JP5871117B2 - 電気−機械変換素子、電気−機械変換素子を具備した液滴吐出ヘッド、液滴吐出ヘッドを具備したインクジェットプリンタ及び電気−機械変換素子の製造方法 - Google Patents
電気−機械変換素子、電気−機械変換素子を具備した液滴吐出ヘッド、液滴吐出ヘッドを具備したインクジェットプリンタ及び電気−機械変換素子の製造方法 Download PDFInfo
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Description
たわみ振動モードのアクチュエータを使用したものとしては、例えば、振動板の表面全体に亙って成膜技術により均一な圧電材料層(圧電体薄膜)を形成し、この圧電体薄膜をリソグラフィ法により圧力発生室に対応する形状に切り分けて各圧力発生室に独立するように圧電素子を形成したものが知られている。
しかしながら、リソグラフィ法では、材料の使用効率が悪く、また工程が煩雑となるため高コストとなりタクトタイムも大きくなるという問題が発生する。特に圧電体薄膜については数μmの膜厚を要するために、低コスト化に向けて印刷法による微細パターン形成が検討されている。例えば、表面改質処理により下地を疎水性領域と親水性領域に区分けしパターン化した基板上にインクジェット等の印刷技術を用いて微細パターンの圧電体薄膜を形成する技術が提案されている(特許文献1、2参照)。ここで、数μmの膜厚の圧電体薄膜とするには、表面改質処理とインクジェット印刷を繰り返し行う必要がある。
しかし、前記特許文献に記載されている共通電極としての下部電極としては主に白金(Pt)をベースにした金属電極を用いた実施例がほとんどであり、このような構成では圧電体薄膜として用いられる代表的な材料であるPZT(ジルコン酸チタン酸鉛)の疲労特性に対する保証が懸念される。一般的に、PZTに含まれる鉛(Pb)の拡散によりPtなどの金属電極の特性が劣化し、酸化物電極を用いることで疲労特性が改善されるとされている(特許文献3参照)。しかしながら、酸化物電極を用いた場合には、金属電極に比べて比抵抗値で約101〜103倍高くなる。このため、下部電極(酸化物電極)が複数の圧電素子に共通して設けられている構成では、多数の圧電素子を同時に駆動して多数のインク滴を一度に吐出させると、電圧降下が発生して圧電素子の変位量が不安定となり、インク吐出特性が低下するという問題がある。
しかし、前述のようにインクジェット工法等の印刷技術を用いて圧電体薄膜(PZT)を形成する場合、下地の表面改質処理により疎水性領域と親水性領域に区分けることが必要になるが、特許文献4〜特許文献8のように下部電極を混合物、例えば、白金とチタンの混合物とすると、熱処理に伴って電極表面の接触角が低下し、表面改質処理によるパターニング(コントラスト付け)が難しくなり、表面改質処理とインクジェット印刷を繰り返し行う場合に、PZTのパターニング精度を悪化させる問題がある。
即ち、金属電極表面にPZTを形成する場合には、図2(a)に示すように、一般的にチオール材料(チオール化合物)等で金属表面を処理する方法が好ましい。先ずチオール材料を用いて金属電極(21)表面に所望のパターンでSAM(Self-Assembled Monolayer)(22)を形成して表面改質処理(疎水化処理)し、疎水性領域と親水性領域の区分けを行う。SAM(22)により所望のパターンとされた金属電極表面の親水性領域にPZT(23)を塗布する。PZTを塗布した後のプロセスを説明すると、PZT形成時の熱処理でチオール化合物は焼失する。1層目のPZTが形成された後、2層目以降のPZT形成については、SAM材料を浸漬処理することで金属電極表面上のみにチオール材料が反応し、親水性領域、疎水性領域の部分改質がセルフアラインで行うことができ、かつタクトタイムも大幅に短縮することができる。但し、上記PZT形成時の熱処理によってチオール材料は消失するものの、金属電極表面に熱履歴が生じてしまう。ここで、下部電極(金属電極)の下に、図示しない密着層をチタンを用いて設け、下部電極として金属材料、特に白金を用いた場合、前記熱処理によりチタンが金属と合金化してしまい、下部電極が変質して2層目以降の表面改質処理におけるチオール材料と金属電極表面との反応が不十分となる問題がある。前述のように、密着層をチタンからTiO2に変更した場合、密着層としての機能が不十分となる。
一方、酸化物電極表面にPZTを形成する場合には、図2(b)に示すように、一般的にシラン材料等で酸化物表面を処理する方法が好ましい。先ずシラン材料を用いて酸化物電極(26)表面に所望のパターンでSAM(Self-Assembled Monolayer)(27)を形成して表面改質処理し、疎水性領域と親水性領域の区分けを行う。SAMにより所望のパターンとされた酸化物電極表面にPZT(28)を塗布する。PZTを塗布した後のプロセスを説明すると、図2(a)の場合と同様に、熱処理でシラン材料が焼失する。1層目のPZTが形成された後、2層目以降のPZT形成については、図2(a)の場合のようにSAM材料を浸漬処理すれば、形成されたPZTも酸化物であるため、このPZT上にもSAM材料が反応して付着してしまう。このため、図2(a)の場合のように疎水性領域と親水性領域の区分けを行う表面改質処理は不可能になる。
