JP5943799B2 - Glass substrate transfer apparatus and glass substrate manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、ガラス基板の搬送装置、および、ガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a glass substrate transfer apparatus and a glass substrate manufacturing method.

液晶表示装置等のフラットパネルディスプレイ(FPD)の製造工程では、ガラス基板の表面に、TFT(Thin Film Transistor)等の半導体素子、および、ブラックマトリックス樹脂等からなるパターンが形成される。パターンが形成されるガラス基板の表面に、傷、クラックおよび異物等の欠陥が存在すると、パターンが良好に形成されず、最終製品であるFPDの不良の原因となる。特に、ガラス基板の表面に形成される微小な傷およびクラックは、ガラス基板の機械的強度を低下させ、FPDの製造工程においてガラス基板が割れる原因となる。そのため、ガラス基板の表面に欠陥が存在しないことが求められている。   In a manufacturing process of a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display device, a pattern made of a semiconductor element such as a TFT (Thin Film Transistor) and a black matrix resin is formed on the surface of a glass substrate. If defects such as scratches, cracks, and foreign matters are present on the surface of the glass substrate on which the pattern is formed, the pattern is not formed well, which causes a failure of the final product FPD. In particular, minute scratches and cracks formed on the surface of the glass substrate lower the mechanical strength of the glass substrate and cause the glass substrate to break in the FPD manufacturing process. Therefore, it is demanded that no defects exist on the surface of the glass substrate.

ガラス基板の製造工程では、成形されたガラスシートが所定の大きさに切断されて、製品として出荷されるサイズのガラス基板が得られる。その後、ガラス基板は、研削および研磨による端面加工工程、洗浄工程および検査工程を経て、梱包されて出荷される。検査工程では、例えば、ガラス基板が搬送されながら、ガラス基板の表面に存在する傷、クラックおよび異物等の欠陥が光学的に検知される。   In the manufacturing process of the glass substrate, the molded glass sheet is cut into a predetermined size, and a glass substrate having a size shipped as a product is obtained. Thereafter, the glass substrate is packed and shipped through an end face processing step by grinding and polishing, a cleaning step, and an inspection step. In the inspection process, for example, defects such as scratches, cracks, and foreign matters existing on the surface of the glass substrate are optically detected while the glass substrate is being conveyed.

ガラス基板の検査工程では、従来、ガラス基板の搬送装置として、ローラコンベアが用いられている。しかし、ローラコンベアのローラにガラスの微小片等の異物が付着すると、回転するローラと接触することで搬送されるガラス基板の表面に、異物による傷が形成される。この問題を解決するために、近年、特許文献1(特開2006−188313号公報)に開示されるように、ガラス基板の表面に気体を吹き付けてガラス基板を浮上させ、ガラス基板の端部を吸着保持して搬送するガラス基板の搬送装置が用いられている。この搬送装置を用いる方法では、ガラス基板は、搬送装置と接触することなく、浮上した状態で搬送される。そのため、ガラス基板が搬送装置と接触することによりガラス基板の表面に欠陥が生じることが抑制される。   In the inspection process of a glass substrate, a roller conveyor is conventionally used as a glass substrate transfer device. However, when a foreign substance such as a small glass piece adheres to the rollers of the roller conveyor, a flaw due to the foreign substance is formed on the surface of the glass substrate conveyed by contacting with the rotating roller. In order to solve this problem, as disclosed in Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-188313) in recent years, gas is blown to the surface of the glass substrate to float the glass substrate, and the edge of the glass substrate is 2. Description of the Related Art A glass substrate transfer device that holds and conveys a glass substrate is used. In the method using this transport device, the glass substrate is transported in a floating state without contacting the transport device. Therefore, it is suppressed that a defect arises on the surface of a glass substrate when a glass substrate contacts a conveyance device.

しかし、ガラス基板を浮上させて搬送する場合、ガラス基板自体の反りに起因して、ガラス基板が搬送装置と接触してしまう場合がある。そして、ガラス基板の反りは、以下の3つの理由により完全に測定することが困難である。第1の理由として、大量生産されるガラス基板のそれぞれについて、その自由形状を測定することは現実的に困難である。第2の理由として、大量生産されるガラス基板から検査用のガラス基板を抜き取って反りを測定することで、特定の生産ロットにおける反りの傾向を予測しようとしても、ガラス基板の自由形状はある程度の範囲で変化する。第3の理由として、大型のマザーガラスから採取された複数の小型のガラス基板の自由形状の測定は、特に困難である。   However, when the glass substrate is lifted and transported, the glass substrate may come into contact with the transport device due to warpage of the glass substrate itself. And the curvature of a glass substrate is difficult to measure completely for the following three reasons. As a first reason, it is practically difficult to measure the free shape of each of the mass-produced glass substrates. As a second reason, even if an attempt is made to predict a warp tendency in a specific production lot by extracting a glass substrate for inspection from a glass substrate that is mass-produced and measuring the warp, the free shape of the glass substrate is somewhat Varies with range. As a third reason, it is particularly difficult to measure the free shape of a plurality of small glass substrates collected from a large mother glass.

この問題を解決するために、特許文献2(特開2012−96920号公報)には、ガラス基板の表面に気体を吹き付けてガラス基板を浮上させると同時に、気体を吸引してガラス基板に下向きの力を与えるガラス基板の搬送装置が開示されている。この搬送装置を用いる搬送方法では、浮上した状態で搬送されるガラス基板の形状がある程度強制されるので、ガラス基板の反りの影響が軽減される。   In order to solve this problem, Patent Document 2 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-96920) discloses that a gas is blown to the surface of the glass substrate to float the glass substrate, and at the same time, the gas is sucked to face the glass substrate downward A glass substrate transfer device that applies force is disclosed. In the transport method using this transport device, the shape of the glass substrate transported in the floated state is forced to some extent, so that the influence of the warp of the glass substrate is reduced.

しかし、特許文献2に開示されるように、ガラス基板の搬送装置が、ガラス基板の搬送方向に沿って所定の間隔を空けて配置される複数のフロートパネルから構成される場合、ガラス基板の反りに起因する別の問題が発生する。具体的には、ガラス基板の搬送方向に沿って隣り合うフロートパネル間の領域では、ガラス基板は下向きの力を受けないため、ガラス基板の形状が強制されない。そのため、この領域では、ガラス基板が自身の固有の形状に戻ろうとして、ガラス基板に反りが生じる可能性がある。従って、フロートパネル間の領域をガラス基板が通過する際に、反りによって垂れ下がっているガラス基板の端部が搬送装置に接触して、ガラス基板が割れるおそれがある。   However, as disclosed in Patent Document 2, when the glass substrate transport device is composed of a plurality of float panels arranged at predetermined intervals along the glass substrate transport direction, the glass substrate warps. Another problem arises due to. Specifically, the glass substrate does not receive a downward force in the region between the adjacent float panels along the conveyance direction of the glass substrate, so that the shape of the glass substrate is not forced. Therefore, in this region, the glass substrate may be warped as it tries to return to its own shape. Therefore, when the glass substrate passes through the region between the float panels, the end portion of the glass substrate that hangs down due to warpage may come into contact with the transfer device, and the glass substrate may break.

本発明の目的は、ガラス基板を安定的に浮上させて搬送することで、ガラス基板の欠陥の発生を抑制することができるガラス基板の搬送装置、および、ガラス基板の製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a glass substrate transport apparatus and a glass substrate manufacturing method capable of suppressing the occurrence of defects in the glass substrate by stably levitating and transporting the glass substrate. is there.

本発明に係るガラス基板の搬送装置は、基板浮上ユニットと、基板搬送ユニットとを備える。基板浮上ユニットは、ガラス基板の表面に気体を吹き付けてガラス基板を浮上させるユニットである。基板搬送ユニットは、基板浮上ユニットによって浮上させたガラス基板を搬送方向に沿って搬送するユニットである。基板検査ユニットは、基板搬送ユニットによって搬送されるガラス基板を検査するユニットである。基板浮上ユニットは、搬送方向に沿って間隔を空けて配置される複数のフロートパネルを有する。フロートパネルは、気体噴出機構と、基板対向面とを有する。気体噴出機構は、ガラス基板の表面に吹き付けられる気体を噴出する。基板対向面は、搬送されるガラス基板の、気体が吹き付けられる表面と対向する面である。フロートパネルは、搬送方向に向かうに従って基板対向面の高さ位置が徐々に下がるように配置される。   A glass substrate transfer apparatus according to the present invention includes a substrate floating unit and a substrate transfer unit. The substrate floating unit is a unit that floats a glass substrate by blowing a gas onto the surface of the glass substrate. The substrate transport unit is a unit that transports the glass substrate levitated by the substrate floating unit along the transport direction. The substrate inspection unit is a unit that inspects the glass substrate transported by the substrate transport unit. The substrate levitation unit has a plurality of float panels arranged at intervals along the transport direction. The float panel has a gas ejection mechanism and a substrate facing surface. The gas ejection mechanism ejects a gas that is blown onto the surface of the glass substrate. A board | substrate opposing surface is a surface which opposes the surface where the gas is sprayed of the glass substrate conveyed. The float panel is arranged so that the height position of the substrate facing surface gradually decreases as it goes in the transport direction.

