JP5591592B2 - ヘッド・サスペンション配線構造 - Google Patents

ヘッド・サスペンション配線構造 Download PDF

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Description

本発明は、コンピュータ等の情報処理装置に内蔵されるハード・ディスク・ドライブのヘッド・サスペンションに供されるヘッド・サスペンション配線構造に関する。
従来、ハード・ディスク・ドライブ(HDD「Hard Disk Drive」)の高記録密度を実現するためハード・ディスクの記録面に対するヘッド部の浮上量を低下させる必要があり、近年にあっては、10nmオーダーの浮上量が実現されている。
しかしながら、ヘッド部の浮上量が低下するとハード・ディスク面の微小突起との衝突が発生しやすくなり、またヘッド部ごとのクリアランスのばらつきが機械的な公差範囲で存在するため、媒体接触を考慮すると、浮上量は公差範囲を超えて低く設定することができない問題がある。
この問題を解消する方法として、ヘッド部にヒーターを内蔵し、ヒーターの通電に伴うヘッド浮上面の熱膨張による突出現象を利用して、ヘッド部とハード・ディスクの記録面とのクリアランスをコントロールする技術が特許文献1として提案されている。
この提案では、低熱膨張層を圧電センサー構造(センサー)とすることで、ヒーター・コイルの通電により突出させた媒体相対面が、ハード・ディスクの媒体面に衝突すると、この衝突したことによる衝撃が低熱膨張層を構成する圧電センサー構造に加わり、衝撃対応電圧を信号出力端子から外部に出力するようにしている。
この衝撃対応電圧の出力によりヒーター・コイルの通電を制御し、ハード・ディスクの媒体面に対するヘッド部の浮上量を制御することができる。
また、特許文献2等に開示されているように、近年では、磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するための近接場光を発生させる近接場光発生部(プラズモン・プローブ)を備えた熱アシスト(ヒート・アシスト)磁気ヘッドなども存在する。
一方、従来のハード・ディスク・ドライブに装備されるヘッド・サスペンションにおいて、フレキシャ(Flexure)は、ヘッド部に接続される記録・再生信号を伝搬する配線が、ばね性を有するステンレス製薄板の基材に可撓性樹脂のベース絶縁層を介して配設され、この配線を可撓性樹脂のカバー絶縁層が覆う4層構造等となっている。
このような配線構造に対し、前記ヒーター、センサー、ヒート・アシストなどのデバイスのための配線を単に追加すると、フレキシャの幅が増大するという問題がある。
しかも、このヒーター、センサー、ヒート・アシストなどのデバイスの配線は、低消費電力化のために低損失化が求められ、また、センサーに用いられる信号周波数が記録信号に対して1/10以下と低く、広帯域配線ではノイズレベルを低く抑えることが難しく、狭帯域化が求められる。このような要求を満たすためにはかかるデバイスの配線を幅広にする必要があり、フレキシャの幅が益々増大し、小型化に不利となる。
特開2008−52882号公報 特開2008−152868号公報
解決しようとする問題点は、用いられる信号周波数が低いデバイスのための配線を単に追加し、要求特性を満足させると、フレキシャの幅が増大し、小型化に不利になるという点である。
本発明は、用いられる信号周波数が低いデバイスのための配線を追加し、要求特性を満足させながら、フレキシャの幅増大を抑制することを可能とするため、記録媒体に対して情報の記録・再生を行うためのヘッド部に負荷荷重を与えるロード・ビームと、前記ヘッド部に設けられ前記記録・再生以外の機能を低周波信号により動作するデバイスと、前記ヘッド部に接続した記録側及び再生側の記録側配線及び再生側配線と前記デバイスに接続したデバイス配線とを有し前記ヘッド部を支持して前記ロード・ビームに取り付けられたフレキシャとを備え、前記フレキシャは、前記記録側配線及び再生側配線と前記デバイス配線とを導電性薄板の基材にベース絶縁層を介して配設したヘッド・サスペンション配線構造であって、前記デバイス配線を前記再生側配線よりも幅広に形成して中間絶縁層を介し両極配線を積層し、前記デバイスは、前記ヘッド部に設けられ前記記録媒体に対し媒体相対面を熱膨張により変位させるヒーター及び前記記録媒体に対する前記媒体相対面の当りを検出するセンサーであり、前記デバイス配線は、ヒーター配線及びセンサー配線であり、前記フレキシャは、前記記録側配線及び再生側配線と前記ヒーター配線及びセンサー配線とを導電性薄板の基材にベース絶縁層を介して前記フレキシャ幅方向に並べて配設し、少なくとも前記センサー配線を前記再生側配線よりも幅広に形成し、前記センサー配線と前記記録側配線との間に、前記積層したヒーター配線を配置すると共に前記再生側配線の両極配線を前記フレキシャ幅方向に併設したことを特徴とする。
本発明は、記録媒体に対して情報の記録・再生を行うためのヘッド部に負荷荷重を与えるロード・ビームと、前記ヘッド部に設けられ前記記録・再生以外の機能を低周波信号により動作するデバイスと、前記ヘッド部に接続した記録側及び再生側の記録側配線及び再生側配線と前記デバイスに接続したデバイス配線とを有し前記ヘッド部を支持して前記ロード・ビームに取り付けられたフレキシャとを備え、前記フレキシャは、前記記録側配線及び再生側配線と前記デバイス配線とを導電性薄板の基材にベース絶縁層を介して配設したヘッド・サスペンション配線構造であって、前記デバイス配線を前記再生側配線よりも幅広に形成して中間絶縁層を介し両極配線を積層し、前記デバイスは、前記ヘッド部に設けられ前記記録媒体に対し媒体相対面を熱膨張により変位させるヒーター及び前記記録媒体に対する前記媒体相対面の当りを検出するセンサーであり、前記デバイス配線は、ヒーター配線及びセンサー配線であり、前記フレキシャは、前記記録側配線及び再生側配線と前記ヒーター配線及びセンサー配線とを導電性薄板の基材にベース絶縁層を介して前記フレキシャ幅方向に並べて配設し、少なくとも前記センサー配線を前記再生側配線よりも幅広に形成し、前記センサー配線と前記記録側配線との間に、前記積層したヒーター配線を配置すると共に前記再生側配線の両極配線を前記フレキシャ幅方向に併設した
