JP5894718B2 - 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 - Google Patents
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Description
4端子測定は1つの検査端子に2本の接触子を導電接触させるために、接触子の個数が2倍になる。微細な検査端子には2本の接触点の間隔が小さいことが必要になる。
特許文献3では、さらに、コイルばねの内側に接触針の延設部(特許文献3の符号116)を延長して接触子の内部抵抗を改善している。しかし、4端子測定においては、各々の接触子の内部抵抗と接触抵抗はキャンセルされて、検査端子間の正確な抵抗値が測定されるという特性がある。従って、4端子測定においては、接触子の内部抵抗の改善は必ずしも要しない。又、通常の2端子測定において、良否の判定値が接触抵抗のバラツキをも考慮した100オーム以上である場合も同様である。
上記のように、各種の工夫がなされているが、それぞれに問題点を有している。
本発明の第3の手段は、第1又2の手段において、上述の接触子がコイル巻線機において押出し加工により形成されている。
本発明の第4の手段は、第1乃至3の何れかの手段において、上述の接触子の立ち上げ部及び他端部の曲げ半径が、実質的に本体部の曲げ半径より縮小することなく形成されている。
本発明の第5の手段は、第1乃至4の何れかの手段において、上述の本体部のコイル径が、最小巻線径以上、かつ最小巻線径の2倍の径以下の範囲 にある。
本発明の第6の手段は、第1乃至5の何れかの手段において、上述の本体部が、立ち上げ部の側に密巻部を有している。
本発明の第8の手段は、第7の手段において、電極板には、電極を支持する筒状空洞部と同軸の同径又は同径未満の貫通孔が形成されており、電極は接触子の最大径よりも径が小さい。
本発明の第3の手段に依れば、コイル巻線機おいて自動で製作できるので、製作が容易である。
本発明の第4の手段に依れば、急激に曲げられることがなく、集中応力が分散するので、寿命短縮が回避される。
本発明の第5の手段に依れば、接触子の外径を小さくして、配置密度を上げることが出来る。
本発明の第6の手段に依れば、密巻部が係止を容易にする。又、密巻部は、本体部の伸縮を案内し、それにより本体部の屈曲を抑止することが出来る。
本発明の第8の手段に依れば、電極の径を小さくできるので、細径のエナメル線などを使用し製造容易にコストを低減することが出来る。また電極部が配置密度を下げることもない 。
各々の手段に依って上述した効果は、第1の手段が共通しているので、他の手段に係るものの効果になることがある。
(実施の形態1)
先端11は、2つの接触子10の接触点の間隔を最少にするために45度の断面となっている。突出部12は接触子保持体30の案内板31の第1案内孔311から伸縮可能に突出することにより、被検査プリント配線板の検査端子との圧接を確保している。立ち上げ部13は、接触子保持体30に保持されるために、本体部(コイルばね)14の円周上14cへ垂直方向に方向を変えることにより、係止孔322に係止されている。この係止板32の立ち上げ部13の所定部分を含む係止孔322は、本発明の「係止部」の一具体例に相当する。係止板32には、第1案内孔311と同軸に第2案内孔321があり、突出部12と本体部14の垂直な可動と伸縮を案内している。この2層の案内孔は本発明の「案内部」の一具体例に相当する。2層の細径の案内孔の間に、径の大きい間隔孔312を設けることにより、垂直な運動の案内と位置精度を確実にしている。
先端11の形状、を突出部12の軸と直角に交差する平面にしても良い。この形態は、例えば、検査端子が半球の半田バンプの接触に適応する。平面にする加工では、研磨が容易である。先端11の平面形状は、直角のほかに、45度、多角錐などのその他の形状であっても良い。
密着巻14aの巻き回数を多くすると、長い密着巻14aがコイル保持孔331に案内されることにより、本体部14の荷重のアンバランスが改善される。それにより、本体部の伸縮がより容易なものとなる。又、他端部側等にも密着巻があっても良い。
本接触子10は4端子測定に適応するが、通常の2端子測定に使用しても良い。接触子10を共用化すると、製造と保守が容易になる。また、接触子10は、他の種類の接触子の併用を妨げるものではない。必要に依り併用が可能である。
係止孔322は、立ち上げ部13又は本体部14を係止し、第2案内孔321を内側に含めば良いので、図に示さないが、対向する係止孔と重なっても良い。また、対向する2つの係止孔322を1つにしても良い。この場合は加工工数が減る。間隔孔312も同様である。案内孔以外は径が大きく孔加工は容易である。
図2乃至4の接触子10を、コイル巻線加工に折り曲げ加工を追加することにより製造しても良い。但し、コイル巻線加工のみによって接触子10を製造する方が、通常はコストを著しく低減することができ、より好ましい。
10・・・接触子
11・・・先端
12・・・突出部
13・・・立ち上げ部
14・・・本体部
14b・・中心軸
14c・・円周(円周上、コイル径)
15・・・他端部
15a・・最端部
30・・・接触子保持体
31・・・案内板
32・・・係止板
322・・係止孔、係止部
33・・・コイル保持板
40・・・電極部
41・・・電極
Claims (7)
- 電子部品の検査に用いられる検査治具に組み込まれて使用される接触子であって、
導電性の断面円形の線材からなり、螺旋をなすことにより、ばね特性を有する本体部と、前記本体部の一端に続いて、前記螺旋の円周上にあって、前記螺旋の中心軸に平行となるまで方向を変える立ち上げ部と、当該立ち上げ部に続く軸状部分であり、前記螺旋の円周上にあって、前記螺旋の中心軸に平行な突出部と、当該突出部に続く先端であって、検査対象電子部品の検査部位に接触する先端と、
前記本体部の他端に続く部分であって、前記螺旋の中心に方向を変え、前記螺旋の内側に最端部を有する他端部と、を含み、
前記本体部のコイル径は、線径の3倍以上、かつ6倍以下の範囲にあり、
