JP5620580B2 - 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法 - Google Patents

薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5620580B2
JP5620580B2 JP2013523800A JP2013523800A JP5620580B2 JP 5620580 B2 JP5620580 B2 JP 5620580B2 JP 2013523800 A JP2013523800 A JP 2013523800A JP 2013523800 A JP2013523800 A JP 2013523800A JP 5620580 B2 JP5620580 B2 JP 5620580B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
sulfide
solar cell
sulfide semiconductor
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013523800A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2013168567A1 (ja
Inventor
和志 伊藤
和志 伊藤
明伸 早川
明伸 早川
峻士 小原
峻士 小原
孫仁徳
孫  仁徳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP2013523800A priority Critical patent/JP5620580B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5620580B2 publication Critical patent/JP5620580B2/ja
Publication of JPWO2013168567A1 publication Critical patent/JPWO2013168567A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/10Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G29/00Compounds of bismuth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G30/00Compounds of antimony
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G30/00Compounds of antimony
    • C01G30/008Sulfides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02551Group 12/16 materials
    • H01L21/02557Sulfides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02568Chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02628Liquid deposition using solutions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L2031/0344Organic materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/50Photovoltaic [PV] devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/90Manufacture, treatment, or detection of nanostructure having step or means utilizing mechanical or thermal property, e.g. pressure, heat

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

本発明は、太陽電池等の光電変換素子用の半導体材料として好適な硫化物半導体形成用塗布液に関する。また、本発明は、該硫化物半導体形成用塗布液を用いて製造した硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池に関する。
硫化アンチモン(Sb)、硫化ビスマス(Bi)等の硫化物半導体は、そのバンドギャップが1.0〜2.5eVであるため、可視光領域において高い光吸収特性を示す。そのため、このような硫化物半導体は、太陽電池等の光電変換材料や可視光応答型光触媒材料として有望視されている。また、このような硫化物半導体は、その赤外領域での高い透過性から、赤外線センサーとしても精力的に検討されており、更に、光照射によりその導電率が変化するため、光導電材料としても注目されている。
従来、このような硫化物半導体の薄膜は、真空蒸着法、スパッタ法、気相反応法(CVD)等の方法により製造されている。例えば、非特許文献1には、スパッタ法による硫化アンチモン薄膜の作製方法が報告されている。このような方法では、成膜直後の膜がアモルファス(バンドギャップ2.24eV)であり、400℃で硫黄雰囲気での焼成により、結晶膜(バンドギャップ1.73eV)が得られるとしている。
また、非特許文献2には、電気化学沈積法を用いた硫化物薄膜の作製方法も開示されている。このような方法では、バンドギャップがそれぞれ、1.58eV(Sb)、1.74eV(Bi)である薄膜が得られている。
しかしながら、真空蒸着法やスパッタ法等の方法は、装置が高価でコスト面で不利であるだけでなく、大面積の成膜が困難であるという問題点があった。また、電気化学沈積法は、真空設備を必要せず、常温で成膜できるが、導電性の基板にしか成膜できないという問題点があった。
Matthieu Y.Versavel and Joel A.Haber,Thin Solid Films,515(18),7171−7176(2007) N.S.Yesugade,et al.,Thin Solid Films,263(2),145−149(1995)
本発明は上記現状に鑑み、光電変換材料の半導体材料として有用な硫化物半導体を、大面積で簡易に形成できる硫化物半導体形成用塗布液を提供することを目的とする。また、本発明は、該硫化物半導体形成用塗布液を用いて製造した硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を提供することを目的とする。
本発明は、周期律表第15族の金属元素及び硫黄を含む錯体を含有する硫化物半導体形成用塗布液である。以下、本発明につき詳細に説明する。
本発明者は、金属含有化合物と硫黄含有化合物とを含有する硫化物半導体形成用塗布液(即ち、硫化物半導体の前躯体溶液)を用いることで、印刷法を採用でき、硫化物半導体を大面積で簡易に形成できると考えた。しかしながら、金属含有化合物、硫黄含有化合物、及び、これらを溶解するための溶媒の組み合わせによっては、硫化物半導体の膜表面にザラツキが生じやすく、その結果、電気的な特性及び半導体特性が低くなることがあった。また、このような方法は、再現性の高い成膜が困難であった。
本発明者らは、鋭意検討の結果、金属含有化合物と硫黄含有化合物とを含有する硫化物半導体形成用塗布液において、有機溶媒中で、金属元素及び硫黄を含む錯体が形成されるような金属含有化合物及び硫黄含有化合物を用いることによって、安定な塗布液が得られ、塗布後は簡易な処理により所望の硫化物半導体を作製することが可能となることを見出し、本発明を完成させるに至った。
本発明の硫化物半導体形成用塗布液は、周期律表第15族の金属元素及び硫黄を含む錯体を含有するものである。
このような錯体を形成することで、安定な塗布液が得られる。その結果、均一な良質の硫化物半導体が形成されるだけではなく、その電気的な特性及び半導体特性も向上する。なお、周期律表第15族の金属元素及び硫黄を含む錯体は、赤外吸収スペクトルにて、金属元素−硫黄間の結合に由来する吸収ピークを測定することで確認することができる。
上記周期律表第15族の金属元素としては、アンチモン、ビスマスが好ましい。なかでも、電気的な特性及び半導体特性のより優れた硫化物半導体が形成されることから、アンチモンがより好ましい。
上記周期律表第15族の金属元素及び硫黄を含む錯体は、上記周期律表第15族の金属元素と硫黄含有化合物との間に形成されることが好ましい。硫黄含有化合物中の硫黄元素は、化学結合に関与していない孤立電子対を有するため、上記周期律表第15族の金属元素の空の電子軌道(d軌道又はf軌道)との間に配位結合を形成しやすい。
このような錯体を形成するためには、本発明の硫化物半導体形成用塗布液は、少なくとも、周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物と、硫黄含有化合物と、有機溶媒とから得られたものであることが好ましい。
上記周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物は、使用する硫黄含有化合物と有機溶媒とに合わせて、錯体を形成できるように適宜選択される。上記周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物としては、上記周期律表第15族の金属元素の金属塩、有機金属化合物等が挙げられる。
上記金属塩としては、例えば、上記周期律表第15族の金属元素の塩化物、オキシ塩化物、硝酸塩、炭酸塩、硫酸塩、アンモニウム塩、ホウ酸塩、ケイ酸塩、リン酸塩、水酸化物、過酸化物等が挙げられる。また、上記金属塩の水和物も含まれる。
上記有機金属化合物としては、例えば、上記周期律表第15族の金属元素のカルボン酸、ジカルボン酸、オリゴカルボン酸、ポリカルボン酸の塩化合物が挙げられる。より具体的には、上記周期律表第15族の金属元素の酢酸、ギ酸、プロピオン酸、オクチル酸、ステアリン酸、シュウ酸、クエン酸、乳酸等の塩化合物等が挙げられる。
上記周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物としては、具体的には例えば、塩化アンチモン、酢酸アンチモン、臭化アンチモン、フッ化アンチモン、オキシ酸化アンチモン、トリエトキシアンチモン、トリプロポキシアンチモン、硝酸ビスマス、塩化ビスマス、硝酸水酸化ビスマス、トリス(2−メトキシフェニル)ビスマス、炭酸ビスマス、オキシ炭酸ビスマス、リン酸ビスマス、臭化ビスマス、トリエトキシビスマス、トリイソプロポキシアンチモン、ヨウ化砒素、トリエトキシ砒素等が挙げられる。これらの周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物は単独で用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
本発明の硫化物半導体形成用塗布液における周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物の添加量は特に限定されないが、好ましい下限が0.5重量%、好ましい上限が70重量%である。上記添加量が0.5重量%以上であると、良質な硫化物半導体を容易に作製することができる。上記添加量が70重量%以下であると、安定な塗布液を容易に得ることができる。
上記硫黄含有化合物は、使用する周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物と有機溶媒とに合わせて、錯体を形成できるように適宜選択される。
上記硫黄含有化合物としては、例えば、チオ尿素、チオ尿素の誘導体、チオアセトアミド、チオアセトアミドの誘導体、ジチオカルバミン酸塩(Dithiocarbamate)、キサントゲン酸塩(Xanthate)、ジチオリン酸塩(Dithiophosphate)、チオ硫酸塩、チオシアン酸塩等が挙げられる。
上記チオ尿素の誘導体としては、1−アセチル−2−チオ尿素、エチレンチオ尿素、1,3−ジエチルー2−チオ尿素、1,3−ジメチルチオ尿素、テトラメチルチオ尿素、N−メチルチオ尿素、1−フェニルー2−チオ尿素等が挙げられる。上記ジチオカルバミン酸塩としては、ジメチルジチオカルバミン酸ナトリウム、ジエチルジチオカルバミン酸ナトリウム、ジメチルジチオカルバミン酸カリウム、ジエチルジチオカルバミン酸カリウム等が挙げられる。上記キサントゲン酸塩としては、エチルキサントゲン酸ナトリウム(sodium ethyl xanthate)、エチルキサントゲン酸カリウム、イソプロピルキサントゲン酸ナトリウム、イソプロピルキサントゲン酸カリウム等が挙げられる。上記チオ硫酸塩としては、チオ硫酸ナトリウム、チオ硫酸カリウム、チオ硫酸アンモニウム等が挙げられる。上記チオシアン酸塩としては、チオシアン酸カリウム、チオシアン酸カリウム、チオシアン酸アンモニウム等が挙げられる。これらの硫黄含有化合物は単独で用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
本発明の硫化物半導体形成用塗布液における硫黄含有化合物の添加量は、上記周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物のモル数に対して、1〜30倍が好ましい。より好ましくは2〜20倍である。上記添加量が1倍以上であると、量論比の硫化物半導体が得られやすくなる。上記添加量が30倍以下であると、塗布液の安定性がより向上する。
上記有機溶媒は、使用する周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物と硫黄含有化合物とに合わせて、錯体を形成できるように適宜選択される。
上記有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、アセトン、ジオキサン、テトラヒドロフラン、イソプロパノール、n−プロパノール、クロロホルム、クロロベンゼン、ピリジン、トルエン等が挙げられ、これらの中でも特にメタノール、エタノール、アセトンが好ましい。これらの有機溶媒は単独で用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。なかでも、電気的な特性及び半導体特性のより優れた硫化物半導体が形成されることから、N,N−ジメチルホルムアミドが好ましい。
また、本発明の硫化物半導体形成用塗布液は、本発明の効果を阻害しない範囲内において、水等の非有機溶媒成分を更に含有してもよい。
上記周期律表第15族の金属元素及び硫黄を含む錯体としては、具体的には例えば、ビスマス−チオ尿素錯体、ビスマス−チオ硫酸錯体、ビスマス−チオシアン酸錯体、アンチモン−チオ尿素錯体、アンチモン−チオ硫酸錯体、アンチモン−チオシアン酸錯体、アンチモン−ジチオカルバミン酸錯体、アンチモン−キサントゲン酸錯体等が挙げられる。
本発明の硫化物半導体形成用塗布液を基板上に塗布することによって製造された硫化物半導体薄膜もまた、本発明の1つである。このように得られた硫化物半導体の薄膜は、太陽電池用材料、光触媒材料又は光導電材料として有用である。
本発明の硫化物半導体形成用塗布液を塗布する方法は特に限定されないが、例えば、スピンコート法、ロールtoロール等の印刷法が挙げられる。本発明の硫化物半導体形成用塗布液を用いることで、印刷法を採用でき、硫化物半導体薄膜を均一かつ平滑に形成することができることから、硫化物半導体薄膜の電気的な特性及び半導体特性を向上させることができ、形成コストを削減することもできる。
また、本発明の硫化物半導体形成用塗布液を用いて得られた硫化物半導体を光電変換層として用いる薄膜太陽電池もまた、本発明の1つである。
上記光電変換層は、更に、硫化物半導体に隣接する有機半導体を含むことが好ましい。この場合、上記光電変換層における硫化物半導体と有機半導体との位置関係は、両者がお互いに隣接していればよく、硫化物半導体層と有機半導体層とを含む積層体であってもよいし、硫化物半導体と有機半導体とを混合して複合化した複合膜であってもよい。
上記硫化物半導体層と有機半導体層とを含む積層体の製造方法としては、本発明の硫化物半導体形成用塗布液を用いて得られる硫化物半導体薄膜層の上に有機半導体薄膜層を積層する方法を用いてもよく、逆に有機半導体薄膜層の上に硫化物半導体薄膜層を積層してもよい。
上記硫化物半導体と有機半導体とを混合して複合化した複合膜の作製方法としては、本発明の硫化物半導体形成用塗布液と有機半導体との混合液を基板上に塗布する方法が挙げられる。
上記有機半導体としては特に限定されず、例えば、ポリ(3−アルキルチオフェン)等のチオフェン誘導体等が挙げられる。また、上記有機半導体として、例えば、ポリパラフェニレンビニレン誘導体、ポリビニルカルバゾール誘導体、ポリアニリン誘導体、ポリアセチレン誘導体等の導電性高分子等も挙げられる。また、上記有機半導体として、例えば、フタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導体、ペンタセン誘導体、ベンゾポルフィリン誘導体等のポルフィリン誘導体等も挙げられる。なかでも、比較的耐久性が高いことから、チオフェン誘導体、フタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導体、ベンゾポルフィリン誘導体が好ましい。
本発明の薄膜太陽電池は、上記光電変換層に加えて、更に、基板、ホール輸送層、電子輸送層等を有していてもよい。上記基板は特に限定されず、例えば、ソーダライムガラス、無アルカリガラス等の透明ガラス基板、セラミック基板、透明プラスチック基板等が挙げられる。
上記ホール輸送層の材料は特に限定されず、例えば、P型導電性高分子、P型低分子有機半導体、P型金属酸化物、P型金属硫化物、界面活性剤等が挙げられ、具体的には例えば、ポリエチレンジオキシチオフェンのポリスチレンスルホン酸付加物、カルボキシル基含有ポリチオフェン、フタロシアニン、ポルフィリン、フルオロ基含有ホスホン酸、カルボニル基含有ホスホン酸、酸化モリブデン、酸化バナジウム、酸化タングステン、酸化ニッケル、酸化銅、酸化スズ、硫化モリブデン、硫化タングステン、硫化銅、硫化スズ等が挙げられる。
上記電子輸送層の材料は特に限定されず、例えば、N型導電性高分子、N型低分子有機半導体、N型金属酸化物、N型金属硫化物、ハロゲン化アルカリ金属、アルカリ金属、界面活性剤等が挙げられ、具体的には例えば、シアノ基含有ポリフェニレンビニレン、ホウ素含有ポリマー、バソキュプロイン、バソフェナントレン、ヒドロキシキノリナトアルミニウム、オキサジアゾール化合物、ベンゾイミダゾール化合物、ナフタレンテトラカルボン酸化合物、ペリレン誘導体、ホスフィンオキサイド化合物、ホスフィンスルフィド化合物、フルオロ基含有フタロシアニン、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化スズ、酸化ガリウム、硫化スズ、硫化インジウム、硫化亜鉛等が挙げられる。
