JP5688996B2 - プラズマ源及びこのプラズマ源を備えた成膜装置 - Google Patents
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Description
特許文献2に記載されたスパッタ電極は、スパッタ装置にてプラズマを発生させるためのマグネトロンスパッタ電極である。この電極は、開口に向かって断面積が大きくなるように形成した中空部を備えたターゲット(陰極)と、このターゲットの背面に配置された磁石と、この磁石及びターゲットの外側面及び背面を覆うヨークとを有している。
また、特許文献3に開示されたスパッタ装置は、中空部内でプラズマを発生させるものであり、中空部を有するターゲットの外側面の全周にわたって磁石が配備されており、この磁石は、極性の向きが成膜対象物に向かうように配置されている。
例えば、特許文献1のプラズマ発生源では、ヨークにより磁力線の大部分がプラズマ源内に閉じ込められているため、プラズマ源から離れた成膜対象物の近傍では十分な磁束密度を備えておらず、遠方の成膜対象物に対しては十分に成膜が行えない可能性がある。
さらに、特許文献3に記載されたスパッタ装置でも、磁力線が成膜対象物側に指向されるものではなく、遠方にまでプラズマを照射可能な装置と言えるものではない。
さらに、特許文献2や3のスパッタ電極は、プラズマを衝突させてターゲット物質を積極的に飛ばすスパッタ装置用であるため、カソードのターゲット物質を外部へ流出させる構造(ターゲット物質が外部に飛び出やすい構造)となっている。
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、発生したプラズマをプラズマ源から遠方まで導くことができ、カソード物質をプラズマ源から流出しにくくして陰極の過度な消耗と処理対象への陰極構成物質の混入を抑えることができるプラズマ源及びこのプラズマ源を用いた成膜装置を提供するものである。
すなわち、本発明のプラズマ源は、プラズマを前面側から照射するカソードと、該カソードの背面側に配置された背面磁石と、前記カソードの外周を取り囲むように配置された外周磁石とを有するプラズマ源において、前記カソードには、該カソードの前面側に開口した中空部が設けられ、前記背面磁石及び外周磁石は、カソード側に対面する磁極がすべて同極とされていることを特徴とする。
まず、カソードの近傍では発散が少なく、カソードの側面と平行に近い磁力線となり、磁束密度は高くなる。その結果、カソードの内面を周回する無限軌道を形成する高密度のマグネトロン放電において、カソードの底面付近の割合が減少し、カソード側面(上下左右の面)付近の割合が増加し、そのプラズマ密度も増加する。マグネトロン放電によりカソード物質がスパッタされるが、その飛行方向はカソード面の法線方向の比率が高くなることが知られている。つまり、カソード底面よりスパッタされるカソード物質は底面の法線方向であるカソード前面側への比率が高くなり、カソード側面よりスパッタされるカソード物質は側面の法線方向である対向する側面への比率が高くなる。つまり、カソード底面付近のマグネトロン放電の割合が減少し、カソード側面(上下左右の面)付近の割合が増加すれば、スパッタによりカソードの前面側へ飛行するカソード物質の量を減らすことができる。これにより、カソード物質をプラズマ源から流出しにくくして陰極の過度な消耗と処理対象への陰極構成物質の混入を抑えることができる。
当然、真空チャンバ内や成膜対象物でのプラズマ濃度を高くすることができるので、皮膜の成膜速度が大きくなり生産性が高くなるし、真空チャンバ内が比較的低圧な状態でもプラズマを発生させることが可能となり、このプラズマ源を成膜装置に利用した場合の生産効率や利便性も良くなる。
好ましくは、カソードの中空部は、プラズマの照射方向に沿った断面において対向する内側面が互いに略平行となるように形成してもよい。
また、カソードの中空部の内側面付近を通る磁力線が中空部の内側面と略平行となるように、背面磁石及び外周磁石を配置してもよい。
好ましくは、前記カソードの中空部は、長尺の溝状であるとよい。
成膜対象物がシートやフィルムのように帯状に形成されている場合や板状または曲面のパーツなどを搬送しながら成膜する場合は、このようにプラズマを長尺状にすることで、幅のある成膜対象物に対する成膜を容易に行うことが可能になるからである。
このように中空部の前方に中空部より小さな開口を有する部材(絞り部材)を設ければ、絞り部材によってカソード物質がプラズマ源から流出することや流出したカソード物質が混入して皮膜の膜質を低下させることを防止することも可能となる。また、絞り部材をカソードと別部材にすれば、絞り量を変更することが容易であり、さらにメンテナンスの際の交換作業も容易になる。
好ましくは、前記プラズマ源と対向するように配置された対向磁石を有していて、この対向磁石とプラズマ源との間に成膜対象物が配置され、対向磁石は、極性の向きがプラズマ源の背面磁石における極性の向きと同じ向きとなるように配置されているとよい。
このように対向磁石を配置することで、プラズマを成膜対象物の表面に導くことができ、成膜効率を向上することができる。
なお、以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称及び機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。
図1及び図2に示すように、成膜装置2に備えられたプラズマ源1は、例えばフィルムやシートなどの帯状基材(成膜対象物W)に対してCVD皮膜などを成膜するためのプラズマを発生させるものである。プラズマ源1は、成膜対象物Wに対応した幅に開口する中空部3でプラズマを発生させるカソード4と、このカソード4の背面に配置された背面磁石5と、カソード4の外周を囲むように配置された外周磁石6とを有している。
この中空部3は前面に対して開放状態とされていて、酸素などのプラズマ生成用ガスが供給可能となっており、中空部3で発生したマグネトロン放電でプラズマ生成用ガスが電離状態となって、プラズマ生成用ガスのプラズマが生起される機構となっている。このマグネトロン放電は、後述する背面磁石5と外周磁石6とによって、カソード4の底壁や側壁の近辺で周回する無限軌道14を形成する。
中空部3の開口は、成膜対象物Wに対応した幅を有するスリット状であり、成膜対象物Wに対してライン状にプラズマを照射できるようになっている。
背面磁石5は、カソード4の背面側(後方)にカソード4から距離をあけて配置された永久磁石である。この背面磁石5は、上下方向に沿って伸びる角棒形状の磁石7を前後方向に5本重ね合わせたものであり、重ね合わせ状態での前後方向(x方向)、左右方向(y方向)、上下方向(z方向)の寸法はいずれもカソード4の中空部3(の内寸)より狭い幅とされている。本実施形態の背面磁石5では、5本の棒状の磁石7を重ね合わせることにより、1本だけの場合に比べて磁束密度を高めることができるようになっている。
具体的には、外周磁石6は、カソード4本体の上側の外壁面から上方に離れた位置に設けられる上側の磁石6U、カソード4本体の下側の外壁面から下方に離れた位置に設けられる下側の磁石6B、カソード4本体の左側の外壁面から左方に離れた位置に設けられる左側の磁石6L、及びカソード4本体の右側の壁面から右方に離れた位置に設けられる右側の磁石6Rの4つからなる。これら4つの磁石は、その外形形状がいずれも直方体状または板状とされている。
ところで、本発明のプラズマ源1は、上述した背面磁石5及び外周磁石6の取り付け方向と磁極の向きとに特徴を備えている。この特徴的な背面磁石5及び外周磁石6の取り付け方向と磁極の向きとによって、更に磁石の形状と磁束密度を適切に選択することによって、カソード4の中空部3の壁面付近を通る磁力線が中空部3の4つの壁面のいずれとも平行ないしほぼ平行となるようにされている。つまり、この特徴とは、カソード4側に対面する磁極(N極またはS極)がすべて同極であり、これらの磁石のそれぞれの磁極の向きがカソード4側を向くか、あるいはカソード4側に対して背向するように配置されているというものである。
具体的には、図1に示す如く、カソード4に対面する背面磁石5の極はN極であり、外周磁石6を構成する4つの磁石に関しても、カソード4に対面する磁極はN極となっている。言い換えるならば、背面磁石5の磁極の向きはカソード4を指向していて、4つの外周磁石6の磁極の向きもそれぞれがカソード4を指すようになっている。
次に、これら背面磁石5及び外周磁石6の取り付け方向と磁極の向きとの関係を、詳しく説明する。
なお、上述したように中空部3の開口そのものを細く狭いスリット状となるように構成する代わりに、カソード4の中空部3の前方に、カソード4から距離をあけて、細く狭いスリット状の開口を有する絞り部材8を設けても良い。
実施例1,2及び比較例1,2のシミュレーションは、高さ350mm×幅25mm×奥行30mmの中空部3を内部に備えたプラズマ源1に関するものであり、図7,8はこのプラズマ源1からの水平距離に応じて磁束密度がどのように変化するかを計算したものである。
なお、本明細書の説明において、前後方向(x方向)、左右方向(y方向)、上下方向(z方向)を使用しているが、この座標系の原点は、背面磁石5を構成する5枚の板状の磁石のうち、最もカソード4側に配備された板状の磁石の中心位置を基準として定められている。
この実施例2では中空部3内の磁力線がカソード4の側面とほぼ平行になっているので、実施例1よりも更に広く、カソード4の側面のほぼ全域で無限軌道14を形成するマグネトロン放電を実現することができる(無限軌道の幅が更に広くなる)。また、カソード側面付近の磁束密度が更に増加する。その結果、電子の閉じ込め効率が更に良くなるので、更に低いガス圧でも動作することができ、プラズマ密度を更に高くすることもできる。
また、実施例1と比較して、中空部3から開口部9及びプラズマ源1の外部まで通じている磁力線の割合が更に増え、磁力線の発散も更に低減しているので、より多くのプラズマが磁力線に沿ってプラズマ源1から離れた遠方まで導かれることとなる。
この成膜装置2は、内部が空洞とされた真空チャンバ10を有している。この真空チャンバ10の内部は気密構造となっていて、図示しない真空排気手段によって真空チャンバ10内が減圧され真空状態となっている。この真空チャンバ10内には、成膜対象であるシート状の成膜対象物Wが巻き掛けられる成膜ロール13が、その軸心を水平方向(図9では紙面貫通方向)に向けるようにして配備されている。さらに、コイル状の成膜対象物Wを巻き出すアンコイラー11と、成膜後の成膜対象物Wを巻き取るコイラー12とが配備されている。また、成膜ロール13の側方であって、真空チャンバ10の内側壁には、複数のプラズマ源1が設けられている。このプラズマ源1は、向かって右側に一つ、向かって左側に2つの計3つのプラズマ源(1a、1b、1c)からなっており、中空部3の開口を成膜ロール13の表面に対向するように配置されている。図9に示すようにプラズマ源1をプラズマ源1a、1bとして示すように真空チャンバ10の内側壁に沿って2つ並べて設けておけば、一度に広範囲に対して成膜を行うことが可能となる。
それゆえ、プラズマ電源からプラズマ源1に所定の電位差を印加すると、プラズマ源1の中空部3でグロー放電が発生し、電離された原料ガスのプラズマが成膜対象物Wの表面に照射されてCVD皮膜が成膜される。
なお、このときに、カソード4の中空部3の内部にプラズマ生成用のガスが導入されていてもよい。このプラズマ生成用ガスの導入によって、CVD皮膜の成膜をより効果的におこなうことができる。
さらに、図11に示すように、プラズマ源1a〜1cを真空チャンバ10の側壁に沿って隣接状態で3つ並べて設けてもよい。そうすれば、一度に広範囲に対して成膜を行うことが可能となる。
この図11または図12に示す3つのプラズマ源1a〜1cの各々に3相交流電源16の出力端子を接続し、各プラズマ源1a〜1cに3相交流電位を印加することもできる。
さらに、図13に示すように、本発明のプラズマ源1のカソード4を、このカソード4の前面が開口17aしたケース17で囲ってもよい。この場合、背面磁石5または外周磁石6とカソード4との間にケース17が配置されることになる。また、図14に示すように、本発明のプラズマ源1のカソード4を、背面磁石5および外周磁石6とともに、カソード4の前面が開口18aしたケース18で囲ってもよい。
本発明の成膜対象の形状としては、フィルムやシートなどの長尺もの以外に、板状または曲面の各種パーツなどでもよい。また、本発明の成膜対象の材質としては、プラスチック以外に、金属その他の材料であってもよい。
1a プラズマ源
1b プラズマ源
1c プラズマ源
2 成膜装置
3 中空部
4 カソード
5 背面磁石
6 外周磁石
6B外周磁石(下側の磁石)
6U外周磁石(上側の磁石)
6L外周磁石(左側の磁石)
6R外周磁石(右側の磁石)
7 棒状の磁石
8 絞り部材
9 開口部
10 真空チャンバ
11 アンコイラー
12 コイラー
13 成膜ロール
14 カソード側面を周回するマグネトロン放電の無限軌道
15 単相交流電源
16 3相交流電源
17 ケース
17a ケースの開口部
17b ケースのノズル
18 ケース
18a ケースの開口部
19 対向磁石
F 磁極の向き
W 成膜対象物
Claims (8)
- プラズマを前面側から照射するカソードと、該カソードの背面側に配置された背面磁石と、前記カソードの外周を取り囲むように配置された外周磁石とを有するプラズマ源において、
前記カソードには、該カソードの前面側に開口した中空部が設けられ、
前記背面磁石及び外周磁石は、カソード側に対面する磁極がすべて同極とされていることを特徴とするプラズマ源。 - 前記カソードの中空部は、前記プラズマの照射方向に沿った断面において対向する内側面が互いに略平行となるように形成されていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ源。
- 前記カソードの中空部内側面付近を通る磁力線が中空部の内側面と略平行となるように、前記背面磁石及び外周磁石を配置していることを特徴とする請求項1又は2に記載のプラズマ源。
- 前記カソードの中空部は、長尺の溝状であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のプラズマ源。
- 前記カソードの中空部の開口が、当該中空部の内側の幅より狭い幅となっていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のプラズマ源。
- 前記カソードの開口した部分に、開口部分を絞る絞り部材が設けられていることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のプラズマ源。
- 請求項1〜6のいずれかに記載されたプラズマ源を有していることを特徴とする成膜装置。
- 前記プラズマ源と対向するように配置された対向磁石を有していて、
この対向磁石とプラズマ源との間に成膜対象物が配置され、
前記対向磁石は、極性の向きがプラズマ源の背面磁石における極性の向きと同じ向きとなるように配置されていることを特徴とする請求項7に記載の成膜装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011048936A JP5688996B2 (ja) | 2011-03-07 | 2011-03-07 | プラズマ源及びこのプラズマ源を備えた成膜装置 |
PCT/JP2012/001430 WO2012120850A1 (ja) | 2011-03-07 | 2012-03-02 | プラズマ源及びこのプラズマ源を備えた成膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011048936A JP5688996B2 (ja) | 2011-03-07 | 2011-03-07 | プラズマ源及びこのプラズマ源を備えた成膜装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012186057A JP2012186057A (ja) | 2012-09-27 |
JP5688996B2 true JP5688996B2 (ja) | 2015-03-25 |
Family
ID=46797823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011048936A Expired - Fee Related JP5688996B2 (ja) | 2011-03-07 | 2011-03-07 | プラズマ源及びこのプラズマ源を備えた成膜装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5688996B2 (ja) |
WO (1) | WO2012120850A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9805918B2 (en) * | 2013-02-06 | 2017-10-31 | Arcelormittal Investigación Y Desarrollo Sl | Plasma source |
JP6074668B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2017-02-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | プラズマ処理装置及び方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61227168A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-09 | Hitachi Ltd | 金属薄膜形成装置 |
JPS63270463A (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | スパツタリング方法およびスパツタリング装置 |
JPH0316211A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-24 | Hitachi Ltd | プラズマ処理装置 |
JP2003096562A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Kobe Steel Ltd | マグネトロンスパッタ装置 |
JP2003183828A (ja) * | 2001-12-14 | 2003-07-03 | Asahi Seisakusho:Kk | 多重磁極マグネトロンスパッタ方法 |
US7411352B2 (en) * | 2002-09-19 | 2008-08-12 | Applied Process Technologies, Inc. | Dual plasma beam sources and method |
JP4536456B2 (ja) * | 2004-08-18 | 2010-09-01 | 国立大学法人京都工芸繊維大学 | プラズマ化学気相堆積方法 |
WO2009057715A1 (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-07 | Canon Anelva Corporation | マグネトロンユニット、マグネトロンスパッタリング装置及び電子デバイスの製造方法 |
JP2010024532A (ja) * | 2008-07-24 | 2010-02-04 | Asahi Glass Co Ltd | マグネトロンスパッタ装置、成膜方法、及び光学部品の製造方法 |
-
2011
- 2011-03-07 JP JP2011048936A patent/JP5688996B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-03-02 WO PCT/JP2012/001430 patent/WO2012120850A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012186057A (ja) | 2012-09-27 |
WO2012120850A1 (ja) | 2012-09-13 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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