このため、デバイス配線を再生側配線よりも幅広に形成して低損失とし、狭帯域としてノイズの影響を抑制するなど、要求特性を満足させながら、配線の積層によりフレキシャの幅増大を抑制することができる。
ヘッド・サスペンションの平面図である。(実施例1) ヘッド・サスペンションの要部拡大平面図である。(実施例1) ヒーター及びセンサーを示すヘッド部の拡大断面図である。(実施例1) 図1のIII−III線矢視に対応して示す基本的な積層構造の一部を示す断面図である。(実施例1) 要求特性を示す図表である。(実施例1) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例1) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例2) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例3) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例4) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例5) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例6) 交互配置される交互配線部の斜視図である。(実施例6) 図12の等価回路を示す回路図である。(実施例6) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例7) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例8) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例9) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例10) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例11) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例12) 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例13 図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。(実施例14)
用いられる信号周波数が低いデバイスのための配線を追加し、要求特性を満足させながら、フレキシャの幅増大を抑制することを可能とするという目的を、デバイス配線の幅広化と積層とにより実現した。
[ヘッド・サスペンション配線構造の全体構成]
図1は、本発明実施例1を適用したヘッド・サスペンション配線構造の平面図、図2は、
ヘッド・サスペンションの要部拡大平面図である。
図1、図2のように、ヘッド・サスペンション1は、ロード・ビーム3と、ベース部5
と、フレキシャ7とを備えている。
前記ロード・ビーム3は、ヘッド部21に負荷荷重を与えるもので、剛体部9とばね部
11とを備えている。剛体部9は、例えばステンレス鋼で形成され、その厚みは比較的厚く、例えば100μm程度に設定されている。
ばね部11は、剛体部9とは別体に形成されたもので、例えばばね性のある薄いステン
レス鋼圧延板からなり、剛体部9よりもそのばね定数が低く、精度の高い低ばね定数を有している。このばね部11の板厚は、例えば、t=40μm程度に設定されている。ばね部11は、その一端部が前記剛体部9の後端部にレーザ溶接などによって固着されている。ばね部11の他端部には、補強プレート13が一体に設けられている。
ベース部5は、ベース・プレート15を有している。このベース・プレート15は補強
プレート13に重ね合わされ、レーザ溶接などによって相互に固着されている。
従って、ベース・プレート15が補強プレート13により補強されてベース部5が構成
されている。このベース部5が、キャリッジのアームに取り付けられ、軸回りに回転駆動される。
フレキシャ7は、ばね性を有する薄いステンレス鋼圧延板(SST)などの厚さ15〜
30μm程度の導電性薄板で形成した基材17上に、後述する電気絶縁層を介して配線パターン19を形成している。このフレキシャ7は、レーザ溶接などによって剛体部9に固着されている。配線パターン19の一端は、ヘッド部21に導通接続され、他端はベース部5側に延設されている。
フレキシャ7には、タング23が片持ち状に設けられ、このタング23に、ヘッド部2
1のスライダが装着される。
ヘッド部21の記録用の素子は、例えば一般的な誘導型磁気変換素子である。同再生用
の素子は、MR素子、GMR素子、或いはTuMR素子が用いられ、再生読み取り感度が高くなっている。
[ヒーター及びセンサー]
図3は、ヒーター及びセンサーを示すヘッド部の拡大断面図である。
図3のように、ヘッド部21には、記録媒体であるハード・ディスク25への媒体相対面27にリード・ヘッド29及びライト・ヘッド31が構成される他、用いられる信号周波数が低いデバイスとしてヒーター用のヒーター・コイル32、センサー用の低熱膨張層33を備えている(特開2008−52882号公報参照)。
ヒーター・コイル31は、ハード・ディスク25に対し媒体相対面27を熱膨張により変位させるものである。
低熱膨張層33を圧電センサー構造(センサー)とすることで、ヒーター・コイル31の通電により突出させた媒体相対面27が、ハード・ディスク25の媒体面に衝突すると、この衝突したことによる衝撃が低熱膨張層33を構成する圧電センサー構造に加わり、衝撃対応電圧を信号出力端子から外部に出力する。