本発明では、光電変換材料の半導体材料として有用な硫化物半導体を、大面積で簡易に形成できる硫化物半導体形成用塗布液を提供することができる。また、本発明では、該硫化物半導体形成用塗布液を用いて製造した硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を提供することができる。
以下に実施例を挙げて本発明を更に詳しく説明するが、本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
(実施例1)
(硫化物半導体形成用塗布液の作製)
メタノール100重量部に、塩化アンチモン(III)20重量部を添加した後、攪拌することによって溶解した。次に、得られた塩化アンチモン(III)のメタノール溶液に、チオ尿素(CS(NH)13.5重量部を攪拌しながら徐々に添加した。その際、溶液は混合前の無色透明から黄色透明に変わった。添加終了後に更に30分間攪拌することによって、硫化アンチモン形成用塗布液を作製した。
硫化アンチモン形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、−NH伸縮振動(Stretching vibration)に由来する3つの吸収ピークの位置(3370cm−1,3290cm−1,3148cm−1)がチオ尿素単一成分の−NHに由来する吸収ピークの位置と同じだった。一方、C=S結合に由来する吸収ピークはチオ尿素単一成分では一つのピーク(1413cm−1)であったのに対し、硫化アンチモン形成用塗布液では2つに分かれた。また、C−Nの伸縮振動に由来する吸収ピークは1474cm−1から1511cm−1までシフトした。
これらの結果から、硫化アンチモン形成用塗布液中において、アンチモンとチオ尿素との間に錯体が形成され、その錯体の形成はアンチモン原子とチオ尿素中の窒素原子との間ではなく、アンチモン原子とチオ尿素中のイオウ原子との間に形成されていることが分かった。
(硫化物半導体薄膜の形成)
硫化アンチモン形成用塗布液を回転数3000rpmの条件でITOガラス基板(ITO膜の厚み:240nm)上にスピンコートによって塗布した。塗布後、室温で10分間放置した後に、70℃で5分間乾燥した。その時の膜はほぼ無色透明であった。その後、サンプルを真空炉に入れ、真空に引きながら260℃で10分間焼成することによって硫化アンチモンの薄膜を得た。真空炉から取出した膜は黒色であった。焼成した膜をメタノールで5分間超音波洗浄した後に、膜の物性評価を行った。
まず、膜厚計(KLA−TENCOR、P−16+)で平均膜厚を測定したところ、120nmであった。また、膜の吸収スペクトルを分光光度計(日立ハイテック社製、U−4100)で測定し、その吸収スペクトルからバンドギャップを見積もったところ、バンドギャップは1.7eVであった。更に、薄膜X線回折分析(装置:RINT−Ultima III)を行ったところ、得られた膜は輝安鉱構造(Stibnite)を有する結晶膜であった。加えて、光学顕微鏡及びレーザー顕微鏡で膜表面の形状を確認したところ、平滑で均一な形状となっていた。
(薄膜太陽電池の作製)
得られた硫化アンチモン薄膜の表面に、P型半導体層としてポリ(3−アルキルチオフェン)(P3HT)をスピンコート法により成膜した(膜厚:100nm)。その後、ホール輸送層としてポリエチレンジオキサイドチオフェン:ポリスチレンスルフォネート(PEDOT:PSS)をスピンコート法により100nmの厚みに成膜した。次いで、その表面に厚み80nmの金電極を真空蒸着法により成膜することによって薄膜太陽電池を作製した。
(実施例2)
塩化アンチモン(III)を酢酸アンチモン(III)に変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、アンチモンとチオ尿素との間に錯体が形成されていることが確認された。
(実施例3)
チオ尿素をチオ硫酸ナトリウムに変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、アンチモンとチオ硫酸との間に錯体が形成されていることが確認された。
(実施例4)
チオ尿素をチオシアン酸カリウムに変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、アンチモンとチオシアン酸との間に錯体が形成されていることが確認された。
(実施例5)
溶媒をメタノールからイソプロパノールに変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、アンチモンとチオ尿素との間に錯体が形成されていることが確認された。
(実施例6)
溶媒をメタノールからN,N−ジメチルホルムアミドに変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、アンチモンとチオ尿素との間に錯体が形成されていることが確認された。
(実施例7)
塩化アンチモン(III)を硝酸ビスマス(III)に変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、ビスマスとチオ尿素との間に錯体が形成されていることが確認された。
(実施例8)
チオ尿素をエチルキサントゲン酸カリウムに、溶媒をメタノールからトルエンに、焼成温度を260℃から200℃に変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液について、赤外吸収スペクトルを測定したところ、アンチモンとエチルキサントゲン酸との間に錯体が形成されていることが確認された。
(比較例1)
チオ尿素を硫化ナトリウムに変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液は透明ではなく、沈殿しやすい黄色混濁液であった。この黄色混濁成分について、赤外吸収スペクトルと蛍光X線で測定したところ、硫化アンチモンであることが分かった。従って、硫化ナトリウムを用いた場合は、硫化物半導体形成用塗布液中において、錯体が形成されず、塩化アンチモンと硫化ナトリウムが直接に反応して硫化アンチモンが形成されていることが確認できた。
(比較例2)
溶媒をメタノールから水に変更した以外は、実施例1と同様の方法で硫化物半導体形成用塗布液、硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を作製した。また、硫化物半導体薄膜の物性についても実施例1と同様の方法で評価した。
なお、得られた硫化物半導体形成用塗布液は透明ではなく、白色の混濁液であった。この白色混濁液成分について、赤外吸収スペクトルと蛍光X線で測定したところ、酸化アンチモンであることが分かった。これは、原料である塩化アンチモンが水中で加水分解しやすいことに起因するものと考えられる。
(評価)
得られた薄膜太陽電池について、以下の評価を行った。
(太陽電池特性評価)
実施例及び比較例で得られた薄膜太陽電池の電極間に、電源(KEITHLEY社製、236モデル)を接続し、強度100mW/cmのソーラーシミュレーション(山下電装社製)を用いて太陽電池のエネルギー変換効率を測定した。なお、比較例1で得られた太陽電池のエネルギー変換効率を1.0として規格化した。結果を表1に示した。
Figure 0005620580
本発明によれば、光電変換材料の半導体材料として有用な硫化物半導体を、大面積で簡易に形成できる硫化物半導体形成用塗布液を提供することができる。また、本発明によれば、該硫化物半導体形成用塗布液を用いて製造した硫化物半導体薄膜及び薄膜太陽電池を提供することができる。

Claims (4)

  1. 少なくとも、周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物と、硫黄含有化合物と、有機溶媒とから得られた、周期律表第15族元素及び硫黄を含む錯体を含有する光電変換材料形成用塗布液を基板上に塗布することによって製造された硫化物半導体薄膜からなる光電変換層を有することを特徴とする薄膜太陽電池。
  2. 光電変換層が、更に、硫化物半導体に隣接する有機半導体を含むことを特徴とする請求項記載の薄膜太陽電池。
  3. 少なくとも、周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物と、硫黄含有化合物と、有機溶媒とから得られた、周期律表第15族元素及び硫黄を含む錯体を含有する光電変換材料形成用塗布液を基板上に塗布して、硫化物半導体薄膜からなる光電変換層を形成する工程と、
    前記光電変換層上に、有機半導体薄膜層を積層する工程と、
    を有することを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
  4. 基板上に有機半導体薄膜層を積層する工程と、
    前記有機半導体薄膜層に、少なくとも、周期律表第15族の金属元素を含有する金属含有化合物と、硫黄含有化合物と、有機溶媒とから得られた、周期律表第15族元素及び硫黄を含む錯体を含有する光電変換材料形成用塗布液を塗布して、硫化物半導体薄膜からなる光電変換層を形成する工程と、
    を有することを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
JP2013523800A 2012-05-07 2013-04-24 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法 Active JP5620580B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013523800A JP5620580B2 (ja) 2012-05-07 2013-04-24 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012106082 2012-05-07
JP2012106082 2012-05-07
JP2013523800A JP5620580B2 (ja) 2012-05-07 2013-04-24 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5620580B2 true JP5620580B2 (ja) 2014-11-05
JPWO2013168567A1 JPWO2013168567A1 (ja) 2016-01-07

Family

ID=49550618

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013523800A Active JP5620580B2 (ja) 2012-05-07 2013-04-24 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20150107673A1 (ja)
EP (1) EP2849215A4 (ja)
JP (1) JP5620580B2 (ja)
KR (1) KR20150013114A (ja)
CN (1) CN104205311B (ja)
TW (1) TW201350496A (ja)
WO (1) WO2013168567A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6114971B2 (ja) * 2013-04-10 2017-04-19 国立研究開発法人産業技術総合研究所 リチウム二次電池用負極活物質及びその製造方法
WO2015046252A1 (ja) * 2013-09-25 2015-04-02 積水化学工業株式会社 薄膜太陽電池、半導体薄膜、及び、半導体形成用塗布液
JP5938486B2 (ja) * 2013-11-07 2016-06-22 積水化学工業株式会社 半導体形成用塗布液、半導体薄膜、薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法
US20170339541A1 (en) * 2016-05-20 2017-11-23 Joe Shen Sending emergency messages from a communication device triggered by an impact event
CN115172608A (zh) * 2022-06-23 2022-10-11 鄂尔多斯市瀚博科技有限公司 一种类钙钛矿吸光薄膜及其制备方法和应用

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005051224A (ja) * 2003-07-10 2005-02-24 Internatl Business Mach Corp <Ibm> カルコゲニド(chalcogenide)皮膜の溶液堆積
WO2011102673A2 (ko) * 2010-02-18 2011-08-25 한국화학연구원 전고체상 이종 접합 태양전지

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07133102A (ja) * 1993-11-04 1995-05-23 Asahi Chem Ind Co Ltd 金属カルコゲナイド膜の製造方法
JPH07133200A (ja) * 1993-11-04 1995-05-23 Asahi Chem Ind Co Ltd 金属カルコゲナイド化合物超格子の製造方法
US20080023066A1 (en) * 2006-07-28 2008-01-31 Unidym, Inc. Transparent electrodes formed of metal electrode grids and nanostructure networks
JP5775886B2 (ja) * 2010-02-18 2015-09-09 コリア リサーチ インスティチュート オブ ケミカル テクノロジーKorea Research Institute Of Chemicaltechnology ナノ構造無機−有機ヘテロ接合太陽電池の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005051224A (ja) * 2003-07-10 2005-02-24 Internatl Business Mach Corp <Ibm> カルコゲニド(chalcogenide)皮膜の溶液堆積
WO2011102673A2 (ko) * 2010-02-18 2011-08-25 한국화학연구원 전고체상 이종 접합 태양전지

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6013033076; NAYAK B B, ACHARYA H N, CHAUDHURI T K, MITRA G B: 'The dip-dry technique for preparing photosensitive Sb2S3 films' Thin Solid Films vol.92 No.4, 19820625, Page.309-314 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN104205311A (zh) 2014-12-10
JPWO2013168567A1 (ja) 2016-01-07
CN104205311B (zh) 2016-03-30
US20150107673A1 (en) 2015-04-23
WO2013168567A1 (ja) 2013-11-14
TW201350496A (zh) 2013-12-16
KR20150013114A (ko) 2015-02-04
EP2849215A1 (en) 2015-03-18
EP2849215A4 (en) 2015-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Lavery et al. Intense pulsed light sintering of CH3NH3PbI3 solar cells
Luo et al. Efficient and stable perovskite solar cell with high open-circuit voltage by dimensional interface modification
US9082992B2 (en) Hybrid organic solar cell with perovskite structure as absorption material and manufacturing method thereof
Yeo et al. Reduced graphene oxide-assisted crystallization of perovskite via solution-process for efficient and stable planar solar cells with module-scales
AU2024202482A1 (en) Hybrid perovskite material processing
JP5620580B2 (ja) 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法
Li et al. Defect passivation effect of chemical groups on perovskite solar cells
CN108269922A (zh) 包括具有混合阴离子的有机金属钙钛矿的光电器件
JP5873577B2 (ja) 薄膜太陽電池、半導体薄膜、及び、半導体形成用塗布液
JP5938486B2 (ja) 半導体形成用塗布液、半導体薄膜、薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法
Zhang et al. Enhancing perovskite quality and energy level alignment of TiO2 nanorod arrays-based solar cells via interfacial modification
Ashina et al. Dip coated SnO2 film as electron transport layer for low temperature processed planar perovskite solar cells
JP6286106B2 (ja) 太陽電池、及び、有機半導体用材料
TW201338231A (zh) 有機薄膜太陽電池及有機薄膜太陽電池之製造方法
JP2016025330A (ja) 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法
Ramachandran et al. One-step electrodeposition of CuSCN/CuI nanocomposite and its hole transport-ability in inverted planar perovskite solar cells
JP2016015410A (ja) 光電変換素子
Mohan et al. Low Temperature Scalable Deposition of Copper (I) Thiocyanate Films via Aerosol-Assisted Chemical Vapor Deposition
JP2015231048A (ja) 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法
CN110660915B (zh) 室温原位控制合成碘铋铜薄膜的方法及由其组装的光电转换器件
TWI709257B (zh) 可撓性鈣鈦礦(Perovskite)太陽能電池及其製作方法
JP2015088725A (ja) 薄膜太陽電池、半導体薄膜、及び、半導体形成用塗布液
JP7246126B2 (ja) 光電変換素子
JP2016015409A (ja) 薄膜太陽電池
Li et al. Inverted polymer solar cells using CdS fabricated by thermal decomposition of cadmium xanthate precursor as electron transporting layer

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140826

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5620580

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250