本発明に係るガラス基板の搬送装置は、ガラス基板を所定の搬送方向に沿って搬送する装置である。ガラス基板を浮上させる基板浮上ユニットは、ガラス基板の搬送方向に沿って複数のフロートパネルが所定の間隔を空けて配置されている構成を有している。   The glass substrate transport device according to the present invention is a device for transporting a glass substrate along a predetermined transport direction. A substrate levitation unit that levitates a glass substrate has a configuration in which a plurality of float panels are arranged at predetermined intervals along the conveyance direction of the glass substrate.

このガラス基板の搬送装置では、浮上して搬送されるガラス基板は、基板浮上ユニットの上方では、その形状がある程度強制される。そのため、基板浮上ユニットの上方では、ガラス基板の反りが軽減される。一方、浮上して搬送されるガラス基板は、搬送方向に沿って隣り合うフロートパネル間の領域を通過する間、その形状が強制されないので、自身の固有の形状に戻ろうとする。そのため、フロートパネル間の領域では、ガラス基板の反りが生じる可能性がある。しかし、フロートパネルは、ガラス基板の搬送方向に沿って、搬送されるガラス基板の下面と対向する基板対向面の高さ位置が徐々に下がるように、階段状に配置されている。そのため、フロートパネル間の領域を通過しているガラス基板の端部が、反りによって垂れ下がっている場合においても、ガラス基板の端部がフロートパネルに接触することが抑制される。   In this glass substrate transport apparatus, the glass substrate that is lifted and transported is forced to a certain extent above the substrate floating unit. Therefore, the warp of the glass substrate is reduced above the substrate floating unit. On the other hand, the glass substrate that is lifted and transported tries to return to its own unique shape because its shape is not forced while passing through a region between adjacent float panels along the transport direction. Therefore, the glass substrate may be warped in the region between the float panels. However, the float panel is arranged stepwise so that the height position of the substrate facing surface facing the lower surface of the glass substrate to be transported gradually decreases along the transport direction of the glass substrate. Therefore, even when the edge part of the glass substrate which has passed through the area | region between float panels hangs down by curvature, it is suppressed that the edge part of a glass substrate contacts a float panel.

従って、このガラス基板の搬送装置は、ガラス基板を安定的に浮上させて搬送することで、ガラス基板の欠陥の発生を抑制することができる。   Therefore, this glass substrate transport apparatus can suppress the occurrence of defects in the glass substrate by stably floating and transporting the glass substrate.

また、搬送方向に沿って配置されているフロートパネルの基板対向面は、水平面に平行であることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the board | substrate opposing surface of the float panel arrange | positioned along a conveyance direction is parallel to a horizontal surface.

また、基板浮上ユニットは、搬送方向に向かうに従って、フロートパネルの気体噴出機構から噴出される気体の流量を徐々に増加させることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the substrate floating unit gradually increases the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism of the float panel as it goes in the transport direction.

フロートパネルの気体噴出機構から噴出される気体の流量が、ガラス基板の搬送方向に沿って一定である場合、搬送されるガラス基板の高さ位置は、フロートパネルの基板対向面の高さ位置に併せて徐々に低下する。しかし、ガラス基板の搬送方向に沿って、気体噴出機構から噴出される気体の流量を徐々に増加させることで、搬送されるガラス基板の高さ位置の低下を抑制することができる。これにより、基板搬送ユニットによって搬送されるガラス基板の変形を抑制することができる。   When the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism of the float panel is constant along the transport direction of the glass substrate, the height position of the transported glass substrate is the height position of the substrate facing surface of the float panel. At the same time, it gradually decreases. However, by gradually increasing the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism along the transport direction of the glass substrate, it is possible to suppress a decrease in the height position of the transported glass substrate. Thereby, a deformation | transformation of the glass substrate conveyed by the board | substrate conveyance unit can be suppressed.

また、本発明に係るガラス基板の搬送装置は、基板検査ユニットをさらに備えることが好ましい。基板検査ユニットは、基板搬送ユニットによって搬送されるガラス基板を検査する光学デバイスである。フロートパネルは、搬送方向に直交する方向であるガラス基板の幅方向に沿って延びる。基板検査ユニットは、隣り合うフロートパネルの間に配置される。   The glass substrate transport device according to the present invention preferably further includes a substrate inspection unit. The substrate inspection unit is an optical device that inspects the glass substrate transported by the substrate transport unit. A float panel is extended along the width direction of the glass substrate which is a direction orthogonal to a conveyance direction. The substrate inspection unit is disposed between adjacent float panels.

このガラス基板の搬送装置は、ガラス基板の表面に形成されている欠陥を検出することができる。この装置では、ガラス基板の搬送方向に沿って隣り合うフロートパネル間に、ガラス基板の幅方向に延びている基板検査ユニットを設置することができる。そのため、ガラス基板の搬送方向における、基板検査ユニットの設置空間を抑えることができる。   This glass substrate transfer device can detect defects formed on the surface of the glass substrate. In this apparatus, a substrate inspection unit extending in the width direction of the glass substrate can be installed between adjacent float panels along the conveyance direction of the glass substrate. Therefore, the installation space for the substrate inspection unit in the conveyance direction of the glass substrate can be suppressed.

本発明に係るガラス基板の製造方法は、基板浮上工程と、基板搬送工程と、基板処理工程とを備える。基板浮上工程は、ガラス基板の表面に気体を吹き付けてガラス基板を浮上させる工程である。基板搬送工程は、基板浮上工程によって浮上させたガラス基板を搬送方向に沿って搬送する工程である。基板処理工程は、基板搬送工程で搬送されるガラス基板を加工または検査する工程である。基板浮上工程において、搬送方向に沿って間隔を空けて配置される複数のフロートパネルによって、ガラス基板が浮上させられる。フロートパネルは、気体噴出機構と、基板対向面とを有する。気体噴出機構は、ガラス基板の表面に吹き付けられる気体を噴出する。基板対向面は、搬送されるガラス基板の、気体が吹き付けられる表面と対向する面である。フロートパネルは、搬送方向に向かうに従って基板対向面の高さ位置が徐々に下がるように配置される。   The manufacturing method of the glass substrate which concerns on this invention is equipped with a substrate floating process, a substrate conveyance process, and a substrate processing process. The substrate levitation step is a step in which a glass substrate is levitated by blowing gas onto the surface of the glass substrate. A board | substrate conveyance process is a process of conveying the glass substrate floated by the board | substrate floating process along a conveyance direction. A substrate processing process is a process of processing or inspecting the glass substrate conveyed by a substrate conveyance process. In the substrate floating step, the glass substrate is floated by a plurality of float panels arranged at intervals along the transport direction. The float panel has a gas ejection mechanism and a substrate facing surface. The gas ejection mechanism ejects a gas that is blown onto the surface of the glass substrate. A board | substrate opposing surface is a surface which opposes the surface where the gas is sprayed of the glass substrate conveyed. The float panel is arranged so that the height position of the substrate facing surface gradually decreases as it goes in the transport direction.

また、搬送方向に沿って配置されているフロートパネルの基板対向面は、水平面に平行であることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the board | substrate opposing surface of the float panel arrange | positioned along a conveyance direction is parallel to a horizontal surface.

また、本発明に係るガラス基板の製造方法では、基板処理工程は、基板搬送工程で搬送されるガラス基板を検査する基板検査工程であることが好ましい。基板検査工程では、隣り合うフロートパネルの間に配置される光学デバイスによって、ガラス基板が検査される。   Moreover, in the manufacturing method of the glass substrate which concerns on this invention, it is preferable that a substrate processing process is a board | substrate inspection process which test | inspects the glass substrate conveyed by a board | substrate conveyance process. In the substrate inspection process, the glass substrate is inspected by an optical device arranged between adjacent float panels.

