつつ、シート固定保持部111をシート位置決め部110まで戻す。
以上の操作を繰り返すことで、シート搬送機構101において、シートまたは面状体の変形計測装置1によりシートSの変形を計測しパターン形成部に変形を保持したシートを搬送し、また変形データを送ることで、高精度にシートSを位置決めし、描画パターンを高精度に形成することができる。
本実施例では、張力制御部130において、張力Tを張力調整ローラ131の位置調整により制御しているが、他の張力調整手段として、例えば、各搬送モータ102間でシートSの搬送速度に差を持たせ、張力Tを調整する手段等も考えられるが、張力制御方法は任意の方法でよい。
本実施例では、シート固定保持部111の数について記述はないが、数は任意の数でよい。
なお図10は、図8のシート搬送機構101による処理の過程を示したフロー図である。図10のシート搬送方法は、計算機の周期的な処理により実行されるものであり、これにより本発明のシート搬送方法の一連の手順を説明する。
図10の最初の処理ステップS11では、シートSの描画パターン形成面をシート位置決め部110まで搬送し、処理ステップS12ではシートSの描画パターン形成面の形状を固定保持部111で固定する。処理ステップS13では固定後に変形計測装置2により、描画パターン形成面の変形を計測する。また処理ステップS14ではシートS各部における変形状態の計測結果を集約して、描画パターン形成面の変形データを作成する。ここまでの処理は、図3の一連の処理を利用して実施することができる。
処理ステップS15では、シートSの搬送方向と幅方向の変形データを比較して、シートSの張力Tによる伸縮量を算出する。例えば、搬送方向の変形が幅方向の変形に対して大きい場合に、張力が影響している可能性大であり、この時の伸縮量のデータを求める。処理ステップS16では、伸縮量が適正範囲か確認し、適正であれば次の処理ステップS19に移り、適正でない(張力により変形が過大になっている状態)場合には、処理ステップS17に移る。
処理ステップS17では、変形量を所定範囲内に抑制するための張力を算出し、固定保持部111によるシートSの固定を解除する。さらに、算出した張力の値を張力制御部130に伝達して張力を制御する。これ等の処理を通じてシートSの張力が適正に保たれ、シートSの張力が適正に保たれた状態で、先の処理ステップS12から処理ステップS15の計測と判断を再実行する。張力が適正な条件下での変形量を新たな変形量として取り扱う。
この結果、処理ステップS19以降の処理では、張力の影響が所定の範囲内にあるケースの変形量のみが取り扱われる。具体的な処理ステップS19の処理では、まずシートSの描画パターン形成面をパターン形成部180に搬送する。次いで、シートSの変形データから求めた変形に合わせた描画パターンの形成位置を演算して、パターン形成部180に伝達する。
処理ステップS20では、変形に合わせた描画パターンの形成位置に応じてシートSに描画パターンを形成する。形成後は、処理ステップS21においてシート固定保持部111によるシートSの固定を解除しシートSを搬送する。またシート固定保持部111をシート位置決め部110に戻し、次の変形計測に備える。
1:シートまたは面状体の変形計測装置,2:変形計測装置,3:位置検出カメラ,4:カメラ保持筺体,5:カメラ保持筺体稼動手段,6:カメラ保持筺体位置制御手段,7:測定対象,8:パターン,9:距離センサ,10:カメラ保持筐体垂直移動手段,80:変形状態解析手段,81:パターン形状記憶手段,82:撮像画像記録手段,83:画像内パターン位置特定手段,84:パターン位置同定手段,85:パターン検出位置記録手段,86:パターン位置記録手段,87:変形量演算手段,88:変形量記録手段,89:測定対象変形解析手段,90:パターン形成位置演算部,91:シート張力演算機構,101:シート搬送機構,102:搬送モータ,110:シート位置決め部,111:シート固定保持部,112:シート固定保持駆動手段,120:張力遮断部,121:高摩擦ローラ,122:圧接ローラ,130:張力制御部,131:張力調整ローラ,132:ガイドローラ,133:張力調整ローラ駆動手段,134:張力調整ローラ位置制御手段,180:パターン形成部,181:パターン形成手段,184:パターン形成位置制御手段,S:シート

Claims (11)