特に、下部電極に金属(特に白金)を用い、電気−機械変換膜にPZT(ジルコン酸チタン酸鉛)を用いた場合でも、電気−機械変換膜形成時の熱処理に伴う密着層と白金との合金化による不具合を回避し、密着層と下部電極、及び下部電極と電気−機械変換膜との密着性低下を防止することができ、且つ、下部電極上に電気−機械変換膜をインクジェット工法で安定して形成可能とされた電気−機械変換素子を提供することを目標とする。
なお、本発明における前記下部電極は、金属から成る第1の電極と、導電性酸化物から成る第2の電極とで構成される。また、前記上部電極は導電性酸化物から成る第3の電極で構成される。
即ち、上記課題は、基板または下地膜上に形成された、一般式ABO3(但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laから選択される元素を示し、Bは、Ru、Co、Ni、Mn、Al、Crから選択される元素を示す。)で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物から成り、且つ膜厚が10〜60nmである密着層と、
該密着層上に形成された白金から成る第1の電極と、
該第1の電極上に形成されたSrRuO 3 膜から成るパターン状の第2の電極と、
該パターン状の第2の電極上に形成された電気−機械変換膜と、
該電気−機械変換膜上に形成されたSrRuO 3 膜から成る第3の電極と、
を備えたことを特徴とする電気−機械変換素子により解決される。
本発明の電気−機械変換素子を用いて液滴吐出ヘッドを構成すれば、インク吐出特性を良好に保持できる。また、該液滴吐出ヘッドを用いてインクジェットプリンタを構成すれば、振動板駆動不良によるインク滴吐出不良がなく、安定したインク滴吐出特性が得られて、画像品質が向上する。
該密着層上に形成された金属から成る第1の電極と、
該第1の電極上に形成された導電性酸化物から成るパターン化された第2の電極と、
該パターン化された第2の電極上に、前記第1の電極表面のみを疎水性領域とする改質処理を介してインクジェット工法により形成された電気−機械変換膜と、
該電気−機械変換膜上に形成された導電性酸化物から成る第3の電極と
を備えたことを特徴とするものであるが、より好ましくは、基板または下地膜上に形成された、一般式ABO 3 (但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laから選択される元素を示し、Bは、Ru、Co、Ni、Mn、Al、Crから選択される元素を示す。)で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物から成り、且つ膜厚が10〜60nmである密着層と、該密着層上に形成された白金から成る第1の電極と、該第1の電極上に形成されたSrRuO 3 膜から成るパターン化された第2の電極と、該パターン化された第2の電極上に、前記第1の電極表面のみを疎水性領域とする改質処理を介してインクジェット工法により形成された電気−機械変換膜と、該電気−機械変換膜上に形成されたSrRuO 3 膜から成る第3の電極とを備えたことを特徴とするものである。
図3は、本発明に係る電気−機械変換素子の構成例を示す概略図である。図3に示す電気−機械変換素子は、基板(301)、振動板(302)、密着層(303)、第1の電極(304)、第2の電極(305)、電気−機械変換膜(306)、第3の電極(307)から構成されている。
ここで、密着層は前記一般式ABO3で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物により形成され、第1の電極は金属電極により形成され、第2、第3の電極は導電性酸化物により形成されている。第2の電極については、電気−機械変換膜形成前に予め所望のパターンに加工(パターン化)しておく。パターン化された第2の電極上にインクジェット法により電気-機械変換膜を形成する。
但し、インクジェット工法により電気−機械変換膜を形成する前に表面改質処理を施しておく必要がある。具体的には、パターン化された第2の電極表面を親水性領域として維持したまま前記第1の電極表面のみを改質させて疎水性領域とする。表面改質処理を行うには、チオール材料(例えば、アルカンチオール)を用いて浸漬処理させることで、金属から成る第1の電極表面においてはチオール材料が反応、付着し、表面状態を疎水性化(撥水化)することができる。また、導電性酸化物から成るパターン化された第2の電極表面においてはチオール材料が反応しないため、表面状態としては導電性酸化物の有する親水性が維持される。チオール材料は自己組織化された膜(SAM:Self-Assembled Monolayer)を形成するため、チオール材料を用いた表面改質処理、例えば、浸漬処理のみにより、疎水性領域の部分改質がセルフアラインで行うことができる。このように、第1の電極表面のみを改質させて疎水性領域とした後にインクジェット工法により電気−機械変換膜の形成を行う。
