JP5722027B2 - 絶縁材料の劣化診断装置、劣化診断方法、及び劣化診断プログラム - Google Patents
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Description
本実施形態においては、例えば受電設備、変電設備、スイッチギヤなどのような各種の電力機器又は電力設備に使用される絶縁材料の劣化状態を推定・診断する劣化診断装置について説明する。本実施形態では、診断の一例として、絶縁材料の余寿命を求める。
ここで、Yはlog絶縁抵抗値、Cは定数、X1〜Xiは各評価項目値(評価項目の測定値)、n1〜niは評価項目の係数である。
この(2)式においては、L(Xi-1)及びL(Xi)が評価項目値に基づいて得られる関数の値である。
本実施の形態においては、上記図7を参照し、第1の実施形態で説明されたT法についてさらに説明を行う。
Claims (10)
- 絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の係数と、前記評価項目の実測値とに基づいて、多変量解析のT法(タグチ法)により、前記評価項目の値と、前記係数と、推定結果となる絶縁抵抗値との関係を示し、前記絶縁材料の種類に応じて予め複数用意される一次式を用いて前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定する推定手段と、
前記推定手段によって推定された前記絶縁抵抗値と、前記絶縁材料の使用期間とに基づいて、前記絶縁抵抗値の前記使用期間に対する変化を表す推定曲線を求め、前記推定曲線が予め設定されているしきい値以下となる時点に基づいて前記絶縁材料の有効期間を求める診断手段と
を具備する劣化診断装置。 - 請求項1に記載の劣化診断装置において、
前記一次式は、Yをlog絶縁抵抗値、Cを定数、X 1 〜X i を前記評価項目の実測値、n 1 〜n i を前記評価項目の係数としたとき、式(1)により表現される
Y=C+n 1 X 1 +n 2 X 2 +n 3 X 3 +…+n i X i …(1)
ことを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項1記載の劣化診断装置において、
前記推定手段は、前記評価項目の係数と、前記評価項目に関する悪環境の値とに基づいて、前記T法により前記絶縁材料の前記悪環境の絶縁抵抗値を推定し、
前記診断手段は、前記悪環境の絶縁抵抗値と、前記絶縁材料の使用期間とに基づいて、前記絶縁抵抗値の前記悪環境での変化を表す悪環境の推定曲線を求め、前記悪環境の推定曲線が前記しきい値以下となる時点に基づいて前記絶縁材料の悪環境の有効期間を求めることを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項1記載の劣化診断装置において、
前記診断手段は、前記絶縁材料の実測の絶縁抵抗値と、前記推定手段によって前記評価項目の実測値に基づいて推定された前記絶縁抵抗値との差が、予め設定されている推定精度の許容範囲外か判断し、前記差が前許容範囲外の場合にその旨を示す診断結果を生成することを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項1記載の劣化診断装置において、
前記推定手段は、関数化された前記評価項目の係数と、関数化された評価項目とのうちの少なくとも一方を含む前記T法の推定式により、前記絶縁抵抗値を推定することを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項1記載の劣化診断装置において、
前記一次式は、前記絶縁材料が設置される領域の湿度に応じて予め複数用意されることを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項1記載の劣化診断装置において、
前記一次式は、前記絶縁材料が設置される領域の汚損度に応じて予め複数用意されることを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項1記載の劣化診断装置において、
前記評価項目には、温度、湿度、色相、光沢度、反射率、接触角、表面粗さ、汚損度、イオン含有量のうちの少なくとも一つが用いられていることを特徴とする劣化診断装置。 - 処理装置が、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の係数と、前記評価項目の実測値とに基づいて、多変量解析のT法(タグチ法)により、前記評価項目の値と、前記係数と、推定結果となる絶縁抵抗値との関係を示し、前記絶縁材料の種類に応じて予め複数用意される一次式を用いて前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定することと、
前記処理装置が、推定された前記絶縁抵抗値と、前記絶縁材料の使用期間とに基づいて、前記絶縁抵抗値の前記使用期間に対する変化を表す推定曲線を求め、前記推定曲線が予め設定されているしきい値以下となる時点に基づいて前記絶縁材料の有効期間を求めることと、を具備する劣化診断方法。 - コンピュータに、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の係数と、記憶装置に記憶されている前記評価項目の実測値とに基づいて、多変量解析のT法(タグチ法)により、前記評価項目の値と、前記係数と、推定結果となる絶縁抵抗値との関係を示し、前記絶縁材料の種類に応じて予め複数用意される一次式を用いて前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定し、推定結果を前記記憶装置に記憶することを実行させ、
前記コンピュータに、前記記憶装置に記憶されている前記推定結果と、前記絶縁材料の使用期間とに基づいて、前記絶縁抵抗値の前記使用期間に対する変化を表す推定曲線を求め、前記推定曲線が予め設定されているしきい値以下となる時点に基づいて前記絶縁材料の有効期間を求め、前記有効期間を前記記憶装置に記憶することを実行させるための劣化診断プログラム。
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