JP5845112B2 - スイッチ回路 - Google Patents

スイッチ回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5845112B2
JP5845112B2 JP2012044156A JP2012044156A JP5845112B2 JP 5845112 B2 JP5845112 B2 JP 5845112B2 JP 2012044156 A JP2012044156 A JP 2012044156A JP 2012044156 A JP2012044156 A JP 2012044156A JP 5845112 B2 JP5845112 B2 JP 5845112B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
node
input
input terminal
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012044156A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013183206A (ja
Inventor
佐藤 豊
豊 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2012044156A priority Critical patent/JP5845112B2/ja
Priority to TW105120564A priority patent/TWI575872B/zh
Priority to TW102102471A priority patent/TW201340602A/zh
Priority to CN201380011008.1A priority patent/CN104137418B/zh
Priority to KR1020147023959A priority patent/KR101716941B1/ko
Priority to PCT/JP2013/051706 priority patent/WO2013128997A1/ja
Publication of JP2013183206A publication Critical patent/JP2013183206A/ja
Priority to US14/469,207 priority patent/US9444451B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5845112B2 publication Critical patent/JP5845112B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/06Modifications for ensuring a fully conducting state
    • H03K17/063Modifications for ensuring a fully conducting state in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
    • H03K17/6872Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor using complementary field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0018Special modifications or use of the back gate voltage of a FET
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0054Gating switches, e.g. pass gates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