図4の模式図に示すように、上記熱処理後に2層目以降の電気−機械変換膜を形成する場合であっても、予めパターン化された第2の電極である導電性酸化物から成る酸化物電極(32)が設けられた金属電極(31)表面のみにチオール材料を用いてセルフアラインで表面改質処理を施すことができ、自己組織化されたSAM(チオール)(33)を利用して、パターン化された酸化物電極(32)上に繰り返しPZTを形成することが可能となる。
図5において、基板(501)表面に成膜された振動板(502)上に、密着層(500)、第1の電極(503)、第2の電極(504)、電気−機械変換膜(505)、第3の電極(506)、が順次設けられ、さらに絶縁保護膜(507)を設けた構成となっている。なお、第1の電極(503)と第3の電極(506)上の一部にコンタクトホールを有しており、第1の電極(503)は第4の電極(508)、第3の電極(506)は第5の電極(509)と導通した構成となっている。
<基板、下地膜(又は下地)>
基板としては、シリコン単結晶基板を用いることが好ましく、通常100〜600μmの厚みを持つことが好ましい。面方位としては、(100)、(110)、(111)と3種あるが、半導体産業では一般的に(100)、(111)が広く使用されており、本構成においては、主に(100)の面方位を持つ単結晶基板を主に使用した。
また、図1に示すような圧力室を作製する場合、エッチングを利用してシリコン単結晶基板に加工を施していくが、この場合のエッチング方法としては、異方性エッチングを用いることが一般的である。異方性エッチングとは結晶構造の面方位に対してエッチング速度が異なる性質を利用したものである。例えば、KOH等のアルカリ溶液に浸漬させた異方性エッチングでは、(100)面に比べて(111)面は約1/400程度のエッチング速度となる。従って、面方位(100)では約54°の傾斜を持つ構造体が作製できるのに対して、面方位(110)では深い溝を掘ることができるため、より剛性を保ちつつ、配列密度を高くすることができることが分かっており、本構成としては(110)の面方位を持った単結晶基板を使用することも可能である。但し、この場合、マスク材であるSiO2もエッチングされてしまうことがあるため、この点に関しても留意する必要がある。
図1に示すように電気−機械変換膜によって発生した力を受けて、下地(振動板)(105)が変形変位して、圧力室(101)内のインクをインク滴として吐出させる。そのため、下地としては所定の強度を有したものであることが好ましい。下地の構成材料としては、Si、SiO2、Si3N4をCVD法により作製したものが挙げられる。さらに、図1に示すような下部電極(106)、電気−機械変換膜(107)の線膨張係数に近い材料を選択することが好ましい。特に、電気−機械変換膜としては、一般的に材料としてPZTが使用されることから線膨張係数8×10−6(1/K)に近い線膨張係数が適当であり、5×10−6〜10×10−6(1/K)の線膨張係数を有した材料が好ましく、さらには7×10−6〜9×10−6(1/K)の線膨張係数を有した材料がより好ましい。
具体的な材料としては、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化イリジウム、酸化ルテニウム、酸化タンタル、酸化ハフニウム、酸化オスミウム、酸化レニウム、酸化ロジウム、酸化パラジウム及びそれらの化合物等であり、これらをスパッタ法もしくは、ゾル‐ゲル法を用いてスピンコーターにて作製することができる。
膜厚としては0.1〜10μmが好ましく、0.5〜3μmがさらに好ましい。膜厚が0.1μmより薄いと図1に示すような圧力室の加工が難しくなり、膜厚が10μmより厚いと下地が変形変位しにくくなり、インク滴の吐出が不安定になる。
本発明における第1の電極は金属から成るが、特に白金を用いる場合、下地(特にSiO2)との密着性が悪いため、密着層を用いる必要がある。前述のように本発明における密着層は、一般式ABO3(但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laのいずれから選択される元素を示し、Bは、Ru、Co、Ni、Mn、Al、Crのいずれから選択される元素を示す。)で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物かから構成される。好ましくはLaNiO3若しくはLaAlO3が挙げられる。密着層は、スパッタ法、或いはゾル‐ゲル法(スピンコーターにより塗工)により形成することができる。密着層の膜厚は8nm以上80nm以下であり、好ましくは10nm以上60nm以下である。
