JP5842441B2 - 画像処理装置およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、画像中の互いに種類の異なる領域を特定する画像処理に関する。

従来から、画像中の種々のオブジェクト（例えば、テキスト）のレイアウトを特定する処理が行われている。例えば、画像を２値化し、２値画像から白矩形系列を抽出し、抽出された白矩形系列をセパレータとしてページ全体をいくつかの領域に分離する方法が提案されている（特許文献１）。

特開２００６−０８５６６５号公報

ところが、画像の中の互いに表示内容が異なる２つの領域（例えば、テキストを表す領域と背景を表す領域）の間の色の差が小さい場合に、その画像を２値化すると、上記した表示内容が異なる２つの領域を分離することができない場合があった。

本発明の主な利点は、画像中の互いに種類の異なる領域を特定する精度を向上することである。

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
［形態］
対象画像を表す対象画像データを用いて、前記対象画像に含まれる複数の画素のそれぞれのエッジ強度を表すエッジ画像データを生成する生成部と、
前記エッジ画像データによって表される画像であるエッジ画像の一部を表すとともに複数の画素を含む判定領域であって、互いに異なる複数の判定領域のそれぞれに対して、前記判定領域における前記エッジ強度の程度を表す特徴値を算出する特徴値算出部と、
前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が所定の基準以上である場合に、前記判定領域を不均一な画像を表す第１種領域として特定し、前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準よりも小さい場合に、前記判定領域を均一な画像を表す第２種領域として特定する、特定部と、
を備え、
前記複数の判定領域は、第１の判定領域と第２の判定領域と第３の判定領域とを含み、
前記第１の判定領域と前記第２の判定領域とは、互いに重なる一部の領域である第１の共通領域を含み、
前記第２の判定領域と前記第３の判定領域とは、互いに重なる一部の領域であって前記第１の共通領域とは異なる第２の共通領域を含み、
前記特定部は、前記第１の判定領域の前記エッジ強度の程度と、前記第３の判定領域の前記エッジ強度の程度と、のそれぞれが前記所定の基準以上であり、かつ、前記第２の判定領域の前記エッジ強度の程度が前記所定の基準未満である場合に、
前記第１の判定領域と前記第３の判定領域とのうち、前記第１の共通領域と前記第２の共通領域とを除いた残りの領域の少なくとも一部を前記第１種領域として特定し、
前記第２の判定領域を、前記第２種領域として特定する、
画像処理装置。

対象画像を表す対象画像データを用いて、前記対象画像に含まれる複数の画素のそれぞれのエッジ強度を表すエッジ画像データを生成する生成部と、前記エッジ画像データによって表される画像であるエッジ画像の一部を表すとともに複数の画素を含む判定領域であって、互いに異なる複数の判定領域のそれぞれに対して、前記判定領域における前記エッジ強度の程度を表す特徴値を算出する特徴値算出部と、前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が所定の基準以上である場合に、前記判定領域を不均一な画像を表す第１種領域として特定し、前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準よりも小さい場合に、前記判定領域を均一な画像を表す第２種領域として特定する、特定部と、を備える、画像処理装置。
この構成によれば、不均一な画像を表す第１種領域（主にオブジェクトを表す）と、均一な画像を表す第２種領域（主に背景を表す）と、の間の区別が、エッジ強度の程度を表す特徴値を利用して行われるので、種類の異なる各領域を特定する精度を向上することができる。

なお、本発明は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、画像処理方法および装置（システム）、それらの方法または装置（システム）の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体、等の形態で実現することができる。

本発明の一実施例としての複合機２００を示す説明図である。 画像処理部Ｍ１００（図１）によって実行される画像解析処理のフローチャートである。 原画像データによって表される原画像ＯＩとエッジ画像データによって表されるエッジ画像ＥＩとの例を示す概略図である。 本実施例におけるエッジ強度の算出式を示している。 均一領域判定のフローチャートである。 判定画像ＢＩと、判定画素ＢＩｐと、判定ブロックＢＬと、エッジ画素ＥＩｐと、の関係を示す概略図である。 ステップＳ２４０、Ｓ２５０の概略図である。 判定画像ＢＩ（エッジ画像ＥＩ）における判定ブロックＢＬの配置を示す概略図である。 共通の判定画素ＢＩｐで重なる４つの判定ブロックＢＬ＿ＵＬ、ＢＬ＿ＵＲ、ＢＬ＿ＬＬ、ＢＬ＿ＬＲを示す概略図である。 小さい領域の種類特定を説明する概略図である。 ステップＳ１２０の処理の例を示す概略図である。 属性判定の条件を示すテーブルである。 分布幅Ｗと色数Ｃとの説明図である。

Ａ．第１実施例：
次に、本発明の実施の形態を実施例に基づき説明する。図１は、本発明の一実施例としての複合機２００を示す説明図である。この複合機２００は、ＣＰＵ２１０と、内部記憶装置２２０（例えば、ＲＡＭ等の揮発性メモリ）と、外部記憶装置２９０（例えば、ハードディスクドライブやソリッドステートドライブ等の不揮発性メモリ）と、プリンタ部２５０と、スキャナ部２６０と、操作部２７０と、通信部２８０と、を有している。

プリンタ部２５０は、画像データを用いることによって、印刷媒体に画像を印刷する。スキャナ部２６０は、光学的スキャンによって画像データを生成する。操作部２７０は、タッチパネルやボタン等のユーザによって操作される操作部材を含む。通信部２８０は、他の電子機器（例えば、コンピュータ１００やデジタルカメラ）と通信するためにインタフェースである（例えば、いわゆるＵＳＢインタフェース、または、IEEE802.3のインタフェース）。

ＣＰＵ２１０は、外部記憶装置２９０に格納されたプログラム２９１を実行することによって、複合機２００の全体の動作を制御する。また、本実施例の複合機２００では、ＣＰＵ２１０は、画像処理部Ｍ１００と、印刷処理部Ｍ２００と、として動作する。画像処理部Ｍ１００は、エッジ画像生成部Ｍ１１０と、均一領域判定部Ｍ１２０と、属性判定部Ｍ１３０と、を含んでいる。均一領域判定部Ｍ１２０は、特徴値算出部Ｍ１２１と、領域特定部Ｍ１２２と、連結部Ｍ１２３と、を含んでいる。これらの処理部の詳細については、後述する。以下、ＣＰＵ２１０が特定の処理部として処理を実行することを、処理部が処理を実行する、とも表現する。

図２は、画像処理部Ｍ１００（図１）によって実行される画像解析処理のフローチャートである。本実施例では、画像処理部Ｍ１００は、画像の印刷時に、この画像解析処理を実行する。画像の印刷は、ユーザの指示に応じて行われる。例えば、複合機２００は、ユーザが操作部２７０のコピーボタン（図示せず）を操作したことに応じて、スキャナ部２６０の原稿台（図示せず）に載置された原稿を光学的に読み取って、読み取った画像を印刷する。具体的には、スキャナ部２６０は、原稿を表す画像データを生成する。画像処理部Ｍ１００は、スキャナ部２６０によって生成された画像データ（以下「原画像データ」とも呼ぶ）を解析することによって、オブジェクト（例えば、テキストや写真）を表す領域を特定し、オブジェクトの種類を判定する。印刷処理部Ｍ２００は、画像処理部Ｍ１００によって特定されたオブジェクトの領域と種類とを利用して、オブジェクト毎に種類に応じた画質調整を行い、画質調整済みの画像をプリンタ部２５０に印刷させる。

