JP5735091B2 - ゲートレベル再構成可能な磁気論理 - Google Patents
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Description
MTJ接合J1−J4が、状態[1,0,1,0]に設定されると仮定する。したがって、対応する抵抗は、RJ−1(1)=5R0,RJ−2(0)=R0,RJ−3(1)=5R0,およびRJ−4(0)=R0である。A,Bの可能性のある4つの全組み合わせと、大きさがVDDの、結果として生じる4つの入力電圧[A,_A,B,_B]について、測定された電圧VTを表1に示す。
MTJ接合J−1からJ−4が、状態[0,1,0,1]に設定されているものと仮定する。したがって、対応する抵抗は、RJ−1(0)=R0,RJ−2(1)=5R0,RJ−3(0)=R0,およびRJ−4(1)=5R0である。上記と同様の分析を使用し、図5Cは、可能性のある入力の組み合わせについての電圧出力VT(A,B)の代表的なグラフであり、4つのSTT MTJ接合J−1からJ−4の状態設定は、[0,1,0,1]であるとする。VT(1,1)が、VT(0,0)が最も高かった第1の例と比較して、最も高い出力であることに留意されたい。インバータ430が、VT(1,1)とVT(1,0)の間でトリガするように設定され、したがって、出力VDDまたは0となる場合、表4の真理値表の結果となる。Fは、論理ANDに一致し、F_は、論理NANDに一致することがわかる。
図8は、開示の実施形態に係る、6つのSTT MTJ接合J−1からJ−6を使用する、六入力ゲート論理800の一例である。図8は、接合J−1からJ−6のみを示しているが、それぞれは、さらに、図3Aに示されているように、トランジスタのゲートへのワード線の信号によってスイッチ可能な別個のトランジスタ(図示せず)を含むこともできる。それは、上記されたように、各セルの状態および対応する抵抗が再構成されうることを除いて、従来のFPGA六入力論理ブロックと同様である。この例では、3つの入力のみ、たとえば、A、B、およびCが必要とされることができる。追加のインバータ(図示せず)が、3つの追加の並列の入力A_、B_、およびC_を供給することができる。
読み出しモード、すなわち論理動作中において、入力は、A、A_、B、B_、C、およびC_として特定されることができるが、接合J−1からJ−6に適用され、それぞれ、A=1であれば、A_=0,等である。これらの論理入力の電圧レベルは、書き込み電圧よりも低いため、接合J−1からJ−6の磁化抵抗状態は、変化しない。各接合は、0または1の状態であることができる。したがって、接合J−N(0)は、「0」の状態であり、J−N’(1)は、「1」の状態である。
入力[A,A_,B,B_,C,およびC_]が、J−1からJ−6に、それぞれ適用され、EVAL信号電圧V E が、トランジスタのスイッチ418のゲートに適用されると、ある量の電流が、トランジスタのスイッチ418を通って流れる。電流の量は、入力信号[A,A_,B,B_,C,およびC_]の電圧(ここでは、例示目的のために、V DD または0と仮定し、V DD は、上記したように、読み出し専用のレベルであり、極性化に変化をもたらさない)、接合J−1からJ−6の実効抵抗、および、トランジスタ418の実効抵抗R T によって、決定される。接合J−1からJ−6の実効抵抗は並列であり、接合J−1からJ−6の正味の実効並列抵抗は、トランジスタ418のR T と直列である。A,Bおよび/またはC=1に対する入力は、高い場合もあり(たとえば、電圧=V DD )、または、入力が、A,Bおよび/またはC=0(たとえば、電圧=0)である場合もある。トランジスタのスイッチ418で測定された電圧V T は、加算線420で測定され、たとえば、2つの飽和増幅インバータ430および440を含みうる、センサー回路に入力され、以下に説明されるように、適用された信号の論理出力FおよびF_の真理値表を決定するために使用されることができる。
図4Bを参照すると、2つのみの入力(A,B)とは対照的に3つの入力(A,B,C)がある点で例外的な図8の例示的な論理回路の等価回路が示される。接合J−1からJ−6は、それらの各等価抵抗R J−1 −R J−6 によって表されることができ、トランジスタのスイッチ418は、EVAL電圧V E が、トランジスタのスイッチ418をオンにして、導電状態にすると、等価抵抗R T (418)によって表される。接合J−1からJ−6を通って流れるすべての電流の合計、たとえばI T は、加算線420を通って、トランジスタのスイッチ418に流れ、そして接地する。加算線420の電圧V T は、V T =I T かけるR T によって、合計の電流を決定する。
各状態に対応して、接合J−1からJ−6は、実効抵抗R J−1 からR J−6 を有することができ、R J−N (0)は、0の状態の接合J−Nの抵抗であり、それは、「低」抵抗であり、R J−N’ (1)は、1の状態の接合J−N’の抵抗であり、それは、「高」抵抗である。いかにさまざまな論理機能が、図8のトポロジーを使用して再構成可能に実行可能かどうかを示すために、例が、図4Bの等価回路を参照することにより、提示される。簡潔さのために、以下の仮定は、R J−N (0),R J−N’ (1)およびR T の値と、入力A,B,およびCの電圧レベルについて、なされる。
R J−N (0)=R 0 ,R J−N’ (1)=5*R 0 ,およびR T (418)=R 0 /10とする。これらの抵抗値は、寄生抵抗(parasitic resistance)(たとえば、線および接合のスイッチ抵抗)を含むことができ、要素の電気的応答を決定する合成抵抗値として有効にみなされうる。
A,B,および/またはCが=1に設定される場合、V A ,V B ,および/またはV C =V DD とし、V DD は読み出しレベルの電圧である、とする。
A,B,および/またはCが=0に設定される場合、V A ,V B ,および/またはV C =0とする。
図9Aおよび図9Bによって示された例1
MTJ接合J1−J6が、状態[1,0,1,0,1,0]に設定されると仮定する。したがって、対応する抵抗は、R J−1 (1)=5R 0 ,R J−2 (0)=R 0 ,R J−3 (1)=5R 0 ,R J−4 (0)=R 0 ,R J−5 (1)=5R 0 ,およびR J−6 (0)=R 0 である。
図9Aは、可能性のある入力の組み合わせについての、電圧出力V T (A,B,C)の代表的なグラフであり、6つのSTT MTJ接合J−1からJ−6の状態の設定が[1,0,1,0,1,0]であると仮定する。出力電圧は、入力の状態A,B,およびCに対し、たとえばV T (A,B,C)として、インデックス化されることができる。インバータ430は、加算線420から電圧V T (A,B,C)を受け取る。インバータ430は、V T (A,B,C)が閾値電圧を上回る場合に、出力をトリガするように設定されることができる。そして、インバータ430は、入力に依存して、論理1または0のレベル(たとえば、V DD または0)を出力するように、入力を増幅することができる。第2のインバータ440は、インバータ430の出力を反転する(invert)。Fは、インバータ440からの出力であり、F_は、インバータ430からの出力である。
図9Bは、可能性のある入力の組み合わせについての、電圧出力V T (A,B,C)の代表的なグラフであり、6つのSTT MTJ接合J−1からJ−6の状態の設定が[0,1,0,1,0,1]であると仮定する。V T (1,1,0)が最も高い出力であることに注意すべきである。
プログラム可能な論理アレーを設計する当業者の一人は、より複雑な論理機能(たとえば、XOR,XNOR,等)が、MTJ接合のセルが適切にプログラムされた場合に図4Aの論理回路によって提供される基本的な論理動作を組み合わせることにより、実現されうることを、理解するであろう。さらに、より複雑な論理機能が達成されることができる、ということが理解されうる。たとえば、5つ以上の入力が、各セルの状態およびトリガレベルに依存した論理機能動作を得るために、同様の数のSTT MTJセルによって構成されることができる。
[C1]不揮発性の抵抗ベースのメモリセルを含む、不揮発性の再プログラム可能なゲート論理。
[C2]前記不揮発性の抵抗ベースのメモリセルが、
不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の各々が、入力論理信号を受け取るように構成されている、複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路と、
前記複数の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路と直列の評価スイッチであって、前記複数の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の抵抗状態の構成に基づいて、出力信号を供給するように構成された前記評価スイッチ
を含む、C1に記載のゲート論理。
[C3]前記評価スイッチは、直列および/または並列の選択された組み合わせの、1つ以上のトランジスタである、C2に記載のゲート論理。
[C4]前記評価スイッチは、直列および/または並列の選択された組み合わせの、1つ以上の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路である、C2に記載のゲート論理。[C5]前記評価スイッチは、1つ以上のトランジスタ、および/または、直列および/または並列の選択された組み合わせの、1つ以上の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路である、C2に記載のゲート論理。
[C6]前記不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路が、相変化ランダムアクセスメモリ(PC−RAM)回路、抵抗ベースのランダムアクセスメモリ(R−RAM)回路、磁気抵抗ランダムアクセスメモリ(MRAM)回路、およびスピントランスファートルク磁気抵抗トンネル接合MRAM(STT MTJ MRAM)回路のうちの1つ以上を含む、C2に記載のゲート論理。
[C7]前記STT MTJ MRAM回路が、
磁気トンネル接合(MTJ)と、
前記MTJに、ビット線書き込み信号、および/または、入力読み出し信号を供給するように構成された、第1の金属相互接続であって、前記ビット線書き込み信号は、前記MTJの抵抗状態を構成し、前記入力読み出し信号は、前記抵抗状態を決定するために印加される、第1の金属相互接続
を含む、C6に記載のゲート論理。
[C8]読み出しおよび/または書き込み動作のために、電流が前記MTJを通って流れることを可能にするソース線と、前記MTJに動作可能に結合するスイッチとをさらに含む、C7に記載のゲート論理。
[C9]前記MTJが、
前記金属相互接続に連通する上部電極と、
前記上部電極に隣接する自由磁化層と、
前記自由磁化層に隣接するトンネル障壁層と、
前記トンネル障壁に隣接する固定磁化層と、
前記スイッチに連通する、前記固定磁化層に隣接する下部電極
とを含む、C7に記載のゲート論理。
[C10]前記評価スイッチが、
前記複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路と直列つなぎの第2の金属相互接続と、
前記第2の金属相互接続に連通するソース電極と、スイッチング要素の導電性パスの抵抗状態を変化させるために、制御信号を受け取るように構成されたゲート電極と、ソース電極とを有する、スイッチング要素であって、少なくとも、トランジスタ、MRAMセルおよびSTT MTJ MRAMセルから選択された、前記スイッチング要素
を含む、C2に記載のゲート論理。
[C11]前記第2の金属相互接続で電圧を検出する、選択された閾値電圧を受け取る、および前記検出された電圧と、前記選択された閾値電圧とに基づいて、選択された1つ以上の論理信号を出力する、ように構成された、センサー回路をさらに含む、C10に記載のゲート論理。
[C12]前記センサーから出力された信号は、論理1および/または論理0を含む、C11に記載のゲート論理。
[C13]不揮発性の抵抗ベースのメモリセルを含む、不揮発性の再プログラム可能なゲート論理を再構成する書き込み方法であって、前記不揮発性の抵抗ベースのメモリセルは、複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路を含み、不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の各々は、入力論理信号を受け取るように構成され、
前記複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の各々に、書き込み入力信号を印加することであって、前記書き込み入力信号の電流の方向は、前記不揮発性の抵抗ベースの接合回路の抵抗状態を決定する、こと
を含む、方法。
[C14]不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の各々の抵抗状態のセットを決定するために、前記書き込み入力信号の方向を選択することをさらに含み、前記抵抗状態は選択された論理機能に対応する、C13に記載の書き込み方法。
[C15]不揮発性の抵抗ベースのメモリセルを含む、不揮発性の再プログラム可能なゲート論理を動作する方法であって、前記不揮発性の抵抗ベースのメモリセルは、複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路を含み、
前記複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の各々に、読み出し入力信号を印加することであって、前記読み出し入力信号は、書き込み入力信号の大きさよりも小さく、非常に小さいために前記不揮発性の抵抗ベースの接合回路の抵抗状態を変化させることはできない、こと
を含む、方法。
[C16]前記並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路と評価スイッチの間の相互接続で、前記複数の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の抵抗状態の構成に基づいて、出力信号を読み出すこと
をさらに含む、C15に記載の方法。
[C17]前記相互接続に動作可能に結合されたセンサー回路によって、前記出力信号を検出することであって、前記センサー回路は、選択された閾値基準信号レベルを受け取る、ことと、
前記検出された出力信号と、前記選択された閾値基準信号レベルとに基づいて、選択された1つ以上の論理信号を出力すること
とをさらに含む、C16に記載の方法。
[C18]前記センサーの前記出力信号は、論理1および/または論理0を含む、C15に記載の方法。
Claims (2)
- 不揮発性の抵抗ベースのメモリセルを含む、不揮発性の再プログラム可能なゲート論理を再構成する書き込み方法であって、前記不揮発性の抵抗ベースのメモリセルは、
複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路に結合されたセンサー回路と、
前記複数の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路と直列の評価スイッチと、
を含み、
前記評価スイッチは、前記複数の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の抵抗状態の構成に基づいて、出力信号を供給するように構成され、前記複数の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路における各々の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路は、入力論理信号を受け取るように構成され、
前記センサー回路は、前記出力信号および閾値電圧を入力として受け取るように、および前記出力信号および前記閾値電圧に基づいて、1つまたは複数の論理信号を出力するように構成され、前記1つまたは複数の論理信号は、前記入力論理信号に適用される論理機能を表し、前記方法は、
前記複数の並列の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の各々に、書き込み入力信号を印加することであって、前記書き込み入力信号の電流の方向は、前記不揮発性の抵抗ベースの接合回路の抵抗状態を決定する、印加すること
を含む、方法。 - 各々の不揮発性の再構成可能な抵抗ベースの接合回路の抵抗状態のセットを決定するために、前記書き込み入力信号の方向を選択することをさらに含み、前記抵抗状態は選択された論理機能に対応する、請求項1に記載の書き込み方法。
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