本発明に係るガラス基板の搬送装置、および、ガラス基板の製造方法は、ガラス基板を安定的に浮上させて搬送することで、ガラス基板の欠陥の発生を抑制することができる。   The glass substrate transport device and the glass substrate manufacturing method according to the present invention can suppress the occurrence of defects in the glass substrate by stably floating and transporting the glass substrate.

実施形態に係るガラス基板の製造工程のフローチャートである。It is a flowchart of the manufacturing process of the glass substrate which concerns on embodiment. ガラス基板検査装置の外観図である。It is an external view of a glass substrate inspection apparatus. 基板浮上ユニットの上面図である。It is a top view of a substrate floating unit. 基板浮上ユニットの側面図である。It is a side view of a substrate floating unit. 図4の一部の拡大図である。FIG. 5 is a partially enlarged view of FIG. 4. 参考例としてのフロートパネルの配置を表す基板浮上ユニットの上面図である。It is a top view of the board | substrate floating unit showing arrangement | positioning of the float panel as a reference example.

(1)ガラス基板の製造工程の概略
本発明に係るガラス基板の搬送装置の実施形態について、図面を参照しながら説明する。最初に、本実施形態で用いられるガラス基板検査装置100によって検査されるガラス基板10の製造工程について説明する。ガラス基板10は、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイおよび有機ELディスプレイ等のフラットパネルディスプレイ(FPD)の製造に用いられる。ガラス基板10は、例えば、0.2mm〜0.8mmの厚みを有し、かつ、縦680mm〜2200mmおよび横880mm〜2500mmのサイズを有する。
(1) Outline of Manufacturing Process of Glass Substrate An embodiment of a glass substrate transfer apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. Initially, the manufacturing process of the glass substrate 10 test | inspected by the glass substrate test | inspection apparatus 100 used by this embodiment is demonstrated. The glass substrate 10 is used for manufacturing flat panel displays (FPD) such as liquid crystal displays, plasma displays, and organic EL displays. The glass substrate 10 has a thickness of 0.2 mm to 0.8 mm, for example, and has a size of 680 mm to 2200 mm in length and 880 mm to 2500 mm in width.

ガラス基板10の一例として、以下の組成を有するガラスが挙げられる。   An example of the glass substrate 10 is glass having the following composition.

(a)SiO2:50質量%〜70質量%、
(b)Al23:10質量%〜25質量%、
(c)B23:5質量%〜18質量%、
(d)MgO:0質量%〜10質量%、
(e)CaO:0質量%〜20質量%、
(f)SrO:0質量%〜20質量%、
(g)BaO:0質量%〜10質量%、
(h)RO:5質量%〜20質量%(Rは、Mg、Ca、SrおよびBaから選択される少なくとも1種である。)、
(i)R’ 2O:0質量%〜2.0質量%(R’は、Li、NaおよびKから選択される少なくとも1種である。)、
(j)SnO2、Fe23およびCeO2から選ばれる少なくとも1種の金属酸化物。
(A) SiO 2 : 50% by mass to 70% by mass,
(B) Al 2 O 3 : 10% by mass to 25% by mass,
(C) B 2 O 3 : 5% by mass to 18% by mass,
(D) MgO: 0% by mass to 10% by mass,
(E) CaO: 0% by mass to 20% by mass,
(F) SrO: 0% by mass to 20% by mass,
(G) BaO: 0% by mass to 10% by mass,
(H) RO: 5% by mass to 20% by mass (R is at least one selected from Mg, Ca, Sr and Ba),
(I) R ′ 2 O: 0% by mass to 2.0% by mass (R ′ is at least one selected from Li, Na and K),
(J) At least one metal oxide selected from SnO 2 , Fe 2 O 3 and CeO 2 .

なお、上記の組成を有するガラスは、0.1質量%未満の範囲で、その他の微量成分の存在が許容される。   The glass having the above composition is allowed to contain other trace components in the range of less than 0.1% by mass.

図1は、ガラス基板10の製造工程を表すフローチャートの一例である。ガラス基板10の製造工程は、主として、成形工程(ステップS1)と、採板工程(ステップS2)と、切断工程(ステップS3)と、粗面化工程(ステップS4)と、端面加工工程(ステップS5)と、洗浄工程(ステップS6)と、検査工程(ステップS7)と、梱包工程(ステップS8)とからなる。   FIG. 1 is an example of a flowchart showing a manufacturing process of the glass substrate 10. The manufacturing process of the glass substrate 10 mainly includes a forming process (step S1), a plate-making process (step S2), a cutting process (step S3), a roughening process (step S4), and an end face processing process (step). S5), a cleaning process (step S6), an inspection process (step S7), and a packing process (step S8).

成形工程S1では、ガラス原料を加熱して得られた熔融ガラスから、ダウンドロー法またはフロート法によって、ガラスシートが連続的に成形される。成形されたガラスシートは、歪みおよび反りが発生しないように温度制御されながら、ガラス徐冷点以下まで冷却される。   In the forming step S1, a glass sheet is continuously formed from a molten glass obtained by heating a glass raw material by a downdraw method or a float method. The molded glass sheet is cooled to a glass annealing point or lower while the temperature is controlled so that distortion and warpage do not occur.

採板工程S2では、成形工程S1で成形されたガラスシートが切断されて、所定の寸法を有する素板ガラスが得られる。   In the plate-drawing step S2, the glass sheet formed in the forming step S1 is cut to obtain a base plate glass having a predetermined dimension.

切断工程S3では、採板工程S2で得られた素板ガラスが切断されて、製品サイズのガラス基板10が得られる。一般的に、素板ガラスは、カッターまたはレーザを用いて切断される。   In the cutting step S3, the raw glass obtained in the plate-drawing step S2 is cut to obtain a glass substrate 10 having a product size. Generally, a base glass is cut | disconnected using a cutter or a laser.

粗面化工程S4では、切断工程S3で得られたガラス基板10の表面粗さを増加させる粗面化処理が行われる。ガラス基板10の粗面化処理は、例えば、フッ化水素を含むエッチャントを用いるウエットエッチングである。   In the roughening step S4, a roughening treatment is performed to increase the surface roughness of the glass substrate 10 obtained in the cutting step S3. The roughening treatment of the glass substrate 10 is, for example, wet etching using an etchant containing hydrogen fluoride.

端面加工工程S5では、粗面化工程S4で粗面化処理が行われたガラス基板10の端面加工が行われる。端面加工は、例えば、ガラス基板10の端面の研磨および研削、ガラス基板10のコーナーカットである。   In the end face processing step S5, end face processing of the glass substrate 10 that has been subjected to the roughening process in the roughening step S4 is performed. The end face processing is, for example, polishing and grinding of the end face of the glass substrate 10 and corner cutting of the glass substrate 10.

洗浄工程S6では、端面加工工程S5で端面加工処理が行われたガラス基板10が洗浄される。ガラス基板10には、素板ガラスの切断、および、ガラス基板10の端面加工によって生じた微小なガラス片や、雰囲気中に存在する有機物等の異物が付着している。ガラス基板10の洗浄によって、これらの異物が除去される。   In the cleaning step S6, the glass substrate 10 that has been subjected to the end surface processing in the end surface processing step S5 is cleaned. On the glass substrate 10, foreign substances such as fine glass pieces generated by cutting the base glass and end face processing of the glass substrate 10, and organic substances existing in the atmosphere are attached. These foreign matters are removed by cleaning the glass substrate 10.

検査工程S7では、洗浄工程S6で洗浄されたガラス基板10が検査される。具体的には、ガラス基板10が搬送されながら、ガラス基板10の表面に存在する傷およびクラック、ガラス基板10の表面に付着している異物、および、ガラス基板10の内部に存在している微小な泡等の欠陥が、光学的に検知される。   In the inspection step S7, the glass substrate 10 cleaned in the cleaning step S6 is inspected. Specifically, while the glass substrate 10 is being transported, scratches and cracks existing on the surface of the glass substrate 10, foreign matter adhering to the surface of the glass substrate 10, and minute particles existing inside the glass substrate 10. A defect such as a bubble is detected optically.

梱包工程S8では、検査工程S7における検査に合格したガラス基板10が、ガラス基板10を保護するための合紙と交互にパレット上に積層されて、梱包される。梱包されたガラス基板10は、FPDの製造業者等に出荷される。   In the packing step S8, the glass substrate 10 that has passed the inspection in the inspection step S7 is laminated and packed on a pallet alternately with a slip sheet for protecting the glass substrate 10. The packed glass substrate 10 is shipped to an FPD manufacturer or the like.

(2)ガラス基板検査装置の詳細
次に、本実施形態に係るガラス基板検査装置100について説明する。図2は、ガラス基板検査装置100の外観図である。ガラス基板検査装置100は、検査工程S7においてガラス基板10を検査するために用いられる。ガラス基板検査装置100は、水平状態に支持されたガラス基板10を所定の方向に搬送しながら、ガラス基板10の表面に存在する欠陥を光学的に検査する。ガラス基板検査装置100は、主として、基板浮上ユニット20と、基板搬送ユニット30と、基板検査ユニット40とからなる。ガラス基板検査装置100は、基板浮上ユニット20および基板搬送ユニット30からなるガラス基板の搬送装置を備えている。以下、図2に示されるように、水平状態のガラス基板10が搬送される方向を「搬送方向D1」と呼び、ガラス基板10の搬送方向に直交する水平面内の方向を「幅方向D2」と呼ぶ。また、ガラス基板10の端部であって、搬送方向D1に平行な端部を、「側端部」と呼び、ガラス基板10の端部であって、幅方向D2に平行な端部を、「前後端部」と呼ぶ。ガラス基板10は、図2において、符号D1で示される矢印の方向に搬送される。
(2) Details of Glass Substrate Inspection Device Next, the glass substrate inspection device 100 according to the present embodiment will be described. FIG. 2 is an external view of the glass substrate inspection apparatus 100. The glass substrate inspection apparatus 100 is used for inspecting the glass substrate 10 in the inspection step S7. The glass substrate inspection apparatus 100 optically inspects defects present on the surface of the glass substrate 10 while conveying the glass substrate 10 supported in a horizontal state in a predetermined direction. The glass substrate inspection apparatus 100 mainly includes a substrate floating unit 20, a substrate transport unit 30, and a substrate inspection unit 40. The glass substrate inspection apparatus 100 includes a glass substrate transfer device including a substrate floating unit 20 and a substrate transfer unit 30. Hereinafter, as shown in FIG. 2, the direction in which the glass substrate 10 in the horizontal state is transported is referred to as “transport direction D1”, and the direction in the horizontal plane perpendicular to the transport direction of the glass substrate 10 is referred to as “width direction D2”. Call. Further, an end portion of the glass substrate 10 that is parallel to the transport direction D1 is referred to as a “side end portion”, and an end portion of the glass substrate 10 that is parallel to the width direction D2 is Called “front and rear ends”. The glass substrate 10 is conveyed in the direction of the arrow shown by the code | symbol D1 in FIG.

(2−1)基板浮上ユニット
基板浮上ユニット20は、水平状態のガラス基板10の下面10aに気体を吹き付けてガラス基板10を浮上させるユニットである。基板浮上ユニット20は、主として、複数のフロートパネル22から構成される。図3は、基板浮上ユニット20の上面図である。図3において、フロートパネル22は、ハッチングされた領域で示されている。図4は、基板浮上ユニット20の側面図である。図5は、図4の一部の拡大図である。図4および図5では、鉛直方向の寸法が誇張されている。複数のフロートパネル22は、幅方向D2に沿って間隔を空けずに配置されることで、フロートパネルアレイ24を形成する。複数のフロートパネルアレイ24は、搬送方向D1に沿って所定の間隔を空けて配置される。以下、搬送方向D1に沿って隣り合う2つのフロートパネルアレイ24間の空間を「スリット26」と呼ぶ。スリット26は、図3に示されるように、幅方向D2に延びる空間である。
(2-1) Substrate Levitation Unit The substrate levitation unit 20 is a unit that floats the glass substrate 10 by blowing gas onto the lower surface 10a of the glass substrate 10 in a horizontal state. The substrate floating unit 20 is mainly composed of a plurality of float panels 22. FIG. 3 is a top view of the substrate floating unit 20. In FIG. 3, the float panel 22 is shown in a hatched area. FIG. 4 is a side view of the substrate floating unit 20. FIG. 5 is an enlarged view of a part of FIG. 4 and 5, the vertical dimension is exaggerated. The plurality of float panels 22 are arranged without a gap along the width direction D2, thereby forming the float panel array 24. The plurality of float panel arrays 24 are arranged at predetermined intervals along the transport direction D1. Hereinafter, the space between two float panel arrays 24 adjacent along the transport direction D1 is referred to as a “slit 26”. As shown in FIG. 3, the slit 26 is a space extending in the width direction D2.

フロートパネル22は、図5に示されるように、気体噴出機構22aと、基板対向面22bと、気体吸引機構22cとを有する。基板対向面22bは、フロートパネル22の上端面であって、図4に示されるように、搬送されるガラス基板10の下面10aと対向する面である。搬送方向D1に沿って配置されているフロートパネル22の基板対向面22bは、互いに平行である。本実施形態において、基板対向面22bは、水平面に平行であるが、基板対向面22bは、搬送方向D1に沿って僅かに傾斜していてもよい。フロートパネル22は、その基板対向面22bが水平面と平行になるように、設置される。各フロートパネルアレイ24を構成する全てのフロートパネル22の基板対向面22bは、同じ高さ位置を有している。すなわち、図3において、幅方向D2に隣り合って設置されている複数のフロートパネル22の基板対向面22bは、同じ高さ位置を有している。   As shown in FIG. 5, the float panel 22 includes a gas ejection mechanism 22a, a substrate facing surface 22b, and a gas suction mechanism 22c. The substrate facing surface 22b is an upper end surface of the float panel 22 and is a surface facing the lower surface 10a of the glass substrate 10 to be conveyed as shown in FIG. The board | substrate opposing surfaces 22b of the float panel 22 arrange | positioned along the conveyance direction D1 are mutually parallel. In the present embodiment, the substrate facing surface 22b is parallel to the horizontal plane, but the substrate facing surface 22b may be slightly inclined along the transport direction D1. The float panel 22 is installed such that the substrate facing surface 22b is parallel to the horizontal plane. The substrate facing surfaces 22b of all the float panels 22 constituting each float panel array 24 have the same height position. That is, in FIG. 3, the board | substrate opposing surface 22b of the several float panel 22 installed adjacent to the width direction D2 has the same height position.

気体噴出機構22aは、基板対向面22bから上方に向かって、空気等の気体を噴出するための機構である。気体噴出機構22aは、例えば、基板対向面22bに形成される多数の微小孔である。気体噴出機構22aから上方に向かって噴出される気体は、搬送されるガラス基板10の下面10aに衝突する。これにより、搬送されるガラス基板10は、上向きの力を受ける。この上向きの力は、フロートパネル22の基板対向面22bからガラス基板10を浮上させる。   The gas ejection mechanism 22a is a mechanism for ejecting a gas such as air upward from the substrate facing surface 22b. The gas ejection mechanism 22a is, for example, a large number of minute holes formed in the substrate facing surface 22b. The gas ejected upward from the gas ejection mechanism 22a collides with the lower surface 10a of the glass substrate 10 being conveyed. Thereby, the glass substrate 10 conveyed receives an upward force. This upward force causes the glass substrate 10 to float from the substrate facing surface 22 b of the float panel 22.

気体吸引機構22cは、基板対向面22bの上方の空間から基板対向面22bに向かって、気体を吸引するための機構である。気体吸引機構22cは、例えば、基板対向面22bに形成される孔である。気体吸引機構22cによって気体が吸引されることで、搬送されるガラス基板10の下面10aと、基板対向面22bとの間において、気体吸引機構22cの近傍の空間は、負圧の状態になる。これにより、搬送されるガラス基板10は、下向きの力を受ける。この下向きの力は、搬送されるガラス基板10の形状をある程度強制する。   The gas suction mechanism 22c is a mechanism for sucking gas from the space above the substrate facing surface 22b toward the substrate facing surface 22b. The gas suction mechanism 22c is, for example, a hole formed in the substrate facing surface 22b. When the gas is sucked by the gas suction mechanism 22c, the space near the gas suction mechanism 22c is in a negative pressure state between the lower surface 10a of the glass substrate 10 to be transported and the substrate facing surface 22b. Thereby, the glass substrate 10 conveyed receives the downward force. This downward force forces the shape of the glass substrate 10 to be conveyed to some extent.

