JP5752106B2 - 離型フィルム - Google Patents
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Description
上記離型フィルムは、フィルムの長手方向及び幅方向の伸縮率がいずれも0.50%以下であることが好ましい。
上記含フッ素樹脂は、テトラフルオロエチレン−パーフルオロ(アルキルビニルエーテル)共重合体、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、及び、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体からなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましい。
上記含フッ素樹脂は、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体であることが好ましい。
上記離型フィルムは、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体を構成する全単量体単位に対するテトラフルオロエチレン単位の含有量が50モル%以上であることが好ましい。
上記離型フィルムは、発光ダイオード封止材料のモールド成形に用いられることが好ましい。
このため、本発明の離型フィルムは、金型による成形において延伸された際、均一に延伸され、厚みムラが生じないものである。
上記応力の差が1.80MPaを超えると、金型による成形等において延伸された際に厚みムラが発生するおそれがある。
上記応力の差は、高温で成形しても得られる成形品の表面に荒れが生じにくくなることから、1.20MPa以下が好ましく、0.85MPa以下がより好ましく、0.70MPa以下が更に好ましく、0.50MPa以下がより更に好ましく、0.30MPa以下が特に好ましく、0.10MPa以下が最も好ましい。
上記長手方向の応力及び幅方向の応力は、真空引き時の金型への追従性の点で、7.3MPa以下であることが好ましく、6.0MPa以下であることがより好ましく、3.0MPaであることがさらに好ましい。
また、上述の長手方向と幅方向の応力−ひずみ曲線において、長手方向におけるX軸のひずみ(伸度)180%のときのY軸の応力の値と、幅方向におけるX軸のひずみ(伸度)180%のときのY軸の応力の値との差が1.80MPa以下であることが好ましい。
上記伸縮率は、0.50〜−1.60%であることがより好ましい。
上記伸縮率は、JIS K 7133に準拠した方法(115℃×10分)により得られる値である。
上記含フッ素樹脂は、少なくとも1種の含フッ素エチレン性モノマーから誘導される繰り返し単位を有する重合体(単独重合体又は共重合体)であって、溶融加工性を有する重合体である。
CH2=CX1(CF2)nX2 (1)
(式中、X1はH又はFであり、X2はH、F又はClであり、nは1〜10の整数である。)で示されるモノマー、及び、パーフルオロ(アルキルビニルエーテル)等が挙げられる。
TFE及びPAVEと共重合可能な単量体としては、HFP、CZ1Z2=CZ3(CF2)nZ4(式中、Z1、Z2及びZ3は、同一若しくは異なって、水素原子又はフッ素原子を表し、Z4は、水素原子、フッ素原子又は塩素原子を表し、nは2〜10の整数を表す。)で表されるビニル単量体、及び、CF2=CF−OCH2−Rf1(式中、Rf1は炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。)で表されるアルキルパーフルオロビニルエーテル誘導体等が挙げられる。
TFE及びエチレンと共重合可能な単量体としては、下記式
CH2=CX3Rf2、CF2=CFRf2、CF2=CFORf2、CH2=C(Rf2)2
(式中、X3は水素原子またはフッ素原子、Rf2はエーテル結合性酸素原子を含んでいてもよいフルオロアルキル基を表す。)で表される単量体が挙げられ、なかでも、CF2=CFRf2、CF2=CFORf2及びCH2=CX3Rf2で表される含フッ素ビニルモノマーからなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましく、HFP、CF2=CF−ORf3(式中、Rf3は炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。)で表されるパーフルオロ(アルキルビニルエーテル)〔PAVE〕及びRf4が炭素数1〜8のフルオロアルキル基であるCH2=CX3Rf4で表される含フッ素ビニルモノマーからなる群より選択される少なくとも1種であることがより好ましい。
