JP5835300B2 - 軸力測定方法 - Google Patents
軸力測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5835300B2 JP5835300B2 JP2013218632A JP2013218632A JP5835300B2 JP 5835300 B2 JP5835300 B2 JP 5835300B2 JP 2013218632 A JP2013218632 A JP 2013218632A JP 2013218632 A JP2013218632 A JP 2013218632A JP 5835300 B2 JP5835300 B2 JP 5835300B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axial force
- head
- circle
- measurement method
- center
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/0006—Industrial image inspection using a design-rule based approach
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
- G01L5/0028—Force sensors associated with force applying means
- G01L5/0038—Force sensors associated with force applying means applying a pushing force
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
- G06T7/66—Analysis of geometric attributes of image moments or centre of gravity
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Geometry (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Description
軸力は、ボルトの頭部の変位量(すなわち、締結前後の頭部の窪み量の差)との間に相関がある。このため、軸力の測定においては、一般的に、予め軸力と頭部の変位量との相関を取得して、実際に軸力を測定するときに頭部の変位量を測定し、前記相関に基づいて軸力を測定している。
従って、非特許文献1に開示される技術では、頭部の変位量を正確に測定できず、その結果、軸力を正確に測定できない可能性がある。
つまり、非特許文献1に開示される技術では、軸力を安定して測定できない可能性がある。
凹部11aは、頂部11bよりも低位置に位置している。
このとき、軸力測定方法は、画像処理を用いて頭部11の変位量を測定する点が、従来技術と比較して大きく異なる点である。
また、本発明に係る軸力測定方法の測定対象となるボルトは、フランジの形成有無を問わない。
距離センサ20は、頭部11までの距離の測定結果に対して画像処理(後述する平滑化処理等)を実行するためのプログラムを記憶する記憶装置および前記プログラムを実行するための演算装置等を備える。
距離センサ20は、パーソナルコンピュータ30と電気的に接続され、測定結果をパーソナルコンピュータ30に入力する。
パーソナルコンピュータ30は、軸力と頭部11の変位量との間の相関、すなわち、図13にあるような相関の関係式を、記憶装置に記憶している。また、パーソナルコンピュータ30は、締結前の凹部11a(図1に二点鎖線で示す凹部11a参照)の窪み量を、記憶装置に記憶している。
このとき、軸力測定方法では、例えば、距離センサ20を水平方向に移動させながらボルト10の頭部11の高さを測定する等して、ボルト10の頭部11の高さを測定する。
なお、図3に示す符号Aは、埃等の影響で実際の高さよりも高い測定結果となってしまった部分である。
このとき、軸力測定方法では、例えば、距離画像21の中から所定の範囲の画素を抽出し、抽出した各画素の画素値に基づいて前記所定の範囲の高さの単純平均を算出する。そして、軸力測定方法では、前記所定の範囲の画素の中から、画素値が前記単純平均の算出結果より大きく離れているものを、外れ値であると判断して除去する。
図1に示すように、距離センサ20は、平滑化処理を施した距離画像21をパーソナルコンピュータ30に入力する(図1に示す矢印21参照)。
このような画素値の閾値は、実際に軸力を測定する前に行った実験等に基づいて設定される。
二値化画像31を取得する。
そして、軸力測定方法では、画素群の面積および画素群の位置等に基づいて、頭部11に対応する画素群を判断する。
軸力測定方法では、頭部11と判断した画素群の画素値を白色(つまり、255)等に変更するとともに、それ以外の画素群の画素値を黒色(つまり、0)に変更する処理を、ラベリング画像32に対して行う。
軸力測定方法では、このような距離画像21に対して二値化処理を施した場合に、頭部11と被締結物Wとが同じ色となった二値化画像31を作成してしまう可能性がある。
従って、軸力測定方法は、フランジ12と被締結物Wとの間で距離センサ20の測定範囲を超えてしまった場合でも、正確に頭部11を抽出できる。
