JPH10160742A - 走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダー - Google Patents

走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダー

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JPH10160742A
JPH10160742A JP31784996A JP31784996A JPH10160742A JP H10160742 A JPH10160742 A JP H10160742A JP 31784996 A JP31784996 A JP 31784996A JP 31784996 A JP31784996 A JP 31784996A JP H10160742 A JPH10160742 A JP H10160742A
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JP
Japan
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sample
holder
slide glass
vibration
probe
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Withdrawn
Application number
JP31784996A
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Inventor
Akira Yagi
明 八木
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】励振成分とサーボ成分が分離されたACモード
の走査型プローブ顕微鏡を実現する試料ホルダーを提供
する。 【構成】試料ホルダーは、金属やセラミックスで作られ
た二つのホルダー枠12と14を有している。これらの
ホルダー枠12と14は二つの連結部材16により互い
に連結されている。連結部材16は、図にはネジとして
描かれているが、バネやその他であってもよい。ホルダ
ー枠14の内側にはゴムからなる振動絶縁部材18が設
けられている。また、ホルダー枠12の内側には、ゴム
からなる振動絶縁部材20を介して、圧電バイモルフ2
2の一端が固定されており、他端には、スライドガラス
に振動を伝達するための部材24が設けられている。振
動絶縁部材18と20には、ゴムの他に、音響インピー
ダンスがガラスや金属と著しく異なる樹脂などを用いて
もよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ACモードの走査
型プローブ顕微鏡に用いる試料ホルダーに関する。
【0002】
【従来の技術】走査型プローブ顕微鏡は、探針と試料を
相対的に走査しながら、探針を試料に近づけた際に探針
先端と試料表面の間に生じる相互作用を調べることによ
り、試料の表面情報を得る装置の総称であり、特に探針
と試料の間に発生する原子間力に基づいて試料表面の形
状を調べるものとして原子間力顕微鏡(AFM)があ
る。
【0003】コンタクトモードのAFMでは、探針と試
料を接触させるため、探針と試料の相対的な走査を行な
った際に、探針先端と試料表面の間に摩擦力が発生す
る。このような摩擦力の影響を避けるものとして、AC
モードのAFMがある。このACモードのAFMでは、
カンチレバーを上下に振動させ、この振動振幅を一定に
保つように、探針と試料の位置関係を制御しながら走査
することにより、試料の表面形状の測定を行なう。
【0004】また、ハンズマ等によるアプライド・フィ
ジックス・レター(P. K. Hansma et al., Appl. Phys.
Lett. 64, Vol. 28(1994))には、生物試料のような柔
らかい試料を生きた状態で測定するものとして、液浸で
のタッピングモードのAFMが提案されている。水溶液
中に試料を置き、試料を振動させ、これを探針に近づけ
ていくと、探針が試料の振動に伴なって押し上げられ
る。この振幅を一定に保つことにより、試料と探針の間
に働く力を平均として一定に保ちながら、探針と試料の
間の走査を行ない、試料の形状測定を行なう。
【0005】上述のハンズマ等のAFMでは、試料の側
を振動させている。これに対して、カンチレバーの側を
振動させるAFMもある。このAFMの構成を図6に示
す。チューブ型圧電アクチュエーター108は、鏡基1
02に設けられた上下粗動機構104により上下に移動
される部材106に支持されている。チューブ型圧電ア
クチュエーター108の下端には、先端に探針116を
有するカンチレバー114を取り付けるヘッド110が
取り付けられている。ヘッド110は、光学的に透明な
カンチレバー取付部材112と、光てこ法によりカンチ
レバー114の変位を検出する光学系を有している。こ
の変位検出光学系は、検出光を射出するレーザーダイオ
ード118と、検出光をカンチレバー114に向けるミ
ラー120と、カンチレバー114で反射された検出光
を受けるフォトダイオード122とにより構成されてい
る。
【0006】試料を照明するための光学系は、照明光を
発する光源132、照明光を導く光ファイバー134、
コリメートレンズ130、コンデンサーレンズ106に
より構成されている。また、試料の光学像を観察する光
学系は、試料からの光を取り込む対物レンズ140、対
物レンズ140からの観察光を偏向するミラー142、
観察光の結像位置に配置されたCCDカメラ144によ
り構成されている。
【0007】なお、光源132からの照明光は、部材1
06に設けられた穴138、チューブ型圧電アクチュエ
ーター108の内部を通り、試料およびカンチレバー1
14を照明する。
【0008】スライドガラス126はステージ124の
上に載せ、その上にOリング128を配置する。Oリン
グ128の内側は試料を含む溶液で満たし、ヘッド11