  1. 複数のパターンを記したシート状の測定対象の変形量を計測する変形計測装置であって、
    前記シート状の測定対象の表面を撮影する複数のカメラを固定配置しているカメラ保持筺体と、該カメラ保持筺体を前記シート状の測定対象の表面に平行な面上で移動させるカメラ保持筺体移動手段と、該カメラ保持筺体移動手段を前記シート状の測定対象の表面に平行な面上で位置制御するカメラ保持筺体位置制御手段と、該カメラ保持筺体位置制御手段が定めた位置の情報と前記カメラの撮影した撮影情報を用いて前記シート状の測定対象の変形量を算出する変形状態解析手段とを備えていることを特徴とする変形計測装置。
  2. 請求項1記載の変形計測装置であって、
    前記カメラ保持筺体位置制御手段は、前記複数のカメラの視野内に前記パターンが入る位置に位置制御することを特徴とする変形計測装置。
  3. 請求項2記載の変形計測装置であって、
    前記シート状の測定対象の表面に記された複数のパターン間の距離、及び前記複数のカメラ間の距離が予め知られており、前記変形状態解析手段は前記複数のカメラの視野内に撮影された前記パターン間の相対距離に応じて前記シート状の測定対象の変形量を計測することを特徴とする変形計測装置。
  4. 請求項3記載の変形計測装置であって、
    前記カメラによる撮影、及び撮影情報を用いた変形量算出処理を、前記シート状の測定対象の複数個所で実施し、前記シート状の測定対象の変形量を得ることを特徴とする変形計測装置。
  5. 複数のパターンを記したシート状の測定対象を搬送して、変形量を計測して、シート処理を実行するために、張力制御部と、変形計測部と、シート処理部を備えたシート処理装置であって、
    前記張力制御部は、前記複数のパターンを記したシート状の測定対象の搬送方向の張力を制御する張力調整手段を備え、
    前記変形計測部は、前記シート状の測定対象の表面を撮影する複数のカメラを固定配置しているカメラ保持筺体と、該カメラ保持筺体を前記シート状の測定対象の表面に平行な面上で移動させるカメラ保持筺体移動手段と、該カメラ保持筺体移動手段を前記シート状の測定対象の表面に平行な面上で位置制御するカメラ保持筺体位置制御手段と、該カメラ保持筺体位置制御手段が定めた位置の情報と前記カメラの撮影した撮影情報を用いて前記シート状の測定対象の変形量を算出する変形状態解析手段と、該変形状態解析手段で求めた変形量に応じてシート張力を定め前記張力調整手段に与えるシート張力演算部と、前記変形状態解析手段で求めた変形量に応じてシート位置を修正する修正位置情報を前記シート処理部に与えるシート位置修正演算部を備え、
    前記シート処理部は、前記変形状態解析手段のシート位置修正演算部が求めたシート上の処理位置を定めて所定の処理を実行する処理手段を備えていることを特徴とするシート処理装置。
  6. 請求項5記載のシート処理装置であって、
    前記カメラ保持筺体移動手段は、前記シート状の測定対象の表面に平行な面上での移動を含む3次元の移動を行うことを特徴とするシート処理装置。
  7. 請求項5、または請求項6記載のシート処理装置であって、
    前記変形計測部において変形を計測する時の前記シートは、シート固定保持部により固定されており、計測したシートの変形状態を保ったまま、後段の前記シート処理部へ搬送されることを特徴とするシート処理装置。
  8. 請求項5から請求項7のいずれか1項に記載のシート処理装置であって、
    前記変形計測部を含む搬送過程の前後に張力遮断部を備え、更に上流側もしくは下流側の他の領域でのシートの張力の影響を排除することを特徴とするシート処理装置。
  9. 請求項1記載の変形計測装置であって、
    測定対象の面外方向の位置を計測可能な距離センサを有し、該距離センサは前記測定対象の表面に平行に移動可能な距離センサ移動手段を有することを特徴とする変形計測装置。
  10. 請求項9記載の変形計測装置であって、
    測定対象の表面に平行に移動可能な距離センサ移動手段と、前記カメラ保持筺体移動手段が同一体に組み込まれていることを特徴とする変形計測装置。
  11. 請求項1記載の変形計測装置であって、
    前記カメラ保持筺体移動手段が、移動可能に構成された範囲内において、前記測定対象を平面固定保持する測定対象平面保持手段を有することを特徴とする変形計測装置。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7039806B2 (ja) * 2018-01-17 2022-03-23 三菱重工業株式会社 伝熱パネルの歪み修正方法、伝熱パネルの歪み修正支援システム、及び伝熱パネルの歪み修正プログラム

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000258132A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Printing Bureau Ministry Of Finance Japan 用紙の伸縮挙動測定方法及びその測定装置
JP2002342745A (ja) * 2001-05-21 2002-11-29 Printing Bureau Ministry Of Finance 用紙品質管理装置
JP2012240786A (ja) * 2011-05-19 2012-12-10 Hitachi Ltd ウェブ搬送装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8399263B2 (en) * 2008-10-21 2013-03-19 Nikon Corporation Method for measuring expansion/contraction, method for processing substrate, method for producing device, apparatus for measuring expansion/contraction, and apparatus for processing substrate

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000258132A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Printing Bureau Ministry Of Finance Japan 用紙の伸縮挙動測定方法及びその測定装置
JP2002342745A (ja) * 2001-05-21 2002-11-29 Printing Bureau Ministry Of Finance 用紙品質管理装置
JP2012240786A (ja) * 2011-05-19 2012-12-10 Hitachi Ltd ウェブ搬送装置

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