二つの直線の交点を、頭部の重心位置として算出しても構わない。
これにより、軸力測定方法は、埃等の影響で実際の高さより高い測定結果となってしまった部分を除外して頭部の重心位置を算出できるため、頭部の重心位置をより正確に算出できる。
つまり、ステップS80における基準画像K1は、最小円K10の外側を隠すための画像である。
従って、マスク画像34に引き続き表示されている距離画像21の各画素は、頭部11の重心周辺の高さの測定結果に対応する画素である。
軸力測定方法では、このような単純平均の算出結果を最小点とする。
また、軸力測定方法は、頭部11の重心周辺に小さな凹凸が形成されている場合でも、前記凹凸に起因する最小点のばらつきを低減できる。
つまり、軸力測定方法は、正確に最小点の高さを測定できるとともに、安定して最小点の高さを測定できる。
これにより、軸力測定方法は、重心位置周辺の高さをより正確に算出できる。
つまり、ステップS100における基準画像K2は、第一の円K21の内側と第二の円K22の外側とを隠すための画像である。
このような第一の円K21の大きさは、凹部11aと同程度であることが特に好ましい。
このような第二の円K22の大きさは、頭部11の外接円となる程度であることが特に好ましい。
従って、マスク画像35に引き続き表示されている距離画像21の各画素は、凹部11aの外縁部、頂部11b、およびフランジ12等の高さの測定結果に対応する画素である。
そして、軸力測定方法では、抽出した各画素の画素値に基づいて、高さが相対的に高い複数個(例えば、30個)の画素を抽出する(図11の下側のマスク画像35の下方に示す丸参照)。この場合、高さが高い画素としては、抽出した仮想直線L上の各画素のうち、高さが最も高い画素から順に複数個の画素を抽出することができる。
軸力測定方法では、抽出した各画素の高さの単純平均を算出し、当該算出結果を最大点とする。具体的には、各仮想直線Lにおいて抽出された各画素の高さの単純平均(仮想直線L毎の各画素の単純平均)を算出し、各仮想直線Lにおける単純平均の単純平均をさらに算出することにより、最大点を算出する。
つまり、軸力測定方法は、正確に最大点の高さを測定できるとともに、安定して最大点の高さを測定できる。
従って、軸力測定方法は、特に、頭部が平らなボルトの軸力を測定する場合において、より正確に最大点の高さを測定できるとともに、より安定して最大点の高さを測定できる。
このとき、軸力測定方法では、頭部11の変位量の算出結果を、予め算出した軸力と頭部11の変位量との関係式に代入して軸力を算出する。
従って、軸力測定方法は、頭部11の重心の周囲および頂部11bに小さな凹凸が形成されている場合でも、実際とは大きく異なる変位量を、軸力と頭部11の変位量との関係式に代入してしまうことを防止できる。
このため、軸力測定方法は、正確に軸力を測定できるとともに、安定して軸力を測定できる。
まず、軸力と頭部11の変位量との関係式を算出するために用いられる装置の構成について説明する。
距離センサ20およびパーソナルコンピュータ30は、軸力を測定するときに用いられる距離センサ20およびパーソナルコンピュータ30である。パーソナルコンピュータ30は、軸力と頭部11の変位量との関係式を算出する演算処理を実行するためのプログラム等を、記憶装置に記憶している。
これにより、軸力測定方法では、締結前のボルト10の最小点および最大点を算出する。そして、軸力測定方法では、最小点の算出結果と最大点の算出結果との差を算出することで、締結前の頭部11の窪み量として算出する。
軸力測定方法では、締結前の頭部11の窪み量の算出結果をパーソナルコンピュータ30の記憶装置に記憶させる。
これにより、軸力測定方法では、頭部11の変位量を算出する。
そして、軸力測定方法では、軸力と頭部11の変位量との測定結果を単項式で近似して、軸力と頭部11の変位量との関係式を取得する。
従って、軸力測定方法は、正確に軸力を測定できるとともに、安定して軸力を測定できる。
このため、以下では、マスク処理を施すステップおよび最大点を算出するステップ(第一実施形態のステップS100・S110に相当するステップ)について詳細に説明し、他の部分の説明については省略する。
つまり、基準画像K3は、第一実施形態の軸力測定方法よりも広い範囲を隠すための画像である(図11参照)。
このような第二の円K32の大きさは、頭部11の内接円となる程度であることが好ましい。
つまり、第二実施形態の軸力測定方法では、第一実施形態よりも狭い範囲が表示されるマスク画像135を作成する。
つまり、第二実施形態の軸力測定方法では、頂部11bの外縁部近傍の画素だけを抽出する。
つまり、軸力測定方法は、正確に最大点の高さを測定できるとともに、安定して最大点の高さを測定できる。
従って、軸力測定方法は、正確に軸力を測定できるとともに、安定して軸力を測定できる。
また、第二実施形態の軸力測定方法では、第二実施形態の軸力測定方法を用いて軸力と頭部11の変位量との関係式を予め取得している。
11 頭部
21 距離画像
31 二値化画像
34 マスク画像
C 重心位置
K10 最小円
W 被締結物
Claims (4)
- 被締結物に締結されたボルトの軸力を測定する軸力測定方法であって、
距離センサによって前記ボルトの頭部の高さを測定し、高さを画素値とした距離画像を取得する工程と、
前記距離画像に対して二値化処理を施して二値化画像を取得して、前記二値化画像の中から前記頭部を抽出し、前記頭部の重心位置を算出する工程と、