前記本体部側から前記突出部側に至る前記立ち上げ部の全体にわたって、変わってゆく立体的な曲げの方向に応じた方向からみた曲げ半径は、前記本体部の曲げ半径より小さくはない接触子。 - 前記先端の形状は、前記検査部位と接触する接触点が前記接触子の外周となる斜め断面である請求項1に記載の接触子。
- 前記本体部が、前記立ち上げ部の側に密巻部を有している請求項1又は2に記載の接触子。
- 電子部品の検査に用いられる検査治具であって、
請求項1乃至3の何れかに記載の接触子と、当該接触子を保持する接触子保持体と、当該接触子保持体に連結された電極部とを備え、
前記接触子保持体は、前記先端が露出するように前記突出部を軸方向に摺動可能に支持する案内部と、前記立ち上げ部又は前記本体部に係合することにより前記先端の所定以上の突出を係止する係止部と、前記本体部と前記他端部とを収納する筒状空洞部と、を含み、
前記電極部は、前記接触子保持体に連結された電気絶縁性の電極板と、当該電極板を貫通するように当該電極板に固定され、一端面が前記他端部の前記最端部に当接することにより、前記他端部に電気的に接続されるとともに、前記本体部を付勢する軸状の導電性の電極と、を含む検査治具。 - 前記電極板には、前記電極を支持する前記筒状空洞部と同軸の、同径又は同径未満の貫通孔が形成されており、
前記電極は前記接触子の最大径よりも径が小さい請求項4に記載の検査治具。 - 電子部品の検査に用いられる検査治具であって、
各々が請求項1乃至3の何れかに記載の接触子である複数の接触子と、当該複数の接触子を保持する接触子保持体と、当該接触子保持体に連結された電極部とを備え、
前記接触子保持体は、前記先端が露出するように前記突出部を軸方向に摺動可能に支持する案内部と、前記立ち上げ部又は前記本体部に係合することにより前記先端の所定以上の突出を係止する係止部と、前記本体部と前記他端部とを収納する筒状空洞部と、を前記複数の接触子に個別に対応して含み、
前記電極部は、前記接触子保持体に連結された電気絶縁性の電極板を含み、
前記電極部は更に、当該電極板を貫通するように当該電極板に固定され、一端面が前記他端部の前記最端部に当接することにより、前記他端部に電気的に接続されるとともに、前記本体部を付勢する軸状の導電性の電極を、前記複数の接触子に個別に対応して含み、
前記複数の接触子は、互いに隣接する一対の接触子を含み、
当該一対の接触子の各々は、請求項2に記載の接触子であり、
前記一対の接触子は、各々の前記螺旋の中心軸まわりの位置が、各々の前記突出部同士が互いに対向して近接し合う位置となるように、保持されている、検査治具。 - 請求項1から3の何れかに記載の接触子の製造方法であって、
前記接触子は、コイル巻線機を用い、当該コイル巻線機の押し出し長さに合わせて、曲げ半径と曲げ方向を連動して変える押出し加工により形成される、接触子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013034077A JP5894718B2 (ja) | 2013-02-25 | 2013-02-25 | 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013034077A JP5894718B2 (ja) | 2013-02-25 | 2013-02-25 | 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014163765A JP2014163765A (ja) | 2014-09-08 |
JP5894718B2 true JP5894718B2 (ja) | 2016-03-30 |
Family
ID=51614510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013034077A Expired - Fee Related JP5894718B2 (ja) | 2013-02-25 | 2013-02-25 | 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5894718B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6071633B2 (ja) * | 2013-02-25 | 2017-02-01 | 秀雄 西川 | 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 |
KR102080592B1 (ko) * | 2018-12-19 | 2020-04-20 | 주식회사 오킨스전자 | S-타입 탄성편을 이용하여 3개의 플런저 상호 간의 콘택 특성이 개선되는 데스트 핀 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0815171B2 (ja) * | 1987-05-27 | 1996-02-14 | 株式会社日立製作所 | 半導体素子検査装置 |
JPH10255940A (ja) * | 1997-03-11 | 1998-09-25 | Fujitsu Ltd | コンタクタを用いた試験方法及びコンタクタ及びコンタクタを用いた試験装置 |
JP2000065892A (ja) * | 1998-06-12 | 2000-03-03 | Machine Active Contact:Kk | 導通検査用治具 |
JP5345598B2 (ja) * | 2010-09-01 | 2013-11-20 | 秀雄 西川 | 検査治具及び接触子 |
-
2013
- 2013-02-25 JP JP2013034077A patent/JP5894718B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014163765A (ja) | 2014-09-08 |
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