本発明は、正または負の電圧が入力される端子に設けられるスイッチ回路に関する。
図4は、従来のスイッチ回路の回路である。スイッチ回路は、入力端子INに入力される正または負の電圧を、スイッチ制御端子ENの信号に応じて内部回路15に伝達するか遮断するかを制御する。
入力端子INから入力された正の電圧VIN+を内部回路15の入力端子であるノードBへ伝達させる場合を考える。スイッチ制御端子ENの信号をアクティブ状態のVDD電圧にし、NMOSトランジスタ11及び12をONする。従って、入力端子INから入力された正の電圧VIN+は内部回路15の入力であるノードBへ伝達される。このとき、NMOSトランジスタ13はOFFしているため、ノードBの電圧に影響を与えない。
次に、入力端子INから入力された正の電圧VIN+を、内部回路15の入力であるノードBへ伝達させない場合を考える。スイッチ制御端子ENの信号を非アクティブ状態のGND電圧にする。NMOSトランジスタ11は、ドレインが電圧VIN+でゲートがGND電圧なのでOFFする。NMOSトランジスタ13がONしてノードAをGND電圧にしている。NMOSトランジスタ12は、ドレインとゲートがGND電圧なのでOFFする。従って、入力端子INから入力された正の電圧VIN+は内部回路15の入力であるノードBへ伝達されない。
次に、入力端子INから入力された負の電圧VIN−を内部回路15の入力であるノードBへ伝達させない場合を考える。スイッチ制御端子ENの信号を非アクティブ状態のGND電圧にする。しかし、NMOSトランジスタ11は、ドレインに入力端子INからGND電圧よりも低い負の電圧VIN−が印加されているため、弱反転領域のON状態となる。ここで、NMOSトランジスタ13はONしているので、ノードAは入力された負の電圧VIN−ではなく、GND電圧になる。NMOSトランジスタ12は、ドレインとゲート電圧がGND電圧なのでOFFする。従って、入力端子INから入力された負の電圧VIN−は、内部回路15の入力であるノードBへ伝達されない。
このように、従来のスイッチ回路は入力端子INから負電圧が入力されても内部回路15の入力へ負電圧の伝達を防止でき、内部回路の誤動作を防ぐことができる。
特開2010−206779号公報
しかしながら、従来のスイッチ回路は、スイッチ制御端子ENの信号のアクティブ状態をVDD電圧とすると、入力端子INから入力された正の電圧VIN+は、電圧(VDD−VGS−VOV)以上の電圧はノードBへ伝達できない。ここで、VDDは電源電圧、VGSはNMOSトランジスタ11及び12の閾値電圧(VGS>0V)、VOVはNMOSトランジスタ11及び12を確実にONさせるのに必要なオーバードライブ電圧(VOV>0V)である。
また、電圧(VDD−VGS−VOV)以上の電圧、例えば、電源電圧VDDをノードBへ伝達させたい場合、スイッチ制御端子ENのアクティブ状態の信号は、電圧(VDD+VGS+VOV)以上の電圧である必要がある。従って、昇圧回路やレベルシフト回路が必要となり、回路規模が増え製品のコストアップとなってしまう。
本発明のスイッチ回路は上記課題を解決するためになされたもので、ドレインが半導体装置の入力端子に接続され、ソースが第一ノードに接続され、ゲートが制御端子に接続された第一NMOSトランジスタと、ドレインが第一ノードに接続され、ソースが第二ノードに接続され、ゲートが制御端子に接続された第二NMOSトランジスタと、ソースが半導体装置の入力端子に接続され、ドレインが第一ノードに接続され、ゲートがインバータを介して制御端子に接続された第一PMOSトランジスタと、ソースが第一ノードに接続され、ドレインが第二ノードに接続され、ゲートがインバータを介して制御端子に接続された第二PMOSトランジスタと、ソースが接地電圧に接続され、ドレインが第一ノードに接続され、ゲートがインバータを介して制御端子に接続された第三NMOSトランジスタと、を備え、第二ノードが内部回路に接続される。
本発明のスイッチ回路によれば、入力端子INから負の電圧が入力されても内部回路15の入力へ伝達を防止し、かつ正の電圧はVDD電圧までの電圧を内部回路15の入力へ伝達できる。
第一の実施形態のスイッチ回路を示す回路図である。 第二の実施形態のスイッチ回路を示す回路図である。 第二の実施形態のレベルシフタ回路の一例を示す回路図である。 従来のスイッチ回路を示す回路図である。
以下、本発明のスイッチ回路の実施形態を、図面を参照して説明する。スイッチ回路は、入力端子INに入力される正または負の電圧を、スイッチ制御端子ENの信号に応じて内部回路15に伝達するか遮断するかを制御する。
<第一の実施形態>
図1は、第一の実施形態のスイッチ回路を示す回路図である。
第一の実施形態のスイッチ回路は、NMOSトランジスタ11、12及び13と、PMOSトランジスタ16及び17と、インバータ14と、を備える。
NMOSトランジスタ11は、ドレインが入力端子INに接続され、ゲートはスイッチ制御端子ENに接続され、ソースはNMOSトランジスタ12のドレインに接続され、バックゲートはGNDに接続される。NMOSトランジスタ12は、ゲートがスイッチ制御端子ENに接続され、ソースは内部回路15の入力端子(ノードB)に接続され、バックゲートはGNDに接続される。PMOSトランジスタ16は、ソースが入力端子INに接続され、ゲートはインバータ14の出力端子に接続され、ドレインはPMOSトランジスタ17のソースに接続され、バックゲートはVDDに接続される。PMOSトランジスタ17は、ゲートがインバータ14の出力に接続され、ドレインはノードBに接続され、バックゲートはVDDに接続される。インバータ14は、入力端子がスイッチ制御ENに接続される。NMOSトランジスタ13は、ゲートがインバータ14の出力端子に接続され、ソースはGNDに接地され、ドレインはNMOSトランジスタ11のソース、NMOSトランジスタ12のドレイン、PMOSトランジスタ16のドレイン、PMOSトランジスタ17のソースに接続され、バックゲートはGNDに接続される。
NMOSトランジスタ11及び12、PMOSトランジスタ16及び17は、スイッチ制御端子ENの信号によってオン/オフが制御される。インバータ回路14は、入力されたVDD/GND電圧の信号を反転して出力する。NMOSトランジスタ13は、NMOSトランジスタ11及び12、PMOSトランジスタ16及び17がオフしたとき、オンするよう制御される。
次に、第一の実施形態のスイッチ回路の動作について説明する。
(1)入力端子INから入力された正の電圧VIN+をノードBへ伝達させない場合
スイッチ制御端子ENは、非アクティブ状態のGND電圧の信号が入力される。NMOSトランジスタ11は、ドレインが電圧VIN+でゲートがGND電圧なのでOFFする。PMOSトランジスタ16は、ソースが電圧VIN+でゲートがVDD電圧なのでOFFする。NMOSトランジスタ13は、ゲートがVDD電圧なのでONしてノードAをGND電圧にしている。NMOSトランジスタ12は、ドレインとゲートがGND電圧なのでOFFする。PMOSトランジスタ17は、ソースがGND電圧でゲートがVDD電圧なのでOFFする。従って、入力端子INから入力された正の電圧VIN+は、ノードBへ伝達されない。
(2)入力端子INから入力された負の電圧VIN−をノードBへ伝達させない場合
スイッチ制御端子ENは、非アクティブ状態のGND電圧の信号が入力される。NMOSトランジスタ11は、ドレインが負の電圧VIN−でゲートがGND電圧なので、弱反転領域のON状態となる。しかし、NMOSトランジスタ13は、ゲートがVDD電圧なのでONしてノードAをGND電圧にする。NMOSトランジスタ12は、ドレインがGND電圧でありゲート電圧もGND電圧のためOFFする。PMOSトランジスタ16及び17は、ゲートがVDD電圧なのでOFFする。従って、入力端子INから入力された負の電圧VIN−は、ノードBへ伝達されない。
(3)入力端子INから入力された正の電圧(VDD電圧)をノードBへ伝達させる場合
スイッチ制御端子ENは、アクティブ状態のVDD電圧の信号が入力される。NMOSトランジスタ11は、ドレインとゲートがVDD電圧なので、ソース(ノードA)には電圧(VDD−VGS−VOV)が伝達される。ここでVDDは電源電圧、VGSはNMOSトランジスタ11及び12の閾値電圧(VGS>0V)、VOVはNMOSトランジスタ11及び12を確実にオンさせるのに必要なオーバードライブ電圧(VOV>0V)である。
一方、PMOSトランジスタ16は、ソースがVDD電圧でゲートがGND電圧なのでONして、ドレインにはVDD電圧が伝達される。ここで、PMOSトランジスタ16はフルオンしているため、ノードAの電圧はPMOSトランジスタ16のドレインの電圧が支配的になる。従って、ノードAの電圧はVDD電圧になる。
NMOSトランジスタ12とPMOSトランジスタ17の関係も同様であるため、ノードBにはVDD電圧が伝達できる。
以上説明したように、本実施形態のスイッチ回路は、GND電圧〜VDD電圧の範囲の入力電圧を伝達することが可能となる。
<第二の実施形態>
図2は、第二の実施形態のスイッチ回路を示す回路図である。
第二の実施形態のスイッチ回路は、図1の回路に加え、レベルシフタ回路18を備える。レベルシフタ回路18は、その電源端子Vが入力端子INに接続され、出力端子OがPMOSトランジスタ16のゲートに接続され、入力端子Iがスイッチ制御端子ENに接続される。また、PMOSトランジスタ16のバックゲートは入力端子INに接続される。
レベルシフタ回路18は、入力端子Iの信号を電源端子Vの電圧によって電圧変換し、出力端子Oから出力する。本実施形態では、入力と出力の論理が反転するように構成されている。入力端子Iの信号がVDD電圧の場合は、出力端子OからGND電圧の信号を出力する。入力端子Iの信号がGND電圧の場合は、出力端子Oから電源端子Vの電圧の信号を出力する。
(1)入力端子INから入力されたVDD電圧よりも高い電圧をノードBへ伝達させない場合
PMOSトランジスタ16は、バックゲートがVDDに接続されていると、ソース電圧よりもバックゲート電圧のほうが低くなる。従って、入力端子IN〜PMOSトランジスタ16(ソース〜バックゲート)〜VDDへ不要な電流が流れてしまう。
第二の実施形態のスイッチ回路では、PMOSトランジスタ16のバックゲートとソースが入力端子INに接続されているため、バックゲートとソース間の電位差がなくなり、VDDへの電流経路は存在しなくなる。また、PMOSトランジスタ16のゲートは、レベルシフタ回路18の出力端子Oから出力される入力端子INの電圧である。従って、PMOSトランジスタ16のゲートは、OFFするために必要な電圧が印加される。
その他の入力端子INの電圧とスイッチ回路の制御の組み合わせについては、第一の実施形態で述べた回路動作と同様である。
図3は、第二の実施形態のスイッチ回路に用いるレベルシフタ回路構成の一例である。PMOSトランジスタ21及び22と、NMOSトランジスタ23及び24、を備えた、一般的かつ、簡単なレベルシフタ回路の構成でよい。
このように、第二の実施形態のスイッチ回路では、スイッチオフ時に入力端子INからVDD電圧よりも高い電圧が印加されたときでも、入力端子INに不要な電流が流れることが防止でき、PMOSトランジスタ16の破壊を防止できる。
11〜13、22、23 NMOSトランジスタ
16、17、21、22 PMOSトランジスタ
14、15 インバータ
15 内部回路
18 レベルシフタ回路