前記距離画像に対してマスク処理を施して、前記頭部の重心位置を中心とする最小円の内側に位置する画素だけを抽出し、前記最小円の内側に位置する画素の高さの平均値を最小点として算出する工程と、
前記距離画像の各画素の画素値に基づいて高さが高い画素を抽出し、前記抽出した高さが高い各画素の高さの平均値を最大点として算出する工程と、
前記最小点の算出結果と前記最大点の算出結果との差に基づいて、前記頭部の変位量を算出する工程と、
前記頭部の変位量の算出結果を、予め算出した軸力と前記頭部の変位量との関係式に代入して軸力を算出する工程と、
を行う、
軸力測定方法。 - 前記最大点を算出する工程では、
前記頭部の重心位置から外側に向けて一定の角度毎に伸びる仮想直線上に位置する画素を、前記距離画像の中から抽出し、前記抽出した画素の画素値に基づいて、前記高さが高い画素を抽出する、
請求項1に記載の軸力測定方法。 - 前記最大点を算出する工程では、
前記距離画像に対してマスク処理を施して、前記頭部の重心位置を中心として前記最小円よりも大きい第一の円の外側に位置するとともに、前記頭部の重心位置を中心として前記第一の円よりも大きい第二の円の内側に位置する画素を抽出し、
該抽出した各画素の中から、前記各仮想直線上に位置する画素を抽出する、
請求項2に記載の軸力測定方法。 - 前記最大点を算出する工程では、
前記距離画像に対してマスク処理を施して、前記頭部の重心位置を中心として前記最小円よりも大きい第一の円の外側に位置するとともに、前記頭部の重心位置を中心として前記第一の円よりも大きく、かつ、前記頭部よりも小さい第二の円の内側に位置する画素を、前記高さが高い画素として抽出する、
請求項1に記載の軸力測定方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013218632A JP5835300B2 (ja) | 2013-10-21 | 2013-10-21 | 軸力測定方法 |
CN201480057710.6A CN105659060B (zh) | 2013-10-21 | 2014-10-16 | 轴向力测量方法 |
EP14798934.7A EP3060894B1 (en) | 2013-10-21 | 2014-10-16 | Axial force measurement method |
US15/030,788 US9805459B2 (en) | 2013-10-21 | 2014-10-16 | Axial force measurement method |
PCT/IB2014/002129 WO2015059538A1 (en) | 2013-10-21 | 2014-10-16 | Axial force measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013218632A JP5835300B2 (ja) | 2013-10-21 | 2013-10-21 | 軸力測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015081798A JP2015081798A (ja) | 2015-04-27 |
JP5835300B2 true JP5835300B2 (ja) | 2015-12-24 |
Family
ID=51900478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013218632A Active JP5835300B2 (ja) | 2013-10-21 | 2013-10-21 | 軸力測定方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9805459B2 (ja) |
EP (1) | EP3060894B1 (ja) |
JP (1) | JP5835300B2 (ja) |
CN (1) | CN105659060B (ja) |
WO (1) | WO2015059538A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6536550B2 (ja) | 2016-12-08 | 2019-07-03 | トヨタ自動車株式会社 | ボルト軸力測定装置及びボルト軸力測定方法 |
EP3379222B1 (en) | 2017-03-22 | 2020-12-30 | Methode Electronics Malta Ltd. | Magnetoelastic based sensor assembly |
JP7003724B2 (ja) * | 2018-02-22 | 2022-01-21 | トヨタ自動車株式会社 | ボルトの軸力測定方法、締結判定方法及び軸力測定装置、締結判定装置 |
US11491832B2 (en) | 2018-02-27 | 2022-11-08 | Methode Electronics, Inc. | Towing systems and methods using magnetic field sensing |
US10670479B2 (en) | 2018-02-27 | 2020-06-02 | Methode Electronics, Inc. | Towing systems and methods using magnetic field sensing |
