JP5761675B2 - 密閉型afmセル - Google Patents
密閉型afmセル Download PDFInfo
- Publication number
- JP5761675B2 JP5761675B2 JP2013544136A JP2013544136A JP5761675B2 JP 5761675 B2 JP5761675 B2 JP 5761675B2 JP 2013544136 A JP2013544136 A JP 2013544136A JP 2013544136 A JP2013544136 A JP 2013544136A JP 5761675 B2 JP5761675 B2 JP 5761675B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid
- sealed
- afm
- lid
- main body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/08—Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber
- G01Q30/12—Fluid environment
- G01Q30/14—Liquid environment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q10/00—Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/08—Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/08—Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber
- G01Q30/12—Fluid environment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/18—Means for protecting or isolating the interior of a sample chamber from external environmental conditions or influences, e.g. vibrations or electromagnetic fields
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
- G01Q70/02—Probe holders
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q20/00—Monitoring the movement or position of the probe
- G01Q20/02—Monitoring the movement or position of the probe by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
- G01Q60/32—AC mode
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
図3は、本発明の実施の形態1に係る密閉型AFMセル100の構成を示す。なお、図1に示される大気開放型AFMセル900と同様の構成要素については同一の符号を付け、詳細な説明は省略する。
実施の形態1に係る密閉型AFMセル100として、基本構成を示した。次に、より安定的に密閉用液体170を介して検出部110と駆動部130とを結合することが可能な、密閉型AFMセルの構成を示す。
110、910 検出部
112 圧電振動子
114 光学窓
116 光ビーム素子
118 位置検出センサー
120 カンチレバー(片持ち梁)
122、122A、122B 蓋部
130、930 駆動部
132 サンプルホルダー
134 スキャナー
136、136A、136B 本体部
140 試料
150 観察用液体
160 Oリング
170 密閉用液体
171A、171B 溝
172A、172B 部材
174 チューブ
900 大気開放型AFMセル
Claims (6)
- 観察用液体に浸漬された試料を計測するAFM(Atomic Force Microscope)のための密閉型AFMセルであって、
探針を有する片持ち梁と、
前記試料を固定するサンプルホルダーと、
前記サンプルホルダーを移動させる駆動部であるスキャナーと、
前記探針が前記試料の計測面近傍に位置するように前記片持ち梁を保持する蓋部と、
前記スキャナーを保持する部材であり、前記試料を挟んで前記蓋部と相対する部材である本体部とを備え、
前記蓋部と前記本体部とは、前記観察用液体とは異なる液体であり、当該観察用液体と接触していない液体である密閉用液体を介して接合されることにより、当該蓋部と当該本体部と前記密閉用液体とで形成される空間の内部に前記観察用液体を密閉する
密閉型AFMセル。 - 前記蓋部と前記本体部との少なくとも一方は、撥水性又は撥油性を有する部材と前記蓋部又は前記本体部とにより形成された溝を有し、
前記溝は、前記密閉用液体を保持する
請求項1に記載の密閉型AFMセル。 - 前記蓋部及び前記本体部の少なくとも一方は、前記サンプルホルダーを囲むように他方へとせり出す壁部を有し、
前記壁部の端部は、前記密閉用液体を保持する
請求項1に記載の密閉型AFMセル。 - 前記壁部の端部は、撥水性又は撥油性を有する部材と前記壁部の端部とにより形成された溝を有し、
前記溝は、前記密閉用液体を保持する
請求項3に記載の密閉型AFMセル。 - さらに、前記密閉用液体を補充するためのチューブを備える
請求項1〜4のいずれか1項に記載の密閉型AFMセル。 - 前記密閉用液体は、水、イオン液体、フッ素系不活性液体、又はシリコーンオイルである
請求項1〜5のいずれか1項に記載の密閉型AFMセル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013544136A JP5761675B2 (ja) | 2011-11-15 | 2012-11-15 | 密閉型afmセル |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011249451 | 2011-11-15 | ||
JP2011249451 | 2011-11-15 | ||
JP2013544136A JP5761675B2 (ja) | 2011-11-15 | 2012-11-15 | 密閉型afmセル |
PCT/JP2012/007326 WO2013073186A1 (ja) | 2011-11-15 | 2012-11-15 | 密閉型afmセル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013073186A1 JPWO2013073186A1 (ja) | 2015-04-02 |
JP5761675B2 true JP5761675B2 (ja) | 2015-08-12 |
Family
ID=48429279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013544136A Expired - Fee Related JP5761675B2 (ja) | 2011-11-15 | 2012-11-15 | 密閉型afmセル |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9110093B2 (ja) |
EP (1) | EP2781925B1 (ja) |
JP (1) | JP5761675B2 (ja) |
WO (1) | WO2013073186A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019200179A (ja) * | 2018-05-18 | 2019-11-21 | 株式会社島津製作所 | 試料容器用装着部材及び試料容器の密閉方法 |
CN113109593B (zh) * | 2021-04-20 | 2021-11-02 | 西南交通大学 | 应用于扫描探针显微镜的摆动式多模式组合探针测试装置 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5319960A (en) * | 1992-03-06 | 1994-06-14 | Topometrix | Scanning force microscope |
US5750989A (en) * | 1995-02-10 | 1998-05-12 | Molecular Imaging Corporation | Scanning probe microscope for use in fluids |
JPH0954098A (ja) * | 1995-08-14 | 1997-02-25 | Nikon Corp | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2934739B2 (ja) * | 1996-02-20 | 1999-08-16 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 走査型近視野原子間力顕微鏡 |
US6002131A (en) * | 1998-03-25 | 1999-12-14 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Scanning probe potentiometer |