本発明における第1の電極を構成する金属としては、白金族元素又はこれらの合金からなるものが挙げられる。白金族元素とは、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウム(Ir)、白金(Pt)を表す総称である。合金としては白金−ロジウムなどが挙げられる。
特に白金は高い耐熱性と低い反応性を有することから好ましく用いられるが、例えば、電気−機械変換膜にPZTを用いた場合に含有される鉛(Pb)に対しては十分なバリア性を有するとはいえない場合がある。本発明においては導電性酸化物から成る第2の電極を介して電気−機械変換膜が形成されるため、第1の電極に白金を用い、電気−機械変換膜にPZTを用いた場合でも金属電極の特性が劣化することは回避される。
第1の電極の作製方法としては、スパッタ法や真空蒸着等の真空成膜が用いられる。第1の電極の膜厚としては、0.05〜1μmが好ましく、0.1〜0.5μmがさらに好ましい。
前述のように電気−機械変換膜として、鉛を含む複合酸化物(PZT)を使用する場合、鉛と下部電極(金属)との反応、もしくは下部電極(金属)への拡散が生じて圧電特性を劣化させる場合がある。従って、鉛との反応/拡散に対しバリア性のある電極材料が要求される。前述のように本発明では、下部電極を、金属から成る第1の電極と、導電性酸化物から成るパターン化された第2の電極とで構成しており、鉛を含む複合酸化物(PZT)は第2の電極(導電性酸化物)上に形成されるため、鉛が金属電極(第1の電極)と反応したり拡散することがなく、圧電特性の劣化が防止される。
第2の電極としては、上記のように導電性酸化物から構成するのが効果的である。具体的には、一般式ACO3(但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laから選択される元素を示し、Cは、Ru、Co、Niから選択される元素を示す。)で表される導電性酸化物が挙げられる。さらに、SrRuO3、CaRuO3や、これらの固溶体である(Sr1−xCax)RuO3のほか、LaNiO3、SrCoO3や、これらの固溶体である(La1−xSrx)(Ni1−yCoy)O3(yは1でもよい)が挙げられる。それ以外の酸化物材料として、IrO2、RuO2等も挙げられる。
図6を参照してインクジェット工法により第2の電極を作製するプロセスを説明する。図6は、本発明に係る第1の電極上に導電性酸化物から成るパターン化された第2の電極をインクジェット工法により作製するプロセスを説明するためのフロー図である。
先ず、図6中のBに示すように、下地(1)上にSAM形成用の材料を含有する溶液を全面塗布してSAM(自己組織化単分子膜)を形成する。SAM形成用の材料は下地の材料によっても異なるが、金属を下地とする場合は主にチオール材料(例えば、アルカンチオール)を選定する。アルカンチオールを用いる場合、分子鎖長により反応性や疎水(撥水)性は異なるが通常C6からC18の炭素数を有する分子を一般的な有機溶媒(アルコール、アセトン、トルエンなど)に溶解(濃度数mol/l)させてSAM形成用の溶液を調製する。この溶液を用いて、浸漬、蒸気、スピンコーター等のいずれかにより下地(1)上に全面塗布処理を行い、余剰な分子を溶媒で置換洗浄し乾燥することでSAMが形成できる。
次に、図6中のCに示すように、SAM上にフォトリソグラフィによりフォトレジスト(3)をパターン形成した後、図6中のDに示すように、ドライエッチングによりフォトレジスト(3)が形成されていない個所のSAM膜を除去するとともに、加工に用いたレジストを除去して、親水性領域と疎水性領域に区分けしてSAM膜のパターニングを終える。次に、図6中のEに示すように、第2の電極を形成するための原料液(前駆体液:インク)をIJヘッド(4)からインク滴として吐出し、親水性領域に塗膜(パターン化された第2の電極の前駆体膜)を形成し、通常のゾルゲルプロセスに従って熱処理を行う。
塗膜は、高温の熱処理(有機物の燃焼温度:300〜500℃、結晶化温度:500〜700℃)により行われるが、この高温処理によりSAM膜は消失する(図6中のF)。インクジェット工法を用いた場合、1層あたり約30〜100nm程度の膜厚になるため、厚膜とするにはインクジェット工法を繰り返して何層か重ね打ちし塗膜を形成する必要がある。そのため、図6中のD’に示すように、繰り返してSAM膜のパターニングを行い、インクジェット工法によりパターン化された第2の電極の前駆体膜を作製し、熱処理を行い所望の膜厚を得る。膜厚としては、0.05〜1μmが好ましく、0.1〜0.5μmがさらに好ましい。
電気−機械変換膜としては、限定されるものではないが、前記PZT(ジルコン酸チタン酸鉛)膜が好ましく用いられる。PZTは、ジルコン酸鉛(PbZrO3)とチタン酸(PbTiO3)の固溶体で、その比率により特性が異なる。一般的に優れた圧電特性を示す組成は、PbZrO3とPbTiO3の比率が53:47の割合で、化学式で示すと、Pb(Zr0.53,Ti0.47)O3で表され、一般に、PZT(53/47)と示される。