US11014417B2 (en) | 2018-02-27 | 2021-05-25 | Methode Electronics, Inc. | Towing systems and methods using magnetic field sensing |
US11221262B2 (en) | 2018-02-27 | 2022-01-11 | Methode Electronics, Inc. | Towing systems and methods using magnetic field sensing |
US11084342B2 (en) | 2018-02-27 | 2021-08-10 | Methode Electronics, Inc. | Towing systems and methods using magnetic field sensing |
US11135882B2 (en) | 2018-02-27 | 2021-10-05 | Methode Electronics, Inc. | Towing systems and methods using magnetic field sensing |
KR102070993B1 (ko) * | 2018-04-18 | 2020-01-29 | 공주대학교 산학협력단 | 볼트 축력 측정장치 및 방법 |
JP2020134401A (ja) * | 2019-02-22 | 2020-08-31 | トヨタ自動車株式会社 | クランクシャフトの軸心挙動計測方法 |
JP7563719B2 (ja) | 2019-11-25 | 2024-10-08 | 株式会社NejiLaw | 個体識別システム |
WO2021177245A1 (ja) * | 2020-03-05 | 2021-09-10 | ファナック株式会社 | 画像処理装置、作業指示作成システム、作業指示作成方法 |
JP7431662B2 (ja) | 2020-05-13 | 2024-02-15 | 株式会社日立製作所 | 軸力計算装置 |
JP7419216B2 (ja) * | 2020-11-19 | 2024-01-22 | 株式会社日立製作所 | 締結部材の状態解析システム及び状態解析方法 |
CN112539866B (zh) * | 2020-11-20 | 2023-01-24 | 北京艾法斯特科技发展有限公司 | 一种基于视觉深度学习的螺栓轴力监测系统及监测方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004093362A (ja) | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Isuzu Motors Ltd | ボルトの軸力測定装置及び軸力測定方法並びに締付装置 |
JP2005297133A (ja) | 2004-04-13 | 2005-10-27 | Isuzu Motors Ltd | 締付け工具およびボルト軸力の測定方法 |
JP2006194662A (ja) * | 2005-01-12 | 2006-07-27 | Sanwa Tekki Corp | ボルト軸力の測定方法及び装置 |
JP4636146B2 (ja) * | 2008-09-05 | 2011-02-23 | ソニー株式会社 | 画像処理方法、画像処理装置、プログラム及び画像処理システム |
JP5402209B2 (ja) * | 2009-04-23 | 2014-01-29 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像書込装置及びこれを用いた画像記録装置 |
JP2011064105A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 内燃機関のバルブタイミング制御装置 |
JP2011179952A (ja) * | 2010-03-01 | 2011-09-15 | Isuzu Motors Ltd | ボルト軸力検出システム及びボルト軸力検出方法 |
CN102988052B (zh) * | 2011-09-09 | 2014-09-17 | 上海银晨智能识别科技有限公司 | 足长测量方法及系统 |
JP2013113696A (ja) | 2011-11-29 | 2013-06-10 | Mitsubishi Electric Corp | 変位測定方法および変位測定装置 |
CN102589461A (zh) * | 2012-01-17 | 2012-07-18 | 华中科技大学 | 一种基于图像的积雪深度测量方法 |
-
2013
- 2013-10-21 JP JP2013218632A patent/JP5835300B2/ja active Active
-
2014
- 2014-10-16 US US15/030,788 patent/US9805459B2/en active Active
- 2014-10-16 WO PCT/IB2014/002129 patent/WO2015059538A1/en active Application Filing
- 2014-10-16 EP EP14798934.7A patent/EP3060894B1/en not_active Not-in-force
