JP5605607B2 - X線測定装置 - Google Patents

X線測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5605607B2
JP5605607B2 JP2010064259A JP2010064259A JP5605607B2 JP 5605607 B2 JP5605607 B2 JP 5605607B2 JP 2010064259 A JP2010064259 A JP 2010064259A JP 2010064259 A JP2010064259 A JP 2010064259A JP 5605607 B2 JP5605607 B2 JP 5605607B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
sample
line sensor
ray tube
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010064259A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011196837A (ja
Inventor
一晃 上畠
康史 市沢
祐彦 大日方
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2010064259A priority Critical patent/JP5605607B2/ja
Publication of JP2011196837A publication Critical patent/JP2011196837A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5605607B2 publication Critical patent/JP5605607B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、例えばラインセンサを用いて被測定物の物理的特性を測定するX線測定装置に関し、詳しくは複数のX線源を設け、X線源からのX線の線質や線量の違いに起因する測定誤差の改善を図ったX線測定装置に関する。
図3(a)は本発明が適用される被測定物(例えばシート状の試料・・・以下単に試料という)3の物理量をオンラインで測定するX線測定装置の模式的な概略構成図である。
図3(a)はX線源(X線管)1の下方に試料3を介してラインセンサ4を配置したものである。なお、ラインセンサ4は同等の性能を有する複数の検出素子4aを直線状に連結したものである。
図3(a)において、試料3は矢印P方向に搬送されており、試料3とラインセンサ4は接触しない程度に近接して配置されている。また、X線源1からは図では省略するがコリメータや遮蔽板などにより扇状に絞られたX線フラックス2が出射する。
上記の構成において、厚さ、欠陥などの試料の物理量(特徴)を測定する場合、図3(a)に示すようにX線源から検出器となるラインセンサ4にX線を照射し、その間に試料3を置くことでX線の透過線量より試料の物理的特徴を測定している。
図3(b)はこのようなX線測定装置に用いられるX線管の模式斜視図である。図3(b)において、X線管1は筒状の容器10の一端でターゲット12を支持し、他端ではフィラメント14を支持しており、容器10内は真空に維持されている。
上記の構成において、陰極13側のフィラメント14は、白熱電球のフィラメントと同様にタングステンをコイル状に巻いたものであり、ここに電流を流すと電子が飛び出す。この飛び出した電子はフィラメントの熱でエネルギーを得た電子であり、熱電子とよばれる。フィラメント14とターゲット間には高電圧が印加されているため熱電子15は電場で加速されてターゲット12に高速で衝突する。
熱電子は衝突によって急停止するので、持っていた運動エネルギーの大部分が熱エネルギーに転換しターゲット12を加熱する。そして、エネルギーの残りの一部分が、X線となって放射される。
特開2002−148214
ところで、X線ラインセンサ4によって試料3を測定する際、ラインセンサ4の配列に合わせて、X線の照射分布が扇状になるようコリメータ等を用いて制限する。ターゲット反射型のX線源1を用いて、こうした使い方をする場合、X線源1の配置に注意しなければならない。これは、反射型のX線管では、ヒール効果を生じるためである。
ヒール効果とは、ターゲット12に熱電子15が衝突した際に発生するX線の線質・線量が異なる現象を言う。ターゲット表面より内部で発生したX線は、陽極側において陰極側よりも長い工程を経てターゲット表面に達する。この間に低エネルギー成分がターゲット内で吸収されるため、陽極側においては陰極側に比べ線量は少なく硬質のX線を持つことになる。
図3(c)はヒール効果による検量線の変化を示すもので、陽極側と陰極側から出射する放射線により検量線を作成した場合のX線透過信号と試料厚さに対する検量線の違いを示している。図において、点線で示す線分が陽極側の検量線を、実線で示す線分が陰極側の検量線を示している。図に示すように、検量線に変化があることが分かる。
図4(b)はX線管の特性を示すもので、試料の流れ方向Pに対して容器の長手方向(フィラメントからターゲットに向かう電子の方向が平行)になるような使い方をする。図4(b)ではターゲット内を通過するX線に僅かな工程差は生じるものの、現実的な測定システムにおいては等質な線質を持つものとして運用できる。
そして、図4(b)に示すようにX線管を配置すれば、ヒール効果を生じないため、特別な配慮は不要である。反面、シートの流れ方向に沿ってX線管の長手方向を配置しなければならず、これは測定装置の設置床面積や占有空間を大きくする。特にシートの流れ方向に容器の長手方向を配置することは生産ライン自体を長くすることにつながり好ましい配置とは言えない。
図4(a)に示すようにシートの幅方向に沿ってX線管の長手方向を配置した場合には、設置床面積や占有面積に対しては有利になるが、上述のヒール効果が現れる。この効果を補償するために、図3(c)に示すような測定位置に応じた検量線をそれぞれ用意して測定を行う方法があるが、複雑な演算回路を用意する必要があることと合わせて、同質の線質で測定できないことによる測定誤差を生じる等の課題がある。
従って本発明は、厚さ測定装置の床面設置面積や占有空間を抑えるX線管の配置方法を取りながら、X線の線質を均質化することで、測定時の利便性を高めることを目的としている。
この課題を達成するために、本発明の請求項1のX線測定装置は、
シート状の試料を搬送させながらX線を用いて前記試料の物理量の測定を行うX線測定装置において、前記試料の搬送方向に略直角に配置され前記試料と接触しない程度に近接して配置されたラインセンサと、前記試料の上方に配置され前記試料を透過して前記X線を前記ラインセンサに照射する複数のX線源からなり、前記複数のX線源はフィラメントからターゲットに向かう電子の方向が前記ラインセンサの長手方向と同方向となるように配置するとともに、前記複数のX線源は、略並列に千鳥状に配置され、前記複数のX線源から出射したそれぞれのX線フラックスが前記ラインセンサ上で略同じ幅で重畳するようにそれぞれのX線源を傾けて配置したことを特徴とする。
本発明の請求項1によれば以下のような効果がある。
厚さ測定装置の床面設置面積や占有空間を抑えるX線管の配置方法を取りながら、X線の線質を均質化することで、測定時の利便性を高めることができる。
即ち、線質差による測定誤差を小さくすることができ、多くの試料を用いて検量線を作成する等の煩わしさを減じて運用上の利便性を高めることができる。また、演算回路の負荷を上げずに済むことから測定処理の高速化をはかることができる。
また、複数の線源を用いることにより、X線の出力を高めることが容易になるので測定値に対するS/Nを向上させることができ、同じ線量のX線出力が必要な場合、X線管の出力を抑えて使えることから長寿命化をはかることができる。さらに、線質のみならず、試料全体にわたりX線のフラックス分布も均質化されるため、幅方向における測定値のS/N差を減じて測定確度を高めるこができる。
本発明の実施形態の一例を示すX線測定装置の概略構成図(a)、(b)、X線を4個直列に配列した状態を示す模式図(c)である。 X線源配置の実施例を示す模式図(a〜c)である。 従来のX線測定装置の一例を示す模式的な概略構成図(a)およびX線管の模式図(b)およびX線透過信号と試料厚さの関係を示す図(c)である。 ヒール効果が出るX線管の配置(a)とヒール効果が出ないX線管の配置(b)を示す図である。
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図1(a)は本発明の実施形態の一例を示すX線測定装置の模式的な概略構成図である。
図1(a)において、図3(a)に示す従来例とはX線管1の数と配列方向のみが異なっている。
本発明においては試料3の搬送方向に略直角に配置されたラインセンサ4に対し、複数(図では2個)のX線管1が試料4の上方に直線状に配置され、その複数のX線源から放射される扇状のX線がラインセンサの長さ方向を照射するように配列されている。
図1(b)はX線管1の配置例の詳細を示すもので、X線管のフィラメントからターゲットに向かう電子の方向がラインセンサ4の長手方向と同方向に2個並べられ、陰極側を対向して配置した状態を示している。また、図示のX線管の配置においては、必要な線質と線量を得易くするように適宜角度を持たせた配置としている。
このような配置によれば、試料面におけるX線の線量の差を小さくしてS/N差を減じ測定確度を高めることができ、試料面におけるX線フラックスの均質化が図ることができる。対象形の配置としては、対象となる試料にあわせて最適化するべきだが、通常測定対象となるシート状物質では、低エネルギー帯のX線をより多く取り出すことができる。
図1(c)はX線管1のフィラメントからターゲットに向かう電子の方向が前記ラインセンサの長手方向と同方向に4個直列に配置した例を示している。このような配置によれば同じ強度のX線管であればヒール効果を生じることなくX線管の強度を高めることができる。
なお、試料のある範囲だけを測定するために、エリアセンサとして用いる場合は試料の中心からの垂線を中心軸として対称形を取れば偶数/奇数によらずX線管を配置しても良い。
図2(a〜c)はX線管の他の配置例を示すもので、図2(a)はラインセンサ4の長手方向に対してX線管のフィラメントからターゲットに向かう電子の方向をラインセンサの長手方向と同方向とし、千鳥状に配置することで幅方向、流れ方向のどちらも少しの延長で済ますことを可能としたものであり、X線源をシート幅方向に並べることが困難な場合に有効である。
図2(b)はX線管の陰極リード側を対向して配置した例を示し、図2(c)はX線管の陽極リード側を対向して配置した例を示したもので、何れもX線管のフィラメントからターゲットに向かう電子の方向が前記ラインセンサの長手方向P’と同方向に配置したものである。
上述の構成によれば、厚さ測定装置の床面設置面積や占有空間を抑えるX線管の配置方法を取りながら、X線の線質を均質化することができ、測定時の利便性を高めることができる。
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。
従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。
1 X線源(X線管)
2 X線フラックス
3 被測定物(試料)
4 ラインセンサ
10 容器
11 陽極リード
12 ターゲット
13 陰極リード
14 フィラメント
15 熱電子

Claims (1)

  1. シート状の試料を搬送させながらX線を用いて前記試料の物理量の測定を行うX線測定装置において、前記試料の搬送方向に略直角に配置され前記試料と接触しない程度に近接して配置されたラインセンサと、前記試料の上方に配置され前記試料を透過して前記X線を前記ラインセンサに照射する複数のX線源からなり、前記複数のX線源はフィラメントからターゲットに向かう電子の方向が前記ラインセンサの長手方向と同方向となるように配置するとともに、前記複数のX線源は、略並列に千鳥状に配置され、前記複数のX線源から出射したそれぞれのX線フラックスが前記ラインセンサ上で略同じ幅で重畳するようにそれぞれのX線源を傾けて配置したことを特徴とするX線測定装置。
JP2010064259A 2010-03-19 2010-03-19 X線測定装置 Active JP5605607B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010064259A JP5605607B2 (ja) 2010-03-19 2010-03-19 X線測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010064259A JP5605607B2 (ja) 2010-03-19 2010-03-19 X線測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011196837A JP2011196837A (ja) 2011-10-06
JP5605607B2 true JP5605607B2 (ja) 2014-10-15

Family

ID=44875252

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010064259A Active JP5605607B2 (ja) 2010-03-19 2010-03-19 X線測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5605607B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6199151B2 (ja) * 2013-10-17 2017-09-20 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置
CN105445290A (zh) 2014-09-02 2016-03-30 同方威视技术股份有限公司 X射线产品质量在线检测装置
CN105372269B (zh) * 2014-09-02 2019-01-15 同方威视技术股份有限公司 X射线产品质量自动检测装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1552224A (en) * 1975-05-10 1979-09-12 Heath Gloucester Ltd Strip profile gauge
US4709382A (en) * 1984-11-21 1987-11-24 Picker International, Inc. Imaging with focused curved radiation detectors
JPH0743679Y2 (ja) * 1988-02-15 1995-10-09 株式会社日立メデイコ エックス線照射装置
JP5472728B2 (ja) * 2010-02-19 2014-04-16 横河電機株式会社 放射線測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011196837A (ja) 2011-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20140010354A1 (en) Apparatus and method of manufacturing a thermally stable cathode in an x-ray tube
US8265227B2 (en) Apparatus and method for calibrating an X-ray tube
US8891727B2 (en) Radiation imaging apparatus, radiation detecting apparatus and radiation focal-point movement detecting method
JP4745399B2 (ja) 電子ビームを検出するセンサーおよびシステム
KR20080068787A (ko) X선 저선량단층촬영 장치
KR20190139223A (ko) X선 단층 촬영 검사 시스템 및 방법
WO2013051595A1 (ja) 装置、x線照射方法、及び構造物の製造方法
JP5605607B2 (ja) X線測定装置
US20090242744A1 (en) Arrangement for producing electromagnetic radiation and method for operating said arrangement
KR20100071564A (ko) 엑스선 튜브
US20150110244A1 (en) X-ray inspection apparatus
JP2015078835A (ja) X線回折装置
JP2017022054A (ja) X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム
KR20100090078A (ko) 엑스선 발생기 및 이를 이용한 엑스선 분석장치
JP5472728B2 (ja) 放射線測定装置
US9761406B2 (en) Radiation tube and radiation inspection apparatus
JP2004214130A (ja) X線均一照射装置
JP6236926B2 (ja) フィラメントの調整方法およびx線管装置
JP2011122826A (ja) X線照射装置
US20190235101A1 (en) Object radiography apparatus and method for determining a state of an object radiography apparatus
JP5771013B2 (ja) X線異物検出装置
JP2011164043A (ja) X線装置
JP6199151B2 (ja) X線検査装置
JP5993748B2 (ja) X線発生装置
JP5594545B2 (ja) X線管

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120911

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131016

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131028

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131212

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140507

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140516

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140731

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140813

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5605607

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150