上記含フッ素ビニルモノマーとしては、例えば、CH2=CH−C4F9、CH2=CF−CF2−CF2−CF2H、CH2=CH−C6F13等が挙げられる。
また、TFE及びエチレンと共重合可能な単量体としては、イタコン酸、無水イタコン酸等の脂肪族不飽和カルボン酸であってもよい。
TFE及びエチレンと共重合可能な単量体は、含フッ素重合体に対して0.1〜10モル%が好ましく、0.1〜5モル%がより好ましく、0.2〜4モル%が特に好ましい。
また、上記MFRは、高延伸時でも成形品の表面に荒れが発生しない点で、1.5g/10分以上が好ましく、4g/10分以上がより好ましく、10g/10分以上が更に好ましく、20g/10分以上が特に好ましい。
上記MFRは、ASTM D 3159に準拠する方法で測定して得られる値である。
上記含フッ素樹脂の融点は、耐熱性の観点からは、230〜270℃であることがより好ましく、低弾性率の観点からは、200〜230℃であることがより好ましく、190〜230℃であることが更に好ましい。
上記融点は、示差走査熱量計〔DSC〕を用いて10℃/分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。
上記厚みは、JIS K 7130 A法に従って得られる値である。
また、本発明の離型フィルムは、120℃での弾性率が、長手方向(MD)で20〜70MPa、幅方向(TD)で20〜75MPaであることが好ましい。
上記弾性率は、ASTM D−1708に準拠して測定して得られる値である。
上記含フッ素樹脂と上記他の成分との混合方法としては、例えば、溶融混練法等が挙げられる。
上記フィルム状に成形する方法としては、溶融押出し法、インフレーション法、Tダイ法が挙げられる。フィルム厚みの精度が高い点で、Tダイ法が好ましい。
例えば、ダイスのリップ幅を狭くする場合、リップ幅は1.5mm未満が好ましい。
また、エアギャップを短くする場合、エアギャップは145mm以下が好ましい。
なお、上記エアギャップとは、ダイス出口から溶融樹脂が冷却ロールに接するまでの間の距離をいう。
一般に、半導体封止材料のモールド成形は170〜180℃の成形温度で行われ、発光ダイオード封止材料のモールド成形は100〜150℃の成形温度で行われる。本発明の離型フィルムは、高温でも厚みムラが生じにくいため、上述した成形温度範囲で行われる半導体封止材料又は発光ダイオード封止材料のモールド成形において好適に用いられる。
具体的には、本発明の離型フィルムは、半導体封止材料又は発光ダイオード封止材料のモールド成形において、封止材料とモールド成形機の金型との間に挟み込み、封止材料と金型とを離型するための樹脂モールド成形用離型フィルムとして特に好適に適用することができる。
特に、本発明の離型フィルムは、複数のお椀状の窪みが等間隔に設けられた金型を押し付けた場合であっても、厚みムラが生じにくい。このため、本発明の離型フィルムは、発光ダイオード封止材料のモールド成形において用いられることが特に好ましい。
ETFE(1)(ネオフロンETFE EP−610(商品名)、融点 223℃、MFR 30.0g/10分、ダイキン工業株式会社製)を用いて、T型ダイスを用いたTダイ法により、ダイスのリップ幅を狭くし(0.8mm)、押出し方向への樹脂の配向を抑えた条件で、ダイ温度305℃で押出溶融成形し、離型フィルム(厚み50μm、伸縮率(115℃、10分)MD:−1.15%、TD:0.25%)を得た。
実施例1において、ETFE(1)の代わりに、ETFE(2)(ネオフロンETFE EP−543(商品名)、融点 258℃、MFR 6.0g/10分、ダイキン工業株式会社製)を用い、ダイ温度を340℃にした以外は、実施例1と同様にして離型フィルム(厚み50μm、伸縮率(115℃、10分)MD:−0.65%、TD:−0.66%)を得た。
実施例1において、ETFE(1)の代わりに、ETFE(3)(ネオフロンETFE EP−546(商品名)、融点 253℃、MFR 6.0g/10分、ダイキン工業株式会社製)を用い、ダイ温度を340℃にした以外は、実施例1と同様にして離型フィルム(厚み50μm、伸縮率(115℃、10分)MD:−0.82%、TD:0.29%)を得た。