最初のステップＳ１００では、エッジ画像生成部Ｍ１１０は、原画像データを解析することによって、エッジ画像データを生成する。図３は、原画像データによって表される原画像ＯＩと、エッジ画像データによって表されるエッジ画像ＥＩと、のそれぞれの例を示す概略図である。図３の例では、原画像ＯＩは、写真ＰＨと、描画画像ＤＲと、複数の文字ＴＸと、を表している。写真ＰＨは、撮影によって得られた撮影画像である。描画画像ＤＲは、イラストやベクトルグラフィックス等の描画によって表された画像である。文字ＴＸは、文字を表す画像である。なお、原画像ＯＩでは、複数の画素が、第一方向ｈと、第一方向ｈと直交する第二方向ｖと、に沿って、マトリクス状に配置されている。第一方向画素数ＯＩｘは、原画像ＯＩの第一方向ｈの画素数を表し、第二方向画素数ＯＩｙは、原画像ＯＩの第二方向ｖの画素数を表している。

エッジ画像ＥＩは、原画像ＯＩ内の各画素位置におけるエッジ強度を表す。エッジ画像ＥＩの第一方向画素数ＥＩｘは、原画像ＯＩの第一方向画素数ＯＩｘと同じであり、エッジ画像ＥＩの第二方向画素数ＥＩｙは、原画像ＯＩの第二方向画素数ＯＩｙと同じである。エッジ強度は、画素値の変化の大きさを表している。図４は、本実施例における、エッジ強度の算出式を示している。本実施例では、エッジ画像生成部Ｍ１１０は、いわゆるソーベルオペレータ（Sobel operator）を用いて、エッジ強度を算出する。図４中の画素値Ｐ（ｘ，ｙ）は、原画像の画素値を表している。第一方向位置ｘは、第一方向ｈの画素位置を示し、第二方向位置ｙは、第二方向ｖの画素位置を示している。図４に示すように、特定の画素位置（ｘ，ｙ）におけるエッジ強度Ｓｅｄ（ｘ，ｙ）は、その画素位置（ｘ，ｙ）を中心とする３行３列の画素ブロックの画素値Ｐｍと、オペレータＧｘ、Ｇｙとを用いて算出される。第一方向オペレータＧｘは、第一方向ｈの画素値の変化の大きさを算出するためのオペレータであり、第二方向オペレータＧｙは、第二方向ｖの画素値の変化の大きさを算出するためのオペレータである。エッジ強度Ｓｅｄ（ｘ，ｙ）は、画素ブロックの画素値Ｐｍに第一方向オペレータＧｘを乗じて得られる値（第一方向成分Ｓｘ）の絶対値と、画素ブロックの画素値Ｐｍに第二方向オペレータＧｙを乗じて得られる値（第二方向成分Ｓｙ）の絶対値と、の和である。本実施例では、原画像ＯＩの各画素の色は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）のそれぞれの階調値で表されている。従って、エッジ画像生成部Ｍ１１０は、赤、緑、青のそれぞれのエッジ強度を算出する。

図３（Ｂ）には、エッジ画像ＥＩの概略が示されている。図３（Ｂ）では、濃い色は、エッジ強度が大きいことを示している。図３（Ｂ）で表現されたエッジ強度は、赤緑青のそれぞれのエッジ強度の重み付き平均値である。各色成分の重みは、赤緑青の各色成分から輝度値（ＹＣｂＣｒ色空間のＹ成分）を算出する式で用いられる重みと同じである。図示するように、文字ＴＸを表す領域では、文字の輪郭において、エッジ強度が大きい。描画画像ＤＲを表す領域では、描画画像ＤＲの構成要素の輪郭において、エッジ強度が大きい。写真ＰＨを表す領域では、写真ＰＨ中の色の変化が大きい部分において、エッジ強度が大きい。色の変化が小さい部分（均一な画像を表す部分。例えば、背景を表す部分）においては、エッジ強度が小さい。

図２の次のステップＳ１１０では、均一領域判定部Ｍ１２０（図１）は、エッジ画像ＥＩを用いて、均一領域判定を行う。この均一領域判定では、均一領域判定部Ｍ１２０は、原画像ＯＩ中の、均一な画像を表す領域と、不均一な画像を表す領域とを、特定する。均一な画像は、例えば、背景である。不均一な画像は、例えば、文字、写真、イラスト等のオブジェクトである。

図５は、均一領域判定のフローチャートである。最初のステップＳ２００では、領域特定部Ｍ１２２は、判定画像ＢＩのサイズ（第一方向画素数ＢＩｘと第二方向画素数ＢＩｙ）を算出する。判定画像ＢＩは、均一領域判定の結果を表す画像である。判定結果は、「１（均一画像を表す）」と「ゼロ（不均一画像を表す）」とのいずれかである。判定画像ＢＩの各画素の画素値（フラグ）は、最終的に、この判定結果である「１」又は「ゼロ」を表す。

図６は、判定画像ＢＩと、判定画像ＢＩの画素ＢＩｐ（「判定画素ＢＩｐ」と呼ぶ）と、判定ブロックＢＬと、エッジ画像ＥＩの画素ＥＩｐ（「エッジ画素ＥＩｐ」と呼ぶ）と、の関係を示す概略図である。本実施例では、判定ブロックＢＬ毎に判定が行われる。１つの判定ブロックＢＬの形状とサイズとは、２行２列の４つの判定画素ＢＩｐのブロックの形状とサイズと、同じである。最終的な均一領域判定の結果は、この判定画素ＢＩｐ毎に、決定される（詳細は後述）。１つの判定画素ＢＩｐの形状とサイズとは、１６行１６列のエッジ画素ＥＩｐのブロックの形状とサイズと同じである。すなわち、１つの判定ブロックＢＬの形状とサイズとは、３２行３２列のエッジ画素ＥＩｐのブロックの形状とサイズと、同じである。図中のブロックサイズＢＬｓｉｚｅは、１つの判定ブロックＢＬの第一方向ｈと第二方向ｖとのそれぞれの画素数（エッジ画素ＥＩｐの画素数。本実施例では、３２）を示している。また、判定画素数ＢＬｎは、１つの判定ブロックＢＬ内の第一方向ｈと第二方向ｖとのそれぞれの画素数（判定画素ＢＩｐの画素数。本実施例では、２）を示している。

図５のステップＳ２００では、領域特定部Ｍ１２２は、複数の判定画素ＢＩｐをマトリクス状に配置することによってエッジ画像ＥＩの全体を覆うために要する判定画素ＢＩｐの数（第一方向ｈの数と第二方向ｖの数）を算出する。領域特定部Ｍ１２２は、算出された第一方向ｈの数を、第一方向画素数ＢＩｘとして採用し、算出された第二方向ｖの数を、第二方向画素数ＢＩｙとして採用する。図５のステップＳ２００には、第一方向画素数ＢＩｘと第二方向画素数ＢＩｙの算出式が示されている。この算出式では、各数ＢＩｘ、ＢＩｙは、小数部分が切り捨てられて、整数に丸められる。また、エッジ画像ＥＩの第一方向画素数ＥＩｘが、１つの判定画素ＢＩｐの第一方向ｈの画素数（ＢＬｓｉｚｅ／ＢＬｎ）の倍数とは異なる場合がある。この場合、図５の算出式によれば、エッジ画像ＥＩの第一方向画素数ＥＩｘを判定画素ＢＩｐの第一方向ｈの画素数で割った余りの画素をカバーするために、判定画素ＢＩｐのラインが１つ追加される（第二方向ｖも同様である）。