JP2002286614A (ja) | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Toyota Motor Corp | 走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 |
RU2210731C2 (ru) * | 2001-04-12 | 2003-08-20 | Зао "Нт-Мдт" | Сканирующий зондовый микроскоп с жидкостной ячейкой |
WO2003028036A1 (de) * | 2001-09-24 | 2003-04-03 | Jpk Instruments Ag | Vorrichtung zum halten einer messsonde für ein rastersondenmikroskop |
JP2003114181A (ja) * | 2001-10-04 | 2003-04-18 | Jeol Ltd | 走査プローブ顕微鏡 |
US7260980B2 (en) * | 2003-03-11 | 2007-08-28 | Adams Jesse D | Liquid cell and passivated probe for atomic force microscopy and chemical sensing |
JP2005175016A (ja) | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Canon Inc | 基板保持装置およびそれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法 |
US8506909B2 (en) * | 2004-08-05 | 2013-08-13 | Jpk Instruments Ag | Device for receiving a test sample |
US7253408B2 (en) * | 2004-08-31 | 2007-08-07 | West Paul E | Environmental cell for a scanning probe microscope |
DE102007034853A1 (de) * | 2007-07-24 | 2009-02-05 | Jpk Instruments Ag | Verfahren und Vorrichtung zur verbesserten mikrofluidischen Versorgung von Proben und Messeinrichtung |
US7934709B2 (en) * | 2007-08-02 | 2011-05-03 | Polymatech Co., Ltd. | Viscous fluid-sealed damper |
JP4910949B2 (ja) * | 2007-08-29 | 2012-04-04 | 株式会社島津製作所 | 液中試料の分析方法 |
US20100071098A1 (en) * | 2008-05-13 | 2010-03-18 | Northwestern University | Scanning probe epitaxy |
US8214917B2 (en) * | 2009-05-29 | 2012-07-03 | Georgia Tech Research Corporation | Molded microfluidic fluid cell for atomic force microscopy |
US8474060B2 (en) * | 2011-04-29 | 2013-06-25 | Bruker Nano, Inc. | Scanning probe microscope with compact scanner |
-
2012
- 2012-11-15 EP EP12849122.2A patent/EP2781925B1/en not_active Not-in-force
- 2012-11-15 US US14/357,011 patent/US9110093B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-11-15 WO PCT/JP2012/007326 patent/WO2013073186A1/ja active Application Filing
- 2012-11-15 JP JP2013544136A patent/JP5761675B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2781925A1 (en) | 2014-09-24 |
US9110093B2 (en) | 2015-08-18 |
EP2781925A4 (en) | 2015-11-18 |
US20140289910A1 (en) | 2014-09-25 |
EP2781925B1 (en) | 2019-09-18 |
JPWO2013073186A1 (ja) | 2015-04-02 |
WO2013073186A1 (ja) | 2013-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2934739B2 (ja) | 走査型近視野原子間力顕微鏡 | |
US20120182548A1 (en) | Nanofluidic cell | |
US7389679B2 (en) | Measurement cell and method for the analysis of liquids | |
JP4987284B2 (ja) | 液中用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 | |
JP2009069006A (ja) | カンチレバー型センサ、それを用いる物質検知システム及び物質検査方法 | |
JP4446929B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 | |
US20110035849A1 (en) | SPM Imaging Apparatus, Probe and Method | |
JP5761675B2 (ja) | 密閉型afmセル | |
RU2321084C2 (ru) | Зонд для зондового микроскопа с использованием прозрачной подложки, способ изготовления зонда и устройство зондового микроскопа | |
JP5305650B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用変位検出機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 | |
JP5585965B2 (ja) | カンチレバー励振装置及び走査型プローブ顕微鏡 | |
US10830734B2 (en) | Microcantilever | |
JP4391925B2 (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
JP2003329565A (ja) | 走査プローブ顕微鏡 | |
JP2017191291A (ja) | 液浸保持機構及び干渉測定装置 | |
JP2010185772A (ja) | センサー素子およびそれを備えたセンサー装置 | |
JP5627472B2 (ja) | カンチレバーホルダ及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 | |
JP2005283188A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP4939974B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP4282588B2 (ja) | プローブ及び走査型プローブ顕微鏡 | |
JPH10160742A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダー | |
JP2011137705A (ja) | カンチレバー型センサ、バイオセンサおよびプローブ顕微鏡 | |
Kumazaki et al. | Full-fiber-type sensing system for physical quantities using a photothermally vibrated quartz-core cantilever | |
JP2007147421A (ja) | 走査型近接場光顕微鏡用スキャナ構造 | |
WO2013027452A1 (ja) | 平行板ばね、平行移動機構、干渉光学系および分光分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150519 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150601 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5761675 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |