JP5659866B2 - スポットサイズ変換器 - Google Patents
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Description
これ故に、例えば第1のコア層から第2のコア層へ光が遷移するときは、第2のコア層における伝搬モードの広がりの影響を受けて、第1のコア層内の光が第1の方向に伝搬するにつれて第2のコア層における光振幅が大きくなる。或いは、例えば第2のコア層から第1のコア層へ光が遷移するときは、第2のコア層内の光が第2の方向に伝搬するにつれて、第2のコア層からしみ出して第1のコア層における光振幅が大きくなる。
図2は、本実施の形態に係るスポットサイズ変換器を概略的に示す図面である。スポットサイズ変換器13aでは、第1のコア層23は、光入出力部27及び第1の遷移部29を含む。光入出力部27及び第1の遷移部29は、第1の軸Ax1に沿って順に配置される。第2のコア層25は、第2の遷移部33及び伝搬部35を含む。第2の遷移部33は第2の軸Ax2に沿って延在し、伝搬部35は該遷移部33に結合される。伝搬部35はの幅W3は、ほぼ一定の値を有することができる。第1の軸Ax1は第2の軸Ax2に沿って延在している。好適な実施例では、第1の軸Ax1は第2の軸Ax2に平行である。
第1の遷移部29の幅W1と第2の遷移部33の幅W2との比(W1/W2)は、光入出力部27から第1の遷移部29への方向DIRC1にそって単調に減少する。
SOI基板を用いた直線導波路を形成する。SOI基板は、Si基板と、Si基板上のシリコン酸化物からなる下部クラッド層(「BOX層」と呼ばれる)、Siコア膜、及びSiNコア層を含む。下部クラッド層の厚さは例えば2μmであり、Siコア膜の厚さは例えば220nmである。光導波路デバイスの作製方法を説明する。BOX層上に成長されたSiコア膜上にレジストを塗布した後に、フォトリソグラフィを用いて、パターン形成されたレジストマスクを形成する。このレジストマスクを用いてSiコア膜のドライエッチングにより、Siコア層を形成する。このSiコア層及びクラッド層上にSiNコア膜を成長する。SiNコア膜の厚さは例えば3μmである。SiNコア膜上にレジストを塗布した後に、フォトリソグラフィを用いて、パターン形成されたレジストマスクを形成する。このレジストマスクを用いてSiNコア膜のドライエッチングにより、SiNコア層を形成する。Siコア層及びSiNコア層を形成した後に、Siコア層及びSiNコア層を覆うようにオーバークラッド層をクラッド層上に成長する。オーバークラッド層の厚さは例えば5μmである。
スポットサイズ変換器13aの一例を示す。
第1のコア層23:SiN、厚さ3μm。
第2のコア層25:Si、厚さ220nm。
光入出力部27の長さ:300μm。
光入出力部27の幅(端面):3μm。
遷移部29の長さ:450μm。
遷移部29の幅:800nm。
光反射抑制部31の長さ:300μm。
光反射抑制部31の先端幅:200nm。
遷移部33の長さ:440μm。
遷移部33の先端幅:180nm。
伝搬部35の幅:450nm。
遷移部29と遷移部33との間隔(ギャップ):150nm(最小)、240nm(最大)。
本実施例では、光入出力部27はテーパ形状を成し、反射抑制部31はテーパ形状を成す。また、遷移部33はテーパ形状を成す。
図5は、本実施の形態に係るスポットサイズ変換器を概略的に示す図面である。スポットサイズ変換器13bは、スポットサイズ変換器13aの第1の遷移部29に替えて第1の遷移部29aを含む。第1の遷移部29aの幅W1が方向DIRC1に単調に小さくなっていくとき、第1のコア層23の第1の遷移部29aを伝搬する光のモードの閉じ込めが方向DIRC2に沿って強くなっていく。既に説明したように、第2の遷移部33の幅W2が光入出力部27から遷移部29aへの方向DIRC2に向けて単調に小さくなっていく。第1の遷移部29aの幅W1が光入出力部27から遷移部29aへの方向DIRC1に単調に小さくなることが良い。
SiNコア層の遷移部29aの幅のテーパ状にすると共にSiコア層の遷移部33の幅のテーパ状にする。この構造により、光結合損失を増加させることなく保ったまま遷移部の長さを200μm程度に短くできる。
図6は、本実施の形態に係るスポットサイズ変換器を概略的に示す図面である。スポットサイズ変換器13cでは、第1のコア層23は、クラッド領域21の主面において湾曲する第1の曲げ導波路部31aを更に含むことができる。第1の曲げ導波路部31aは第1の遷移部29a(或いは、反射制御部31に替えて第1の遷移部29)の一端に接続され、光入出力部27は第1の遷移部29aの他端に接続される。このスポットサイズ変換器13cによれば、第1の曲げ導波路部31aは、第1のコア層23の終端における反射を低減できる。
遷移部29aの一端に曲げ導波路を設けると共に遷移部33の一端に曲げ導波路を設けるスポットサイズ変換器では、光結合効率は72%である。光結合効率の向上は遷移部の直前或いは直後における等価屈折率の変化が断熱的になり、光の反射が抑制されるからである。これらの曲げ導波路の曲率半径は例えば10μmである。
特許文献1では、スポットサイズを断熱的に広げる目的で、中心コアの周囲に外周コアをテーパ状に付着している。この構造をSi導波路に適用するとき、中心コアがSiからなると共に外周コアがSiN又はSiONからなる。この材料組み合わせでは、特許文献1の構造ではSiコアの幅と高さが均一でありかつ導波路端面まで続いているので、Siコアに強く閉じ込められた光のモードは、Siコアの外周コア(SiN又はSiON)ほとんど拡がらない。これ故に、結合効率は、発明者の見積もりによれば25%程度であり、導波路端面で、約1dBの反射が発生する。したがって、非常に大きくな屈折率差を生成するSi導波路に特許文献1の構造を適用しても、良い結果は得られない。
図7を参照すると、スポットサイズ変換器9aが示される。スポットサイズ変換器9aでは、SiNコア層におけるテーパ形状の入出力部は一定幅の導波路部に接続されており、この導波路部の一端がそのまま終端されている。また、Siコア層は、一定幅の伝搬部の一部がSiNコア層の導波路部と並列しており、一定幅の伝搬部の一端が終端されている。並列しているSiNコア層及びSiコア層において、SiNコア層の幅はSiコア層の幅と同じであるので、SiNコア層の幅とSiコア層の幅との比は変化しない。Siコア層Aの終端では、約0.4dBの反射が起こる。また、SiNコア層Bの終端では、約0.4dBの反射が起こる。
図8を参照すると、スポットサイズ変換器9bが示される。スポットサイズ変換器9bでは、SiNコア層の厚さはSiコア層の厚さと同じであるので、SiNコア層における光閉じ込めが弱過ぎて、Siコア層及びSiNコア層の一方から他方への光遷移が十分生じない。これ故に、不十分な光遷移に起因して、Siコア端から放射損失が増加する。このため、スポットサイズ変換器9bとファイバとの結合効率は40%程度である。
図9を参照すると、スポットサイズ変換器9cが示される。スポットサイズ変換器9cでは、Siコア層とSiNコア層との間隔がゼロである。この構造では、Siコア層とSiNコア層が、これらのコア層より低い屈折率のクラッドで分離させることなく、結果としてコアが一体化した導波路となる。また、現時点におけるリソグラフィ技術の限界により、Siコア層の先端部が180nm程度にまでしか細くできない。これ故に、Siコア層の終端(図9におけるサークルAで示す)で、約0.5dB程度の反射が起こる。
Claims (10)
- スポットサイズ変換器であって、
絶縁体からなるクラッド領域の主面上に設けられ、第1の軸に沿って順に配置された光入出力部及び第1の遷移部を含む第1のコア層と、
前記クラッド領域の前記主面上に設けられ、第2の軸に沿って延在する第2の遷移部と該遷移部に結合された伝搬部とを含む第2のコア層と、
前記第1のコア層及び前記第2のコア層を覆うように前記クラッド領域の前記主面の上に設けられたオーバークラッドと、
を備え、
前記オーバークラッドは、前記第1の遷移部と前記第2の遷移部との間に設けられ、
前記第1のコア層及び前記第2のコア層が、前記クラッド領域の前記主面と平行で、かつ前記第1の軸及び前記第2の軸に交差する方向に離間して設けられており、
前記光入出力部は、前記スポットサイズ変換器の一端から延在すると共に前記第1の遷移部に結合され、前記第1のコア層は前記スポットサイズ変換器の前記一端から離れた位置で終端し、
前記第1のコア層は前記第2のコア層の材料と異なる材料からなり、
前記第2のコア層はシリコンからなり、
前記第1のコア層は、前記第2のコアの屈折率と前記クラッド領域の屈折率との間の屈折率を有し、
前記第1の遷移部は前記第2の遷移部から間隔をおいて設けられると共に、前記第1の遷移部は前記第2の遷移部に光学的に結合され、
前記第1のコア層の厚さは前記第2のコア層の厚さより厚く、
前記第1の遷移部の幅W1と前記第2の遷移部の幅W2との比(W1/W2)が前記光入出力部から前記第1の遷移部への第1の方向に単調に減少するように、前記第2の遷移部の幅W2は、前記第1の方向に単調に増大し、
前記第2のコア層の前記第2の遷移部及び前記伝搬部は、前記第1の方向に順に配列されて、前記第2のコア層は前記スポットサイズ変換器の前記一端と対向する他端から離れた位置で終端し、
前記光入出力部は、前記第1の遷移部から前記光入出力部への第2の方向に単調に増大する幅を有する、スポットサイズ変換器。 - 前記第1のコア層は、反射制御部を更に含み、前記反射制御部の幅は前記第1の方向に単調に減少し、前記反射制御部は、前記第1のコア層の前記第1の遷移部に光学的に結合される、請求項1に記載されたスポットサイズ変換器。
- 前記第1の遷移部と前記第2の遷移部との間隔は150nm以上であり、240nm以下である、請求項1又は請求項2に記載されたスポットサイズ変換器。
- 前記第1の遷移部の幅W1は、前記光入出力部から前記第1の遷移部への前記第1の方向に単調に減少する、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。
- 前記第1の遷移部の幅W1は、前記光入出力部から前記第1の遷移部への前記第1の方向に沿って同一である、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。
- 前記第1の遷移部と前記第2の遷移部との間隔は、前記光入出力部から前記第1の遷移部への前記第1の方向に単調に減少する、請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。
- 前記第1のコア層は、前記クラッド領域の前記主面の上において湾曲する第1の曲げ導波路部を更に含み、
前記第1の曲げ導波路部は前記第1の遷移部の一端に接続され、
前記光入出力部は前記第1の遷移部の他端に接続される、請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。 - 前記第2のコア層は、前記クラッド領域の前記主面の上において湾曲する第2の曲げ導波路部を更に含み、
前記第2の曲げ導波路部は前記第2の遷移部の一端に接続され、
前記伝搬部は前記第2の遷移部の他端に接続される、請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。 - 前記第1のコア層は、シリコン窒化物、シリコン酸窒化物、チタン酸化物及びアルミニウム酸化物の少なくともいずれかを含む、請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。
- 前記第1のコア層は少なくともポリマーを含む、請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載されたスポットサイズ変換器。
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