Claims (1)

  1. 正または負の電圧が入力される半導体装置の入力端子に設けられ、前記正または負の電圧を内部回路に伝達するスイッチ回路において、
    ドレインが前記半導体装置の入力端子に接続され、ソースが第一ノードに接続され、ゲートが制御端子に接続された第一NMOSトランジスタと、
    ドレインが前記第一ノードに接続され、ソースが第二ノードに接続され、ゲートが前記制御端子に接続された第二NMOSトランジスタと、
    ソースが前記半導体装置の入力端子に接続され、ドレインが前記第一ノードに接続され、バックゲートが前記半導体装置の入力端子に接続された第一PMOSトランジスタと、
    ソースが前記第一ノードに接続され、ドレインが前記第二ノードに接続され、ゲートが前記インバータを介して前記制御端子に接続された第二PMOSトランジスタと、
    入力端子が前記制御端子に接続され、出力端子が前記第一PMOSトランジスタのゲートに接続され、電源端子が前記半導体装置の入力端子に接続されたレベルシフタ回路と、
    ソースが接地電圧に接続され、ドレインが前記第一ノードに接続され、ゲートが前記インバータを介して前記制御端子に接続された第三NMOSトランジスタと、を備え
    前記第二ノードが前記内部回路に接続されることを特徴とするスイッチ回路。
JP2012044156A 2012-02-29 2012-02-29 スイッチ回路 Active JP5845112B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012044156A JP5845112B2 (ja) 2012-02-29 2012-02-29 スイッチ回路
TW102102471A TW201340602A (zh) 2012-02-29 2013-01-23 開關電路
TW105120564A TWI575872B (zh) 2012-02-29 2013-01-23 Switch circuit
KR1020147023959A KR101716941B1 (ko) 2012-02-29 2013-01-28 스위치 회로
CN201380011008.1A CN104137418B (zh) 2012-02-29 2013-01-28 开关电路
PCT/JP2013/051706 WO2013128997A1 (ja) 2012-02-29 2013-01-28 スイッチ回路
US14/469,207 US9444451B2 (en) 2012-02-29 2014-08-26 Switch circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012044156A JP5845112B2 (ja) 2012-02-29 2012-02-29 スイッチ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013183206A JP2013183206A (ja) 2013-09-12
JP5845112B2 true JP5845112B2 (ja) 2016-01-20

Family

ID=49082201

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012044156A Active JP5845112B2 (ja) 2012-02-29 2012-02-29 スイッチ回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9444451B2 (ja)
JP (1) JP5845112B2 (ja)
KR (1) KR101716941B1 (ja)
CN (1) CN104137418B (ja)
TW (2) TWI575872B (ja)
WO (1) WO2013128997A1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150381160A1 (en) * 2014-06-26 2015-12-31 Infineon Technologies Ag Robust multiplexer, and method for operating a robust multiplexer
JP2016136681A (ja) * 2015-01-23 2016-07-28 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 スイッチ回路
US10236873B2 (en) * 2015-03-17 2019-03-19 Xilinx, Inc. Analog switch having reduced gate-induced drain leakage
KR101638352B1 (ko) 2015-04-24 2016-07-13 주식회사 지니틱스 코일에 연결된 출력단자를 플로팅되도록 하는 회로를 갖는 코일 구동 ic
AU2017315462B2 (en) 2016-08-26 2021-02-04 Allstate Insurance Company Automatic hail damage detection and repair
JP7329411B2 (ja) * 2019-10-18 2023-08-18 エイブリック株式会社 アナログスイッチ
EP4329198A1 (en) * 2022-08-23 2024-02-28 Nexperia B.V. Area efficient bidirectional switch with off state injection current control
TWI852168B (zh) 2022-11-16 2024-08-11 立積電子股份有限公司 開關裝置
TWI865988B (zh) 2022-12-14 2024-12-11 立積電子股份有限公司 開關裝置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2600753B2 (ja) * 1988-02-03 1997-04-16 日本電気株式会社 入力回路
JPH01236731A (ja) * 1988-03-16 1989-09-21 Nec Corp 相補型アナログスイッチ
GB2319128A (en) * 1996-10-30 1998-05-13 Motorola Gmbh A CMOS transmission gate multiplexer with improved OFF isolation
EP0993119A1 (en) * 1998-10-09 2000-04-12 Mitsubishi Semiconductor Europe GmbH Multiplexer circuit and analogue-to-digital converter
JP2001051730A (ja) * 1999-08-05 2001-02-23 Fujitsu Ltd スイッチ回路及びシリーズレギュレータ
US6911860B1 (en) * 2001-11-09 2005-06-28 Altera Corporation On/off reference voltage switch for multiple I/O standards
JP2010206779A (ja) 2009-02-06 2010-09-16 Seiko Instruments Inc スイッチ回路
WO2011079879A1 (en) * 2009-12-30 2011-07-07 Stmicroelectronics S.R.L. Low voltage isolation switch, in particular for a transmission channel for ultrasound applications
JP5476198B2 (ja) * 2010-04-19 2014-04-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 高周波スイッチ回路
CN102332901A (zh) * 2011-08-15 2012-01-25 苏州佳世达电通有限公司 开关电路及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI575872B (zh) 2017-03-21
CN104137418B (zh) 2017-06-16
JP2013183206A (ja) 2013-09-12
CN104137418A (zh) 2014-11-05
WO2013128997A1 (ja) 2013-09-06
KR101716941B1 (ko) 2017-03-27
KR20140138138A (ko) 2014-12-03
TW201340602A (zh) 2013-10-01
US9444451B2 (en) 2016-09-13
US20140361825A1 (en) 2014-12-11
TW201637364A (zh) 2016-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5845112B2 (ja) スイッチ回路
TWI520486B (zh) 搭載於半導體裝置的移位電路
US8581639B2 (en) Differential output circuit
JP4253720B2 (ja) パワーオンリセット回路
US8779829B2 (en) Level shift circuit
US9660651B2 (en) Level shift circuit
CN103269217B (zh) 输出缓冲器
JP2015046709A (ja) インターフェース回路
JP2011103607A (ja) 入力回路
KR101162697B1 (ko) 레벨 시프트 회로
JP2017063300A (ja) 入力回路
US9571094B2 (en) Switch circuit
US9722579B1 (en) Semiconductor device
US9407243B1 (en) Receiver circuit
JP2013021498A (ja) Cmos論理集積回路
JP2015136003A (ja) パワーオンリセット回路
US8502560B2 (en) Output circuit and output control system
JP2018142894A (ja) 出力バッファ及び半導体装置
JP6036272B2 (ja) レベルシフト回路、パワーオンリセット回路及び半導体集積回路
TWM517481U (zh) 電壓位準轉換器
TWI533600B (zh) 差動轉單端轉換器裝置及方法
CN105825893A (zh) 用于快闪存储器的负电压开关电路
JP2014168131A (ja) Cmosインバータ回路
JP2010206779A (ja) スイッチ回路
JP2014107771A (ja) トライステート制御回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150825

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151008

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151120

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5845112

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250