次のステップＳ２１０では、領域特定部Ｍ１２２は、判定画像ＢＩの全画素の画素値（フラグ）をゼロに初期化する。

次のステップＳ２２０では、特徴値算出部Ｍ１２１は、１つの判定ブロックＢＬを選択する。本実施例では、判定画像ＢＩの全体を覆うように、複数の判定ブロックＢＬが配置されている（詳細は後述）。特徴値算出部Ｍ１２１は、それら複数の判定ブロックＢＬの中から、未処理の判定ブロックＢＬを選択する。

次のステップＳ２３０では、特徴値算出部Ｍ１２１は、ステップＳ２２０で選択した判定ブロックＢＬ内の平均画素値を算出する。この平均画素値は、判定ブロックＢＬ内のエッジ画素ＥＩｐの画素値（エッジ強度）の平均値であり、赤、緑、青の各色成分毎に算出される。図３（Ｂ）にも示されるように、判定ブロックＢＬが均一な画像を表す場合には、エッジ強度が小さいので、平均画素値は小さい。判定ブロックＢＬが不均一な画像を表す場合には、エッジ強度が大きいので、平均画素値は大きい。

次のステップＳ２４０では、領域特定部Ｍ１２２が、ステップＳ２３０で算出された平均画素値を用いて、判定ブロックＢＬが均一画像を表しているか否かを判定する。判定ブロックＢＬが均一画像を表していると判定された場合には（Ｓ２４０でＹｅｓ）、次のステップＳ２５０で、領域特定部Ｍ１２２は、判定ブロックＢＬ内の判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）を１に設定する。

図７は、ステップＳ２４０、Ｓ２５０の概略図である。図７には、判定画像ＢＩの一部（複数の判定画素ＢＩｐ）と１つの判定ブロックＢＬとが示されている（判定ブロックＢＬにハッチングが付されている）。各判定画素ＢＩｐに示された括弧内の数値は、判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）を示している。本実施例では、判定ブロックＢＬが均一な画像を表していると判定されるための条件は、赤の平均画素値ＡｖｅＲと、緑の平均画素値ＡｖｅＧと、青の平均画素値ＡｖｅＢと、の全てが、所定の閾値Ｔｈ＿ＢＧよりも小さいことである（以下、「均一条件」と呼ぶ）。図３、図４で説明したように、均一な画像を表している領域では、エッジ強度が小さいので、平均画素値が小さくなる。一方、不均一な画像を表している領域では、エッジ強度が大きいので、平均画素値が大きくなる。従って、赤緑青の平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢが均一条件を満たす場合には、判定ブロックＢＬが均一な画像を表している可能性が高い。赤緑青の平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢが均一条件を満たさない場合には、判定ブロックＢＬが不均一な画像を表している可能性が高い。なお、本実施例では、閾値Ｔｈ＿ＢＧは、正値である。閾値Ｔｈ＿ＢＧは、判定の精度が高くなるように実験的に決定されてよい。

判定ブロックＢＬが均一条件を満たす場合には（Ｓ２４０でＹｅｓ）、次のステップＳ２５０で、領域特定部Ｍ１２２は、判定ブロックＢＬ内の全ての判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）を、１に設定する。図６、図７に示すように、本実施例では、１つの判定ブロックＢＬは、４つの判定画素ＢＩｐを含んでいる。従って、領域特定部Ｍ１２２は、４つの判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）を１に設定する。なお、判定ブロックＢＬが均一条件を満たさない場合には（Ｓ２４０でＮｏ）、ステップ２５０を省略して、ステップ２６０に移行する。

このように、複数のエッジ画素ＥＩｐを含む判定ブロックＢＬの平均画素値を用いて１回の判定を行う理由は、原画像ＯＩ、または、エッジ画像ＥＩにノイズが含まれる場合であっても、平均値の算出に利用される画素の数が多いほどノイズ（例えば、ノイズを表す１つの画素）の影響を低減させることができることを利用して、判定結果に対するノイズの影響を緩和するためである。このようなノイズは、種々の原因（例えば、光学的なスキャン、または、種々の画像処理）によって、引き起こされる。

図５の次のステップＳ２６０では、領域特定部Ｍ１２２は、全ての判定ブロックＢＬの判定が完了したか否かを判定する。未判定の判定ブロックＢＬが残っている場合には（Ｓ２６０でＮｏ）、均一領域判定部Ｍ１２０は、ステップＳ２２０〜Ｓ２６０の処理を繰り返すことによって、全ての判定ブロックＢＬの判定を完了する。一方、全ての判定ブロックＢＬの判定が完了している場合には（Ｓ２６０でＹｅｓ）、均一領域判定を終了する。

図８は、判定画像ＢＩ（エッジ画像ＥＩ）における判定ブロックＢＬの配置を示す概略図である。図中には、判定画像ＢＩ（エッジ画像ＥＩ）と、図５のステップＳ２２０で選択された判定ブロックＢＬと、が示されている。ステップＳ２２０〜Ｓ２６０の処理が繰り返されることによって、選択される判定ブロックＢＬの位置は、図８（Ａ）〜図８（Ｅ）の順に移動する。

本実施例では、特徴値算出部Ｍ１２１（図１）は、判定画像ＢＩの左上隅から右下隅まで、判定ブロックＢＬを１画素分の距離ずつ移動させる（ここで、１画素＝１判定画素ＢＩｐ）。具体的には、判定画像ＢＩの左上の隅から、第一方向ｈに１画素分の距離ずつ、判定ブロックＢＬが移動する（図８（Ａ）、図８（Ｂ）、図８（Ｃ））。そして、判定ブロックＢＬが判定画像ＢＩの右端に到達したら、判定ブロックＢＬは、第二方向ｖに１画素分だけシフトした第一方向ライン上を、判定画像ＢＩの左端から右端に向かって１画素分の距離ずつ移動する（図８（Ｄ）、図８（Ｅ））。このような移動を繰り返すことによって、判定ブロックＢＬは、判定画像ＢＩ上の全ての領域をカバーする。すなわち、互いに異なる位置に配置された複数の判定ブロックＢＬが、判定画像ＢＩの全体を覆っている、ということができる。

図６で説明したように、本実施例では、１つの判定ブロックＢＬの形状とサイズとは、２行２列の判定画素ＢＩｐのブロックの形状とサイズと、同じである。従って、判定ブロックＢＬは、少なくとも１つの他の判定ブロックＢＬと互いに一部の領域が重なる。例えば、図８（Ａ）の判定ブロックＢＬの右半分は、図８（Ｂ）の判定ブロックＢＬの左半分と、重なる。また、図８（Ａ）の判定ブロックＢＬの下半分は、図８（Ｄ）の判定ブロックＢＬの上半分と重なる。図８（Ａ）の判定ブロックＢＬの右下部分は、図８（Ｅ）の判定ブロックＢＬの左上部分と重なる。このように、１つの判定ブロックＢＬ中の、１つの判定画素ＢＩｐ、または、２つの判定画素ＢＩｐが、他の判定ブロックＢＬと重なる。本実施例では、複数の判定ブロックＢＬは、第一方向ｈと第二方向ｖとのそれぞれの方向に、判定ブロックＢＬの長さよりも短い間隔で、並べて配置される（本実施例では、間隔＝１つの判定画素ＢＩｐの大きさ）。換言すれば、複数の判定ブロックＢＬは、少なくとも１つの他の判定ブロックＢＬと互いに一部の領域が重なるように、配置される。