- 2014-10-16 CN CN201480057710.6A patent/CN105659060B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2015059538A1 (en) | 2015-04-30 |
EP3060894B1 (en) | 2017-07-05 |
JP2015081798A (ja) | 2015-04-27 |
US20160267645A1 (en) | 2016-09-15 |
CN105659060A (zh) | 2016-06-08 |
EP3060894A1 (en) | 2016-08-31 |
CN105659060B (zh) | 2018-01-23 |
US9805459B2 (en) | 2017-10-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5835300B2 (ja) | 軸力測定方法 | |
CN111340752B (zh) | 屏幕的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 | |
US10776953B2 (en) | Method for identification of candidate points as possible characteristic points of a calibration pattern within an image of the calibration pattern | |
CN105139386B (zh) | 一种快速自动检测电气接插件焊点不合格品的图像处理方法 | |
JP6352695B2 (ja) | 文字検出装置、方法およびプログラム | |
JP2017531865A5 (ja) | ||
JP2016502750A5 (ja) | ||
JP2016508295A5 (ja) | ||
JP2014059875A5 (ja) | ||
CN103649995A (zh) | 用于确定轮胎表面上凸纹中的元素的方法 | |
JP2012120799A5 (ja) | ||
US20160123722A1 (en) | Computing device and method for analyzing thickness | |
US20160078639A1 (en) | Computing device and method for calculating area of outline of object | |
WO2020209046A1 (ja) | 物体検出装置 | |
CN105283750A (zh) | 用于处理轮胎表面的数字图像以便检测异常的方法 | |
JP6609954B2 (ja) | Dnaチップ画像のスポット有効性判定装置、dnaチップ画像のスポット有効性判定方法、及びdnaチップ画像のスポット有効性判定プログラ | |
CN116309589B (zh) | 钣金件表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 | |
TW201923923A (zh) | 判定圖樣的臨界尺寸變異 | |
JP2013200648A (ja) | 濃淡画像のエッジ抽出方法、エッジ抽出装置並びに濃淡画像のエッジ抽出プログラム | |
US20140297224A1 (en) | Data processing method of tire shape inspecting device | |
JP6114559B2 (ja) | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置 | |
US9633429B2 (en) | Pattern outline extraction device, pattern outline extraction method, and computer program product | |
JP6367775B2 (ja) | 摩耗進行度判断装置、摩耗進行度判断方法、及び摩耗進行度判断用プログラム | |
TWI497062B (zh) | 中央處理器腳座的光學檢測系統及其方法 | |
JP2014190805A (ja) | タイヤ形状検査装置のデータ処理方法、タイヤ形状検査装置のデータ処理プログラム、及び、タイヤ形状検査装置のデータ処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150204 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150805 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150818 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150916 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151006 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151019 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5835300 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |