JP5912884B2 - 等価回路解析装置および等価回路解析方法 - Google Patents
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Description
(R−(Rsol+Rct/2))2+X2=(Rct/2)2
Cdl=1/(2π×fc×Rct)
4 処理部
11 電池
A ナイキストプロット曲線
B 半円
fa,fb 一対の特定プロットでの周波数
fc 交点での周波数
P1,P2 接点
P3 交点
Pa,Pb 一対の特定プロット
R 実数成分
Ra,Rb 一対の特定プロットでの実数成分値
W 円弧状領域
−X 虚数成分
Claims (4)
- 測定対象のインピーダンスについての周波数特性に基づいて各周波数での前記インピーダンスの実数成分値を横軸の座標とし、かつ当該インピーダンスの虚数成分値を縦軸の座標とするプロットで構成されるナイキストプロット曲線を作成するプロット曲線作成処理と、前記作成されたナイキストプロット曲線における円弧状領域に含まれる前記プロットの前記実数成分値および前記虚数成分値に基づいて当該円弧状領域に対応する半円をカーブフィッティング法によって算出するフィッティング処理と、前記算出した半円の前記横軸との2つの接点での前記各実数成分値と当該算出した半円の当該半円の中心を通過する前記縦軸と平行な直線との交点での前記周波数とに基づいて前記測定対象の等価回路を構成する容量成分を算出する容量算出処理とを実行する処理部を備え、
前記処理部は、前記プロットのうちの前記実数成分値が前記交点での前記実数成分値の前後となる一対の特定プロットでの前記周波数の差分値を当該一対の特定プロットでの前記実数成分値の差分値で除算して単位実数成分値当たりの周波数変化量を算出すると共に、当該一対の特定プロットのうちのいずれか一方の特定プロットでの前記実数成分値および前記交点での前記実数成分値の差分値に前記周波数変化量を乗算して得られる乗算値と、当該一方の特定プロットでの前記周波数とに基づいて前記交点での前記周波数を算出する周波数算出処理を実行する等価回路解析装置。 - 前記処理部は、前記周波数特性における周波数軸が対数軸のときには、前記周波数算出処理において、前記一対の特定プロットでの前記周波数を真数/対数変換した変換値の差分値を前記周波数の差分値として前記乗算値を算出すると共に、当該一対の特定プロットについての前記変換値のうちの前記一方の特定プロットについての変換値と当該算出した乗算値との加算値を対数/真数変換して前記交点での前記周波数を算出する請求項1記載の等価回路解析装置。
- 前記処理部は、前記プロットのうちの前記実数成分値が前記交点での前記実数成分値の直前および直後となる一対のプロットを前記一対の特定プロットとして前記周波数算出処理を実行する請求項1または2記載の等価回路解析装置。
- 測定対象のインピーダンスについての周波数特性に基づいて各周波数での前記インピーダンスの実数成分値を横軸の座標とし、かつ当該インピーダンスの虚数成分値を縦軸の座標とするプロットで構成されるナイキストプロット曲線を作成するプロット曲線作成処理と、前記作成されたナイキストプロット曲線における円弧状領域に含まれる前記プロットの前記実数成分値および前記虚数成分値に基づいて当該円弧状領域に対応する半円をカーブフィッティング法によって算出するフィッティング処理と、前記算出した半円の前記横軸との2つの接点での前記各実数成分値と当該算出した半円の当該半円の中心を通過する前記縦軸と平行な直線との交点での前記周波数とに基づいて前記測定対象の等価回路を構成する容量成分を算出する容量算出処理とを実行する等価回路解析方法であって、
前記プロットのうちの前記実数成分値が前記交点での前記実数成分値の前後となる一対の特定プロットでの前記周波数の差分値を当該一対の特定プロットでの前記実数成分値の差分値で除算して単位実数成分値当たりの周波数変化量を算出すると共に、当該一対の特定プロットのうちのいずれか一方の特定プロットでの前記実数成分値および前記交点での前記実数成分値の差分値に前記周波数変化量を乗算して得られる乗算値と、当該一方の特定プロットでの前記周波数とに基づいて前記交点での前記周波数を算出する周波数算出処理を実行する等価回路解析方法。
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