本発明における電気−機械変換膜(例えば、PZT)は、電気−機械変換膜用の前駆体溶液(PZT前駆体溶液)を用いてインクジェット工法により形成される。PZT前駆体溶液は、酢酸鉛、ジルコニウムアルコキシド、チタンアルコキシド化合物を出発材料にし、共通溶媒としてメトキシエタノールに溶解させて均一溶液を得ることで調製できる。金属アルコキシド化合物は大気中の水分により容易に加水分解してしまうので、前駆体溶液に安定剤としてアセチルアセトン、酢酸、ジエタノールアミンなどの安定化剤を適量、添加してもよい。
PZT以外の複合酸化物としてはチタン酸バリウムなどが挙げられ、この場合には、バリウムアルコキシド化合物と、チタンアルコキシド化合物を出発材料にし、共通溶媒に溶解させることでチタン酸バリウム前駆体溶液を作製することも可能である。
これらの材料としては、一般式EDO3(但し、Eは、Pb、Ba、Srから選択される元素を示し、Dは、Ti、Zr、Sn、Ni、Zn、Mg、Nbから選択される元素を示す。)で表される酸化物が該当する。
上記具体例としては、(Pb1−xBax)(Zr,Ti)O3、(Pb1−xSrx)(Zr,Ti)O3などが挙げられ、これは一般式EDO3のEサイトのPbを一部BaやSrで置換した場合である。このような置換は2価の元素であれば可能であり、その効果は熱処理中の鉛の蒸発による特性劣化を低減させる作用を示す。
電気−機械変換膜の膜厚としては0.5〜5μmが好ましく、さらに好ましくは1μm〜2μmとなる。膜厚が0.5μmより薄いと十分な変位を発生することができなくなり、膜厚が5μmより厚いと積層数が増大するため、工程数が多くなりプロセス時間が長くなる問題がある。
第3の電極としては、第2の電極と同様に導電性酸化物から構成するのが効果的である。具体的には、一般式ACO3(但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laから選択される元素を示し、Cは、Ru、Co、Niから選択される元素を示す。)で表される導電性酸化物が挙げられる。さらに、SrRuO3、CaRuO3や、これらの固溶体である(Sr1−xCax)RuO3のほか、LaNiO3、SrCoO3や、これらの固溶体である(La1−xSrx)(Ni1−yCoy)O3(yは1でもよい)が挙げられる。それ以外の酸化物材料として、IrO2、RuO2等も挙げられる。
また、配線抵抗を補うために導電性酸化物上に白金やイリジウムや白金−ロジウムなどの白金族元素や、これら合金膜、またAg合金、Cu、Al、Auを用いることも有効である。
電気ショート等による不具合や水分やガス等による圧電素子の破壊防止を目的に絶縁保護膜を設けることができる。絶縁保護膜の材料としては、シリコン酸化膜や窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜等の無機膜または、ポリイミド、パリレン膜等の有機膜が好ましい。絶縁保護膜の膜厚としては、0.5〜20μmが好ましく、1〜10μmがさらに好ましい。膜厚が0.5μm未満であると絶縁保護膜としての機能が十分果たせなくなり、膜厚が10μmを超えると、該膜厚とするためのプロセス時間が長くなるため好ましくない。
絶縁保護膜の作製方法としては、CVD、スパッタ法、スピンコート法を用いて作製することができる。また、図5に示すように、第1の電極及び第3の電極からの引き出し配線として第4、第5の電極を導通させるためのコンタクトホールの形成が必要となる場合には、フォトリソエッチング等により所望のパターンを形成する。また、スクリーン印刷工法を用いて、一度のプロセスでコンタクトホールを有する絶縁保護膜の作製を行うこともできる。スクリーン印刷に用いられるペースト材料としては、樹脂と無機または有機粒子を有機溶媒に溶解乃至分散させたものが好ましく用いられる。樹脂については、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、アクリル系樹脂、エチルセルロース樹脂などを含む材料が挙げられる。無機粒子については、シリカ(SiO2)、アルミナ(Al2O3)、酸化チタン(TiO2)、酸化亜鉛(ZnO)、チタン酸バリウム(BaTiO3)等が挙げられる。中でもシリカ、アルミナ、酸化亜鉛などの比較的比誘電率の低い材料が好ましい。本発明にて想定するような高精細のパターンを形成する場合においては、線径が15〜50μm、開口率が40〜60%のメッシュ中に充填されたペースト状材料を転写することで膜を形成することになるため、コンタクトホールと共に形成することができる。
第4の電極及び第5の電極は、Ag合金、Cu、Al、Au、Pt、Irから選択されるいずれかの金属電極材料であることが好ましい。