0を下げて、カンチレバー114を溶液中に浸す。
【0009】探針と試料の間の相対的な走査はチューブ
型圧電アクチュエーターによって行なわれる。走査の
間、カンチレバー114を振動させると共にカンチレバ
ー114の振動振幅を一定に保つ制御は、チューブ型圧
電アクチュエーターに、上下方向の駆動信号として、既
定の振幅の励振信号とカンチレバーの振幅を一定に保つ
ための制御信号とを加算したものを印加して行なう。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来例ではいず
れも、カンチレバーの振幅を一定に保つための探針試料
間距離を制御するためのサーボ信号に、カンチレバーの
振動を発生させる励振信号を重畳したものを、チューブ
型圧電アクチュエーターに印加している。このため、あ
とで振動の成分と位置制御の成分を分離するが、このよ
うな信号処理は測定精度を低下させる要因となる。
【0011】また、前述のハンズマ等の文献は、試料だ
けを振動させる方式について触れているが、その具体的
な構成についてはいっさい述べていない。本発明は、カ
ンチレバーを振動させるための励振成分と、探針と試料
の位置制御のためのサーボ成分とが完全に分離されたA
Cモードの走査型プローブ顕微鏡を実現するための試料
ホルダーを提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、ステージ上に
載置されたスライドガラスとその上に載せられたOリン
グとで作られた空間に収容された溶液中の試料を観察す
る走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダーであり、スライ
ドガラスをステージから浮かして支持する支持手段と、
スライドガラスを振動させるアクチュエーターと、スラ
イドガラスの振動のステージへの伝達を防止する振動伝
達防止手段とを有している。
【0013】スライドガラスは、支持手段によりステー
ジから浮かして支持され、アクチュエーターにより振動
が加えられる。このスライドガラスの振動は走査型プロ
ーブ顕微鏡のカンチレバーを励振させる。つまり、カン
チレバーは走査のための手段とは別の手段によって励振
される。また、スライドガラスの振動は、振動伝達防止
手段により吸収され、ステージには伝えられない。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態の構成
を図1に示す。本実施の形態の試料ホルダーは、金属や
セラミックスで作られた二つのホルダー枠12と14を
有している。これらのホルダー枠12と14は二つの連
結部材16により互いに連結されている。連結部材16
は、図にはネジとして描かれているが、バネやその他で
あってもよい。ホルダー枠14の内側にはゴムからなる
振動絶縁部材18が設けられている。また、ホルダー枠
12の内側には、ゴムからなる振動絶縁部材20を介し
て、圧電バイモルフ22の一端が固定されており、他端
には、スライドガラスに振動を伝達するための部材24
が設けられている。振動絶縁部材18と20には、ゴム
の他に、音響インピーダンスがガラスや金属と著しく異
なる樹脂などを用いてもよい。
【0015】振動絶縁部材18と部材24の間にスライ
ドガラス126を置き、連結部材であるネジ16を締め
ることによって、スライドガラス126は振動絶縁部材
18と部材24の間に保持される。この試料ホルダー
は、図6に示したAFMのステージ124の上に置かれ
る。その際、スライドガラス126がステージ124か
ら数μmないし1mm程度浮いた状態となるように、ス
テージ124とホルダー枠12と14の間にスペーサー
を入れる。あるいは、スペーサーを入れる代わりに、ス
ライドガラス126の下面がホルダー枠12と14の下
面よりも上になるように、スライドガラス126を試料
ホルダーに組み付ける。
【0016】図1に示すように試料ホルダーに保持され
たスライドガラス126の上には、図2に示すように、
Oリング128が置かれ、その内側に試料を含んだ溶液
130で満たされる。そして、前述したように、探針1
16を持つカンチレバー114が溶液130に浸され
る。
【0017】試料の励振は、圧電バイモルフ22を上下
方向に振動させることにより行なう。この場合、図6の
チューブ型圧電アクチュエーター108は、探針116
と試料の間の相対的な走査と、カンチレバー114の振
幅を一定に保つための探針試料間距離の制御とを分担す
る。圧電バイモルフ22を上下方向に振動させると、ス
ライドガラス126が上下に振動し、その上に載せられ
ている試料が励振される。このとき、スライドガラス1
26の振動は、ホルダー枠12との間に介在する振動絶
縁部材18によって吸収されるため、ホルダー枠14に
は伝わらず、また、圧電バイモルフ22の振動は、ホル
ダー枠14との間に介在する振動絶縁部材20によって
吸収されるため、ホルダー枠14には伝わらない。
【0018】このように、本実施の形態によれば、試料
を励振するタイプの、生体試料等の観察に適した、液浸
でのタッピングモードのAFM測定を行なえるようにな
る。上の説明は液浸のAFM測定に関するものである
が、本実施の形態の試料ホルダーは、試料を固定したス
ライドガラス126に適用すれば、大気中でのACモー
ドのAFM測定にも適用することができる。
【0019】次に第二の実施の形態の試料ホルダーの構
成を図3に示す。本実施の形態では、スライドガラス1
26は、光学的に透明な平板状の圧電素子32の上に載
せられ、その両側がOリング34によって止められてい
る。圧電素子には、透明素材で出来たバイモルフ型のも
のや、ガラス表面に圧電的挙動をする薄膜を設けたもの
などが用いられる。
【0020】本実施の形態の試料ホルダーは、第一の実
施の形態と同様にして、図6のAFMに設置される。圧
電素子32を上下方向に振動させることにより、その上
に載せられているスライドガラス126も上下に振動す
る。これにより、試料を励振するタイプのACモードの
AFM測定が行なえる。
【0021】次に、第三の実施の形態について図4およ
び図5を用いて説明する。図4において、レーザーダイ
オード118およびフォトディテクター122を含む変
位検出光学系、鏡基102、上下粗動機構104、上下
粗動機構104により上下に移動される部材106、チ
ューブ型圧電アクチュエーター108、探針116、カ
ンチレバー114は、図6と同様のため説明は省略す
る。
【0022】第三の実施の形態では、シャーレ、ペトリ
ディッシュと言われる丸皿301の底面に直接付着もし
くは培養された試料302を観察および測定する構成を
示す。また、測定される試料302は、ガラス板、Si
基板、マイカ等のフラットな基板303に付着させたも
のでもよく、これには生体試料(細胞)、半導体基板上
の埃なども含まれる。
【0023】丸皿301は、その側面を試料ホルダーに
よって支持されている。この試料ホルダーは、ホルダー
枠305、振動子306、突起307、振動絶縁部30
8から構成される。
【0024】丸皿301は、ベース304と非接触の状
態を保つように、突起307の一端部でその側面を支持
される。突起307の他端部は、例えば積層型の圧電素
子からなる振動子306に固定されており、振動子30
6の振動を丸皿301に伝達する。振動子306は、そ
の周囲を振動絶縁部308に囲まれており、さらに、振
動絶縁部308の外周はホルダー枠305に囲まれてい
る。このホルダー枠305はベース304上に固定され
ている。このような構成により、振動子306の振動を
振動絶縁部308で遮断すると共に、試料302を励振
することが可能となる。従って、ベース304は振動の
影響を全く受けることがない。
【0025】本実施の形態による効果は、第一、第二の
実施の形態と同様である。なお、本実施の形態に図6に
示す試料の光学観察を行なうための構成を適用してもよ
い。また、探針116が試料302に対して移動する構
成を示したが、試料302と探針116との相対的な移
動が得られれば、この構成に限定されることはない。例
えば、チューブ型圧電アクチュエーター108を用いて
試料側を探針116に対して移動させてもよい。
【0026】また、丸皿301の固定を安定させるため
に、突起307を丸皿301の円周に三点もしくはそれ
以上設けてもよい。これまで、AFMによる試料の表面
形状の測定について説明してきたが、本発明は、他の走
査型プローブ顕微鏡を用いて行なわれる試料の加工や電
気化学的測定、試料の粘弾性計測などにも適用できる。
【0027】
【発明の効果】本発明の試料ホルダーを用いれば、励振
成分とサーボ成分とが完全に分離されたACモードの走
査型プローブ顕微鏡が得られる。これにより、試料の測
定を更に高精度に行なえるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施の形態の試料ホルダーの構
成を示す図である。
【図2】図1の試料ホルダーに保持されたスライドガラ
スを図6のAFMに適用する際の様子を説明するための
図である。
【図3】本発明の第二の実施の形態の試料ホルダーの構
成を示す図である。
【図4】本発明の第二の実施の形態の試料ホルダーを備
えたACモードのAFMの構成を示す図である。
【図5】本発明の第三の実施の形態の試料ホルダーの構
成を示す図である。
【図6】カンチレバーを振動させるタイプのACモード
のAFMの構成を示す図である。
【符号の説明】
12、14 ホルダー枠 16 連結部材 18、20 振動絶縁部材 22 圧電バイモルフ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ステージ上に載置されたスライドガラスと
    その上に載せられたOリングとで作られた空間に収容さ
    れた溶液中の試料を観察する走査型プローブ顕微鏡の試
    料ホルダーであり、 スライドガラスをステージから浮かして支持する手段
    と、 スライドガラスを振動させるアクチュエーターと、 スライドガラスの振動のステージへの伝達を防止する手
    段とを有している試料ホルダー。
JP31784996A 1996-11-28 1996-11-28 走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダー Withdrawn JPH10160742A (ja)

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JP31784996A JPH10160742A (ja) 1996-11-28 1996-11-28 走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダー

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007505324A (ja) * 2003-05-15 2007-03-08 フラウンホファー ゲセルシャフトツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. 原子間力顕微鏡の、片側が固定されたばねカンチレバー中にねじれ振動を非接触に励起する方法および装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007505324A (ja) * 2003-05-15 2007-03-08 フラウンホファー ゲセルシャフトツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. 原子間力顕微鏡の、片側が固定されたばねカンチレバー中にねじれ振動を非接触に励起する方法および装置
JP4680196B2 (ja) * 2003-05-15 2011-05-11 フラウンホファー ゲセルシャフト ツール フェールデルンク ダー アンゲヴァンテン フォルシュンク エー.ファオ. 原子間力顕微鏡の、片側が固定されたばねカンチレバー中にねじれ振動を非接触に励起する方法および装置

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