JP5664564B2 - 光断層画像取得方法 - Google Patents
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- 光源部から出力される光を2分岐して参照光および測定光とし、前記参照光を反射体に照射したときに該反射体で生じる反射光と、前記測定光を対象物に照射したときに該対象物で生じる拡散反射光とを干渉させ、当該干渉光のスペクトルを検出して、このスペクトルに基づいて前記対象物の光断層画像を取得する方法であって、
反射率の波長依存性が既知である基準サンプルを前記対象物に替えて用いて前記干渉光のスペクトル(以下「基準スペクトル」という。)を検出する基準スペクトル検出ステップと、
この基準スペクトルの包絡線を表す関数を求める包絡線関数取得ステップと、
前記対象物を用いて前記干渉光のスペクトル(以下「対象スペクトル」という。)を検出する対象スペクトル検出ステップと、
この対象スペクトルを前記包絡線を表す関数で割ることにより補正する対象スペクトル補正ステップと、
この補正後の対象スペクトルに基づいて前記対象物の光断層画像を取得する画像取得ステップと、
を備えることを特徴とする光断層画像取得方法。 - 前記包絡線関数取得ステップにおいて、各波長で前記関数の値に対する前記基準スペクトルの値の比の絶対値が所定値を超える場合に、その比の絶対値が前記所定値を超えないように前記関数の値を修正する、ことを特徴とする請求項1に記載の光断層画像取得方法。
- 前記基準スペクトル検出ステップにおいて、鏡面反射率が大きいサンプルを前記基準サンプルとして用いる、ことを特徴とする請求項1または2に記載の光断層画像取得方法。
- 前記基準スペクトル検出ステップにおいて、測定波長帯域における反射率の波長依存性が小さいサンプルを前記基準サンプルとして用いる、ことを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の光断層画像取得方法。
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