フロートパネルアレイ24の幅方向D2の寸法は、ガラス基板10の幅方向D2の寸法より長い。フロートパネル22の搬送方向D1の寸法L1は、例えば、100mm〜150mmである。スリット26の搬送方向D1の寸法L2は、例えば、25mm〜30mmである。浮上しているガラス基板10の下面10aと、フロートパネル22の基板対向面22bとの間の距離L3は、例えば、25μm〜35μmである。   The dimension of the float panel array 24 in the width direction D2 is longer than the dimension of the glass substrate 10 in the width direction D2. A dimension L1 of the float panel 22 in the transport direction D1 is, for example, 100 mm to 150 mm. A dimension L2 of the slit 26 in the transport direction D1 is, for example, 25 mm to 30 mm. A distance L3 between the lower surface 10a of the floating glass substrate 10 and the substrate facing surface 22b of the float panel 22 is, for example, 25 μm to 35 μm.

フロートパネルアレイ24は、図4に示されるように、搬送方向D1に向かうに従って、フロートパネル22の基板対向面22bの高さ位置が徐々に下がるように配置される。具体的には、ガラス基板10が搬送される方向に進むに従って、基板対向面22bの高さ位置は、10μm〜20μmずつ下がる。すなわち、図5に示されるように、搬送方向D1に隣り合う2つのフロートパネルアレイ24に関して、フロートパネル22の基板対向面22bの高さ位置の差L4は、10μm〜20μmである。   As shown in FIG. 4, the float panel array 24 is arranged so that the height position of the substrate facing surface 22 b of the float panel 22 gradually decreases in the transport direction D <b> 1. Specifically, as the glass substrate 10 is conveyed, the height position of the substrate facing surface 22b is lowered by 10 μm to 20 μm. That is, as shown in FIG. 5, regarding the two float panel arrays 24 adjacent in the transport direction D1, the height position difference L4 of the substrate facing surface 22b of the float panel 22 is 10 μm to 20 μm.

また、基板浮上ユニット20では、搬送方向D1に向かうに従って、フロートパネル22の気体噴出機構22aから噴出される気体の流量が、徐々に増加する。すなわち、フロートパネル22の基板対向面22bの高さ位置が低いほど、フロートパネル22の気体噴出機構22aから噴出される気体の流量が大きい。   Further, in the substrate floating unit 20, the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism 22a of the float panel 22 gradually increases in the transport direction D1. That is, the lower the height position of the substrate facing surface 22b of the float panel 22, the greater the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism 22a of the float panel 22.

(2−2)基板搬送ユニット
基板搬送ユニット30は、基板浮上ユニット20によって浮上させたガラス基板10を、搬送方向D1に沿って搬送するユニットである。基板搬送ユニット30は、主として、基板保持部32と、基板搬送部34とを備える。
(2-2) Substrate Transport Unit The substrate transport unit 30 is a unit that transports the glass substrate 10 levitated by the substrate levitation unit 20 along the transport direction D1. The substrate transport unit 30 mainly includes a substrate holding unit 32 and a substrate transport unit 34.

基板保持部32は、ガラス基板10の側端部の一方を保持する。基板保持部32は、例えば、ガラス基板10を保持するための吸着機構を備えている。基板搬送部34は、基板保持部32を搬送方向D1に沿って移動させるリニア駆動機構を備えている。   The substrate holding unit 32 holds one of the side end portions of the glass substrate 10. The substrate holding unit 32 includes, for example, a suction mechanism for holding the glass substrate 10. The substrate transport unit 34 includes a linear drive mechanism that moves the substrate holding unit 32 along the transport direction D1.

ガラス基板10は、基板搬送ユニット30によって搬送方向D1に沿って搬送される際に、フロートパネルアレイ24の上方の空間、および、スリット26の上方の空間を交互に通過する。   When the glass substrate 10 is transported along the transport direction D <b> 1 by the substrate transport unit 30, the glass substrate 10 alternately passes through the space above the float panel array 24 and the space above the slit 26.

(2−3)基板検査ユニット
基板検査ユニット40は、基板搬送ユニット30によって搬送されるガラス基板10を検査するユニットである。基板検査ユニット40は、ガラス基板10の表面に存在する傷およびクラック、ガラス基板10の表面に付着している異物、および、ガラス基板10の内部に存在している微小な泡等の欠陥を光学的に検知する機能を有する光学デバイスである。
(2-3) Substrate Inspection Unit The substrate inspection unit 40 is a unit that inspects the glass substrate 10 conveyed by the substrate conveyance unit 30. The substrate inspection unit 40 optically treats defects such as scratches and cracks present on the surface of the glass substrate 10, foreign matter adhering to the surface of the glass substrate 10, and minute bubbles existing inside the glass substrate 10. It is an optical device having a function to detect automatically.

本実施形態において、基板検査ユニット40は、図4に示されるように、一のスリット26に設置される複数のカメラ40aを有している。カメラ40aは、上方を通過するガラス基板10の表面を撮影する。基板検査ユニット40は、さらに、カメラ40aが設置されるスリット26の上方の空間に設置される光源40bを有している。光源40bは、下方を通過するガラス基板10の表面に向かって、高輝度の光を照射する。基板検査ユニット40は、光源40bがスリット26に設置され、かつ、カメラ40aがスリット26の上方の空間に設置されている構成を有してもよい。なお、搬送方向D1における、フロートパネル22の基板対向面22bの高さ位置の変化量は、カメラ40aの被写界深度を逸脱しない範囲内に設定される。   In this embodiment, the board | substrate inspection unit 40 has the some camera 40a installed in the one slit 26, as FIG. 4 shows. The camera 40a images the surface of the glass substrate 10 passing above. The board inspection unit 40 further includes a light source 40b installed in a space above the slit 26 in which the camera 40a is installed. The light source 40b irradiates light with high brightness toward the surface of the glass substrate 10 passing below. The substrate inspection unit 40 may have a configuration in which the light source 40 b is installed in the slit 26 and the camera 40 a is installed in a space above the slit 26. The amount of change in the height position of the substrate facing surface 22b of the float panel 22 in the transport direction D1 is set within a range that does not deviate from the depth of field of the camera 40a.

基板検査ユニット40の複数のカメラ40aは、ガラス基板10の幅方向D2の全領域を検査することができるように、一のスリット26において、幅方向D2に沿って設置されている。すなわち、一のスリット26に設置されたカメラ40aは、上方を通過するガラス基板10の幅方向D2の全領域を撮影することができる。   The plurality of cameras 40a of the substrate inspection unit 40 are installed along the width direction D2 in one slit 26 so that the entire region of the glass substrate 10 in the width direction D2 can be inspected. That is, the camera 40a installed in one slit 26 can photograph the entire region in the width direction D2 of the glass substrate 10 passing above.

基板検査ユニット40は、制御部(図示せず)をさらに有している。制御部は、搬送されるガラス基板10の表面に存在する欠陥を検出する機能を有するコンピュータである。例えば、制御部は、カメラ40aによって撮影されたガラス基板10の表面の画像を解析して、ガラス基板10の表面に存在する傷およびクラックや、ガラス基板10の表面に付着している異物等を検出する。   The board inspection unit 40 further includes a control unit (not shown). The control unit is a computer having a function of detecting defects present on the surface of the glass substrate 10 being conveyed. For example, the control unit analyzes an image of the surface of the glass substrate 10 photographed by the camera 40a to detect scratches and cracks existing on the surface of the glass substrate 10, foreign matters attached to the surface of the glass substrate 10, and the like. To detect.

基板検査ユニット40の制御部は、梱包工程S8においてガラス基板10を梱包するガラス基板梱包装置(図示せず)に接続されている。制御部は、表面の欠陥を有するガラス基板10を検出したことを基板梱包装置に通知する機能を有する。これにより、梱包工程S8において、ガラス基板梱包装置は、表面の欠陥を有するガラス基板10の梱包を防止することができる。   The control part of the board | substrate inspection unit 40 is connected to the glass substrate packing apparatus (not shown) which packs the glass substrate 10 in packing process S8. The control unit has a function of notifying the substrate packing device that the glass substrate 10 having a surface defect has been detected. Thereby, in packing process S8, the glass substrate packing apparatus can prevent packing of the glass substrate 10 which has a surface defect.

(3)特徴
(3−1)
本実施形態に係るガラス基板検査装置100は、ガラス基板10を搬送方向D1に沿って搬送しながら、ガラス基板10の表面に形成されている欠陥を検出する。ガラス基板10を浮上させる基板浮上ユニット20は、搬送方向D1に沿って複数のフロートパネル22が所定の間隔L2を空けて設置されている構成を有している。
(3) Features (3-1)
The glass substrate inspection apparatus 100 according to the present embodiment detects defects formed on the surface of the glass substrate 10 while conveying the glass substrate 10 along the conveyance direction D1. The substrate floating unit 20 that floats the glass substrate 10 has a configuration in which a plurality of float panels 22 are installed with a predetermined interval L2 along the transport direction D1.

フロートパネル22の上方を通過するガラス基板10には、気体噴出機構22aから噴出される気体により、上向きの力が作用する。また、フロートパネル22の上方を通過するガラス基板10には、気体吸引機構22cに吸引される気体により、下向きの力が作用する。上向きの力は、ガラス基板10を浮上させる力であり、下向きの力は、ガラス基板10の形状をある程度強制する力である。ガラス基板10は、固有の形状を有し、例えば、ガラス基板10の表面には、凹部および凸部が形成されている。上述のガラス基板10の形状を強制する力によって、ガラス基板10の表面は、凹部および凸部が形成されていない状態になる。   An upward force acts on the glass substrate 10 passing above the float panel 22 by the gas ejected from the gas ejection mechanism 22a. Further, a downward force acts on the glass substrate 10 passing above the float panel 22 by the gas sucked by the gas suction mechanism 22c. The upward force is a force that causes the glass substrate 10 to float, and the downward force is a force that forces the shape of the glass substrate 10 to some extent. The glass substrate 10 has a unique shape. For example, a concave portion and a convex portion are formed on the surface of the glass substrate 10. Due to the force forcing the shape of the glass substrate 10 described above, the surface of the glass substrate 10 is in a state in which no concave portion or convex portion is formed.

しかし、搬送方向D1に隣り合うフロートパネルアレイ24の間には、基板検査ユニット40のカメラ40aが設置されているスリット26が存在する。そのため、基板搬送ユニット30によって搬送方向D1に沿って搬送されるガラス基板10は、スリット26の上方を通過する領域を有する。この領域には、気体噴出機構22aによる上向きの力、および、気体吸引機構22cによる下向きの力が作用しない。そのため、スリット26の上方を通過するガラス基板10の領域は、固有の形状に戻ろうとする。   However, there is a slit 26 in which the camera 40a of the substrate inspection unit 40 is installed between the float panel arrays 24 adjacent in the transport direction D1. Therefore, the glass substrate 10 transported along the transport direction D <b> 1 by the substrate transport unit 30 has a region that passes above the slit 26. The upward force by the gas ejection mechanism 22a and the downward force by the gas suction mechanism 22c do not act on this region. Therefore, the region of the glass substrate 10 that passes above the slit 26 tries to return to a unique shape.

特に、ガラス基板10の前後端部がスリット26の上方を通過している間において、ガラス基板10の固有の反りによって、ガラス基板10の前後端部が垂れ下がっている場合がある。しかし、本実施形態では、フロートパネルアレイ24を構成するフロートパネル22は、搬送方向D1に沿って、基板対向面22bの高さ位置が徐々に下がるように、階段状に配置されている。そのため、スリット26の上方を通過するガラス基板10の前後端部が、反りによって垂れ下がっている場合においても、ガラス基板10の前後端部とフロートパネル22の基板対向面22bとの間隔を十分に確保することができる。   In particular, while the front and rear end portions of the glass substrate 10 pass above the slit 26, the front and rear end portions of the glass substrate 10 may hang down due to the inherent warpage of the glass substrate 10. However, in the present embodiment, the float panels 22 constituting the float panel array 24 are arranged in a stepped manner so that the height position of the substrate facing surface 22b gradually decreases along the transport direction D1. Therefore, even when the front and rear end portions of the glass substrate 10 that pass above the slit 26 hang down due to warping, a sufficient distance is ensured between the front and rear end portions of the glass substrate 10 and the substrate facing surface 22b of the float panel 22. can do.

なお、ガラス基板10の厚みが0.5mm、ガラス基板10の比重が2.19g/cm3、ガラス基板10のヤング率が70000N/mm2である場合、ガラス基板10の前後端部の搬送方向D1の寸法を30mmとした場合、ガラス基板10の前後端部の下方へのたわみ量の理論値は、1.49μmである。本実施形態では、スリット26の搬送方向D1の寸法L2が30mmであるので、ガラス基板10の自重によるたわみ量は、2μm未満であると予測される。また、搬送方向D1に隣り合うフロートパネル22の基板対向面22bの高さ位置の差L4は、10μm〜20μmである。従って、スリット26の上方を通過するガラス基板10の前後端部が、自重によって下方に向かって反っている場合においても、ガラス基板10の前後端部が、搬送方向D1の前方にあるフロートパネル22の基板対向面22bに接触することが抑制される。 When the thickness of the glass substrate 10 is 0.5 mm, the specific gravity of the glass substrate 10 is 2.19 g / cm 3 , and the Young's modulus of the glass substrate 10 is 70000 N / mm 2 , the conveyance direction of the front and rear end portions of the glass substrate 10 When the dimension of D1 is 30 mm, the theoretical value of the downward deflection of the front and rear end portions of the glass substrate 10 is 1.49 μm. In this embodiment, since the dimension L2 of the slit 26 in the conveyance direction D1 is 30 mm, the amount of deflection due to the weight of the glass substrate 10 is predicted to be less than 2 μm. Further, the difference L4 in the height position of the substrate facing surface 22b of the float panel 22 adjacent in the transport direction D1 is 10 μm to 20 μm. Therefore, even when the front and rear end portions of the glass substrate 10 passing above the slit 26 are warped downward due to their own weight, the front and rear end portions of the glass substrate 10 are in front of the transport direction D1. The contact with the substrate facing surface 22b is suppressed.

以上より、本実施形態に係る基板浮上ユニット20は、スリット26の上方を通過するガラス基板10の前後端部が、フロートパネル22に接触することを抑制することができる。ガラス基板10の前後端部がフロートパネル22に接触すると、ガラス基板10が破損してしまう可能性がある。従って、ガラス基板検査装置100は、ガラス基板10の欠陥の発生を抑制することができる。   As described above, the substrate floating unit 20 according to this embodiment can suppress the front and rear end portions of the glass substrate 10 passing above the slit 26 from coming into contact with the float panel 22. If the front and rear ends of the glass substrate 10 are in contact with the float panel 22, the glass substrate 10 may be damaged. Therefore, the glass substrate inspection apparatus 100 can suppress the occurrence of defects in the glass substrate 10.

(3−2)
近年、市販されているフロートパネル22は、高い平面度を有する基板対向面22bを備えている。また、フロートパネル22および基板浮上ユニット20全体の水平レベルに関する不確定要素は、基板浮上ユニット20を構成する各部品の加工精度管理、および、基板浮上ユニット20の位置の精密な計測および調整によって、ほぼ取り除くことができる。しかし、ガラス基板10の固有の形状に関する不確定要素は、完全に取り除くことが困難である。特に、連続して搬送されるガラス基板10の反りを完全に測定することは困難である。
(3-2)
In recent years, the commercially available float panel 22 includes a substrate facing surface 22b having high flatness. In addition, the uncertain factor regarding the horizontal level of the entire float panel 22 and the substrate floating unit 20 is obtained by managing the processing accuracy of each component constituting the substrate floating unit 20 and by accurately measuring and adjusting the position of the substrate floating unit 20. Can be almost removed. However, it is difficult to completely remove uncertainties regarding the inherent shape of the glass substrate 10. In particular, it is difficult to completely measure the warp of the glass substrate 10 that is continuously conveyed.

本実施形態に係る基板浮上ユニット20は、ガラス基板10の反りを完全に測定することができない場合においても、ガラス基板10の前後端部がフロートパネル22に接触することを抑制することができる。従って、ガラス基板検査装置100は、ガラス基板10の欠陥の発生を抑制することができる。   The substrate floating unit 20 according to the present embodiment can prevent the front and rear end portions of the glass substrate 10 from contacting the float panel 22 even when the warpage of the glass substrate 10 cannot be measured completely. Therefore, the glass substrate inspection apparatus 100 can suppress the occurrence of defects in the glass substrate 10.

(3−3)
本実施形態に係るガラス基板検査装置100では、搬送方向D1に向かうに従って、フロートパネル22の気体噴出機構22aから噴出される気体の流量が徐々に増加する。
(3-3)
In the glass substrate inspection apparatus 100 according to the present embodiment, the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism 22a of the float panel 22 gradually increases in the transport direction D1.

フロートパネル22の気体噴出機構22aから噴出される気体の流量が、ガラス基板10の搬送方向D1に沿って一定である場合、搬送されるガラス基板10の高さ位置は、フロートパネル22の基板対向面22bの高さ位置に併せて徐々に低下する。しかし、ガラス基板10の搬送方向D1に沿って、気体噴出機構22bから噴出される気体の流量を徐々に増加させることで、搬送されるガラス基板10の高さ位置の低下が抑制される。すなわち、搬送方向D1における基板対向面22bの高さ位置の変化量より、搬送されるガラス基板10の高さ位置の変化量が小さくなる。これにより、基板対向面22bの高さ位置の変化に起因する、搬送されるガラス基板10の変形が抑制される。   When the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism 22 a of the float panel 22 is constant along the transport direction D <b> 1 of the glass substrate 10, the height position of the transported glass substrate 10 is opposite to the substrate of the float panel 22. It gradually decreases in accordance with the height position of the surface 22b. However, by gradually increasing the flow rate of the gas ejected from the gas ejection mechanism 22b along the transport direction D1 of the glass substrate 10, a decrease in the height position of the transported glass substrate 10 is suppressed. That is, the amount of change in the height position of the glass substrate 10 to be transported is smaller than the amount of change in the height position of the substrate facing surface 22b in the transport direction D1. Thereby, the deformation | transformation of the glass substrate 10 conveyed by the change of the height position of the board | substrate opposing surface 22b is suppressed.

従って、本実施形態に係るガラス基板検査装置100は、基板搬送ユニット30によって搬送されるガラス基板10の変形を抑制することができる。   Therefore, the glass substrate inspection apparatus 100 according to the present embodiment can suppress deformation of the glass substrate 10 conveyed by the substrate conveyance unit 30.

(3−4)
本実施形態に係るガラス基板検査装置100では、複数のフロートパネル22から構成されるフロートパネルアレイ24は、幅方向D2に沿って延びている。また、基板検査ユニット40のカメラ40aは、搬送方向D1に隣り合うフロートパネルアレイ24間のスリット26に設置されている。
(3-4)
In the glass substrate inspection apparatus 100 according to the present embodiment, the float panel array 24 including a plurality of float panels 22 extends along the width direction D2. The camera 40a of the substrate inspection unit 40 is installed in the slit 26 between the float panel arrays 24 adjacent in the transport direction D1.

参考例として、図6に示されるように、ガラス基板10の反りに起因する、ガラス基板10とフロートパネル22との接触を抑制するために、フロートパネル22がチェック柄状に配置された基板浮上ユニット120を考える。図6は、基板浮上ユニットの上面図である。図6において、フロートパネル22は、ハッチングされた領域で示されている。この基板浮上ユニット120では、ガラス基板10の幅方向D2の全領域を検査するために、基板検査ユニット40のカメラ40aを、搬送方向D1に沿って複数列に配置する必要がある。そのため、基板検査ユニット40の構成が複雑になり、かつ、ガラス基板検査装置200全体が大型化する問題点がある。   As a reference example, as shown in FIG. 6, in order to suppress the contact between the glass substrate 10 and the float panel 22 due to the warp of the glass substrate 10, the substrate floating in which the float panel 22 is arranged in a check pattern. Consider unit 120. FIG. 6 is a top view of the substrate floating unit. In FIG. 6, the float panel 22 is shown in a hatched area. In the substrate floating unit 120, in order to inspect the entire region of the glass substrate 10 in the width direction D2, it is necessary to arrange the cameras 40a of the substrate inspection unit 40 in a plurality of rows along the transport direction D1. Therefore, there is a problem that the configuration of the substrate inspection unit 40 becomes complicated and the entire glass substrate inspection apparatus 200 is enlarged.

本実施形態のガラス基板検査装置100では、図3に示されるように、基板検査ユニット40のカメラ40aを一のスリット26に幅方向D2に沿って設置することで、ガラス基板10の幅方向D2の全領域を検査することができる。従って、ガラス基板検査装置100は、基板検査ユニット40の設置空間を抑えることができるので、ガラス基板検査装置100全体の大型化を抑制することができる。   In the glass substrate inspection apparatus 100 of the present embodiment, as shown in FIG. 3, the camera 40 a of the substrate inspection unit 40 is installed in one slit 26 along the width direction D <b> 2, so that the width direction D <b> 2 of the glass substrate 10. The entire area can be inspected. Therefore, since the glass substrate inspection apparatus 100 can suppress the installation space of the substrate inspection unit 40, the overall size of the glass substrate inspection apparatus 100 can be suppressed.

(4)変形例
以上、本発明に係るガラス基板の製造方法について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良および変更が施されてもよい。また、本実施形態では、ガラス基板の検査工程の例について説明したが、本発明に係るガラス基板の搬送装置は、他のガラス基板の処理工程に用いられてもよい。
(4) Modifications Although the method for manufacturing a glass substrate according to the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various improvements and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. May be. Moreover, although this embodiment demonstrated the example of the test process of a glass substrate, the conveying apparatus of the glass substrate which concerns on this invention may be used for the process process of another glass substrate.

(4−1)変形例A
本実施形態では、基板浮上ユニット20は、搬送されるガラス基板10に下向きの力を生じさせる気体吸引機構22cを有している。しかし、気体吸引機構22cの代わりに、基板浮上ユニット20の上方に、下方に向かって気体を噴出する他の気体噴出機構が設置されてもよい。この気体噴出機構から噴出される気体が、搬送されるガラス基板10の上面に衝突することで、搬送されるガラス基板10に下向きの力が付与される。そのため、この場合においても、基板搬送ユニット30によって搬送されるガラス基板10には、ガラス基板10の形状をある程度強制する力が付与される。
(4-1) Modification A
In the present embodiment, the substrate floating unit 20 includes a gas suction mechanism 22c that generates a downward force on the glass substrate 10 being transported. However, instead of the gas suction mechanism 22c, another gas ejection mechanism that ejects gas downward may be installed above the substrate floating unit 20. The gas ejected from the gas ejection mechanism collides with the upper surface of the glass substrate 10 to be conveyed, whereby a downward force is applied to the glass substrate 10 to be conveyed. Therefore, also in this case, the glass substrate 10 transported by the substrate transport unit 30 is given a force that forces the shape of the glass substrate 10 to some extent.

(4−2)変形例B
本実施形態において、基板検査ユニット40のカメラ40aは、図4に示されるように、一のスリット26に設置されるが、複数のスリット26に設置されてもよい。複数のスリット26に基板検査ユニット40のカメラ40aを設置することによって、例えば、スリット26ごとに測定レンジが異なる光学検査を行うことができる。この場合、基板検査ユニット40は、例えば、一のスリット26において、ガラス基板10の表面に形成されている傷およびクラックを検出し、他のスリット26において、ガラス基板10の内部に存在している微小な泡を検出する光学検査を行うことができる。
(4-2) Modification B
In the present embodiment, the camera 40 a of the board inspection unit 40 is installed in one slit 26 as shown in FIG. 4, but may be installed in a plurality of slits 26. By installing the camera 40 a of the substrate inspection unit 40 in the plurality of slits 26, for example, optical inspection with different measurement ranges can be performed for each slit 26. In this case, for example, the substrate inspection unit 40 detects scratches and cracks formed on the surface of the glass substrate 10 in one slit 26 and exists inside the glass substrate 10 in the other slit 26. Optical inspection to detect minute bubbles can be performed.

また、エッチング処理された表面を有するガラス基板を検査する場合、基板検査ユニット40は、例えば、一のスリット26において、通常の光学検査を行い、他のスリット26において、照度および感度を低下させた光学検査を行うことができる。   Further, when inspecting a glass substrate having an etched surface, the substrate inspection unit 40, for example, performed a normal optical inspection in one slit 26, and reduced illuminance and sensitivity in the other slit 26. Optical inspection can be performed.