具体的には、判定画像ＢＩの判定画素ＢＩｐのうちの縁（ふち）の画素を除いた残りの判定画素ＢＩｐ（例えば、図８の第１画素ＢＩｐ１）は、４つの判定ブロックＢＬと重なる。また、判定画像ＢＩの縁の判定画素ＢＩｐのうちの４隅の判定画素ＢＩｐ（例えば、第２画素ＢＩｐ２）は、１つの判定ブロックＢＬと重なる。さらに、４隅を除いた縁の画素（例えば、第３画素ＢＩｐ３）は、２つの判定ブロックＢＬと重なる。

図９は、共通の判定画素ＢＩｐで重なる４つの判定ブロックＢＬ＿ＵＬ、ＢＬ＿ＵＲ、ＢＬ＿ＬＬ、ＢＬ＿ＬＲを示す概略図である。図中では、共通の判定画素ＢＩｐにハッチングが付されている。図示するように、各判定ブロックＢＬ＿ＵＬ、ＢＬ＿ＵＲ、ＢＬ＿ＬＬ、ＢＬ＿ＬＲは、共通の判定画素ＢＩｐから見て、左上、右上、左下、右下に、それぞれ拡がっている。

図５で説明したように、本実施例では、判定ブロックＢＬ毎に、ステップＳ２４０の判定が行われる。従って、４つの判定ブロックＢＬ＿ＵＬ、ＢＬ＿ＵＲ、ＢＬ＿ＬＬ、ＢＬ＿ＬＲのそれぞれの４つの判定結果Ｒ＿ＵＬ、Ｒ＿ＵＲ、Ｒ＿ＬＬ、Ｒ＿ＬＲが、共通の判定画素ＢＩｐに適用される。本実施例では、「均一画像を表す（フラグ＝１）」という判定結果が優先される（図５に示すように、「１」に設定されたフラグは「ゼロ」に戻らない）。すなわち、４つの判定結果Ｒ＿ＵＬ、Ｒ＿ＵＲ、Ｒ＿ＬＬ、Ｒ＿ＬＲのうちの少なくとも１つの判定結果が「ステップＳ２４０でＹｅｓ」である場合には、判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）は、１（均一画像を表す）に設定される。全ての判定結果Ｒ＿ＵＬ、Ｒ＿ＵＲ、Ｒ＿ＬＬ、Ｒ＿ＬＲが「ステップＳ２４０でＮｏ」である場合には、判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）は、ゼロ（不均一画像を表す）に維持される。１つの判定画素ＢＩｐと重なる判定ブロックＢＬの総数が２、または、１である場合も、同様である。

このように、互いに異なる複数の判定ブロックＢＬのそれぞれの判定結果を用いて、判定ブロックＢＬよりも小さい判定画素ＢＩｐの最終的な判定結果を決定する理由は、小さい領域の種類特定を適切に行うためである。

図１０は、小さい領域の種類特定を説明する概略図である。図１０（Ａ）、図１０（Ｂ）は、エッジ画像ＥＩの同じ部分を示している。図示された部分は、第一方向ｈに延びる２つの文字列ＳＴ１、ＳＴ２を表している。また、図１０（Ａ）は、第二方向ｖに並んだ４つの判定ブロックＢＬ１１〜ＢＬ１４を示し、図１０（Ｂ）は、第二方向に並んだ３つの判定ブロックＢＬ２１〜ＢＬ２３を示している。図１０（Ｂ）の判定ブロックＢＬ２１〜ＢＬ２３は、図１０（Ａ）の判定ブロックＢＬ１１〜ＢＬ１３を、第二方向（ｖ方向）に１画素分（１画素＝１判定画素ＢＩｐ）だけシフトして得られる判定ブロックである。各判定ブロックＢＬ１１〜ＢＬ１４、ＢＬ２１〜ＢＬ２３の中に示された「Ｙｅｓ」または「Ｎｏ」は、各判定ブロックの判定結果（図５、図６のステップＳ２４０の結果）を示している。

図示するように、２本の文字列ＳＴ１、ＳＴ２の間には、小さい隙間Ｓ１があいている（この隙間Ｓ１は、背景を表している。以下、隙間Ｓ１を「背景Ｓ１」とも呼ぶ）。図１０（Ａ）では、第２判定ブロックＢＬ１２が、第１文字列ＳＴ１の一部と背景Ｓ１の一部とをカバーしている。また、第３判定ブロックＢＬ１３は、第２文字列ＳＴ２の一部と背景Ｓ１の一部とをカバーしている。これらの判定ブロックＢＬ１２、ＢＬ１３の判定結果は、文字列ＳＴ１、ＳＴ２の一部を表しているが故に、背景Ｓ１を表すにも拘わらず、「Ｎｏ（不均一画像を表す）」である。

図１０（Ｂ）では、第１判定ブロックＢＬ２１と第３判定ブロックＢＬ２３は、文字列ＳＴ１、ＳＴ２を、それぞれカバーしている。また、第２判定ブロックＢＬ２２は、文字列ＳＴ１、ＳＴ２をカバーせずに、背景Ｓ１のみをカバーしている。この結果、第２判定ブロックＢＬ２２の判定結果は、「Ｙｅｓ（均一画像を表す）」である。

ここで、背景Ｓ１を表す判定画素ＢＩｐａ（以下「着目判定画素ＢＩｐａ」と呼ぶ）について検討する。着目判定画素ＢＩｐａを含む判定ブロックＢＬ１２（図１０（Ａ））は、背景Ｓ１に加えて、第１文字列ＳＴ１を表している。従って、この判定ブロックＢＬ１２の判定結果は「Ｎｏ（不均一画像を表す）」である。一方、着目判定画素ＢＩｐａを含む別の判定ブロックＢＬ２２（図１０（Ｂ））は、文字列ＳＴ１、ＳＴ２を表さずに、背景Ｓ１のみを表している。従って、この判定ブロックＢＬ２２の判定結果は「Ｙｅｓ（均一画像を表す）」である。

図９に示すように、互いに異なる複数の判定ブロックＢＬが共通の判定画素ＢＩｐで重なる場合には、その判定画素ＢＩｐから見て、それら複数の判定ブロックＢＬは、互いに異なる方向に拡がる。換言すれば、それら複数の判定ブロックＢＬの間で、共通の判定画素ＢＩｐを除いた残りの部分を比較すると、複数の判定ブロックＢＬは、それぞれ、互いに異なる領域を含んでいる（例えば、左上の判定ブロックＢＬ＿ＵＬは、判定画素ＢＩｐの左上の部分ＰＵＬを含むが、他の判定ブロックＢＬ＿ＵＲ、ＢＬ＿ＬＬ、ＢＬ＿ＬＲは、その部分ＰＵＬを含まない）。従って、図１０に示すように、判定画素ＢＩｐａの近傍に、その判定画素ＢＩｐａとは異なる種類の画像（文字列ＳＴ１）を表す領域が配置されている場合であっても、その判定画素ＢＩｐａと重なる複数の判定ブロックＢＬ１２、ＢＬ２２のうちの一部（判定ブロックＢＬ２２）は、その判定画素ＢＩｐａと同じ種類の画像（背景Ｓ１）のみを表すことが可能である。そして、そのような判定ブロックの判定結果を他の判定ブロックの判定結果よりも優先することによって（この場合、判定画素ＢＩｐａのフラグを優先的に「１」に設定することができる）、その判定画素ＢＩｐの種類を適切に特定することができる。なお、特定の種類の画像を表す領域の大きさが、１つの判定ブロックＢＬと同程度であれば、このような適切な特定が可能である。また、本実施例では、図８に示すように複数の判定ブロックＢＬと重なる複数の判定画素ＢＩｐが、エッジ画像ＥＩ（原画像ＯＩ）のほぼ全体を隙間なく覆っている。従って、原画像ＯＩ内の任意の位置において、上記のような適切な特定が可能となる。また、１つの種類の画像の輪郭が微細なパターンを示す場合に、その微細なパターンを適切に特定することができる。

以上のように、全ての判定ブロックＢＬの判定が進行する。全ての判定ブロックＢＬの判定が完了したら（すなわち、全ての判定画素ＢＩｐの画素値（フラグ）が確定したら）、図５の均一領域判定（図２：ステップＳ１１０）が終了する。

図２の次のステップＳ１２０では、連結部Ｍ１２３（図１）が、画素値（フラグ）が同じ判定画素ＢＩｐの連結と、判定画素ＢＩｐの連結によって得られた領域（以下、「連結領域」と呼ぶ）のラベリングとを、行う。図１１は、ステップＳ１２０の処理の例を示す概略図である。図１１（Ａ）は、均一領域判定（Ｓ１１０）が施された判定画像ＢＩを示している。斜めのハッチングが付された判定画素ＢＩｐは、均一画像を表すと判定された画素を示し、斜めのハッチングの無い判定画素ＢＩｐは、不均一画像を表すと判定された画素を示している。

連結部Ｍ１２３は、画素値（フラグ）が同じで、かつ、互いに接する２つの判定画素ＢＩｐを連結する処理を繰り返すことによって、連続な領域を形成する。２つの判定画素ＢＩｐが互いに接するとは、２つの判定画素ＢＩｐが分離していないことを意味している。本実施例では、２つの判定画素ＢＩｐが接していると判定されるための条件（以下「連結条件」とも呼ぶ）は、２つの判定画素ＢＩｐの間の距離が１．５画素以下であることである。この場合、１つの判定画素は、その判定画素を囲む８つの判定画素のいずれとも接している、ということである。この代わりに、連結条件は、２つの判定画素ＢＩｐの間の距離が１画素以下であることであってもよい。この場合には、１つの判定画素は、その判定画素の上下左右に位置する４つの判定画素のいずれとも接している、ということである。

図１１（Ｂ）は、連結処理が施された判定画像ＢＩを示している。ハッチングが付された領域は、均一画像を表すと判定された領域を示し、ハッチングの無い領域は、不均一画像を表すと判定された領域を示している。図１１（Ｂ）の例では、不均一画像を表すと判定された複数の画素が、８つの連結領域Ａ１ａ〜Ａ１ｈを形成し、均一画像を表すと判定された複数の画素が、１つの連結領域Ａ２ａを形成している。８つの連結領域Ａ１ａ〜Ａ１ｈは、原画像ＯＩ（図３（Ａ））のオブジェクト（文字ＴＸと写真ＰＨと描画画像ＤＲ）に対応しており、連結領域Ａ２ａは、原画像ＯＩの背景に対応している。

次に、連結部Ｍ１２３は、ラベリングを行う。ラベリングは、連結処理によって形成された各連結領域に識別子（ラベル）を付与する処理である。図１１（Ｃ）は、ラベリングが施された判定画像ＢＩを示している。図示するように、連結処理によって形成された９つの連結領域に、１〜９のラベル（識別子）が、それぞれ付与されている。

図２の次のステップＳ１３０では、属性判定部Ｍ１３０（図１）が、不均一画像を表すと判定された連結領域の詳細な属性を判定する。本実施例では、属性は、「文字画像」と、「撮影画像」と、「描画画像」と、の中から選択される。この属性判定は、ステップＳ１２０で形成された連結領域毎に行われる。

図１２は、属性判定の条件を示すテーブルである。本実施例では、属性判定部Ｍ１３０は、色の分布幅Ｗと、色数Ｃと、画素密度Ｓと、に応じて属性を決定する。

図１３は、分布幅Ｗと色数Ｃとの説明図である。図中には、輝度のヒストグラムが示されている。この輝度ヒストグラムは、原画像ＯＩにおける１つの連結領域内の画素値から算出される輝度のヒストグラムである（本実施例では、輝度が０〜２５５の整数で表される）。判定画像ＢＩの画素と、エッジ画像ＥＩ（すなわち、原画像ＯＩ）の画素と、の対応関係は、図６で説明したように、予め決められている。この対応関係に従って、原画像ＯＩにおける連結領域が特定される。すなわち、原画像ＯＩにおける連結領域は、原画像ＯＩに判定画像ＢＩを重ねた場合に、判定画像ＢＩ上の連結領域と重なる領域である。また、このヒストグラムでは、背景とほぼ同じ色を表す画素が除かれている。本実施例では、背景の色は、均一画像を表すと判定された領域の色である（例えば、そのような領域における平均画素値によって表される色を、背景の色として採用可能である）。そして、背景の色との差が所定値以下である色を表す画素（例えば、各色成分の画素値の差が所定の閾値以下）を、ヒストグラムから除くこととしている。

色数Ｃは、度数（画素数）が所定の閾値Ｔｈ以上である輝度の累積幅である。このような色数Ｃは、度数が閾値Ｔｈ以上である階級（binとも呼ばれる）の総数に、１つの階級の幅を乗じることによって、算出可能である。例えば、図１３のヒストグラムは、閾値Ｔｈを越える３つのピークＰ１、Ｐ２、Ｐ３を示している。色数Ｃは、第１ピークＰ１の閾値Ｔｈを越える部分の幅Ｃ１と、第２ピークＰ２の閾値Ｔｈを越える部分の幅Ｃ２と、第３ピークＰ３の閾値Ｔｈを越える部分の幅Ｃ３と、の和である。一般的に、文字は少ない色で表現されることが多いので、連結領域が文字を表す場合には、色数Ｃは少なくなる。撮影画像は、撮影された被写体の種々の色を表すので、連結領域が撮影画像を表す場合には、色数Ｃが多くなる。描画画像は、文字と比べて多くの色で表現されることが多いが、撮影画像と比べると、利用される色の数は少ないことが多い。従って、連結領域が描画画像を表す場合には、色数Ｃは、文字画像の色数Ｃよりも多く、撮影画像の色数Ｃよりも少ない傾向がある。

分布幅Ｗは、度数（画素数）が所定の閾値Ｔｈ以上である輝度（階級）の最低値と最高値との間の差（幅）である。色数Ｃの説明と同じ理由により、連結領域が文字を表す場合には、分布幅Ｗは小さくなり、連結領域が撮影画像を表す場合には、分布幅Ｗが大きくなる。そして、連結領域が描画画像を表す場合には、分布幅Ｗは、文字画像の分布幅Ｗよりも大きく、撮影画像の分布幅Ｗよりも小さい傾向がある。