第4の電極及び第5の電極は、例えば、スパッタ法、スピンコート法を用いて作製し、その後フォトリソエッチング等により所望のパターンとすることで形成される。また、第4の電極或いは第5の電極の下層となる表面を部分的に表面改質させる工程を適用して、インクジェット工法によりパターニングされた膜(第4、第5の電極)を作製することができる。インクジェット工法により作製していく場合については、第2の電極と同様の作製フローにてパターニングされた膜を得ることができる。なお、表面改質材については、下層(絶縁保護膜)が酸化物である場合は主にシラン材料(シラン化合物)を選定する。また、ポリイミドのような有機物の場合には、紫外線の照射により、照射された領域の表面エネルギーを増大できることを利用して表面改質し、表面エネルギーを増大させた領域に、インクジェット工法を用いて高精細な第4または第5の電極のパターンを直接描画することができる。さらに表面エネルギーが小さいポリイミドを用いることにより、有機半導体層を高精細にパターニングすることが可能になる。紫外線で表面エネルギーを増大させることが可能な高分子材料としては、例えば、特開2006−060079号公報に記載されている材料を用いることができる。
例えば、パーフェクトゴールド(登録商標)(金ペースト、真空冶金社製商品名)、パーフェクトカッパー(銅ペースト、真空冶金社製商品名)、OrgaconPaste variant 1/4、Paste variant 1/3(以上、印刷用透明PEDOT/PSSインク、日本アグファ・ゲバルト社製商品名)、OrgaconCarbon Paste variant 2/2(カーボン電極ペースト、日本アグファ・ゲバルト社製商品名)、BAYTRON(登録商標) P(PEDT/PSS水溶液、日本スタルクヴィテック社製商品名)などが挙げられる。
第4の電極及び第5の電極の膜厚としては、0.1〜20μmが好ましく、0.2〜10μmがさらに好ましい。0.1μmより薄いと抵抗が大きくなり電極に十分な電流を流すことができなくなりヘッド吐出が不安定になり、20μmより厚いとプロセス時間が長くなる。
本発明によれば、図8中の電気−機械変換素子が簡便な製造工程(バルクセラミックスと同等の性能を持つ)で形成でき、それに付随する圧力室形成のための裏面からのエッチング除去、ノズル孔を有するノズル板の接合により、液体吐出ヘッドが製造できる。
本発明に係るインクジェットヘッドを搭載したインクジェット記録装置の一例について図9及び図10を参照して説明する。なお、図9は同記録装置の斜視説明図、図10は同記録装置の機構部の側面説明図である。
図9及び図10に示すインクジェット記録装置は、記録装置本体(81)の内部に主走査方向に移動可能なキャリッジ(93)、キャリッジに搭載した本発明を実施したインクジェットヘッドからなる記録ヘッド、記録ヘッドへインクを供給するインクカートリッジ(95)等で構成される印字機構部(82)等を収納し、装置本体(81)の下方部には前方側から多数枚の用紙(83)を積載可能な給紙カセット(84)(或いは給紙トレイでもよい。)を抜き差し自在に装着することができ、また、用紙(83)を手差しで給紙するための手差しトレイ(85)を開倒することができ、給紙カセット(84)或いは手差しトレイ(85)から給送される用紙(83)を取り込み、印字機構部82によって所要の画像を記録した後、後面側に装着された排紙トレイ(86)に排紙する。
吐出不良が発生した場合等には、キャッピング手段でヘッド(94)の吐出口(ノズル)を密封し、チューブを通して吸引手段で吐出口からインクとともに気泡等を吸い出し、吐出口面に付着したインクやゴミ等はクリーニング手段により除去され吐出不良が回復される。また、吸引されたインクは、本体下部に設置された廃インク溜(不図示)に排出され、廃インク溜内部のインク吸収体に吸収保持される。
シリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)を形成し、この上に密着層としてSrRuO3膜(膜厚50nm)をスパッタ成膜した。次に、密着層上に第1の電極として白金膜(膜厚200nm)をスパッタ成膜した。次に、第1の電極上にパターン化された第2の電極を形成するため、先ずSrRuO3膜(膜厚200nm)をスパッタ成膜し、次いでSrRuO3膜上に東京応化社製フォトレジスト(TSMR8800)をスピンコート法で成膜した。このフォトレジスト膜を通常のフォトリソグラフィによりレジストパターンとした後、ICPエッチング装置(サムコ製)を用いて図3に示すようなパターンを作製した。次に、第1の電極の表面改質処理[第1の電極表面のみを改質させて疎水性領域とする]を実施した。即ち、アルカンチオール[CH3(CH2)6−SH]をイソプロピルアルコールに濃度0.01mol/lに調整して溶解した溶液にパターンを作製したシリコンウエハを浸漬させ、その後、イソプロピルアルコールで洗浄・乾燥させ、SAM処理を行った。SAM処理後の白金膜(第1の電極)上の水の接触角は100.8°であるのに対して、SrRuO3膜(第2の電極)上の水の接触角は15°であり、その後の電気−機械変換膜をインクジェット工法により成膜するのに必要な、親水性領域(親水面)と疎水性領域(撥水面)のコントラストが十分取れていることが確認できた。