10 ガラス基板
20 基板浮上ユニット
22 フロートパネル
22a 気体噴出機構
22b 基板対向面
30 基板搬送ユニット
40 基板検査ユニット
100 ガラス基板検査装置
D1 搬送方向
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Glass substrate 20 Substrate floating unit 22 Float panel 22a Gas ejection mechanism 22b Substrate facing surface 30 Substrate transport unit 40 Substrate inspection unit 100 Glass substrate inspection apparatus D1 Transport direction

特開2006−188313号公報JP 2006-188313 A 特開2012−96920号公報JP 2012-96920 A

Claims (8)

フラットパネルディスプレイの製造に用いられるガラス基板の表面に気体を吹き付けて前記ガラス基板を浮上させる基板浮上ユニットと、
前記基板浮上ユニットによって浮上させた前記ガラス基板を搬送方向に沿って搬送する基板搬送ユニットと、
前記基板搬送ユニットによって搬送される前記ガラス基板の欠陥を光学的に検知する光学デバイスである基板検査ユニットと、
を備え、
前記基板浮上ユニットは、前記搬送方向に沿って間隔を空けて配置される複数のフロートパネルを有し、
前記フロートパネルは、搬送される前記ガラス基板の前記表面と対向する基板対向面と、前記基板対向面に形成され前記気体を噴出する気体噴出機構と、前記基板対向面に形成され前記気体を吸引する気体吸引機構とを有し、かつ、前記搬送方向に向かうに従って前記基板対向面の高さ位置が徐々に下がるように配置され、
前記気体噴出機構は、上向きの力を前記ガラス基板に生じさせて、前記ガラス基板を浮上させ、
前記気体吸引機構は、前記気体噴出機構によって浮上している前記ガラス基板に下向きの力を生じさせて、前記気体噴出機構によって浮上している前記ガラス基板の反りを軽減し、
前記光学デバイスは、隣り合う前記フロートパネルの間の空間であるスリットに配置され、前記気体吸引機構によって反りが軽減された前記ガラス基板の欠陥を非接触的に検知し、
前記基板浮上ユニットは、前記フロートパネルの前記基板対向面の高さ位置が低いほど、前記フロートパネルの前記気体噴出機構から噴出される前記気体の流量が大きく、
前記搬送方向における、前記フロートパネルの前記基板対向面の高さ位置の変化量は、前記光学デバイスであるカメラの被写界深度の範囲内である、
ガラス基板の搬送装置。
A substrate levitation unit that levitates the glass substrate by blowing gas onto the surface of the glass substrate used in the manufacture of the flat panel display ;
A substrate transport unit for transporting the glass substrate levitated by the substrate levitation unit along a transport direction;
A substrate inspection unit that is an optical device for optically detecting defects of the glass substrate conveyed by the substrate conveyance unit;
With
The substrate floating unit has a plurality of float panels arranged at intervals along the transport direction,
The float panel has a substrate facing surface facing the surface of the glass substrate to be transported, a gas ejection mechanism that is formed on the substrate facing surface and ejects the gas, and is formed on the substrate facing surface to suck the gas. And a gas suction mechanism that is arranged so that the height position of the substrate facing surface gradually decreases as it goes in the transport direction,
The gas ejection mechanism generates an upward force on the glass substrate to float the glass substrate,
The gas suction mechanism, the glass substrate to the downward force has emerged by the gas ejection mechanism by raw time difference, to reduce the warp of the glass substrate has emerged by the gas ejection mechanism,
The optical device is disposed in a slit that is a space between adjacent float panels , and detects defects of the glass substrate in which warpage is reduced by the gas suction mechanism in a non-contact manner.
The substrate floating units, the higher the height position of the substrate-facing surface of the float panel is low, the flow rate of the gas blown from the gas ejection mechanism of the float panel rather large,
The amount of change in the height position of the substrate facing surface of the float panel in the transport direction is within the range of the depth of field of the camera that is the optical device.
Glass substrate transfer device.
前記搬送方向に沿って配置されている前記フロートパネルの前記基板対向面は、水平面に平行である、
請求項1に記載のガラス基板の搬送装置。
The substrate facing surface of the float panel arranged along the transport direction is parallel to a horizontal plane.
The conveyance apparatus of the glass substrate of Claim 1.
前記フロートパネルは、前記搬送方向に直交する方向である前記ガラス基板の幅方向に沿って延びる、
請求項1または2に記載のガラス基板の搬送装置。
The float panel extends along a width direction of the glass substrate which is a direction orthogonal to the transport direction.
The conveyance apparatus of the glass substrate of Claim 1 or 2.
前記光学デバイスは、複数の前記スリットに配置され、
互いに異なる前記スリットに配置されている前記光学デバイスは、互いに異なる方法で前記ガラス基板の欠陥を光学的に検知する、
請求項1から3のいずれか1項に記載のガラス基板の搬送装置。
The optical device is disposed in a plurality of the slits,
The optical devices disposed in the slits different from each other optically detect defects in the glass substrate in different ways.
The conveyance apparatus of the glass substrate of any one of Claim 1 to 3.
フラットパネルディスプレイの製造に用いられるガラス基板の表面に気体を吹き付けて前記ガラス基板を浮上させる基板浮上工程と、
前記基板浮上工程によって浮上させた前記ガラス基板を搬送方向に沿って搬送する基板搬送工程と、
前記基板搬送工程で搬送される前記ガラス基板を検査する基板検査工程と、
を備え、
前記基板浮上工程において、前記搬送方向に沿って間隔を空けて配置される複数のフロートパネルによって、前記ガラス基板が浮上させられ、
前記フロートパネルは、搬送される前記ガラス基板の前記表面と対向する基板対向面と、前記基板対向面に形成され前記気体を噴出する気体噴出機構と、前記基板対向面に形成され前記気体を吸引する気体吸引機構とを有し、かつ、前記搬送方向に向かうに従って前記基板対向面の高さ位置が徐々に下がるように配置され、
前記気体噴出機構は、上向きの力を前記ガラス基板に生じさせて、前記ガラス基板を浮上させ、
前記気体吸引機構は、前記気体噴出機構によって浮上している前記ガラス基板に下向きの力を生じさせて、前記気体噴出機構によって浮上している前記ガラス基板の反りを軽減し、
前記基板検査工程では、隣り合う前記フロートパネルの間の空間であるスリットに配置される光学デバイスによって、前記基板搬送工程で搬送され前記気体吸引機構によって反りが軽減された前記ガラス基板の欠陥が光学的かつ非接触的に検知され、
前記基板浮上工程において、前記フロートパネルの前記基板対向面の高さ位置が低いほど、前記フロートパネルの前記気体噴出機構から噴出される前記気体の流量が大きく、
前記搬送方向における、前記フロートパネルの前記基板対向面の高さ位置の変化量は、前記光学デバイスであるカメラの被写界深度の範囲内である、
ガラス基板の製造方法。
A substrate levitation step of levitation of the glass substrate by blowing a gas onto the surface of the glass substrate used in the manufacture of the flat panel display ;
A substrate transporting step for transporting the glass substrate levitated in the substrate surfacing step along a transport direction;
A substrate inspection step for inspecting the glass substrate conveyed in the substrate conveyance step;
With
In the substrate levitation step, the glass substrate is levitated by a plurality of float panels arranged at intervals along the transport direction,
The float panel has a substrate facing surface facing the surface of the glass substrate to be transported, a gas ejection mechanism that is formed on the substrate facing surface and ejects the gas, and is formed on the substrate facing surface to suck the gas. And a gas suction mechanism that is arranged so that the height position of the substrate facing surface gradually decreases as it goes in the transport direction,
The gas ejection mechanism generates an upward force on the glass substrate to float the glass substrate,
The gas suction mechanism, the glass substrate to the downward force has emerged by the gas ejection mechanism by raw time difference, to reduce the warp of the glass substrate has emerged by the gas ejection mechanism,
In the substrate inspection process, defects in the glass substrate that are transported in the substrate transport process and reduced in warpage by the gas suction mechanism are optically disposed by an optical device disposed in a slit that is a space between adjacent float panels. Detected non-contactively ,
In the substrate floating step, the higher the height position of the substrate-facing surface of the float panel is low, the flow rate of the gas blown from the gas ejection mechanism of the float panel rather large,
The amount of change in the height position of the substrate facing surface of the float panel in the transport direction is within the range of the depth of field of the camera that is the optical device.
A method for producing a glass substrate.
前記搬送方向に沿って配置されている前記フロートパネルの前記基板対向面は、水平面に平行である、
請求項5に記載のガラス基板の製造方法。
The substrate facing surface of the float panel arranged along the transport direction is parallel to a horizontal plane.
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 5.
前記光学デバイスは、複数の前記スリットに配置され、
互いに異なる前記スリットに配置されている前記光学デバイスは、互いに異なる方法で前記ガラス基板の欠陥を光学的に検知する、
請求項5または6に記載のガラス基板の製造方法。
The optical device is disposed in a plurality of the slits,
The optical devices disposed in the slits different from each other optically detect defects in the glass substrate in different ways.
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 5 or 6.
前記基板搬送工程は、前記搬送方向に沿って前記ガラス基板を連続して搬送する、
請求項5から7のいずれか1項に記載のガラス基板の製造方法。
The substrate transport step continuously transports the glass substrate along the transport direction.
The manufacturing method of the glass substrate of any one of Claim 5 to 7.
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