画素密度Ｓは、連結領域において、背景とほぼ同じ色を表す画素を除いた残りの画素の密度（単位面積当たりの画素数）である。背景とほぼ同じ色を表す画素は、ヒストグラムから除かれた画素と同じである。一般的に、文字は、背景上に、背景とは異なる色の細線で、書かれている。従って、連結領域が文字を表す場合には、画素密度Ｓが小さくなる。撮影画像では、ほとんどの部分が、背景とは異なる色で表されている。従って、連結領域が撮影画像を表す場合には、画素密度Ｓが大きくなる。描画画像は、文字と同様に、背景上に、背景とは異なる色で表現されている。ただし、文字とは異なり、描画画像は、細線に限らず、太線または塗りつぶされた領域を含み得る。従って、連結領域が描画画像を表す場合には、画素密度Ｓは、文字画像の画素密度Ｓよりも大きく、撮影画像の画素密度Ｓよりも小さい傾向がある。

図１２の判定条件は、以上の特徴を考慮して、構成されている。具体的には、属性判定部Ｍ１３０は、以下の３つの判定結果の組み合わせに対応付けられた属性を選択する。
判定１）分布幅Ｗが、所定の分布幅閾値Ｗｔｈ以上であるか否か
判定２）色数Ｃが、所定の色数閾値Ｃｔｈ以上であるか否か
判定３）画素密度Ｓが、所定の画素密度閾値Ｓｔｈ以上であるか否か
例えば、分布幅Ｗが分布幅閾値Ｗｔｈ未満であり、色数Ｃが色数閾値Ｃｔｈ未満であり、画素密度Ｓが画素密度閾値Ｓｔｈ未満である場合には、属性判定部Ｍ１３０は、連結領域の属性が「文字画像」であると判定する。

属性判定部Ｍ１３０（図１）は、図１３のようなヒストグラムを生成し、ヒストグラムを解析することによって、分布幅Ｗと色数Ｃとを算出し、また、原画像ＯＩの連結領域を解析することによって、画素密度Ｓを算出する。そして、属性判定部Ｍ１３０は、算出された分布幅Ｗと色数Ｃと画素密度Ｓとを用いて、属性を判定する。属性判定部Ｍ１３０は、不均一画像を表すと判定された全ての連結領域の属性を判定する。この判定が完了したことに応じて、図２の画像解析処理は終了する。印刷処理部Ｍ２００は、原画像ＯＩの各連結領域に対して、属性に応じた画質調整を行う。例えば、印刷処理部Ｍ２００は、文字画像を表す連結領域に対しては、シャープネスを強くする処理を行う。また、印刷処理部Ｍ２００は、撮影画像を表す連結領域に対しては、撮影画像が好ましい色で印刷されるように予め設定された色調整を行う。印刷処理部Ｍ２００は、画質調整済みの画像を表す画像データをプリンタ部２５０に供給することによって、画像の印刷を行う。

以上のように、本実施例では、特徴値算出部Ｍ１２１は、エッジ画像ＥＩ上に配置された互いに異なる複数の判定ブロックＢＬのそれぞれに対して、平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢを算出する（図５：Ｓ２３０）。これらの平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢは、図４に示すエッジ強度Ｓｅｄの平均値であるので、エッジ強度の程度を表している。そして、図５、図７のステップＳ２４０で説明したように、領域特定部Ｍ１２２は、平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢが均一条件を満たしている場合には、判定ブロックＢＬが均一画像を表していると特定し、平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢが均一条件を満たしていない場合には、判定ブロックＢＬが不均一画像を表していると特定する。均一条件は、赤緑青の全ての色成分の平均画素値（エッジ強度）が閾値Ｔｈ＿ＢＧよりも小さい場合に満たされ、少なくとも１つの色成分の平均画素値が閾値Ｔｈ＿ＢＧ以上である場合に満たされない。従って、均一条件は、平均画素値によって表されるエッジ強度の程度が所定の基準以上であるか否かを判定する条件である。このように、不均一画像を表す領域と、均一画像を表す領域との間の区別が、エッジ強度の程度を表す平均画素値を利用して行われるので、種類の異なる各領域を特定する精度を向上することができる。例えば、テキストの色が背景の色に近い場合であっても、テキストを表す領域では、背景を表す領域と比べて、エッジ強度が強くなるので、それらの領域を適切に分離することができる。

また、均一領域判定には、判定ブロックＢＬにおける複数のエッジ画素ＥＩｐの画素値（エッジ強度）の平均値が利用される。この結果、原画像ＯＩ、または、エッジ画像ＥＩがノイズを含む場合であっても、ノイズの影響を緩和することができるので、種類の異なる各領域を特定する精度を向上することができる。例えば、原画像ＯＩ、または、エッジ画像ＥＩの背景を表す領域に、光学的スキャン又は画像処理に起因するノイズが生じる場合がある。このような場合であっても、背景を表す領域が不均一画像を表す領域として誤って特定される可能性を低減できる。

また、図８で説明したように、複数の判定ブロックＢＬは、少なくとも１つの他の判定ブロックＢＬと互いに一部の共通領域（判定画素ＢＩｐ）が重なるように構成されている。そして、図９で説明したように、複数の判定ブロックＢＬが重なる共通領域（判定画素ＢＩｐ）では、それら複数の判定ブロックＢＬのそれぞれの判定結果を総合して、その共通領域（判定画素ＢＩｐ）の種類が特定される。この結果、判定ブロックＢＬと同程度の大きさの小領域の種類を適切に特定することができる。特に、本実施例では、図９、図１０で説明したように、「均一画像を表す」という判定結果が優先される。この結果、均一画像を表す領域が、誤って、不均一画像を表す領域であると特定される可能性を低減できる。

さらに、本実施例では、図８で説明したように、複数の判定ブロックＢＬが重なる共通領域（判定画素ＢＩｐ）が、判定画像ＢＩ（すなわち、原画像ＯＩ）のほぼ全体（４隅の判定画素ＢＩｐを除いた残りの領域）を隙間無く覆うように、配置されている。この結果、判定ブロックＢＬと同程度の大きさの小領域の種類の適切な特定を、原画像ＯＩのほぼ全体に亘って、行うことができる。

また、本実施例では、図２のステップＳ１２０、図１１で説明したように、連結部Ｍ１２３は、互いに接している２つの領域（判定画素ＢＩｐ）が同じ種類の領域であると特定された場合に、２つの領域を１つの領域として連結する。この結果、１つのオブジェクト（例えば、テキスト）を表す複数の判定画素ＢＩｐを１つの領域として連結することが可能となる。すなわち、１つのオブジェクトを表す大きな領域を、１つの領域として特定することが可能になる。この結果、種類の異なる各領域を特定する精度を向上することができる。

なお、本実施例では、判定ブロックＢＬは、本発明における「判定領域」の例であり、判定ブロックＢＬから算出される平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢは、「エッジ強度の程度を表す特徴値」の例である。また、平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢが均一条件を満たすことは、「特徴値によって表されるエッジ強度の程度が所定の基準よりも小さい」ことの例である。また、複数の判定ブロックＢＬが重なる共通の判定画素ＢＩｐは、「共通領域」の例であり、１つの共通な判定画素ＢＩｐで重なる複数の判定ブロックＢＬのそれぞれは、「重畳判定領域」の例である。本実施例では、１つの重畳判定領域（判定ブロックＢＬ）は、互いに異なる複数の共通領域（判定画素ＢＩｐ）を有している。

Ｂ．変形例：
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。

変形例１：
エッジ強度の算出式は、図４の算出式に限らず、画素値の変化の大きさを表す値を算出可能な他の任意の算出式であってよい。例えば、エッジ強度は、第一方向成分Ｓｘの２乗と第二方向成分Ｓｙの２乗との合計値の平方根であってもよく、また、いわゆるプレウィットオペレータ（Prewitt operator）を用いて算出されてもよい。また、エッジ強度は、赤緑青の各色成分に限らず、他の色成分（例えば、輝度）の画素値を用いて算出されてもよい。