引き続き繰返し表面処理としてアルカンチオールによる浸漬処理を行うことで、パターニング化したSAM膜を形成した。SAM処理後の白金膜上の水の接触角は99.2°であるのに対して、インクジェットにて作製したPZT膜上の水の接触角は15°であり、2層目以降を繰り返してインクジェットにより成膜するには、親水性領域(親水面)と疎水性領域(撥水面)のコントラストが十分取れていることが確認できた。
前記繰り返しによる工程(図6のD’〜F’)を6回繰り返して540nmの膜を得た後、結晶化熱処理(温度700℃)をRTA(急速熱処理)にて行った。膜にクラックなどの不良は生じなかった。さらに、SAM膜処理、PZT前駆体の選択塗布、120℃乾燥、500℃熱分解による結晶化処理、の各工程を順次6回繰り返したが、膜にクラックなどの不良は生じなかった。膜厚は1000nmに達した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaNiO3膜(膜厚20nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaNiO3膜(膜厚60nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaNiO3膜(膜厚10nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaAlO3膜(膜厚20nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaCoO3膜(膜厚50nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、CaMnO3膜(膜厚50nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、BaCrO3膜(膜厚50nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、チタン膜(膜厚50nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、TiO2膜(膜厚50nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaNiO3膜(膜厚5nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
実施例1においてシリコンウエハに熱酸化膜(膜厚1μm)上に密着層としてスパッタ成膜したSrRuO3膜(膜厚50nm)を、LaNiO3膜(膜厚100nm)に変更した以外は実施例1と同様にして電気−機械変換素子を作製した。
なお、碁盤目テープ剥離試験においては、100マスの碁盤上にセロハンテープ(CT24、ニチバン(株)製)を用い、指の腹を膜に密着させた後にテープ剥離した。判定は100マスのうち、剥離しないマス目の数で表し、電極層が剥離しない場合を100/100、完全に剥離する場合を0/100として表記した。
また、実施例1〜8、比較例1〜4で作製した電気−機械変換素子を用いて印加電界150kV/cmにおける電気特性、電気−機械変換能(圧電定数)の初期特性及び耐久性(10^10回繰り返し電界を印加した直後の特性)の評価を行った。代表的なP−Eヒステリシス曲線を図11に示す。電気−機械変換能に関してはレーザードップラ振動計で電界印加に伴う変位量を計測し、シミュレーションを活用して合わせ込みから算出した。
評価結果を下記表1にまとめて示す。
一方、比較例1においては白金上の接触角が低い値となっていた。そのため、親水性領域と疎水性領域とのコントラストが十分確保できず、PZTのパターニング性能が低下している。例えば、図12のSEM写真に示すように、表面改質膜による疎水性領域と親水性領域とのコントラストが十分確保できた場合(正常部)の下部電極(第1の電極)上の電気−機械変換膜と、コントラストが十分確保できない場合(異常部)では細線パターンの形成状態が大きく異なる。これに伴い、電気特性、電気−機械変換能が小さくなっている。比較例2、3においては剥離が生じ密着性が悪かった。そのため耐久試験中に剥れが生じ、評価を続けることができなくなってしまった。比較例4においては剥離率、接触角とも満たしたが、電気特性、電気−機械変換能は悪くなった。
また、液滴吐出ヘッドを配備したインクジェットプリンタにおいては振動板駆動不良によるインク滴吐出不良がなく、安定したインク滴吐出特性が得られて、画像品質が向上した。
101 圧力室
102 ノズル
103 ノズル板
104 圧力室基板(Si基板)
105 下地
106 下部電極
107 電気−機械変換膜
108 上部電極
109 電気−機械変換素子
(図2)
21 金属電極
22 SAM(チオール)
23 PZT
26 酸化物電極
27 SAM(シラン)
28 PZT
(図3)
301 基板
302 振動板
303 密着層