この衝撃対応電圧の出力によりハード・ディスク25に対する媒体相対面27の当りを検出することができる。
この当り検出によりヒーター・コイル32の通電を制御し、ハード・ディスク25の媒体面に対するヘッド部21の浮上量を制御する。
[フレキシャの基本断面構造]
図4は、図1のIII−III線矢視に対応して示す基本的な積層構造の一部を示す断面図である。
この図4は、センサー配線の部分のみを拡大して示しており、フレキシャ7は、前記基
材17上に、電気絶縁層であるベース絶縁層35を介してセンサー配線37を形成している。
基材17には、幅Hの窓39が貫通形成されている。窓39は、インピーダンスを高め、広帯域とするためのものである。窓39とセンサー配線37とは、フレキシャ7幅方向において距離Lが設定されている。窓39は、フレキシャ7の延設方向においてセンサー配線37に沿って適所に形成されている。この窓39の配線にタイル比率の調整によりインピーダンスと帯域幅との調整を行うことができる。
ベース絶縁層35は、可撓性絶縁樹脂であるポリイミドで形成され、厚さ5〜20μm程度に形成されている。
センサー配線37は、両極配線37a,37bを備え、ポリイミドで形成された中間絶縁層41を介して積層されている。このセンサー配線37は、中間絶縁層41に対しカバー絶縁層43で覆われている。
カバー絶縁層43は、可撓性絶縁樹脂であるポリイミドで形成され、積層方向での厚みが、1〜20μm程度に形成されている。カバー絶縁層43は、センサー配線37の表面をカバーし、外力などから保護している。
[要求特性]
図5は、要求特性を示す図表である。
図5のように、フレキシャのセンサー配線、ヒーター配線、記録側配線、再生側配線には、信号伝搬損失、配線インピーダンス、バンド幅に対する要求特性がある。
まず、すべての配線について、信号伝搬損失に関し低損失であることが要求される。
配線インピーダンスに関し、センサー配線及び記録側配線について低インピーダンスが
要求され、再生側配線について再生用の素子であるTuMR素子との関係で高インピーダンスが要求される。
バンド幅に関し、ヒーター及びセンサーともに動作はあまりなく、且つセンサーについて広帯域ではノイズを拾うため、狭帯域が要求される。記録側配線については、高速書き込みのために広帯域が要求される。再生側配線については、広帯域は必須とされない。
フレキシャは、幅方向の小型化が要求される。
[フレキシャの具体的構成]
図6は、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。
図6のように、フレキシャ7は、配線パターン19として前記ヘッド部21に接続した再生側及び記録側の再生側配線45及び記録側配線47と前記ヒーター及びセンサーに接続したデバイス配線としてのヒーター配線49及びセンサー配線37とを有している。
ヒーター配線49及びセンサー配線37は、再生側配線45及び記録側配線47よりも幅広に形成され、中間絶縁層41を介し両極配線49a,49b、37a,37bが積層されている。ヒーター配線49及びセンサー配線37は、銅メッキにより形成され、厚みは、例えば1〜20μmに形成されている。
図6において、「センサー積層」、「ヒーター積層」の記載は、センサー配線37、ヒーター配線49の積層を見出しとして示している。
なお、図5の要求特性により、少なくともセンサー配線37が再生側配線47よりも幅広に形成され、両極配線37a,37bが積層されるものであればよい。
再生側配線45及び記録側配線47は、銅メッキにより形成され、厚みは、例えば1〜20μmに形成されている。再生側配線45及び記録側配線47の両極配線45a,45b、47a,47bの配置幅は、30〜100μmに設定されている。
基材17には、前記窓39と同様な構成の窓39a,39b,39c,39dが形成され、センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、記録側配線47にそれぞれ対応している。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、記録側配線47は、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
[実施例1の効果]
本発明実施例1のヘッド・サスペンション配線構造は、ハード・ディスク25に対して情報の記録・再生を行うためのヘッド部21に負荷荷重を与えるロード・ビーム3とヘッド部21に設けられハード・ディスク25に対し媒体相対面27を熱膨張により変位させるヒーター・コイル32及びハード・ディスク25に対する媒体相対面27の当りを検出する低熱膨張層33と、ヘッド部21に接続した記録側及び再生側の記録側配線47及び再生側配線45とヒーター・コイル32及び低熱膨張層33に接続したヒーター配線49及びセンサー配線37とを有しヘッド部21を支持してロード・ビーム3に取り付けられたフレキシャ7とを備え、フレキシャ7は、記録側配線47及び再生側配線45とヒーター配線49及びセンサー配線37とを導電性薄板の基材17に可撓性樹脂のベース絶縁層35を介して配設したヘッド・サスペンション配線構造であって、センサー配線37及びヒーター配線49を再生側配線45及び記録側配線47よりも幅広に形成して中間絶縁層41を介して両極配線37a,37b、49a,49bを積層した。
このため、センサー配線37及びヒーター配線49を再生側配線45及び記録側配線47よりも幅広に形成して低損失とし、且つ狭帯域としてセンサーに対するノイズの影響を抑制するなど、要求特性を満足させながら、両極配線37a,37b、49a,49bの積層によりフレキシャ7の幅増大を抑制することができる。
また、センサー配線37が記録側配線47に対して離れて配置されているため、記録側配線47の高い周波数の信号の影響を受け難く、センサーの精度を維持させることができる。
図7は、本発明の実施例2に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図6の実施例1と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号又は同符号にAを追記し、重複した説明は省略する。
本実施例2では、ヘッド部21が磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するための近接場光を発生させる近接場光発生部(プラズモン・プローブ)をさらに含み、熱アシスト(ヒート・アシスト「デバイス」)磁気ヘッドとして構成されている(特開2008−152868号公参照報)。
この実施例のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Aは、デバイス配線としてヒート・アシスト用のヒート・アシスト配線51とグランド配線53とを有している。ヒート・アシスト配線51及びグランド配線53は、銅のメッキにより、例えば1〜20μmの厚みに形成されている。グランド配線53は、例えば基材17側などにグランド接続されている。
ヒート・アシスト配線51は、ベース絶縁層35Aを介して配設したグランド配線53に対し中間絶縁層41Aを介して積層されている。ヒート・アシスト配線51及びグランド配線53は、ヒーター配線49と同等の幅広に形成され、例えば20〜300μmに設定されている。
図7において、「ヒーター/グランド」の記載は、ヒート・アシスト配線51とグランド配線53との積層を見出しとして示している。
センサー配線37とヒーター配線49と再生側配線45とヒート・アシスト配線51と記録側配線47とは、この順に隣接配置されている。
基材17Aには、ヒート・アシスト配線51及びグランド配線53に対応して前記窓39と同様な構成の窓39eが形成されている。
センサー配線37、ヒーター配線49、ヒート・アシスト配線51、再生側配線45、記録側配線47は、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例1と同様な作用効果を奏することができる他、ヒート・アシスト配線51の低損失、低インピーダンス、狭帯域を達成することができる。
図8は、本発明の実施例3に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図6の実施例1と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号にBを追記して付し、重複した説明は省略する。
本実施例3のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Bは、記録側配線47Bが、再生側配線45よりも幅広に形成されてベース絶縁層35Bを介して配設したグランド層55に対し中間絶縁層57を介して積層されている。記録側配線47Bは、センサー配線37及びヒーター配線49よりも幅狭に形成されている。
図8において、記録/グランド層の記載は、記録側配線47Bとグランド層55との積層を見出しとして示している。
グランド層55は、記録側配線47Bの延説方向の少なくとも一部に形成され、導電性薄板の基材17よりも導電率の高い高導電率となっている。本実施例においてグランド層55は、銅のメッキにより3μm以上、例えばT=5〜10μmの厚みに形成されている。
グランド層55の両端縁は、記録側配線47Bの両極配線47Ba,47Bbの端縁に一致させ、幅が200〜500μmに形成されている。
センサー配線37とヒーター配線49と再生側配線45と記録側配線47Bとは、この順に隣接配置されている。
グランド層55は、前記ヘッド部21のハード・ディスク25に対する運動特性に影響を及ぼさない範囲に形成されている。ヘッド部21の運動特性に影響を及ぼさない範囲とは、ヘッド・サスペンション1の機械的特性であるスティフネスに影響させない範囲である。具体的には、フレキシャ7の延設方向につきロード・ビーム3をベース部5に弾性支持するばね部11周辺59及びフレキシャ7のアウトリガー61周辺を避けた範囲である。本実施例では、図2のIV部を含めたフレキシャ7のテール側63に形成され、またV部、VI部の範囲にも形成されている。但し、グランド層55は、電気特性を決定するのに支配的なテール側63にのみ形成し、他のV部、VI部の範囲は省略することもできる。
基材17Bには、記録側配線47B及びグランド層55に対応して前記窓39と同様な構成の窓39Bdが形成されている。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、記録側配線47Bは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例1と同様な作用効果を奏することができる他、記録側配線47Bの低損失、低インピーダンス、広帯域を達成することができる。
図9は、本発明の実施例4に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図8の実施例3と同様であり、同一又は対応する構成部分には同*符号を付し又は同符号にCを追記して付し、或いは符号のBをCに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例4のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Cは、図8の実施例3に対し図7の実施例2と同様のヒート・アシスト配線51及びグランド配線53を追加している。ヒート・アシスト配線51は、ベース絶縁層35Cを介して配設したグランド配線53に対し中間絶縁層57Cを介して積層されている。
センサー配線37とヒーター配線49と再生側配線45とヒート・アシスト配線51と記録側配線47Cとは、この順に隣接配置されている。
センサー配線37、ヒーター配線49、ヒート・アシスト配線51、再生側配線45、記録側配線47Cは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例3と同様な作用効果を奏することができる他、ヒート・アシスト配線51の低損失、低インピーダンス、狭帯域を達成することができる。
