JP5645586B2 - 充放電検査システムおよび充放電検査装置の校正装置 - Google Patents
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Description
電流設定値が大きいほど、システムの周囲温度が安定化するのに要する時間が長くなる場合がある。この態様によれば、温度が安定化した後の電流校正値を用いることで、校正の精度、安定性を高めることができる。
この態様によれば、充放電検査装置が2次電池を検査する検査プロセス時の温度と、校正時の温度を近づけることができ、校正の精度、安定性を高めることができる。
y=ax+b …(1)
の傾きaおよび切片bを校正用パラメータS3として算出してもよい。xは電流設定値S2、yは電流校正値S4に対応する。校正には、2次以上の多項式近似を用いてもよい。算出された校正用パラメータS3は、インタフェースを介して校正制御回路34からコンバータ制御回路20へと送信される。コンバータ制御回路20は、受信した校正用パラメータS3を不揮発性メモリ22に書き込み、校正用パラメータS3を更新する。
Claims (8)
- 検査対象の2次電池を充放電するための充放電検査システムであって、
前記2次電池を充電する充放電検査装置とその校正装置とを備え、
前記充放電検査装置は、
前記2次電池が着脱可能に装着されるコネクタと、
前記コネクタを介して前記2次電池に電力を供給するコンバータと、
前記コンバータの出力端子から前記コネクタの間の充放電経路上に設けられた検出抵抗と、
前記検出抵抗に生ずる電圧降下をアナログ/デジタル変換し、前記検出抵抗に流れる電流を示すデジタルの電流検出値を生成するA/Dコンバータと、
検査プロセスにおいて、校正プロセスであらかじめ取得された校正用パラメータを利用し、前記電流検出値が電流設定値に近づくように、前記コンバータをフィードバック制御するコンバータ制御回路と、
を備えるものであり、
前記校正装置は、
校正プロセスにおいて、前記コネクタに前記2次電池に代えて装着される標準抵抗器と、
前記校正プロセスにおいて、前記標準抵抗器の電圧降下にもとづき、前記標準抵抗器に流れる電流を示す電流校正値を生成する計測器と、
前記校正プロセスにおいて、前記電流設定値を複数の値で切りかえ、各電流設定値ごとに、それに対応する前記電流校正値を取得し、前記校正用パラメータを演算する校正制御回路と、
を備え、
前記校正制御回路は、前記電流設定値の各値がプログラマブルであり、かつ、前記電流設定値を切りかえてから前記電流校正値を取得するまでの通電時間が、前記電流設定値ごとに個別にプログラマブルに構成されることを特徴とする充放電検査システム。 - 前記校正制御回路は、前記電流設定値が大きいほど、その通電時間を長くすることを特徴とする請求項1に記載の充放電検査システム。
- 前記校正制御回路は、
最初の電流設定値の通電時間の前に、その長さがプログラマブルな休止時間を挿入可能に構成されることを特徴とする請求項1または2に記載の充放電検査システム。 - 前記校正制御回路は、
複数の電流設定値の通電時間の間に、その長さがプログラマブルな休止時間を挿入可能に構成されることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の充放電検査システム。 - 前記校正制御回路は、時間とともに前記電流設定値を増加させることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の充放電検査システム。
- 前記校正装置は、前記充放電検査装置の周囲温度を測定する温度測定素子をさらに備え、
前記校正制御回路は、校正プロセスにおいて、測定された前記周囲温度が所定の温度範囲に含まれるとき、前記電流設定値の設定を開始することを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の充放電検査システム。 - 検査対象の2次電池を充放電するための充放電検査装置を校正する校正装置であって、
前記充放電検査装置は、
前記2次電池が着脱可能に装着されるコネクタと、
前記コネクタを介して前記2次電池に電力を供給するコンバータと、
前記コンバータの出力端子から前記コネクタの間の充放電経路上に設けられた検出抵抗と、
前記検出抵抗に生ずる電圧降下をアナログ/デジタル変換し、前記検出抵抗に流れる電流を示すデジタルの電流検出値を生成するA/Dコンバータと、
検査プロセスにおいて、校正プロセスであらかじめ取得された校正用パラメータを利用し、前記電流検出値が電流設定値に近づくように、前記コンバータをフィードバック制御するコンバータ制御回路と、
を備えるものであり、
前記校正装置は、
校正プロセスにおいて、前記コネクタに前記2次電池に代えて装着される標準抵抗器と、
前記校正プロセスにおいて、前記標準抵抗器の電圧降下にもとづき、前記標準抵抗器に流れる電流を示す電流校正値を生成する計測器と、
前記校正プロセスにおいて、前記電流設定値を複数の値で切りかえ、各電流設定値ごとに、それに対応する前記電流校正値を取得し、前記校正用パラメータを演算する校正制御回路と、
を備え、
前記校正制御回路は、前記電流設定値の各値がプログラマブルであり、かつ、前記電流設定値を切りかえてから前記電流校正値を取得するまでの通電時間が、前記電流設定値ごとに個別にプログラマブルに構成されることを特徴とする校正装置。 - 前記校正制御回路は、前記電流設定値が大きいほど、その通電時間を長くすることを特徴とする請求項7に記載の校正装置。
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