変形例２：
判定ブロックＢＬ毎に算出される特徴値（エッジ強度の程度を表す特徴値）は、エッジ強度の平均値（平均画素値ＡｖｅＲ、ＡｖｅＧ、ＡｖｅＢ）に限らず、エッジ強度の程度を表す任意の値であってよい。例えば、特徴値は、エッジ強度の最頻値であってもよい。この場合も、ノイズの影響を適切に緩和することができる。また、平均値と最頻値との両方を、特徴値として採用してもよい。また、特徴値は、エッジ強度の分布の特徴を表す他の種々の値（例えば、最大値や中央値（メディアン））であってもよい。また、複数の色成分（例えば、赤緑青）のそれぞれの特徴値の平均値を、最終的な特徴値として採用してもよい（例えば、特徴値＝（ＡｖｅＲ＋ＡｖｅＧ＋ＡｖｅＢ）／３）。

また、図５、図７のステップＳ２４０で判定される条件（均一条件）は、図７に示す条件に限らず、特徴値によって表されるエッジ強度の程度が所定の基準以上であるか否かを判定する任意の条件であってよい。例えば、色成分毎に閾値が異なっていても良い。また、複数の色成分（例えば、赤緑青）のそれぞれの特徴値の平均値を、１つの閾値と比較してもよい。一般に、特徴値が複数種類の値（例えば、平均値と最頻値）を含む場合には、種類毎に予め決定された閾値を用いて、それらの値の大きさを判定してよい。そして、それらの判定結果に基づいて、エッジ強度の程度が所定の基準以上であるか否かを決定してよい。例えば、図７の実施例と同様に、全ての種類の値がそれぞれの閾値よりも小さいことを、均一条件として採用してもよい。

変形例３：
ブロックサイズＢＬｓｉｚｅ（図６）は、３２に限らず、任意の複数の値であってよい（例えば、６４、１２８等）。ここで、ブロックサイズＢＬｓｉｚｅが大きいほど、均一領域判定は、ノイズから影響を受けにくくなる。一方、均一と不均一との区別が可能な領域の最小サイズは、１つの判定ブロックＢＬと同じである。従って、ブロックサイズＢＬｓｉｚｅが小さいほど、より小さい領域の種類の適切な特定が可能となる。従って、これらのバランスを考慮して、ブロックサイズＢＬｓｉｚｅを決定することが好ましい。

また、判定画素数ＢＬｎ（図６）は、２に限らず、任意の複数の値であってよい（例えば、３、４、５等）。判定画素数ＢＬｎが大きいほど、エッジ画像ＥＩ上での判定ブロックＢＬの位置の変位が小さくなるので（判定ブロックＢＬの密度が高くなるので）、小さい領域の種類を適切に特定することができる。一方、判定画素数ＢＬｎが大きいほど、処理に要する時間が長くなる。従って、これらのバランスを考慮して、判定画素数ＢＬｎを決定することが好ましい。

なお、判定ブロックＢＬの縦横比は、１：１に限らず、他の比率であってもよい。同様に、判定画素ＢＩｐの縦横比も、１：１に限らず、他の比率であってもよい。また、１つの判定画素ＢＩｐに重なる判定ブロックＢＬの総数は、４に限らず、他の任意の数であってよい。

変形例４：
複数の判定ブロックＢＬが重なる共通領域（判定画素ＢＩｐ）の種類を特定する際に、図９に示すように「均一画像」を優先する代わりに、「不均一画像」を優先してもよい。こうすれば、不均一画像を表す領域が、誤って、均一画像を表すと特定される可能性を低減できる。一般に、複数の判定ブロックＢＬが重なる共通領域（判定画素ＢＩｐ）の種類を特定する方法は、その共通領域と重なる複数の判定ブロックＢＬのそれぞれの判定結果を用いて１つの判定結果を導く任意の方法であってよい。例えば、共通領域の種類を多数決で決定してもよい。

判定ブロックＢＬを用いた均一領域判定が行われる画像（「対象画像」と呼ぶ）は、原画像ＯＩの全体の代わりに、原画像ＯＩの一部分の画像であってもよい。この場合には、画像処理部Ｍ１００（図１）は、原画像ＯＩを表す画像データのうちの対象画像を表す部分を用いて、画像解析処理を行えばよい。いずれの場合も、複数の判定ブロックＢＬが重なる共通領域（判定画素ＢＩｐ）であって、互いに異なる複数の共通領域が、対象画像の少なくとも一部の連続な特定の領域を隙間無く覆うように、複数の判定ブロックＢＬが配置されていることが好ましい。こうすれば、特定領域においては、共通領域（判定画素ＢＩｐ）の種類の特定を、複数の判定ブロックＢＬを用いて行うことができる。この結果、１つの種類の画像（例えば、テキストや背景）を表す領域が小さい場合であっても、その領域を正確に特定することが可能となる。そして、そのような正確な特定は、特定領域内の任意の位置において可能である。また、特定領域内において、１つの種類の画像の輪郭が微細なパターンを示す場合に、その微細なパターンを適切に特定することができる。これらの結果、種類の異なる領域を特定する精度を向上することができる。なお、対象画像のうちの特定領域を除いた残りの領域では、複数の判定ブロックＢＬが、互いに重ならないように、配置されてよい。また、特定領域は、図８に示す実施例のように、対象画像（判定画像ＢＩ、すなわち、原画像ＯＩ）のほぼ全体をカバーしていることが好ましい。なお、対象画像は、ユーザによって設定されてもよい。特定領域も、ユーザによって設定されてよい。また、対象画像の全体に亘って、複数の判定ブロックＢＬが互いに重ならないように配置されていてもよい。

変形例５：
図２の画像解析処理において、ステップＳ１３０を省略してもよい（すなわち、図１の属性判定部Ｍ１３０を省略してもよい）。この場合には、印刷処理部Ｍ２００は、均一画像を表すと判定された領域と、不均一画像を表すと判定された領域との間で、画質調整を変えてもよい。また、図２の画像解析処理において、ステップＳ１２０を省略してもよい（すなわち、図１の連結部Ｍ１２３を省略してもよい）。

また、均一領域判定の結果は、画質調整に限らず、他の任意の処理に利用されてよい。例えば、いわゆるＯＣＲ（optical character reader）処理によって、文字画像から、デジタルテキストデータを生成する場合に、不均一画像を表すと判定された領域を、ＯＣＲ処理の対象として選択してもよい。また、画像をディスプレイに表示する場合に、不均一画像を表すと判定された領域を、拡大して表示してもよい。また、画像解析処理（均一領域判定）の対象は、他の装置（例えば、コンピュータ１００）によって供給された画像データであってもよい。

上記各実施例の画像処理を実現する画像処理装置は、複合機２００に限らず、種々の装置であってよい。例えば、プリンタ、デジタルカメラ、スキャナなどの画像関連機器の内部のコンピュータ、汎用のパーソナルコンピュータ、ネットワークに接続されたサーバ等を採用可能である。また、ネットワークを介して互いに通信可能な複数のコンピュータが、画像処理に要する機能を一部ずつ分担して、全体として、画像処理の機能を提供してもよい（このようなコンピュータシステムを利用する技術は、クラウドコンピューティングとも呼ばれる）。この場合、コンピュータシステムの全体が、特許請求の範囲における画像処理装置に対応する。

変形例６：
図２のステップＳ１３０において特定される属性の候補は、図１２に示す３つ（文字画像と撮影画像と描画画像）に限らず、任意の数の任意の属性であってよい。ただし、少なくとも、文字画像であるか否かが特定されることが好ましい。文字画像は、他の種類の画像と比べて、特別な処理の対象となることが多い。例えば、いわゆるＯＣＲ（optical character reader）処理によって、文字画像から、デジタルテキストデータが生成される。従って、不均一画像を表すと判定された領域が、文字画像を表しているか否かを特定できれば、文字画像を表す領域を特別な処理（例えば、ＯＣＲ処理）の対象とすればよいので、処理に要する時間を短縮することができる。

また、属性を特定する方法は、図１２、図１３で説明した方法に限らず、他の任意の方法であってよい。例えば、予め準備された文字画像とのパターンマッチングによって、属性が文字画像であるか否かを判定してもよい。

変形例７：
上記各実施例において、ハードウェアによって実現されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるようにしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されていた構成の一部あるいは全部をハードウェアに置き換えるようにしてもよい。例えば、図１の均一領域判定部Ｍ１２０の機能を、論理回路を有するハードウェア回路によって実現してもよい。

また、本発明の機能の一部または全部がソフトウェアで実現される場合には、そのソフトウェア（コンピュータプログラム）は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納された形で提供することができる。「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」は、メモリーカードやＣＤ−ＲＯＭのような携帯型の記録媒体に限らず、各種のＲＡＭやＲＯＭ等のコンピュータ内の内部記憶装置や、ハードディスクドライブ等のコンピュータに接続されている外部記憶装置も含んでいる。

１００...コンピュータ、２００...複合機、２１０...ＣＰＵ、２２０...内部記憶装置、２５０...プリンタ部、２６０...スキャナ部、２７０...操作部、２８０...通信部、２９０...外部記憶装置、２９１...プログラム、Ｍ１００...画像処理部、Ｍ１１０...エッジ画像生成部、Ｍ１２０...均一領域判定部、Ｍ１３０...属性判定部、Ｍ１２１...特徴値算出部、Ｍ１２２...領域特定部、Ｍ１２３...連結部、Ｍ２００...印刷処理部、ＯＩ...原画像、ＰＨ...写真、ＤＲ...描画画像、ＴＸ...文字、ＥＩ...エッジ画像、ＥＩｐ...エッジ画素、ＢＩ...判定画像、ＢＩｐ...判定画素、ＢＬ...判定ブロック

Claims (8)

1. 対象画像を表す対象画像データを用いて、前記対象画像に含まれる複数の画素のそれぞれのエッジ強度を表すエッジ画像データを生成する生成部と、
   前記エッジ画像データによって表される画像であるエッジ画像の一部を表すとともに複数の画素を含む判定領域であって、互いに異なる複数の判定領域のそれぞれに対して、前記判定領域における前記エッジ強度の程度を表す特徴値を算出する特徴値算出部と、
   前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が所定の基準以上である場合に、前記判定領域を不均一な画像を表す第１種領域として特定し、前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準よりも小さい場合に、前記判定領域を均一な画像を表す第２種領域として特定する、特定部と、
   を備え、
   前記複数の判定領域は、第１の判定領域と第２の判定領域と第３の判定領域とを含み、
   前記第１の判定領域と前記第２の判定領域とは、互いに重なる一部の領域である第１の共通領域を含み、
   前記第２の判定領域と前記第３の判定領域とは、互いに重なる一部の領域であって前記第１の共通領域とは異なる第２の共通領域を含み、
   前記特定部は、前記第１の判定領域の前記エッジ強度の程度と、前記第３の判定領域の前記エッジ強度の程度と、のそれぞれが前記所定の基準以上であり、かつ、前記第２の判定領域の前記エッジ強度の程度が前記所定の基準未満である場合に、
   前記第１の判定領域と前記第３の判定領域とのうち、前記第１の共通領域と前記第２の共通領域とを除いた残りの領域の少なくとも一部を前記第１種領域として特定し、
   前記第２の判定領域を、前記第２種領域として特定する、
   画像処理装置。
2. 請求項１に記載の画像処理装置であって、
   前記特定部は、
   前記第１の判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準以上であると判定した場合に、前記第１の判定領域を、前記第１種領域として特定し、
   前記第１の判定領域が前記第１種領域として特定された後に、前記第２の判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準よりも小さいと判定した場合に、前記第１の共通領域を含む前記第２の判定領域を、前記第２種領域として特定し、
   前記第２の判定領域が前記第２種領域として特定された後に、前記第３の判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準以上であると判定した場合に、前記第３の判定領域のうちの前記第２の共通領域を除いた残りの領域を、前記第１種領域として特定する、
   画像処理装置。
3. 請求項１または２に記載の画像処理装置であって、
   前記第２の判定領域は、前記第１の共通領域と前記第２の共通領域とから、構成されている、
   画像処理装置。
4. 請求項１から３のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
   前記第１種領域は、文字を表す文字領域を含むオブジェクト領域であり、
   前記第２種領域は、背景を表す均一領域であり、
   前記第２の判定領域は、文字と文字との間の隙間の背景を表す均一領域である、
   画像処理装置。
5. 請求項１から４のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
   前記特徴値は、前記エッジ画像中の前記判定領域における画素値の平均値及び最頻値の少なくとも一方である、
   画像処理装置。
6. 請求項１から５のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、さらに、
   互いに接している２つの領域が、前記特定部によって同じ種類の領域と特定された場合に、前記２つの領域を１つの領域として連結する連結部を含む、
   画像処理装置。
7. 請求項６に記載の画像処理装置であって、さらに、
   前記特定部によって第１種領域と特定された領域が、文字を表す文字領域であるか否かを判定する判定部を含む、
   画像処理装置。
8. 対象画像を表す対象画像データを用いて、前記対象画像に含まれる複数の画素のそれぞれのエッジ強度を表すエッジ画像データを生成する機能と、
   前記エッジ画像データによって表される画像であるエッジ画像の一部を表すとともに複数の画素を含む判定領域であって、互いに異なる複数の判定領域のそれぞれに対して、前記判定領域における前記エッジ強度の程度を表す特徴値を算出する機能と、
   前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が所定の基準以上である場合に、前記判定領域を不均一な画像を表す第１種領域として特定し、前記判定領域の前記特徴値によって表される前記エッジ強度の程度が前記所定の基準よりも小さい場合に、前記判定領域を均一な画像を表す第２種領域として特定する機能と、
   をコンピュータに実現させるためのプログラムであり、
   前記複数の判定領域は、第１の判定領域と第２の判定領域と第３の判定領域とを含み、
   前記第１の判定領域と前記第２の判定領域とは、互いに重なる一部の領域である第１の共通領域を含み、
   前記第２の判定領域と前記第３の判定領域とは、互いに重なる一部の領域であって前記第１の共通領域とは異なる第２の共通領域を含み、
   前記特定する機能は、前記第１の判定領域の前記エッジ強度の程度と、前記第３の判定領域の前記エッジ強度の程度と、のそれぞれが前記所定の基準以上であり、かつ、前記第２の判定領域の前記エッジ強度の程度が前記所定の基準未満である場合に、
   前記第１の判定領域と前記第３の判定領域とのうち、前記第１の共通領域と前記第２の共通領域とを除いた残りの領域の少なくとも一部を前記第１種領域として特定し、
   前記第２の判定領域を、前記第２種領域として特定する、
   プログラム。