図10は、本発明の実施例5に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図8の実施例3と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号にDを追記して付し、或いは符号のBをDに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例5のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Dは、図8の実施例3に対し、再生側配線45の配置を変え、センサー配線37と再生側配線45とヒーター配線49と記録側配線47Dとを、この順に隣接配置した。
ヒーター配線49の両極配線49a,49bは、中間絶縁層57Dを介して積層されている。
センサー配線37、再生側配線45、ヒーター配線49、記録側配線47Dは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例3と同様な作用効果を奏することができる。
図11〜図13は、本発明の実施例6に係り、図11は、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図、図12は、交互配置される交互配線部の斜視図、図13は、図12の等価回路を示す回路図である。なお、基本的な構成は図6の実施例1と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号にEを追記して付し、重複した説明は省略する。
本実施例6のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Eは、図6の実施例1に対し、記録側配線47Eを交互配線とした(特開平10-124837号公報参照)。
記録側配線47Eは、ベース絶縁層35Eに対して交互配置された両極の第1,第2の
交互配線部47Eaa,47Eab,47Eba,47Ebbを有している。第1,第2の交互配線部47Eaa,47Eab,47Eba,47Ebbは、同幅に形成されている。記録側配線47Eの全体の配線幅は、200〜400μmに設定されている。
第1,第2の交互配線部47Eaa,47Eab,47Eba,47Ebbの各一方の端部は、迂回配線47Ec,47Edにより相互に接続され、各他方の端部は、ブリッジ47Ee,47Efにより交互配線部47Eaa,47Eab,47Eba,47Ebbの他方を相互に跨いで接続されている。
図11において、「記録交互」の記載は、記録側配線47Eの交互配線を見出しとして示している。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、記録側配線47Eは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例1と同様な作用効果を奏することができる他、記録側配線47Eの低損失、低インピーダンス、広帯域を達成することができる。
図14は、本発明の実施例7に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図11の実施例6と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は符号のEをFに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例7のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Fは、図11の実施例6に対し図9の実施例4と同様のヒート・アシスト配線51及びグランド配線53を追加している。ヒート・アシスト配線51は、ベース絶縁層35Fを介して配設したグランド配線53に対し中間絶縁層57Fを介して積層されている。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、ヒート・アシスト配線51、記録側配線47Fは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例6と同様な作用効果を奏することができる他、ヒート・アシスト配線51の低損失、低インピーダンス、狭帯域を達成することができる。
図15は、本発明の実施例8に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図11の実施例6と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号にGを追記して付し、或いは符号のEをGに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例8のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Gは、図11の実施例6に対し、再生側配線45の配置を変え、センサー配線37と再生側配線45とヒーター配線49と記録側配線47Gとを、この順に隣接配置した。
ヒーター配線49の両極配線49a,49bは、中間絶縁層57Gを介して積層されている。
センサー配線37、再生側配線45、ヒーター配線49、記録側配線47Gは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例6と同様な作用効果を奏することができる。
図16は、本発明の実施例9に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図6の実施例1と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号にHを追記して付し、重複した説明は省略する。
本実施例9のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Hは、図6の実施例1に対し、記録側配線47Hの両極配線47Ha,47Hbを積層構造とした。
記録側配線47Hは、再生側配線45、センサー配線37、ヒーター配線49よりも幅
広に形成され、50〜500μmに設定されている。この記録側配線47Hは、ベース絶縁層35Hを介して配設され、両極配線47Ha,47Hbが中間絶縁層57Hを介して積層されている。
図16において、「記録積層」の記載は、記録側配線47Hの積層を見出しとして示している。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、記録側配線47Hは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例1と同様な作用効果を奏することができる他、記録側配線47Hの低損失、低インピーダンス、広帯域を達成することができる。
図17は、本発明の実施例10に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図16の実施例9と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は符号のHをIに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例10のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Iは、図16の実施例9に対し図9の実施例4と同様のヒート・アシスト配線51及びグランド配線53を追加している。ヒート・アシスト配線51は、ベース絶縁層35Iを介して配設したグランド配線53に対し中間絶縁層57Iを介して積層されている。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、ヒート・アシスト配線51、記録側配線47Iは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例10でも、実施例9と同様な作用効果を奏することができる他、ヒート・アシスト配線51の低損失、低インピーダンス、狭帯域を達成することができる。
図18は、本発明の実施例11に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図16の実施例9と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号にJを追記して付し、或いは符号のHをJに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例11のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Jは、図16の実施例6に対し、再生側配線45の配置を変え、センサー配線37と再生側配線45とヒーター配線49と記録側配線47Gとを、この順に隣接配置した。
ヒーター配線49の両極配線49a,49bは、中間絶縁層57Jを介して積層されている。
センサー配線37、再生側配線45、ヒーター配線49、記録側配線47Jは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例9と同様な作用効果を奏することができる。
図19は、本発明の実施例12に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図8の実施例3と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は同符号のBをKに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例12のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Kは、図8の実施例3の記録側配線47Bを図11の交互配線の記録側配線47Eと同様の記録側配線47Kとした。
記録側配線47Kの配線幅は、200〜400μmに設定されている。この記録側配線
47Kは、ベース絶縁層35Kを介して配設されたグランド層55に対し中間絶縁層57Kを介して積層されている。
図19において、「記録交互/グランド層」の記載は、記録側配線47K及びグランド層55の積層を見出しとして示している。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、記録側配線47Kは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例8と同様な作用効果を奏することができる他、記録側配線47Kの低損失、低インピーダンス、広帯域を達成することができる。
図20は、本発明の実施例13に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図19の実施例12と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号を付し又は符号のKをLに代えて付し、重複した説明は省略する。
本実施例13のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Lは、図19の実施例12に対し図9の実施例4と同様のヒート・アシスト配線51及びグランド配線53を設けている。ヒート・アシスト配線51は、ベース絶縁層35Lを介して配設したグランド配線53に対し中間絶縁層57Lを介して積層されている。
センサー配線37、ヒーター配線49、再生側配線45、ヒート・アシスト配線51、記録側配線47Lは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例13でも、実施例12と同様な作用効果を奏することができる他、ヒート・アシスト配線51の低損失、低インピーダンス、狭帯域を達成することができる。
図21は、本発明の実施例14に係り、図1のIII−III線矢視に対応しカバー絶縁層を省略したフレキシャの積層構造を示す断面図である。なお、基本的な構成は図19の実施例12と同様であり、同一又は対応する構成部分には同符号又は同符号にMを追記し、或いは符号のKをMに代え、重複した説明は省略する。
本実施例14のヘッド・サスペンション配線構造を採用したフレキシャ7Mは、図19の実施例12に対し、再生側配線45の配置を変え、センサー配線37と再生側配線45とヒーター配線49と記録側配線47Mとを、この順に隣接配置した。
ヒーター配線49の両極配線49a,49bは、中間絶縁層57Mを介して積層されている。
センサー配線37、再生側配線45、ヒーター配線49、記録側配線47Mは、図4のカバー絶縁層43と同様のカバー絶縁層で覆われている。
したがって、本実施例でも、実施例12と同様な作用効果を奏することができる。
1 ヘッド・サスペンション配線構造
3 ロード・ビーム
5 ベース部
7,7A,7B,7C,7D,7E,7F,7G,7H,7I,7J,7K,7L,7M フレキシャ
11 バネ部
17,17A,17B,17C,17D,17E,17F,17G,17H,17I,17J,17K,17L,17M 基材
25 ハード・ディスク(記録媒体)
27 媒体相対面
32 ヒーター・コイル(デバイス)
33 センサー用の低熱膨張層(デバイス)
35,35B,35C,35D,35E,35F,35G,35H,35I,35J,35K,35L,35M ベース絶縁層
37 センサー配線(デバイス配線)
37a,37b 両極配線
41,41D,41G,41J,57,57C,57D,57H,57I,57J.57K,57L,57M 中間絶縁層
43 カバー絶縁層
45 再生側配線
47,47B,47C,47D,47E,47F,47G,47H,47I,47J,47K,47L,47M 記録側配線
47Eaa,47Eab,47Eba,47Ebb,47Faa,47Fab,47Fba,47Fbb,47Gaa,47Gab,47Gba,47Gbb,47Kaa,47Kab,47Kba,47Kbb,47Laa,47Lab,47Lba,47Lbb,47Maa,47Mab,47Mba,47Mbb 両極配線
47Ec,47Ed 迂回配線
47Ee,47Ef ブリッジ
49 ヒーター配線(デバイス配線)
49a,49b 両極配線
51 ヒート・アシスト配線(デバイス配線)
53 グランド配線
55 グランド層

Claims (15)

  1. 記録媒体に対して情報の記録・再生を行うためのヘッド部に負荷荷重を与えるロード・ビームと、
    前記ヘッド部に設けられ前記記録・再生以外の機能を低周波信号により動作するデバイスと、
    前記ヘッド部に接続した記録側及び再生側の記録側配線及び再生側配線と前記デバイスに接続したデバイス配線とを有し前記ヘッド部を支持して前記ロード・ビームに取り付けられたフレキシャとを備え、
    前記フレキシャは、前記記録側配線及び再生側配線と前記デバイス配線とを導電性薄板の基材にベース絶縁層を介して配設したヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記デバイス配線を前記再生側配線よりも幅広に形成して中間絶縁層を介し両極配線を積層し、
    前記デバイスは、前記ヘッド部に設けられ前記記録媒体に対し媒体相対面を熱膨張により変位させるヒーター及び前記記録媒体に対する前記媒体相対面の当りを検出するセンサーであり、
    前記デバイス配線は、ヒーター配線及びセンサー配線であり、
    前記フレキシャは、前記記録側配線及び再生側配線と前記ヒーター配線及びセンサー配線とを導電性薄板の基材にベース絶縁層を介して前記フレキシャ幅方向に並べて配設し、
    少なくとも前記センサー配線を前記再生側配線よりも幅広に形成し、
    前記センサー配線と前記記録側配線との間に、前記積層したヒーター配線を配置すると共に前記再生側配線の両極配線を前記フレキシャ幅方向に併設した
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  2. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記デバイスは、磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するヒート・アシストを含み、
    前記フレキシャは、グランド配線及びヒート・アシスト配線を有し、
    前記ヒート・アシスト配線は、前記ベース絶縁層を介して配設した前記グランド配線に対し中間絶縁層を介して積層した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  3. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記再生側配線よりも幅広に形成されて前記ベース絶縁層を介し配設したグランド層に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  4. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記デバイスは、磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するヒート・アシストを含み、
    前記フレキシャは、グランド配線及びヒート・アシスト配線を有し、
    前記ヒート・アシスト配線は、前記ベース絶縁層を介して配設したグランド配線に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線とヒート・アシスト配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  5. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記再生側配線よりも幅広に形成されて前記ベース絶縁層を介して配設したグランド層に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線と再生側配線とヒーター配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  6. 請求項3〜5の何れか1項に記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記センサー配線よりも幅狭に形成された、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  7. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記ベース絶縁層に対して交互配置された両極の第1,第2の交互配線部を有し、
    前記第1,第2の交互配線部は、各一方の端部が迂回配線により相互に接続されて各他方の端部がブリッジにより他方の交互配線部を相互に跨いで接続され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  8. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記デバイスは、磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するヒート・アシストを含み、
    前記フレキシャは、グランド配線及びヒート・アシスト配線を有し、
    前記ヒート・アシスト配線は、前記ベース絶縁層を介して配設したグランド配線に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線とヒート・アシスト配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  9. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記ベース絶縁層に対して交互配置された両極の第1,第2の交互配線部を有し、
    前記第1,第2の交互配線部は、各一方の端部が迂回配線により相互に接続されて各他方の端部がブリッジにより他方の交互配線部を相互に跨いで接続され、前記センサー配線と再生側配線とヒーター配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  10. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記センサー配線よりも幅広に形成されて中間絶縁層を介し両極配線が積層され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  11. 請求項10記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記デバイスは、磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するヒート・アシストを含み、
    前記フレキシャは、グランド配線及びヒート・アシスト配線を有し、
    前記ヒート・アシスト配線は、前記ベース絶縁層を介して配設したグランド配線に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線とヒート・アシスト配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  12. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記センサー配線よりも幅広に形成されて中間絶縁層を介し両極配線が積層され、
    前記センサー配線と再生側配線とヒーター配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  13. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記ベース絶縁層に対して交互配置された両極の第1,第2の交互配線部を有し、
    前記第1,第2の交互配線部は、各一方の端部が迂回配線により相互に接続されて各他方の端部がブリッジにより他方の交互配線部を相互に跨いで接続され、
    前記記録側配線は、前記ベース絶縁層を介して配設したグランド層に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  14. 請求項13記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記デバイスは、磁化の熱安定性確保のために、磁気ディスクの記録層部分を加熱するヒート・アシストを含み、
    前記フレキシャは、グランド配線及びヒート・アシスト配線を有し、
    前記ヒート・アシスト配線は、前記ベース絶縁層を介して配設した前記グランド配線に対し中間絶縁層を介して積層され、前記センサー配線とヒーター配線と再生側配線とヒート・アシスト配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
  15. 請求項記載のヘッド・サスペンション配線構造であって、
    前記記録側配線は、前記ベース絶縁層に対して交互配置された両極の第1,第2の交互配線部を有し、
    前記第1,第2の交互配線部は、各一方の端部が迂回配線により相互に接続されて各他方の端部がブリッジにより他方の交互配線部を相互に跨いで接続され、
    前記記録側配線は、前記ベース絶縁層を介して配設したグランド層に対し中間絶縁層を介して積層され、
    前記センサー配線と再生側配線とヒーター配線と記録側配線とは、この順に隣接配置した、
    ことを特徴とするヘッド・サスペンション配線構造。
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