304 第1の電極、
305 第2の電極
306 電気−機械変換膜
307 第3の電極
(図4)
31 酸化物電極
32 金属電極
33 SAM(チオール)
34 PZT
(図5)
500 密着層
501 基板
502 振動板
503 第1の電極
504 第2の電極
505 電気−機械変換膜
506 第3の電極
507 絶縁保護膜
508 第4の電極
509 第5の電極
(図6)
1 下地
2 SAM膜(自己組織化単分子膜)
3 フォトレジスト
4 IJヘッド
(図7)
901 圧力室
902 ノズル
903 ノズル板
904 圧力室基板(Si基板)
905 振動板
906 密着層
907 電気−機械変換素子
(図8、図9)
81 記録装置本体
82 印字機構部
83 用紙
84 給紙カセット
85 トレイ
86 排紙トレイ
91 主ガイドロッド
92 従ガイドロッド
93 キャリッジ
94 記録ヘッド
95 インクカートリッジ
97 主走査モータ
98 駆動プーリ
99 従動プーリ
100 タイミングベルト
101 給紙ローラ
102 フリクションパッド
103 ガイド部材
104 搬送ローラ
105 搬送コロ
106 先端コロ
107 副走査モータ
109 印写受け部材
111 搬送コロ
112 拍車
113 排紙ローラ
114 拍車
115 ガイド部材
116 ガイド部材
117 回復装置
(図10)
200 架台
201 Y軸駆動手段
202 基板
203 ステージ
204 X軸支持部材
205 X軸駆動手段
208 IJヘッド
210 着色樹脂インク供給用パイプ
211 Z軸駆動手段
Claims (8)
- 基板または下地膜上に形成された、一般式ABO3(但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laから選択される元素を示し、Bは、Ru、Co、Ni、Mn、Al、Crから選択される元素を示す。)で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物から成り、且つ膜厚が10〜60nmである密着層と、
該密着層上に形成された白金から成る第1の電極と、
該第1の電極上に形成されたSrRuO3膜から成るパターン状の第2の電極と、
該パターン状の第2の電極上に形成された電気−機械変換膜と、
該電気−機械変換膜上に形成されたSrRuO3膜から成る第3の電極と、
を備えたことを特徴とする電気−機械変換素子。 - 前記一般式ABO3で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物が、LaNiO3若しくはLaAlO3であることを特徴とする請求項1に記載の電気−機械変換素子。
- 請求項1または2に記載の電気−機械変換素子を具備することを特徴とする液滴吐出ヘッド。
- 請求項3に記載の液滴吐出ヘッドを具備することを特徴とするインクジェットプリンタ。
- 基板または下地膜上に、一般式ABO 3 (但し、Aは、Sr、Ba、Ca、Laから選択される元素を示し、Bは、Ru、Co、Ni、Mn、Al、Crから選択される元素を示す。)で表されるペロブスカイト構造を有する酸化物から成り、且つ膜厚が10〜60nmである密着層を形成する工程と、
該密着層上に白金から成る第1の電極を形成する工程と、
該第1の電極上にSrRuO 3 膜から成るパターン化された第2の電極を形成する工程と、
該パターン化された第2の電極上に、前記第1の電極表面のみを疎水性領域とする改質処理を介してインクジェット工法により電気−機械変換膜を形成する工程と、
該電気−機械変換膜上にSrRuO 3 膜から成る第3の電極を形成する工程と、
を有することを特徴とする電気−機械変換素子の製造方法。 - 前記電気-機械変換膜が、下記(a)工程から(d)工程を含むプロセスフローを介して形成されたものであることを特徴とする請求項5に記載の電気−機械変換素子の製造方法。
(a)工程:前記パターン化された第2の電極表面を親水性領域として維持したまま前記第1の電極表面のみを改質させて疎水性領域とする。
(b)工程:前記パターン化された第2の電極表面上に、インクジェット工法により電気−機械変換膜用の前駆体溶液を印刷して塗膜を形成する。
(c)工程:前記塗膜を熱処理する。
(d)工程:前記(a)工程、(b)工程、(c)工程を繰返して電気−機械変換膜を所望の膜厚とする。 - 前記第1の電極表面のみの改質が、チオール材料により成されていることを特徴とする請求項6に記載の電気−機械変換素子の製造方法。
- 前記第2の電極が、スパッタ法或いはスピンコート法によりSrRuO 3 膜を前記第1の電極上に成膜後、フォトリソグラフィ・エッチングによりパターン化されたことを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記載の電気−機械変換素子の製造方法。
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