実施例1において、ETFE(1)の代わりに、FEP(ネオフロンFEP NP−120(商品名)、融点 265℃、MFR 7.0g/10分、ダイキン工業株式会社製)を用い、ダイ温度を360℃にした以外は、実施例1と同様にして離型フィルム(厚み50μm、伸縮率(115℃、10分)MD:0.21%、TD:−1.52%)を得た。
実施例3において、リップ幅を広くして(1.5mm)成形した以外は、実施例1と同様にして離型フィルム(厚み50μm、伸縮率(115℃、10分)MD:−4.64%、TD:0.20%)を得た。
<長手方向(MD)と幅方向(TD)の応力の測定>
雰囲気温度120℃、引張速度100mm/分とした点以外は、ASTM D1708−02aに準じて測定し、長手方向と幅方向の、それぞれの応力−ひずみ曲線(S−S曲線)を得た。そして、得られた各応力−ひずみ曲線のひずみ(伸度)60%の場合の値を、それぞれの応力の値とした。
また、得られた応力−ひずみ曲線において、ひずみ120%と180%の場合の、長手方向と幅方向との応力の値の差を算出した。
得られた離型フィルムの長手方向及び幅方向の破断強度及び破断伸度を、オートグラフAG−1KNIS(島津製作所社製)を用いて下記の条件で測定した。
28℃での引張条件は、サンプル形状が短冊形(10mm幅)であり、引張速度が500mm/分であった(JIS K 7127に準拠)。
120℃での引張条件は、サンプル形状がマイクロダンベル(厚み50μm)であり、引張速度が100mm/分であった(ASTM D1708−02aに準拠)。
上記で得られた離型フィルムを用いて、以下の条件でモールド成形を行い、得られた成形品について下記の基準にて評価した。
(成形条件)
樹脂モールド成形法で、一定温度(115℃)の金型(直径2.6mmのお椀状窪みで形成された金型)に、離型フィルム(A4サイズ:縦30cm×横20cmの枚葉フィルム)をセットした後(ロールフィルムをロールtoロールでセットしてもよい)、真空吸引して、離型フィルムを金型に追従させた。そこに未硬化の封止用のシリコン樹脂(商品名OE−6370HF(東レダウコーニング社製))を流動させ、120〜300秒間保持し、樹脂を硬化させた後、金型を開き、成形品を脱型させ、離型フィルムを剥離した。
(評価方法)
得られた成形品について、表面をマイクロスコープ(DIGITAL MICROSCOPE VHX−900、キーエンス社製、倍率25〜100倍)を用いて観察し、下記の基準にて評価した。
(評価基準)
○:表面に荒れが見られなかった。
×:表面に荒れは見られた。
Claims (7)
- モールド成形機の金型であって複数のお椀状の窪みが等間隔に設けられた金型を押し付ける、含フッ素樹脂からなる離型フィルムであって、
前記離型フィルムは、フィルムの長手方向の応力と幅方向の応力との差が1.80MPa以下であり、前記応力は、ASTM D1708−02aに準拠した方法で、雰囲気温度120℃、引張速度100mm/分の条件で測定して得られる値であることを特徴とする離型フィルム。 - フィルムの長手方向及び幅方向の伸縮率が、いずれも0.50%以下である請求項1記載の離型フィルム。
- 含フッ素樹脂は、テトラフルオロエチレン−パーフルオロ(アルキルビニルエーテル)共重合体、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、及び、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体からなる群より選択される少なくとも1種である請求項1又は2記載の離型フィルム。
- 含フッ素樹脂は、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体である請求項1、2又は3記載の離型フィルム。
- エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体を構成する全単量体単位に対するテトラフルオロエチレン単位の含有量が50モル%以上である請求項4記載の離型フィルム。
- 発光ダイオード封止材料のモールド成形に用いられる請求項1、2、3、4又は5記載の離型フィルム。
- モールド成形機の金型であって複数のお椀状の窪みが等間隔に設けられた金型と封止材料とを離型するための樹脂モールド成形用離型フィルムである請求項1、2、3、4、5又は6記載の離型フィルム。
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