JP5630808B2 - 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム - Google Patents
搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5630808B2 JP5630808B2 JP2010071797A JP2010071797A JP5630808B2 JP 5630808 B2 JP5630808 B2 JP 5630808B2 JP 2010071797 A JP2010071797 A JP 2010071797A JP 2010071797 A JP2010071797 A JP 2010071797A JP 5630808 B2 JP5630808 B2 JP 5630808B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- zone
- water
- substrate
- paddle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67253—Process monitoring, e.g. flow or thickness monitoring
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
11 液切りゾーン
12,13 エアナイフ用スリットノズル
20 パドル洗浄ゾーン
21 水ナイフ用スリットノズル
22 パドル処理形式の洗浄機構
22A 第1ノズル列
22B 第2ノズル列
23 液膜方式の洗浄機構(裏面洗浄ノズル列)
24A,24B ヘッダ管
25A,25B スプレーノズル(山型フラットノズル)
26A,26B 直線状スプレーパターン
27 排水管
30 第1シャワーゾーン
31,32 シャワーシステム
33 パドル形式の洗浄機構
33A,33B ノズル列
34 液膜方式の洗浄機構(裏面洗浄ノズル列)
40 第2シャワーゾーン
41,42 シャワーシステム
43 給水管(新液供給配管)
50 乾燥ゾーン
51,52 スリットノズル
60,70 タンク
61,71,72 ポンプ
63,64,65,73,74 制御弁
80 ガラス基板
90 基板搬送ローラ
Claims (3)
- 搬送式基板処理装置に装備されて薬液処理後の基板を洗浄水により洗浄処理する洗浄システムであって、
薬液処理ゾーンの下流側に基板搬送方向に沿って配列された複数の洗浄ゾーンと、最上流側の洗浄ゾーンに設けられたパドル処理用の洗浄機構と、2段目以降の洗浄ゾーンにそれぞれ設けられたシャワー処理用の洗浄機構及び使用後の洗浄水を回収するタンクと、最下流側の洗浄ゾーンにおける洗浄機構に未使用の純水からなる洗浄水を供給する給水系統と、各タンク内の洗浄水を上流側の洗浄ゾーンにおける洗浄機構へ順次送給するカスケード方式の送水系統と、最上流側の洗浄ゾーンでの使用済み洗浄水を排出する排水系統とを具備しており、
最上流側の洗浄ゾーンに基板先端が進入する時点より前に当該洗浄ゾーンにおける洗浄機構からの洗浄水の吐出を開始し、当該洗浄ゾーンから基板後端が抜け出た時点より後に当該洗浄ゾーンにおける洗浄機構からの洗浄水の吐出を停止すると共に、最上流側の洗浄ゾーンにおける洗浄機構から吐出される洗浄水の汚染度を許容限度内で且つその限度近傍に維持するのに必要な洗浄水の吐出時間が確保されるように、当該洗浄ゾーンにおける洗浄機構からの洗浄水の吐出開始タイミング及び吐出終了タイミングが設定されるにあたって、
最上流側の洗浄ゾーンから基板後端が抜け出た時点から後も吐出を続け、この最上流側の洗浄ゾーンでの吐出延長時間の調整による最下流側の洗浄ゾーンへの洗浄水供給量の増減により、最上流側の洗浄ゾーンにおける洗浄機構から吐出される洗浄水の汚染度が所望値に管理されることを特徴とする搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム。 - 請求項1に記載の搬送式基板処理装置における節水型洗浄システムにおいて、2段目の洗浄ゾーン内に、当該洗浄ゾーンにおけるシャワー処理用の洗浄機構より下流側に位置して、最上流側の洗浄ゾーンに具備されたパドル処理用の洗浄機構よりも高い圧力で洗浄水を吐出するパドル処理用の洗浄機構が付設されている搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム。
- 請求項2に記載の搬送式基板処理装置における節水型洗浄システムにおいて、最上流側の洗浄ゾーンにおけるパドル処理用の洗浄機構からの洗浄水の吐出圧力が0.08〜0.1MPaであり、2段目の洗浄ゾーンに付設されたパドル処理用の洗浄機構からの洗浄水の吐出圧力が0.3〜0.4MPaである搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010071797A JP5630808B2 (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム |
KR1020100076270A KR20110108223A (ko) | 2010-03-26 | 2010-08-09 | 반송식 기판 처리 장치에 있어서의 절수형 세정 시스템 |
TW099132554A TWI520196B (zh) | 2010-03-26 | 2010-09-27 | 運送式基板處理裝置中的節水型清洗系統 |
CN2010105066632A CN102199007A (zh) | 2010-03-26 | 2010-09-27 | 运送式基板处理装置中的节水型清洗系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010071797A JP5630808B2 (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014087329A Division JP2014184434A (ja) | 2014-04-21 | 2014-04-21 | 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011200819A JP2011200819A (ja) | 2011-10-13 |
JP5630808B2 true JP5630808B2 (ja) | 2014-11-26 |
Family
ID=44660035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010071797A Expired - Fee Related JP5630808B2 (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5630808B2 (ja) |
KR (1) | KR20110108223A (ja) |
CN (1) | CN102199007A (ja) |
TW (1) | TWI520196B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103028564A (zh) * | 2011-09-30 | 2013-04-10 | 金宝电子(中国)有限公司 | 溶液供应单元、清洁系统及其清洁方法 |
TWI436951B (zh) * | 2011-11-16 | 2014-05-11 | Au Optronics Corp | 洗淨水供應系統及其供應方法 |
JP5994239B2 (ja) * | 2011-11-29 | 2016-09-21 | 栗田工業株式会社 | 洗浄装置及び方法 |
KR101370053B1 (ko) * | 2012-05-16 | 2014-03-06 | (주) 시큐에스 | 반도체웨이퍼용 왕복세척장치 |
KR101982206B1 (ko) * | 2012-09-20 | 2019-05-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판 세정 장치 |
JP6290117B2 (ja) * | 2014-03-07 | 2018-03-07 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 接液処理装置および接液処理方法 |
CN103913959B (zh) * | 2014-03-27 | 2017-09-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种光刻胶的剥离装置及剥离方法 |
JP6158737B2 (ja) * | 2014-03-31 | 2017-07-05 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
CN104617018B (zh) * | 2015-01-23 | 2017-07-11 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种基板处理装置及基板处理方法 |
CN110890269A (zh) * | 2018-09-11 | 2020-03-17 | 东莞新科技术研究开发有限公司 | 集成电路板的清洗方法 |
CN110190015A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-08-30 | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 | 一种晶圆清洗装置及晶圆清洗方法 |
CN112676259B (zh) * | 2020-12-30 | 2022-07-19 | 广州安费诺诚信软性电路有限公司 | 一种含有微小孔的fpc板的清洗工艺 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004074021A (ja) * | 2002-08-19 | 2004-03-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置及び基板洗浄ユニット |
JP4675113B2 (ja) * | 2005-01-28 | 2011-04-20 | 住友精密工業株式会社 | 基板洗浄装置 |
JP2009004728A (ja) * | 2007-05-24 | 2009-01-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP4997080B2 (ja) * | 2007-11-28 | 2012-08-08 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
-
2010
- 2010-03-26 JP JP2010071797A patent/JP5630808B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-08-09 KR KR1020100076270A patent/KR20110108223A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-09-27 CN CN2010105066632A patent/CN102199007A/zh active Pending
- 2010-09-27 TW TW099132554A patent/TWI520196B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011200819A (ja) | 2011-10-13 |
TW201133586A (en) | 2011-10-01 |
KR20110108223A (ko) | 2011-10-05 |
CN102199007A (zh) | 2011-09-28 |
TWI520196B (zh) | 2016-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5630808B2 (ja) | 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム | |
JP2014184434A (ja) | 搬送式基板処理装置における節水型洗浄システム | |
JP4812847B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP4675113B2 (ja) | 基板洗浄装置 | |
TW201536437A (zh) | 基板處理裝置、噴嘴以及基板處理方法 | |
KR100740407B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JP4850775B2 (ja) | 基板処理装置 | |
TW554391B (en) | Device for processing substrate | |
KR100764683B1 (ko) | 기판처리장치 | |
JP4372536B2 (ja) | 基板洗浄装置および基板処理システム | |
JP3622842B2 (ja) | 搬送式基板処理装置 | |
JP4365192B2 (ja) | 搬送式基板処理装置 | |
JP2010103383A (ja) | 基板処理装置 | |
WO2004112106A1 (ja) | レジスト剥離装置 | |
WO2005048336A1 (ja) | 液切り装置 | |
TWI590316B (zh) | Substrate processing apparatus | |
TW200843868A (en) | Liquid treatment device | |
JP2005074370A (ja) | 液切り装置 | |
JP2005268247A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2011129758A (ja) | 基板処理装置 | |
KR102239520B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 방법 | |
JP5065826B2 (ja) | 基板の液処理装置及び液処理方法 | |
JP4005462B2 (ja) | 搬送式基板処理装置 | |
JP2000206708A (ja) | レジスト剥離装置 | |
CN103889602A (zh) | 清洗装置及方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130115 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131031 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131122 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140421 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141002 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141002 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5630808 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |